專利名稱：具有改進的操作點調(diào)整的、檢測運轉(zhuǎn)紗線中的缺陷的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
如權(quán)利要求I中的前序部分所述，本發(fā)明涉及一種使用幾何光學傳感器單元非接觸檢測運轉(zhuǎn)紗線(running thread)中的缺陷的方法。所述缺陷在這里被理解為具體指突出的絲線或絲線斷裂，但也指運轉(zhuǎn)紗線夾帶的顆粒，例如棉絨片或污物顆粒。
背景技術(shù)：
為實施這樣的方法，眾所周知，在紗線生產(chǎn)的技術(shù)部門，絲線斷裂傳感器被用于保證質(zhì)量。在此范疇內(nèi)已經(jīng)推出兩款產(chǎn)品。一個是出自Enka Tecnica公司的所謂的“Fraytec系統(tǒng)”，另一個是出自Fibrevision公司的“FibreTQS系統(tǒng)”。這兩個系統(tǒng)以不同的方式檢測絲線斷裂及其他瑕疵。“Fraytec系統(tǒng)”通過設置在不同位置的光柵(light barrier)檢測絲線斷裂，而“FibreTQS系統(tǒng)”利用遮擋光學器件通過噪聲信號分析來測量絲線斷裂。在 EP1288612 A2中對這兩個系統(tǒng)都有描述。Fibrevision公司在2008年將這兩種技術(shù)予以組合，提出一種雙采集系統(tǒng)并被命名為“FraytecTQS”。在所述系統(tǒng)中，通過遮擋光學器件既監(jiān)測來自絲線光柵監(jiān)測的觸發(fā)信號又監(jiān)測紗線的結(jié)構(gòu)。然而，這仍然涉及到兩種不同的測量方法，雖然它們被組合在一個傳感器外殼內(nèi)，卻仍然具有各自獨立的評估技術(shù)。因此，例如，觸發(fā)光柵用于檢測非常短或細的絲線斷裂，而遮擋光學器件用于檢測更大的缺陷。該組合系統(tǒng)具有至少三個光柵，其中，稱為遮擋光柵的光柵形成遮擋光學器件，運轉(zhuǎn)紗線穿過該遮擋光學器件，并且該遮擋光學器件檢測運轉(zhuǎn)紗線的結(jié)構(gòu)，而在所述三個光柵中，至少兩個另外的觸發(fā)光柵被設置為與紗線相距不同的距離和/或被設置在紗線的不同側(cè)，使得只有運轉(zhuǎn)紗線的缺陷才引起所述觸發(fā)光柵的遮擋。因此在無缺陷的生產(chǎn)過程中觸發(fā)光柵不會被紗線遮擋。從DE10353892A1已知曉一種用于測量對象的測量裝置，其使用多個光柵來運行。與本發(fā)明的方法相反，該測量裝置中始終是多個光柵被遮擋。進行這樣的校準，即，通過逐步增加基準光柵上的傳送功率來設定接收標稱值(reception nominal value),然后,針對該傳送功率，為所有其他的光柵確定校正系數(shù)，以便讓其他光柵的實際值達到所期望的標稱值。由于污物進入幾何光學傳感器單元，光柵輸出會出現(xiàn)失真信號，這對期望的對運轉(zhuǎn)紗線中的缺陷的檢測造成損害。為了對這種污物累積進行補償，可以一定的時間間隔或者甚至是持續(xù)地再次調(diào)整或跟蹤觸發(fā)光柵的操作點。但是，針對遮擋光柵而言，由于測量對象5引起的遮擋也會被補償，因而這樣的跟蹤不能實現(xiàn)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明解決的問題是，提供一種對開頭提到的類型的改進方法，無須費力就能很容易地實施該方法，并提供在遮擋光柵上補償污物累積的改進的可能性。根據(jù)本發(fā)明，這個問題通過權(quán)利要求I的方法得以解決。
本發(fā)明的方法中至關(guān)重要的是，在觸發(fā)光柵上發(fā)生的操作點漂移被應用到遮擋光柵，使得遮擋光柵的操作點基于與觸發(fā)光柵的操作點漂移的預定依賴關(guān)系而被調(diào)整或跟
