磁特性測定方法以及磁特性測定裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明目的在于，即使在產(chǎn)生提離量的變動時，也能夠穩(wěn)定地測定鋼板的局部磁特性分布，磁特性測定方法包含：預先取得事先測定用被檢體的健全部中的磁敏元件的輸出與磁敏元件的提離量之間的關(guān)系LS(l)作為健全部提離數(shù)據(jù)的步驟；預先取得事先測定用被檢體的缺陷部中的磁敏元件的輸出與磁敏元件的提離量之間的關(guān)系LP(l)作為缺陷部提離數(shù)據(jù)的步驟；測定步驟，測定被檢體中的磁敏元件的輸出x與獲得輸出x時的磁敏元件的提離l；以及校正步驟，采用健全部提離數(shù)據(jù)、缺陷部提離數(shù)據(jù)和在測定步驟中測定出的提離量對在測定步驟中測定的被檢體中的磁敏元件的輸出x進行校正運算。
【專利說明】磁特性測定方法以及磁特性測定裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及測定鋼板的局部磁特性分布的磁特性測定方法以及磁特性測定裝置?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]在鋼板的制造工序中，為了評價并管理鋼板的特性，而大多采用電磁來測定鋼板的局部磁特性分布。這里所說的局部磁特性分布不僅是保磁力、透磁率、鐵損等的磁特性分布，還包含鋼板表面或內(nèi)部的損傷或夾雜物所引起的檢知用電磁的變化。因此，采用了電磁的磁特性的測定裝置還能夠應用于渦流探損或泄漏磁通探損等。
[0003]作為采用了電磁的磁特性測定裝置所共有的問題，舉出了檢測信號相對于檢測元件與測定對象之間的距離(以下，稱為提離量)變動是非常敏感的。一般情況下，期望提離量盡量小，期望其變動量也盡量小。作為提離量變動的原因，公知有鋼板的張力變動、輸送輥的偏心、鋼板的形狀不良等。由于這些原因引起的提離量變動還可以通過追加支持輥等來獲得某程度地降低。但是，難以避免在鋼板的連續(xù)測定線等中使用時的提離量的變動。
[0004]例如，在板厚較薄的鋼板中，容易產(chǎn)生被稱為所謂的形變邊的鋼板邊緣部分的形狀不良部。在產(chǎn)生該形變邊的區(qū)域內(nèi)，鋼板在短周期內(nèi)以上下方向振動幾mm左右。提離量隨著該振動而發(fā)生變動，檢測信號也發(fā)生變動。但是，該檢測信號的變動與鋼帶的特性沒有關(guān)系。因為以上的情況，所以在測定包含形變邊的鋼板的磁特性的情況下，提離量由于形變邊的影響而發(fā)生變動，因此有時將健全部誤識別為是缺陷部，或者相反地將缺陷部判定為是健全部。
[0005]因此，目前提出了用于抑制提離量的變動的各種技術(shù)。例如，在日本專利文獻I中公開了在浮置板上設(shè)置傳感器并保持基于空氣壓的仿效機構(gòu)的技術(shù)。另外，在日本專利文獻2中公開了采用渦流式距離計來校正由于偏心等而產(chǎn)生的提離量變動、使探損精度提高的技術(shù)。另外，在日本專利文獻3中公開了這樣的技術(shù):通過測定檢測傳感器與被檢查材料的提離量，可進行已排除被檢查材料彎曲的影響的測定。另外，在日本專利文獻4中公開了利用具有多個距離測定裝置的頭部來校正探損時的提離量的技術(shù)。
[0006]現(xiàn)有技術(shù)文獻
[0007]專利文獻
[0008]專利文獻1:日本實開昭61-170068號公報
[0009]專利文獻2:日本特開2007-57245號公報
[0010]專利文獻3:日本特開平08-145952號公報
[0011]專利文獻4:日本特開2001-56317號公報

【發(fā)明內(nèi)容】

