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帶有mpo連接器跳線測試系統(tǒng)的制作方法

文檔序號:6018564閱讀:294來源:國知局
專利名稱:帶有mpo連接器跳線測試系統(tǒng)的制作方法
技術領域
本發(fā)明涉及一種帶有MPO連接器跳線測試系統(tǒng),尤其涉及該測試系統(tǒng)的電路模塊。
背景技術
由于光纖具有頻帶寬、損耗低、重量輕、抗干擾能力強、保真度高、工作性能可靠以及成本低廉等特點,在通信、數(shù)據(jù)傳輸?shù)榷鄠€領域已經(jīng)逐漸取代了信息傳統(tǒng)方式,光纖通信成為當今首選的數(shù)據(jù)傳輸解決方案。雖然光纖通信所提供的大容量、高速度、長距離的信息傳送能力已經(jīng)使得人們在信息的傳送和獲取上獲得了很多便利,但是人們對數(shù)據(jù)傳輸速度更快、傳輸量更大、設備更節(jié)省空間的要求是不斷提高的,于是更高集成度的MPO封裝方式誕生了。帶有MPO連接器的跳線可以更好的減小使用空間、增大通信量。一根帶有MPO連接器的跳線可以集成4芯、8芯或12芯的裸纖,也有公司甚至可以生產(chǎn)M芯的帶有MPO連接器的跳線。假設以12芯的帶有MPO連接器跳線為傳播載體,一根帶有MPO連接器的跳線可以同時傳輸12路數(shù)據(jù),但是連接空間僅占傳統(tǒng)跳線連接器兩個跳線連接頭的空間。在價格上,雖然帶有MPO連接器跳線的價格要遠高于傳統(tǒng)跳線,但是在傳輸數(shù)據(jù)的通路上占了無比大的優(yōu)勢,這樣當價格分攤到每路光纖上,價格反倒比傳統(tǒng)光纖跳線具有更大的價格優(yōu)勢。由以上原因,國際上已經(jīng)開始廣泛使用帶有MPO連接器的跳線作為數(shù)據(jù)傳輸解決方案。中國也在緊跟世界的腳步,加大步伐跟進自己的數(shù)據(jù)傳輸設備,加大帶有MPO連接器跳線的使用量;而且作為世界最大的光纖跳線生產(chǎn)基地,對帶有MPO連接器跳線的生產(chǎn)數(shù)量也會日益增長。隨著帶有MPO連接器跳線產(chǎn)量的加大,生產(chǎn)中所涉及的問題也日益突出未能對帶有MPO連接器跳線的光學性能的采用自動化檢測嚴重影響了帶有MPO連接器跳線的產(chǎn)量及質(zhì)量。光纖跳線的光纖性能檢測包括跳線的插入損耗和回波損耗的檢測,這兩項性能指標的好壞,直接影響光纖跳線的品質(zhì)。目前,國內(nèi)生產(chǎn)帶有MPO連接器跳線的生產(chǎn)廠家在生產(chǎn)測試中所采用的解決方法是使用光分路器搭建光路,通過光纖連接,手動對帶有MPO連接器跳線的每一路進行功率檢測,再通過功率數(shù)據(jù)換算成插入損耗值,這樣做雖然可以降低成本,但是耗時很長且很難測試回波損耗。對一根12路的帶有MPO連接器跳線來說,首先將跳線的一端通過一個MPO 適配器,連接一根MP0-FAN0UT的跳線,F(xiàn)ANOUT端通過12個光纖適配器,連接到光分路器的輸出端,輸入端連接光源;跳線的另一端同樣也需要連接一根MP0-FAN0UT的跳線。操作人員需要逐一測量每路的光輸出功率,最后通過功率值再計算相應的插入損耗值,并手工錄入計算機生成報表。這樣檢測效率極低,嚴重滯后了帶有MPO連接器跳線的生產(chǎn)。設計一種能夠便于連接、快速檢測帶有MPO連接器跳線光學性能的測試系統(tǒng)是技術人員要解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明需要解決的技術問題是提供了一種帶有MPO連接器跳線測試系統(tǒng),旨在解決上述的問題。為了解決上述技術問題,本發(fā)明是通過以下技術方案實現(xiàn)的本發(fā)明包括穩(wěn)定的850nm和1300nm的激光器作為光源、2x2分路器、高速光開關、回波損耗探測模塊、光源功率探測模塊、T5000型大面積砷化鎵探測器、電源管理電路、 串口通訊電路、網(wǎng)口通訊模塊、LCD液晶屏顯示模塊以及單片機控制系統(tǒng);所述的穩(wěn)定的 850nm和1300nm的激光光源與2x2分路器輸入端的一端相連,2x2分路器輸入端的另一端連接到所述的回波損耗探測模塊上;2x2分路器的輸出端一端連接到所述的光源功率探測模塊上,2x2分路器的輸出端另一端連接到所述的高速光開關上;單片機控制系統(tǒng)分別連接穩(wěn)定的850nm和1300nm的激光器、回波損耗模塊、光源功率探測模塊、高速光開關、T5000 型大面積砷化鎵探測器、電源管理電路、串口通訊電路、網(wǎng)口通訊模塊和LCD液晶屏顯示模塊;T5000型大面積砷化鎵探測器自帶MPO型適配器,直接和待測的帶有MPO連接器的跳線連接;高速光開關與測試系統(tǒng)外部的帶有MPO連接器的Fanout型標準纖的Fanout —端相連,帶有MPO連接器的Fanout型標準纖的一端與待測的帶有MPO連接器的跳線相連。與現(xiàn)有技術相比,本發(fā)明的有益效果是快速、便捷地檢測帶MPO連接器跳線的損耗,集手動和自動檢測與一體,性能穩(wěn)定可靠;特別適合測試諸如4芯、8芯和12芯的帶MPO 連接器跳線的檢測。