足示O以這種方式，即使是對遮擋光柵也能自動進行污物補償。為此，由觸發(fā)光柵預先確定的操作點漂移(該操作點漂移用于補償觸發(fā)光柵上的污物累積)被用于補償同樣出現(xiàn)在遮擋光柵的區(qū)域中的相似或相同的污物累積。因此，這是由觸發(fā)光柵主導的污物補償。根據(jù)本發(fā)明的一個具體優(yōu)選實施例，提出這樣的方案與觸發(fā)光柵的操作點漂移成比例地調(diào)整遮擋光柵的操作點。本發(fā)明還涉及一種用于實施上述這類方法的裝置。



根據(jù)下面的描述和附圖所示的實施例的例子，本發(fā)明的進一步的優(yōu)點和特征將變得顯而易見，其中該附圖示出實施本發(fā)明的方法的裝置的示意圖。
具體實施例方式所示出的包括幾何光學傳感器單元I的系統(tǒng)的背景是，將通過觸發(fā)光柵2進行的絲線斷裂檢測與遮擋光學器件3的同時使用予以組合，以便檢測和進一步處理沿著箭頭4的方向行進的紗線5中出現(xiàn)的絲線斷裂或缺陷。在所示出的例子中，提供6個觸發(fā)光柵2，它們被設置在紗線5的兩個不同側(cè)且與紗線5的距離不同，并且沿著紗線的行程而位于不同位置。各觸發(fā)光柵2的每一個都可由分立的光柵或由二極管陣列實現(xiàn)。遮擋光柵3使用準直光(光束彼此平行)進行操作。這里，所述觸發(fā)光柵2的光束直徑明顯小于遮擋光柵3的光束直徑，使得與當遮擋光柵被紗線直徑3持續(xù)遮擋時的情形相比，在觸發(fā)光柵2上由單個紗線凸起7形成的相對較小的遮擋導致相對較大的變化。如果由觸發(fā)光柵2傳送的信號被饋送到檢查所述信號的可信度的評估單元，這種方案特別有利。在這種情況下，如果由觸發(fā)光柵2傳送的信號被認為是不可信的，該信號可以被忽略。優(yōu)選地，可以基于來自觸發(fā)光柵2的信號對時間的依賴性來檢查可信度。以這種方式，還可以集成所謂的“閃爍控制”，即檢查由于外部的光閃爍引起的錯誤信號。這種策略是基于沿紗線方向位于不同位置的各觸發(fā)光柵2的布置而實現(xiàn)的。絲線缺陷7總是在多個觸發(fā)光柵2上按照一定的順序觸發(fā)事件，而干擾性閃爍卻幾乎同時觸發(fā)所有觸發(fā)光柵2。這種同時性可以借助于評估電子器件或傳感器程序予以評估、進一步加以利用和/或予以顯示。由于測量系統(tǒng)基本上由多個平放在表面上的光柵組成，遮擋光柵3上的污物累積可以被檢測和補償。例如，在正常運轉(zhuǎn)模式下，觸發(fā)光柵2的操作點不會被測量對象5遮擋，通過對觸發(fā)光柵2的操作點進行持續(xù)跟蹤或以預定時間進行跟蹤，對污物累積進行補償。作為對比，并不能進行對遮擋光柵3的這種簡單跟蹤，因為此時由于測量對象5引起的遮擋也會被補償。但是，如果利用由觸發(fā)光柵2預先確定的操作點漂移，則此信息可用于補償在遮擋光柵3的區(qū)域中發(fā)生的類似或相同的污物累積(由觸發(fā)光柵2主導的污物補償)。
權(quán)利要求
1.一種非接觸檢測運轉(zhuǎn)紗線(5)中的缺陷的方法，其中，缺陷具體由突出的絲線(7)或由絲線斷裂或由夾帶的污物顆粒或棉絨片形成， 其中，在紡織機上，優(yōu)選地在紡織機的卷繞位置或卷繞裝置上，使用具有至少三個光柵(2,3)的幾何光學傳感器單元(1)，其中稱為遮擋光柵的第一光柵(3)形成遮擋光學器件，所述運轉(zhuǎn)紗線(5)穿過所述遮擋光學器件，并且所述遮擋光學器件檢測所述運轉(zhuǎn)紗線(5)的結(jié)構(gòu)，而在所述三個光柵(2，3)中，至少兩個另外的觸發(fā)光柵(2)被設置為與所述紗線(5)相距不同的距離和/或設置在所述紗線(5)的不同側(cè)，使得只有所述運轉(zhuǎn)紗線(5)的缺陷才引起所述觸發(fā)光柵的遮擋，以及 其中持續(xù)地或以預定時間調(diào)整或跟蹤所述觸發(fā)光柵的操作點，以補償所述觸發(fā)光柵上可能的污物累積或抑制所述幾何光學傳感器單元的組件的老化癥狀， 其特征在于， 在所述觸發(fā)光柵(2)上發(fā)生的操作點漂移被應用于所述遮擋光柵(3)，使得所述遮擋光柵(3)的操作點基于與所述觸發(fā)光柵(2)的操作點漂移的預定依賴關(guān)系而被調(diào)整或跟足示O