[0012]發(fā)明所要解決的問題
[0013]但是，在專利文獻I?4記載的技術(shù)中具有以下所示這樣的問題點。即，根據(jù)專利文獻I所述的技術(shù)，在鋼帶全部寬度中提離量發(fā)生變動的情況下，有時可通過在檢測頭部設(shè)置適當?shù)姆滦C構(gòu)來吸收提離量的變動。但是，由于形變邊等鋼板的局部形狀不良而引起的提離量的變動大多僅對檢測元件組中的一部分造成影響，所以大多無法吸收提離量的變動。另一方面，日本專利文獻2?4所述的技術(shù)都是以沒有缺陷的健全部的信號為基準來校正提離量。這樣的技術(shù)對于如渦流探損或泄漏磁通探損這樣與無缺陷部分的輸出相比只要輸出具有變化就檢知為缺陷的測定方法是有用的。但是，這樣的技術(shù)在如磁特性測定那樣根據(jù)所測定的信號電平來評價產(chǎn)品特性或者進行分級時是不充分的。其理由是因為，具有由于磁特性而未對提離量示出線性變動的情況或者能夠產(chǎn)生由于檢測元件等的經(jīng)年變化而引起的靈敏度偏移等。
[0014]本發(fā)明是鑒于上述問題而作出的，其目的是提供即使在產(chǎn)生提離量的變動時，也能夠穩(wěn)定地測定鋼板的局部磁特性分布的磁特性測定方法以及磁特性測定裝置。
[0015]解決問題的手段
[0016]為了解決上述課題并達成目的，本發(fā)明的磁特性測定方法的特征是包含:預先取得事先測定用被檢體的健全部中的磁敏元件的輸出與上述磁敏元件的提離量之間的關(guān)系作為健全部提離數(shù)據(jù)的步驟；預先取得上述事先測定用被檢體的缺陷部中的磁敏元件的輸出與上述磁敏元件的提離量之間的關(guān)系作為缺陷部提離數(shù)據(jù)的步驟；測定步驟，測定被檢體中的磁敏元件的輸出與獲得該輸出時的上述磁敏元件的提離量；以及校正步驟，采用上述健全部提離數(shù)據(jù)、上述缺陷部提離數(shù)據(jù)和在上述測定步驟中測定出的提離量，對在上述測定步驟中測定的上述磁敏元件的輸出進行校正運算。
[0017]為了解決上述課題并達成目的，本發(fā)明的磁特性測定裝置的特征是具備:勵磁元件，其使被檢體磁化；磁敏元件，其檢測由上述勵磁元件引起的上述被檢體上的磁特性分布；距離測定裝置，其測量上述磁敏元件與上述被檢體之間的提離量；存儲裝置，其存儲表示健全部中的上述磁敏元件的輸出與上述磁敏元件的提離量之間的關(guān)系的健全部提離數(shù)據(jù)以及表示缺陷部中的磁敏元件的輸出與上述磁敏元件的提離量之間的關(guān)系的缺陷部提離數(shù)據(jù)；以及運算裝置，其采用上述健全部提離數(shù)據(jù)、上述缺陷部提離數(shù)據(jù)和由上述距離測定裝置測定出的提離量，來校正上述磁敏元件的輸出。
[0018]發(fā)明的效果
[0019]根據(jù)本發(fā)明的磁特性測定方法以及磁特性測定裝置，即使在產(chǎn)生提離量的變動時也能夠穩(wěn)定地測定鋼板的局部磁特性分布。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0020]圖1是示出本發(fā)明實施方式的磁特性測定裝置的結(jié)構(gòu)的示意圖。
[0021]圖2是示出本發(fā)明實施方式的檢測頭部的結(jié)構(gòu)例的示意圖。
[0022]圖3是示出本發(fā)明實施方式的提離量校正的原理的概念性曲線圖。
[0023]圖4是示出本發(fā)明實施方式的事先測定用被檢體的采取例的示意圖。
[0024]圖5是示出對薄鋼板施加交流磁場并測定包含形狀不良部在內(nèi)的鋼板的局部磁特性的例子的曲線圖。
[0025]圖6是示出本發(fā)明實施方式的沒有進行提離量校正的磁敏元件的輸出與提離量之間的關(guān)系的曲線圖。