圖1是本發(fā)明電路模塊圖。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖與具體實施方式
對本發(fā)明作進一步詳細描述由圖1可見本發(fā)明包括穩(wěn)定的850nm和1300nm的激光器作為光源、2x2分路器、高速光開關、回波損耗探測模塊、光源功率探測模塊、T5000型大面積砷化鎵探測器、電源管理電路、串口通訊電路、網(wǎng)口通訊模塊、LCD液晶屏顯示模塊以及單片機控制系統(tǒng);所述的穩(wěn)定的850nm和1300nm的激光光源與2x2分路器輸入端的一端相連,2x2分路器輸入端的另一端連接到所述的回波損耗探測模塊上;2x2分路器的輸出端一端連接到所述的光源功率探測模塊上,2x2分路器的輸出端另一端連接到所述的高速光開關上;單片機控制系統(tǒng)分別連接穩(wěn)定的850nm和1300nm的激光器、回波損耗模塊、光源功率探測模塊、高速光開關、T5000型大面積砷化鎵探測器、電源管理電路、串口通訊電路、網(wǎng)口通訊模塊和IXD 液晶屏顯示模塊;T5000型大面積砷化鎵探測器自帶MPO型適配器,直接和待測的帶有MPO 連接器的跳線連接;高速光開關與測試系統(tǒng)外部的帶有MPO連接器的Fanout型標準纖的 Fanout 一端相連,帶有MPO連接器的Fanout型標準纖的一端與待測的帶有MPO連接器的跳線相連。本發(fā)明中的MPO是Multi-fiber Push On的縮寫,其中文意思為推/拉式多路光纖連接器;Fanout的中文意思為扇出跳線。本發(fā)明采用的上述各模塊都是現(xiàn)有技術的模塊。
采用本發(fā)明,用戶在選擇自動測試后,由NXP公司的ARM LPC2148組成的單片機系統(tǒng),控制YSOD公司的多波長激光器的輸出波長,功率輸出穩(wěn)定的激光光源連接到2x2分路器的輸入端上,另一輸入端連接回波損耗探測模塊,分路器輸出端的一端連接光源功率探測模塊上,輸出端的另一端連接高速光開關,多路光開關與測試系統(tǒng)外部的帶有MPO連接器的Fanout型標準纖的Fanout —端相連,標準纖帶有MPO連接器的一端與待測的帶有MPO 連接器的跳線。當測試待測帶MPO連接器跳線的回波損耗時,將待測帶MPO連接器跳線的另一端與消光膏緊密、穩(wěn)定地接觸,系統(tǒng)將會自動檢測該待測帶MPO連接器跳線的回波損耗值;測量該待測帶MPO連接器跳線的插入損耗時,只需要將待測帶MPO連接器跳線的另一端插入到自帶MPO型適配器的光功率探測器上即可?;夭〒p耗探測模塊由YSOD公司738型激光探測器、MAXIM公司的MAX4238前置放大電路和AD公司的AD7799模數(shù)轉(zhuǎn)換電路構(gòu)成738型激光探測器將激光功率信號轉(zhuǎn)換為電流信號,通過前置放大電路MAX4238放大并轉(zhuǎn)換為電壓信號后,電壓信號經(jīng)過模數(shù)轉(zhuǎn)換電路AD7799轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號后輸入到單片機LPC2148進行處理。插入損耗的測試由AOE公司的T5000型大面積砷化鎵探測器、MAXIM公司的 MAX4238前置放大電路和AD公司的AD7799模數(shù)轉(zhuǎn)換電路構(gòu)成T5000型大面積砷化鎵探測器將激光功率信號轉(zhuǎn)換為電流信號,通過前置放大電路MAX4238放大并轉(zhuǎn)換為電壓信號后,電壓信號經(jīng)過模數(shù)轉(zhuǎn)換電路AD7799轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號后輸入到單片機LPC2148進行處理。在帶有MPO連接器跳線的插入損耗和回波損耗自動測量中,在單片機的控制下, 快速測量帶有MPO連接器跳線輸出端通過的光功率或輸入端反射的回波功率,經(jīng)過與激光器輸出的光功率進行比較計算,得到帶有MPO連接器跳線的插入損耗或回波損耗。單片機系統(tǒng)還通過網(wǎng)口通訊模塊S2E Module經(jīng)RJ45接口通過網(wǎng)線與以太網(wǎng)相連,PC機可以直接通過以太網(wǎng)控制和收發(fā)數(shù)據(jù)。用戶可以利用上位機軟件進行相關的測試, 并保存數(shù)據(jù),可以利用打印功能輕松輸出產(chǎn)品報告??梢苑奖愕貙ο到y(tǒng)進行控制,也可以及時升級本發(fā)明的軟件。