技術(shù)編號：11293545
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種用于分析包含隨機(jī)間隔的階躍的輻射傳感器的信號的方法，所述方法包括：·檢測階躍的存在；·估計(jì)相鄰階躍之間的時(shí)間間隔；·用第一濾波特性對階躍之前的信號濾波；·用第二濾波特性對階躍之后的信號濾波；·估計(jì)階躍高度；以及·根據(jù)所估計(jì)的階躍高度用大量階躍形成密度分布或直方圖。本發(fā)明還涉及用于執(zhí)行所述方法的裝置。背景技術(shù)從美國專利公開No.US7,966,155B2中已知這樣的方法。已知專利描述了一種用于分析來自諸如固態(tài)檢測器或氣體比例檢測器的X射線檢測器的信號的方法。在固態(tài)檢測器中，X射線光子...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。