[0026]圖7是示出本發(fā)明實施方式的進行提離量校正的磁敏元件的輸出與沒有進行提離量校正的磁敏元件的輸出之間的關(guān)系的曲線圖。
[0027]圖8是示出在包含缺陷部在內(nèi)的鋼板中提離量校正前后的磁敏元件的輸出與提離量之間的關(guān)系的曲線圖。
【具體實施方式】
[0028]以下，參照附圖來說明本發(fā)明實施方式的磁特性測定方法以及磁特性測定裝置。此外，本發(fā)明沒有被該實施方式所限定。另外，在附圖中對同一部分附加同一符號進行表
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[0029]圖1是示出本發(fā)明實施方式的磁特性測定裝置的結(jié)構(gòu)的示意圖。如圖1所示，磁特性測定裝置I具備檢測頭部2a和控制部2b。檢測頭部2a具備勵磁元件3、磁敏元件4和距離測定裝置5，控制部2b具備勵磁裝置6、運算裝置7、存儲裝置8和顯示裝置9。
[0030]勵磁元件3是用于使被檢體10磁化的裝置，可由線圈等構(gòu)成。勵磁元件3所施加的磁場可以為交流磁場、直流磁場或者這雙方的組合。在圖1所示的例子中，在檢測頭部2a的內(nèi)部設(shè)置勵磁元件3，但也可以相對于被檢體10在檢測頭部2a的相反側(cè)設(shè)置勵磁元件
3。當組合交流磁場和直流磁場來使用時，可在檢測頭部2a的內(nèi)部以及相反側(cè)雙方都設(shè)置勵磁元件3。
[0031]磁敏元件4是檢測被檢體10的表面或內(nèi)部的磁特性分布的裝置，可采用線圈以及霍爾元件等一般的磁傳感器。在本發(fā)明的說明中，所謂被檢體10的表面，定義為還包含被檢體10的表面附近。在泄漏磁通探損中，通過檢測從被檢體10的表面泄漏的泄漏磁通來檢測被檢體10的缺陷，但即使在檢測這種表面附近的磁場的測定中也能夠應用本發(fā)明。
[0032]磁敏元件4根據(jù)檢測性能的觀點，優(yōu)選使與被檢體10的距離(即提離量)盡量小。另一方面，在提離量過小的情況下，由于被檢體10的振動或形狀不良，有可能導致檢測頭部2a與被檢體10接觸。在檢測頭部2a與被檢體10接觸的情況下，具有產(chǎn)生頭部的破損或者作為被檢體10的鋼板的損傷或斷裂等危險性，所以需要取得安全的間隔。因此，根據(jù)檢測性能與鋼板的特性等制約條件來決定該提離的基準量。
[0033]將距離測定裝置5設(shè)置為與磁敏元件4接近，并測定提離量。作為距離測定裝置5，例如可采用激光距離計等一般的距離計。采用激光距離計作為距離測定裝置5的優(yōu)點是測定點小，所以能夠正確地測定距離，減少相鄰的距離測定裝置彼此間或與磁敏元件4之間的干涉。
[0034]勵磁裝置6通過對勵磁元件3提供交流電流或直流電流，來使勵磁元件3進行勵磁。在圖1所示的例子中，在控制部2b的內(nèi)部設(shè)置勵磁裝置6，但也可以與控制部2b獨立地設(shè)置勵磁裝置6。
[0035]運算裝置7采用距離測定裝置5的輸出來校正磁敏元件4的輸出。運算裝置7參照事先測定并存儲在存儲裝置8內(nèi)的健全部與提離量之間的關(guān)系的數(shù)據(jù)以及缺陷部與提離量之間的關(guān)系的數(shù)據(jù)來校正磁敏元件4的輸出。因此，在事先的數(shù)據(jù)測定時，運算裝置7還兼進行向存儲裝置8存儲磁敏元件4以及距離測定裝置5的輸出的處理。