本發(fā)明配合上位機軟件有極高的測試速度,大大提高生產(chǎn)和測試效率?,F(xiàn)行的生產(chǎn)工藝中,對一根12路的帶有MPO連接器跳線來說,損耗測試光路是首先將跳線的一端通過一個MPO適配器,連接一根MP0-FAN0UT的跳線,F(xiàn)ANOUT端通過12個光纖適配器,連接到光分路器的輸出端,輸入端連接光源;跳線的另一端同樣也需要連接一根MP0-FAN0UT的跳線。開始測試后,操作人員需要逐一測量每路的光輸出功率,最后通過功率值再計算相應的插入損耗值,并手工錄入計算機生成報表。以多模跳線的插損測試為例,進行單路單波長的光功率記錄約1分鐘(包括波長切換和數(shù)據(jù)記錄),12路的帶有MPO連接器跳線進行2波長光功率記錄約對分鐘;數(shù)據(jù)錄入到計算機中并打印輸出,約9分鐘;所以,一根12路的帶有MPO連接器跳線進行完整的插入損耗測試耗時約需33分鐘。如進行回波損耗測試,所需時間比插入損耗測試時間略多。而使用本發(fā)明時,完成12路的帶有MPO連接器跳線2波長插入損耗測試和回波損耗測試,所需時間不到3分鐘。所以,本發(fā)明針對帶有MPO連接器跳線可以快速進行對插入損耗、回波損耗的測量,有效減少了測量時間和勞動強度,極大地提高了生產(chǎn)效率。
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以上顯示和描述了本發(fā)明的基本原理和主要特征及本發(fā)明的優(yōu)點。本行業(yè)的技術人員應該了解,本發(fā)明不受上述實施例的限制,上述實施例和說明書中描述的只是說明本發(fā)明的原理,在不脫離本發(fā)明精神和范圍的前提下,本發(fā)明還會有各種變化和改進,這些變化和改進都落實到要求保護的本發(fā)明范圍內(nèi)。本發(fā)明要求保護范圍由所附的權(quán)利要求書及其等效物界定。
權(quán)利要求
1.一種帶有MPO連接器跳線測試系統(tǒng),其特征在于包括穩(wěn)定的850nm和1300nm的激光器作為光源、2x2分路器、高速光開關、回波損耗探測模塊、光源功率探測模塊、T5000型大面積砷化鎵探測器、電源管理電路、串口通訊電路、網(wǎng)口通訊模塊、IXD液晶屏顯示模塊以及單片機控制系統(tǒng);所述的穩(wěn)定的850nm和1300nm的激光光源與2x2分路器輸入端的一端相連,2x2分路器輸入端的另一端連接到所述的回波損耗探測模塊上;2x2分路器的輸出端一端連接到所述的光源功率探測模塊上,2x2分路器的輸出端另一端連接到所述的高速光開關上;單片機控制系統(tǒng)分別連接穩(wěn)定的850nm和1300nm的激光器、回波損耗模塊、光源功率探測模塊、高速光開關、T5000型大面積砷化鎵探測器、電源管理電路、串口通訊電路、 網(wǎng)口通訊模塊和IXD液晶屏顯示模塊;T5000型大面積砷化鎵探測器自帶MPO型適配器,直接和待測的帶有MPO連接器的跳線連接;高速光開關與測試系統(tǒng)外部的帶有MPO連接器的 Fanout型標準纖的Fanout —端相連,帶有MPO連接器的Fanout型標準纖的一端與待測的帶有MPO連接器的跳線相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶有MPO連接器跳線測試系統(tǒng),其特征在于所述的單片機控制系統(tǒng)還通過串口通訊電路經(jīng)RS232接口與PC相連;或通過網(wǎng)口通信模塊經(jīng)RJ45接口, 經(jīng)以太網(wǎng)與PC相連。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種帶有MPO連接器跳線測試系統(tǒng),包括穩(wěn)定的850nm和1300nm的激光器作為光源、2x2分路器、高速光開關、回波損耗探測模塊、光源功率探測模塊、T5000型大面積砷化鎵探測器、電源管理電路、串口通訊電路、網(wǎng)口通訊模塊、LCD液晶屏顯示模塊以及單片機控制系統(tǒng);本發(fā)明的有益效果是快速、便捷地檢測帶MPO連接器跳線的損耗,集手動和自動檢測與一體,性能穩(wěn)定可靠;特別適合測試諸如4芯、8芯和12芯的帶MPO連接器跳線的檢測。
文檔編號G01M11/02GK102384840SQ201110284650
公開日2012年3月21日 申請日期2011年9月22日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月22日
發(fā)明者張玉潔, 楊柳, 汪亮, 錢逸文, 麻威 申請人:上海光家儀器儀表有限公司, 上海光維通信技術股份有限公司
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