專利名稱：平行線狀樣品托的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種承載測試用樣品的裝置，具體而言是一種平行線狀樣品托。
背景技術：
X射線熒光光譜分析法具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析 F (9) U (92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末(需壓制成塊狀)、液體、糊狀物、油脂、 薄膜等。利用X射線熒光光譜技術分析樣品具有很多優(yōu)勢，例如只需少量或無需樣品制 備，快速無損分析，操作簡單，可由生產人員操作，不會產生有害的化學物質。但是，到目前為止，由于線狀樣品不易固定和成形，尚無針對線狀樣品(例如紡織 物，醫(yī)用縫合線等等)的應用。通常我們只能將線狀樣品團成一團放入X射線熒光光譜分析 儀中進行測量，這就使得待測樣品的狀態(tài)處于一種不受控制的隨機狀態(tài)，從而導致測量重 現性差，嚴重影響了測量的準確性。因此，我們急需一種可以適合承載線狀樣品的樣品托，來控制線性樣品的狀態(tài)，保 證測量的重現性，使得X射線熒光光譜分析法能應用到線狀樣品的測量中。

實用新型內容本實用新型的目的在于解決現有技術的不足，提供一種平行線狀樣品托。為了解決實現上述目的，本實用新型的技術方案是這樣的一種平行線狀樣品托，至少包括一個本體，所述本體設有一對相對的平行外邊，以 及另一對相對的向外的弧線外邊，所述本體設有一個貫通的中心圓孔，所述圓孔的兩端面 處分別設有具一定寬度的圓形凸臺，所述兩圓形凸臺中至少有一個凸臺上設有平行凹槽。所述的平行凹槽與平行外邊呈垂直設置。所述平行凹槽等距離設置。相對的凸臺上設置的所述平行凹槽數量相等。本實用新型的積極效果是1、被測線狀樣品處于定形、定量狀態(tài)，提高了測量結果的重現性和準確性。2、保持被測線狀樣品處于一定張力狀態(tài)，利于二次X熒光信號的收集與測量，為 測量樣品中微量有害元素提供了基礎。3、平行式繞線方式既減少了樣品使用量，又大大降低了繞線難度和繞線時間，使 測量更便捷。
以下結合附圖和具體實施方式
來詳細說明本實用新型。

圖1為主視圖。圖2為俯視圖。圖3為仰視圖。[0019]圖中1 一圓形凸臺、2—平行凹槽、10—本體。
具體實施方式
為了使本實用新型實現的技術手段、創(chuàng)作特征、達成目的與功效易于明白了解，下 面結合具體圖示，進一步闡述本實用新型。如圖1所示，本實用新型一種平行線狀樣品托，包括一個本體10，所述本體10設有 一對相對的平行外邊，以及另一對相對的向外的弧線外邊，所述本體設有一個貫通的中心 圓孔，所述圓孔的兩端面處設有具一定寬度的圓形凸臺1，所述圓形凸臺1中的一個凸臺上 設有平行凹槽2。所述的平行凹槽2呈等距離設置，且與平行外邊相互垂直。如圖2、圖3所示，使用時，只需將線狀樣品依次嵌入平行凹槽2中，完成線狀樣品 的繞線工作即可。在進行X射線熒光光譜分析時，只需將繞線完成的樣品托放入儀器的樣 品盤中即可。本實用新型的積極效果是1、被測線狀樣品處于定形、定量狀態(tài)，提高了測量結果的重現性和準確性。2、保持被測線狀樣品處于一定張力狀態(tài)，利于二次X熒光信號的收集與測量，為 測量樣品中微量有害元素提供了基礎。3、平行式繞線方式既減少了樣品使用量，又大大降低了繞線難度和繞線時間，使 測量更便捷。以上顯示和描述了本實用新型的基本原理、主要特征和本實用新型的優(yōu)點。本行 業(yè)的技術人員應該了解，本實用新型不受上述實施例的限制，上述實施例和說明書中描述 的只是說明本實用新型的原理，在不脫離本實用新型精神和范圍的前提下本實用新型還會 有各種變化和改進，這些變化和改進都落入要求保護的本實用新型范圍內。本實用新型要 求保護范圍由所附的權利要求書及其等同物界定。
權利要求1.一種平行線狀樣品托，至少包括一個本體(10)，其特征在于，所述本體(10)設有一 對相對的平行外邊，以及另一對相對的向外的弧線外邊，所述本體設有一個貫通的中心圓 孔，所述圓孔的兩端面處分別設有具一定寬度的圓形凸臺(1)，所述兩圓形凸臺(1)中至少 有一個凸臺上設有平行凹槽(2)。
2.如權利要求1所述的平行線狀樣品托，其特征在于，所述的平行凹槽(2)與平行外邊 呈垂直設置。
3.如權利要求1或2所述的平行線狀樣品托，其特征在于，凹槽(2)等距離設置。
4.如權利要求1或2所述的平行線狀樣品托，其特征在于，相對的凸臺上設置的所述凹 槽(2)數量相等。
專利摘要本實用新型提供一種平行線狀樣品托，至少包括一個本體，所述本體(10)設有一對相對的平行外邊，以及另一對相對的向外的弧線外邊，所述本體設有一個貫通的中心圓孔，所述圓孔的兩端面處分別設有具一定寬度的圓形凸臺(1)，所述兩圓形凸臺(1)中至少有一個凸臺上設有平行凹槽(2)。本實用新型能使被測線狀樣品處于定形、定量狀態(tài)；保持被測線狀樣品處于一定張力狀態(tài)，利于二次X熒光信號的收集與測量；平行式繞線方式既減少了樣品使用量，又大大降低了繞線難度和繞線時間，使測量更便捷。
文檔編號G01N23/223GK201892666SQ20102065023
公開日2011年7月6日 申請日期2010年12月9日 優(yōu)先權日2010年12月9日
發(fā)明者刁杰, 呂洋, 歐宏煒 申請人:牛津儀器(上海)有限公司