[0036]運算裝置7向顯示裝置9發(fā)送已校正的磁敏元件4的輸出。顯示裝置9以適當?shù)男问斤@示檢測結(jié)果。運算裝置7也可取代向顯示裝置9顯示檢測結(jié)果，而向存儲裝置8存儲檢測結(jié)果。[0037]圖2是示出本發(fā)明實施方式的檢測頭部2a的結(jié)構(gòu)例的示意圖。圖2所示的檢測頭部2a的結(jié)構(gòu)例是檢測頭部2a具備20個磁敏元件4和5個距離測定裝置5的結(jié)構(gòu)例。雖然期望相對于I個磁敏元件4具備I個距離測定裝置5，但即使距離測定裝置5的數(shù)量少于磁敏元件4，也不會受到被檢體10的形狀等妨礙。
[0038]如圖2所示的檢測頭部2a的結(jié)構(gòu)例那樣，當距離測定裝置5的數(shù)量少于磁敏元件4時，需要對沒伴隨有距離測定裝置5的磁敏元件4適當?shù)夭逯堤犭x量。例如，對相鄰的兩個距離測定裝置5中的距離測定裝置5與被檢體10之間的距離值加權(quán)后進行插值，由此能夠設(shè)成沒伴隨有距離測定裝置5的磁敏元件4中的提離量。當形狀變化急劇時，可使用更高次的多項式插值。，控制部2b內(nèi)的運算裝置7執(zhí)行上述的插值運算。
[0039]在檢測頭部2a內(nèi)優(yōu)選，在容易產(chǎn)生形狀不良的區(qū)域(例如，被檢體10的邊緣部)中緊密地配置距離測定裝置5，確保提離量測定的精度。另一方面，在難以產(chǎn)生形狀不良的區(qū)域中，可降低距離測定裝置5的配置密度。由此，能夠既降低總成本，又確保必要的距離測定裝置5的配置密度。
[0040]接著，說明上述磁特性測定裝置I的結(jié)構(gòu)例的磁特性測定方法。
[0041]圖3是示出本發(fā)明實施方式的提離量校正的原理的概念性曲線圖。如圖3所示，本發(fā)明實施方式的提離量校正采用已事先測定的健全部的輸出與提離量之間的關(guān)系Ls(I)以及缺陷部的輸出與提離量之間的關(guān)系Lp(I)。
[0042]在圖3所示的例子中，隨著提離量變大，健全部以及缺陷部的輸出降低。該輸出與提離量之間的關(guān)系根據(jù)測定的原理或方法而不同，只要能夠事先取得健全部的輸出與提離量之間的關(guān)系Ls(I)以及缺陷部的輸出與提離量之間的關(guān)系Lp(I)，就可以適當?shù)貙嵤┍景l(fā)明實施方式的磁特性測定方法。
[0043]作為事先取得健全部的輸出與提離量之間的關(guān)系Ls(I)以及缺陷部的輸出與提離量之間的關(guān)系Lp(I)的方法，具有準備事先測定用被檢體并采用磁特性測定裝置I來測定該事先測定用被檢體的方法。利用該事先測定用被檢體(健全部標準校正板以及模擬缺陷部的缺陷部模擬標準校正板)，進行適當決定磁特性裝置I的靈敏度或檢測健全部以及缺陷部時的閾值的校正。
[0044]一般情況下，在渦流探損或泄漏磁通探損中，可采用鉆孔等人工缺陷作為缺陷部。另外，還可以采用通過計算機仿真等計算出了缺陷附近的電磁場分布的結(jié)果。但是，磁化方向與健全部不同的磁特性缺陷部與健全部相比，在結(jié)晶粒的大小或結(jié)晶方位等特征上大多不同。因此，難以根據(jù)鉆孔等人工缺陷來模擬磁化方向與健全部不同的磁特性缺陷部。
[0045]另外，例如也不容易從產(chǎn)品的磁特性缺陷部中采取缺陷部模擬標準校正板。這是因為，缺陷部是由于制造條件的不適合等而產(chǎn)生的，不是有意產(chǎn)生的，從而導致健全部與缺陷部摻雜在一起，或者該缺陷的程度具有偏差。另外，缺陷部的大小也未必是固定的。這樣，當從實際的鋼板缺陷部中采取缺陷部模擬標準校正板時，無法排除偶然性，從而難以在磁特性測定裝置的校正中制成適當大小的事先測定用被檢體。
[0046]因此，在本發(fā)明中，關(guān)注于磁特性與健全部不同的缺陷部和健全部的結(jié)晶方位之差來制作事先測定用被檢體。圖4是示出事先測定用被檢體的取出方法的示意圖。如圖4所示，在本發(fā)明中，通過使用剪切等從同一健全的鋼板S中改變角度地進行切取，來取出健全部標準校正板IOla和缺陷部模擬標準校正板101b。此時，可通過從鋼板S中選擇取出缺陷部模擬標準校正板IOla的角度，來任意地選擇缺陷部模擬標準校正板IOlb的缺陷程度。