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，與所述觸發(fā)光柵(2)的操作點漂移成比例地調(diào)整所述遮擋光柵(3)的操作點。
3.一種非接觸檢測運轉(zhuǎn)紗線(5)中的缺陷的裝置，包括 -具有至少三個光柵(2，3)的幾何光學傳感器單元(I )，其中稱為遮擋光柵的第一光柵(3)形成遮擋光學器件，所述運轉(zhuǎn)紗線(5)能夠穿過所述遮擋光學器件，并且借助于所述遮擋光學器件能夠檢測所述運轉(zhuǎn)紗線(5)的結(jié)構(gòu)，而在所述幾何光學傳感器單元中，至少兩個另外的觸發(fā)光柵(2)被設置為與所述紗線(5)相距不同的距離和/或設置在所述紗線(5)的不同側(cè)，使得只有所述運轉(zhuǎn)紗線(5)的缺陷才引起所述觸發(fā)光柵的遮擋，以及 -控制單元，借助于所述控制單元能夠持續(xù)地或以預定時間調(diào)整或跟蹤所述觸發(fā)光柵的操作點，以補償所述觸發(fā)光柵上可能的污物累積或抑制所述幾何光學傳感器單元的組件的老化癥狀， 其特征在于， 借助于所述控制單元，在所述觸發(fā)光柵(2)上發(fā)生的操作點的漂移能夠被應用于所述遮擋光柵(3)，使得所述遮擋光柵(3)的操作點基于與所述觸發(fā)光柵(2)的操作點漂移的預定依賴關(guān)系而被調(diào)整或跟蹤。
4.所述非接觸檢測運轉(zhuǎn)紗線(5)中的缺陷的裝置，特別是根據(jù)權(quán)利要求3所述的非接觸檢測運轉(zhuǎn)紗線(5)中的缺陷的裝置，其特征在于，其被設計為用于執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的方法。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種非接觸檢測運轉(zhuǎn)紗線(5)中的缺陷的方法，其中，缺陷具體由突出的絲線(7)或由絲線斷裂或由夾帶的污物顆?；蛎藿q球形成，其中，在紡織機上，優(yōu)選地在紡織機的卷繞位置或卷繞裝置上，使用具有至少三個光柵(2，3)的幾何光學傳感器單元(1)，其中稱為遮擋光柵的第一光柵(3)形成遮擋光學器件，所述運轉(zhuǎn)紗線(5)穿過所述遮擋光學器件，并且所述遮擋光學器件檢測所述運轉(zhuǎn)紗線(5)的結(jié)構(gòu)，而在所述三個光柵(2，3)中，至少兩個另外的觸發(fā)光柵(2)被設置為與所述紗線(5)相距不同的距離和/或設置在所述紗線(5)的不同側(cè)，使得只有所述運轉(zhuǎn)紗線(5)的缺陷才引起所述觸發(fā)光柵的遮擋，其中，持續(xù)地或以預定時間調(diào)整或跟蹤所述觸發(fā)光柵的操作點，以補償所述觸發(fā)光柵上可能的污物累積或抑制所述幾何光學傳感器單元的組件的老化癥狀，其中，在所述觸發(fā)光柵(2)上發(fā)生的操作點漂移被應用到所述遮擋光柵(3)，使得所述遮擋光柵(3)的操作點基于與所述觸發(fā)光柵(2)的操作點漂移的預定依賴關(guān)系而被調(diào)整或跟蹤。
文檔編號G01N21/89GK102906560SQ201180012271
公開日2013年1月30日 申請日期2011年3月4日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月4日
發(fā)明者費迪南德·約瑟夫·赫爾曼斯, 羅爾夫·哈森 申請人:威克股份有限公司