[0047]作為一例，當沿著鋼板的壓延方向A制作健全部標準校正板并且選擇與健全部標準校正板之間的磁特性之差最大這樣的角度時，缺陷部模擬標準校正板IOIb的缺陷程度成為最大。具體地說，當選擇易磁化軸占優(yōu)勢的方向([100]方向)設(shè)置健全部標準校正板101a、選擇難磁化軸占優(yōu)勢的方向([111]方向)設(shè)置缺陷部模擬標準校正板IOlb時，缺陷部模擬標準校正板IOlb的缺陷程度成為最大。
[0048]只要相對于易磁化軸的方向在從0°到與難磁化軸占優(yōu)勢的方向?qū)?4.7°范圍內(nèi)選擇取出缺陷部模擬標準校正板IOlb的角度，就能夠任意地選擇缺陷程度。根據(jù)判定為缺陷的閾值來決定缺陷部模擬標準校正板IOlb中的缺陷部的程度。
[0049]這樣，當利用健全部標準校正板IOla和缺陷部模擬標準校正板IOla改變從鋼板中取出的角度時，能夠使結(jié)晶方位有效地進行變化，改變?nèi)毕莸某潭取Ａ硗?，根?jù)此方法，可通過僅選擇從鋼板中取出的角度來制作缺陷部模擬標準校正板101b，所以缺陷部的再現(xiàn)性高。另外，顯然對制作的缺陷模擬標準校正板IOIb的大小沒有限制。
[0050]不限于作為事先測定用被檢體101而預先分別切取健全部標準校正板IOla和缺陷部模擬標準校正板IOIb的方法。例如，當使用事先測定用被檢體101進行校正時，也可以僅通過使健全部標準校正板IOla旋轉(zhuǎn)而作為缺陷部模擬標準校正板101b。在此情況下，能夠通過相對于磁特性測定裝置I以預定的角度可旋轉(zhuǎn)地安裝事先測定用被檢體101，來使磁特性測定裝置I與事先測定用被檢體101之間的相對角度發(fā)生變化，使有效的結(jié)晶方位進行變化。由此，可利用單 一鋼板(事先測定用被檢體101)來實現(xiàn)健全部標準校正板IOla和缺陷部模擬標準校正板IOlb雙方。
[0051]在本發(fā)明實施方式的磁特性測定方法中，采用健全部標準校正板IOla來取得健全部的輸出與提離量之間的關(guān)系Ls (I)。作為取得方法的一例，采用適當?shù)拈g隔物使提離發(fā)生變化并且記錄輸出。同樣，采用缺陷部模擬標準校正板IOlb來取得缺陷部的輸出與提離量之間的關(guān)系LP(1)。由此，取得如圖3所示的關(guān)系。接著，如以下這樣地校正磁敏元件4的輸出。
[0052]當由距離測定裝置5測定的測定時的提離量是I時，設(shè)磁敏元件4的輸出為X。利用以下所示的公式(I)來定義此時的相對輸出X。該相對輸出X表示將健全部中的磁敏元件4的輸出(健全部輸出)設(shè)為0，將缺陷部中的磁敏元件4的輸出(缺陷部輸出)設(shè)為I時的磁敏兀件4的相對輸出。即，該相對輸出X根據(jù)缺陷的程度而變化。
_ Λ' — Ls (I)
剛 X = LXI)-LU) …⑴
[0054]接著，采用該相對輸出X，計算基準提離量l=ref時的輸出值作為校正輸出y。雖然該提離量的基準值ref的選定方法是任意的，例如可選擇提離量的設(shè)計值或?qū)嶋H測定中的最頻值。當將基準提離量l=ref時的健全部輸出以及缺陷部輸出分別設(shè)為Ls (ref)以及Lp(ref)時，可利用以下所示的公式(2)來表示校正輸出y。通過進行這樣的校正，即使提離量發(fā)生變動，也能夠獲得與缺陷程度相應的輸出，所以能夠?qū)嵤└呔鹊臏y定。
[0055]y = X X (Lp (ref) -Ls (ref)) +Ls (ref)...(2)
[0056]接著，對上述說明的本發(fā)明實施方式的磁特性測定裝置以及磁特性測定方法的效果進行說明。[0057]圖5是示出對薄鋼板施加交流磁場并測定包含形狀不良部在內(nèi)的鋼板的局部磁特性的例子的曲線圖。在圖5所示的曲線圖中一并記錄了本發(fā)明實施方式的提離校正前后的磁敏元件4的各個通道(共計20通道(20ch))的輸出與該測定時的各個磁敏元件4的提離量。利用左軸讀出提離校正前后的磁敏元件4的輸出值，利用右軸讀出磁敏元件4的
提離量值。
[0058]圖5所示的磁特性測定例中的20通道的磁敏元件4在薄鋼板的寬度方向上排列。因此，圖5所示的曲線圖的橫軸(ch軸)表示薄鋼板的寬度方向的檢測磁力。由圖5所示的曲線圖可知，當由于薄鋼板具有形變邊等而引起在薄鋼板的寬度方向上產(chǎn)生提離量的差異時，與該提離量相關(guān)，磁敏元件4的輸出也降低。但是可知，根據(jù)本發(fā)明實施方式的磁特性測定，可校正通道間的提離量的差異，并使磁敏元件4的輸出平坦化。
[0059]接著，參照圖6以及圖7來說明關(guān)于與鋼板的長邊方向相關(guān)的提離量變動的校正例。
[0060]圖6是示出沒有進行本發(fā)明實施方式的提離校正的磁敏元件4的輸出與提離量之間的關(guān)系的曲線圖。在圖6中，利用左軸讀出磁敏元件4的輸出(曲線圖中為虛線)值，利用右軸讀出提離量(曲線圖中為單點劃線)。如圖6所示，提離量的變動與磁敏元件4的輸出具有非常強的相關(guān)性。例如在圖6中，當在提離量變動比較小的A區(qū)間與提離量變動大的B區(qū)間中比較磁敏元件4的輸出變動時,B區(qū)間中的磁敏元件4的輸出變動AbKAE間中的磁敏元件4的輸出變動Aa大。其結(jié)果是，在提離量變動大的區(qū)間中，缺陷部所引起的磁敏元件4的輸出變動被埋沒于提離量變動所引起的變動中，與缺陷的誤檢測相關(guān)。圖7是示出進行本發(fā)明實施方式的提離校正后的磁敏元件4的輸出與沒有進行提離校正的磁敏元件4的輸出之間的關(guān)系的曲線圖。在圖7中，利用左軸讀出校正后的磁敏元件4的輸出(曲線圖中為實線)的值，利用右軸讀出校正前的磁敏元件4的輸出(曲線圖中為虛線)的值。由圖7所示可知，利用本發(fā)明實施方式的提離校正來降低磁敏元件4的輸出變動。
[0061]接著，參照圖8，根據(jù)本發(fā)明實施方式的磁特性測定方法，來說明根據(jù)測定數(shù)據(jù)來鑒別缺陷部的方法。
[0062]圖8是示出在包含缺陷部的鋼板中提離校正前后的磁敏元件4的輸出與提離量之間的關(guān)系的曲線圖。在圖8中，將包含從缺陷部a到缺陷部d這4個缺陷部在內(nèi)的鋼板的測定數(shù)據(jù)曲線圖化。如圖8所示，在缺陷部d中，傳感器輸出伴隨著提離量的變動而降低。因此，無論是否為缺陷部，傳感器輸出都低于缺陷閾值(判定為缺陷的閾值)，因此未檢測出缺陷部d。但是，根據(jù)本發(fā)明實施方式的提離校正，可使缺陷部d的傳感器輸出成為閾值以上，能夠正確地檢測缺陷部d。
[0063]根據(jù)以上的結(jié)果已確認，通過本發(fā)明實施方式的提離校正，可進行排除了提離量變動的影響的測定。通過采用該校正，在鋼板的全長全寬中校正輸出，并能夠進行已抑制了干擾即提離量變化的影響的測定。另外，本發(fā)明實施方式的提離校正不僅能夠應用于磁特性不良部的檢測，還能夠應用于鐵損、透磁率、保持力或與它們具有相關(guān)性的機械特性的測定或者渦流探損及泄漏磁通探損中的探損。排除由于張力變動或輥偏心等或者局部的形狀不良而導致的提離量變動的影響，有助于高精度測定。此外，還可以通過在制造工序中應用本發(fā)明實施方式的磁特性測定裝置，來正確地測定鋼板的磁特性，可靠地檢測不適合部位。通過對檢測出的缺陷部位進行切除、修理或標識等來提高產(chǎn)品的可靠性。[0064]如上所述，根據(jù)本發(fā)明，可通過測量提離量并進行輸出校正，來穩(wěn)定且高精度地測定被檢體的磁特性分布。另外，不僅能夠通過采用健全部與缺陷部的2個輸出實施輸出校正來進行高精度的校正，還可以使本發(fā)明實施的校正值自身成為缺陷程度的指標。此外，因為是2點校正方式，所以能夠進行已排除了輸出偏移等影響的測定。
[0065]即，根據(jù)本發(fā)明實施方式的磁特性測定方法，包含:預先取得事先測定用被檢體的健全部中的磁敏元件4的輸出與磁敏元件4的提離量之間的關(guān)系Ls(I)作為健全部提離數(shù)據(jù)的步驟；預先取得事先測定用被檢體的缺陷部中的磁敏元件4的輸出與磁敏元件4的提離量之間的關(guān)系Lp(I)作為缺陷部提離數(shù)據(jù)的步驟；測定被檢體10中的磁敏元件4的輸出與獲得該輸出時的磁敏元件4的提離量的測定步驟；和采用健全部提離數(shù)據(jù)、缺陷部提離數(shù)據(jù)以及在測定步驟中測定出的提離量對在測定步驟中測定到的磁敏元件4的輸出進行校正運算的校正步驟，所以即使在產(chǎn)生由于鋼板的張力變動、輸送輥的偏心以及鋼帶的形狀不良等引起的提離量變動時，也能夠穩(wěn)定地測定鋼板的局部磁特性分布。
[0066]另外，根據(jù)本發(fā)明實施方式的磁特性測定方法，因為校正步驟包含計算在測定步驟中測定的磁敏元件4的相對輸出的步驟，其中，所述相對輸出是相對于磁敏元件4的提離量是在測定步驟中測定出的提離量時的事先測定用被檢體的健全部以及缺陷部的磁敏元件4的輸出而言的，所以本發(fā)明的實施所涉及的校正輸出可用作缺陷程度的指標。
[0067]另外，本發(fā)明實施方式的磁特性測定裝置具備:勵磁元件3，其使被檢體磁化；磁敏元件4，其檢測由勵磁元件3引起的被檢體10上的磁特性分布；距離測定裝置5，其測量磁敏元件4與被檢體10之間的提離量；存儲裝置8，其存儲表示健全部中的磁敏元件4的輸出與磁敏元件4的提離量之間的關(guān)系Ls(I)的健全部提離數(shù)據(jù)以及表示缺陷部中的磁敏元件的輸出與磁敏元件4的提離量之間的關(guān)系Lp(I)的缺陷部提離數(shù)據(jù)；以及運算裝置7，其采用健全部提離數(shù)據(jù)、缺陷部提離數(shù)據(jù)和由距離測定裝置5測定的提離量來校正磁敏元件4的輸出，所以即使在產(chǎn)生由于鋼板的張力變動、輸送輥的偏心以及鋼帶的形狀不良等而引起的提離量變動時，也能夠穩(wěn)定地測定鋼板的局部磁特性分布。
[0068]另外，根據(jù)本發(fā)明實施方式的事先測定用被檢體，能夠再現(xiàn)性高地校正磁敏元件的輸出或判定閾值。另外，可制作任`意缺陷程度的缺陷部模擬標準校正板并進行校正，可最大限地獲得本發(fā)明實施方式的磁特性測定裝置的性能。
[0069]另外，根據(jù)本發(fā)明實施方式的磁特性測定裝置，可具備個數(shù)多于距離測定裝置5的磁敏元件4，通過采用距離測定裝置5與被檢體10之間的距離進行插值來計算磁敏元件4與被檢體10之間的提離量，所以既能夠降低總成本，又能夠確保必要的距離測定裝置5的配置密度。
[0070]工業(yè)上的可利用性
[0071]本發(fā)明可應用于測定鋼板的局部磁特性分布的磁特性測定方法以及磁特性測定
>J-U ρ?α裝直。
[0072]符號說明
[0073]I磁特性測定裝置
[0074]2a檢測頭部
[0075]2b控制部
[0076]3勵磁元件[0077]4磁敏元件
[0078]5距離測定裝置
[0079]6勵磁裝置
[0080]7運算裝置
[0081]8存儲裝置
[0082]9顯示裝置
[0083]10被檢體
【權(quán)利要求】
1.一種磁特性測定方法，其特征在于，包含: 預先取得事先測定用被檢體的健全部中的磁敏元件的輸出與所述磁敏元件的提離量之間的關(guān)系作為健全部提離數(shù)據(jù)的步驟； 預先取得所述事先測定用被檢體的缺陷部中的磁敏元件的輸出與所述磁敏元件的提離量之間的關(guān)系作為缺陷部提離數(shù)據(jù)的步驟； 測定步驟，測定被檢體中的磁敏元件的輸出與獲得該輸出時的所述磁敏元件的提離量；以及 校正步驟，采用所述健全部提離數(shù)據(jù)、所述缺陷部提離數(shù)據(jù)和在所述測定步驟中測定出的提離量，對在所述測定步驟中測定出的所述磁敏元件的輸出進行校正運算。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁特性測定方法，其特征在于， 所述校正步驟包含計算在所述測定步驟中測定的所述磁敏元件的相對輸出的步驟，其中，所述相對輸出是相對于所述磁敏元件的提離量是在所述測定步驟中測定出的提離量時的所述事先測定用被檢體的健全部以及缺陷部中的磁敏元件的輸出而言的。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的磁特性測定方法，其特征在于， 所述校正步驟包含采用所述磁敏元件的相對輸出計算磁敏元件的提離量是預定值時的磁敏元件的輸出作為校正值的步驟。
4.根據(jù)權(quán)利要求1?3中的任意I項所述的磁特性測定方法，其特征在于， 所述缺陷部是磁化方向與所述健全部的磁化方向不同的區(qū)域，作為所述事先測定用被檢體，從同一鋼板的健全部以相互不同的角度取出用于取得所述健全部提離數(shù)據(jù)的健全部標準校正板和用于取得所述缺陷部提離數(shù)據(jù)的缺陷部模擬標準校正板。
5.根據(jù)權(quán)利要求1?3中的任意I項所述的磁特性測定方法，其特征在于， 所述缺陷部是磁化方向與所述健全部的磁化方向不同的區(qū)域，作為所述事先測定用被檢體，將鋼板的健全部作為用于取得所述健全部提離數(shù)據(jù)的健全部標準校正板，并且使該健全部標準校正板旋轉(zhuǎn)到不同的角度而作為用于取得所述缺陷部提離數(shù)據(jù)的缺陷部模擬標準校正板。
6.一種磁特性測定裝置，其特征在于，具備: 勵磁元件，其使被檢體磁化； 磁敏元件，其檢測由所述勵磁元件引起的所述被檢體上的磁特性分布； 距離測定裝置，其測量所述磁敏元件與所述被檢體之間的提離量； 存儲裝置，其存儲表示健全部中的所述磁敏元件的輸出與所述磁敏元件的提離量之間的關(guān)系的健全部提離數(shù)據(jù)以及表示缺陷部中的磁敏元件的輸出與所述磁敏元件的提離量之間的關(guān)系的缺陷部提離數(shù)據(jù)；以及 運算裝置，其采用所述健全部提離數(shù)據(jù)、所述缺陷部提離數(shù)據(jù)和由所述距離測定裝置測定出的提離量，來校正所述磁敏元件的輸出。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的磁特性測定裝置，其特征在于， 具有個數(shù)多于所述距離測定裝置的所述磁敏元件， 通過采用所述距離測定裝置與所述被檢體之間的距離進行插值來計算所述磁敏元件與所述被檢體之間的提離量。
【文檔編號】G01N27/72GK103562714SQ201280025932
【公開日】2014年2月5日 申請日期:2012年5月24日 優(yōu)先權(quán)日:2011年5月30日
【發(fā)明者】西澤佑司, 原園學, 岡田典久, 四辻淳一 申請人:杰富意鋼鐵株式會社