專利名稱：環(huán)境光自適應位移測量裝置及其測量方法
技術領域：
本發(fā)明涉及精密檢測的技術，特別是涉及一種環(huán)境光自適應位移測量裝置及其測 量方法的技術。
背景技術：
基于激光三角的位移測量方法因為其非接觸、適用范圍廣，得到越來越廣泛的應 用，常見基于激光三角的位移測量方法的基本原理是，光源(例如LED、激光等)通過透鏡發(fā) 出一條檢測光束，照射到被測物體表面形成光斑，該光斑通過單個透鏡或一個接收鏡組在 光接收器件裝置上的對應位置處成像，物體位移與光斑像在光接收器件上的位置相對應， 通過識別光斑像在光接收器件上的位置，即可得到被測物體的位移?，F(xiàn)有的基于激光三角的位移測量方法中，往往采用PSD作為光斑像定位元件，由 于PSD無法調節(jié)曝光時間，需要通過加濾光片等方法從光路本身減弱環(huán)境光產(chǎn)生的信號噪 聲，信號的調節(jié)往往采用調節(jié)發(fā)射光束的強度和發(fā)射時間的方法。目前還有一種方法是采 用(XD/CM0S作為光斑像定位元件，這種方法在環(huán)境光干擾過大的情況下會產(chǎn)生大量的噪 聲，帶來較大的位移誤差，因此其檢測精度也較低。
發(fā)明內容
針對上述現(xiàn)有技術中存在的缺陷，本發(fā)明所要解決的技術問題是提供一種檢測精 度高的環(huán)境光自適應位移測量裝置及其測量方法。為了解決上述技術問題，本發(fā)明所提供的一種環(huán)境光自適應位移測量裝置，包括 光發(fā)射器件、光學鏡組、光接收器件和數(shù)據(jù)處理單元；所述光發(fā)射器件用于向被測物體表面 發(fā)射光束使被測物體表面產(chǎn)生光斑，所述光學鏡組用于接收被測物體表面光斑的反射光線 并聚焦成像，所述光接收器用于接收光學鏡組的成像，并將成像轉換為采樣數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù) 處理單元電氣連接光接收器件及光發(fā)射器件，其特征在于所述數(shù)據(jù)處理單元內設有曝光 時間調整模塊和光強調整模塊；所述曝光時間調整模塊包括三個比較器、一個計數(shù)器、一個累加器、一個除法器和 一個邏輯門芯片；所述三個比較器分別為第一比較器、第二比較器和第三比較器；所述光強調整模塊包括第四比較器和鎖存器；所述光接收器件連接并輸出數(shù)據(jù)至第一比較器、第四比較器和鎖存器；所述第一比較器分別連接并輸出數(shù)據(jù)至計數(shù)器、累加器，所述計數(shù)器連接并輸出 數(shù)據(jù)至第二比較器、除法器，所述累加器連接并輸出數(shù)據(jù)至除法器，所述除法器連接并輸出 數(shù)據(jù)至第三比較器，所述第二、第三比較器連接并輸出數(shù)據(jù)至邏輯門芯片，所述邏輯門芯片 連接并控制光接收器件的曝光時間；所述第四比較器連接并輸出數(shù)據(jù)至鎖存器，所述鎖存器的輸出分兩路，一路連接 并輸出數(shù)據(jù)至第四比較器，另一路連接并控制光發(fā)射器件的發(fā)射光束強度。進一步的，還包括一個脈沖信號發(fā)生器，所述脈沖信號發(fā)生器連接并控制光接收器件、光發(fā)射器件同步運行。進一步的，所述光接收器件是(XD。本發(fā)明所提供的環(huán)境光自適應位移測量裝置的位移測量方法，其特征在于，具體 步驟如下A、設定第一比較器中的環(huán)境光信號閾值，第二比較器中的環(huán)境光數(shù)量閾值，第三 比較器中的環(huán)境光過弱閾值和環(huán)境光過強閾值，光發(fā)射器件中的光束強度過弱閾值和光束 強度過強閾值；B、先由光發(fā)射器件向被測物體表面發(fā)射一束光束使被測物體表面產(chǎn)生光斑，被測 物體表面光斑的反射光線經(jīng)光學鏡組聚焦為光斑像后由光接收器件接收；C、光接收器件將光斑像分別送至曝光時間調整模塊和光強調整模塊分析；所述步驟C中，曝光時間調整模塊分析光斑像的具體步驟如下1)將計數(shù)器和累加器清零；2)光接收器件將一幀光斑像轉換為串行數(shù)據(jù)傳送給第一比較器；3)第一比較器將所接收到的數(shù)據(jù)與環(huán)境光信號閾值逐一比較，直至該幀光斑像的 數(shù)據(jù)比較完畢；其中，當?shù)谝槐容^器檢測到數(shù)據(jù)值低于環(huán)境光信號閾值時，即將該數(shù)據(jù)值認定為 環(huán)境光信號，隨即將該數(shù)據(jù)送入累加器中與累加器中的數(shù)據(jù)進行累加，同時使計數(shù)器中的 環(huán)境光數(shù)量加1 ；4)計數(shù)器將計數(shù)結果送至第二比較器和除法器，累加器將累加結果送至除法器；5)除法器將累加器中的數(shù)據(jù)與計數(shù)器中的環(huán)境光數(shù)量相除，得到環(huán)境光的平均強 度后送至第三比較器；6)第二比較器將環(huán)境光數(shù)量與環(huán)境光數(shù)量閾值進行比較，并將比較結果送至邏輯 門芯片；其中，當環(huán)境光數(shù)量低于環(huán)境光數(shù)量閾值時，認定為環(huán)境光數(shù)量太少，此時第二比 較器輸出0，反之則認定為環(huán)境光數(shù)量較多，此時第二比較器輸出1 ；7)第三比較器將環(huán)境光的平均強度與環(huán)境光過弱閾值、環(huán)境光過強閾值分別比 較，并將比較結果分別送至邏輯門芯片；其中，環(huán)境光的平均強度與環(huán)境光過弱閾值比較時，若環(huán)境光的平均強度值低于 環(huán)境光過弱閾值，則認定為曝光時間過短，此時第三比較器輸出0，反之則輸出1 ；其中，環(huán)境光的平均強度與環(huán)境光過強閾值比較時，若環(huán)境光的平均強度值高于 環(huán)境光過強閾值，則認定為曝光時間過長，此時第三比較器輸出0，反之則輸出1 ；8)邏輯門芯片對第二比較器的比較結果和第三比較器的兩個比較結果進行邏輯 運算，并根據(jù)運算結果調整光接收器件的曝光時間；其中，當?shù)诙容^器的比較結果為環(huán)境光數(shù)量太少時，邏輯門芯片將光接收器件 的曝光時間延長；其中，當?shù)谌容^器的比較結果為環(huán)境光數(shù)量較多，而且第三比較器的比較結果 為曝光時間過短時，邏輯門芯片將光接收器件的曝光時間延長；其中，當?shù)谌容^器的比較結果為環(huán)境光數(shù)量較多，而且第三比較器的比較結果 為曝光時間過長時，邏輯門芯片將光接收器件的曝光時間縮短；
所述步驟C中，光強調整模塊分析光斑像的具體步驟如下1)將鎖存器清零；2)光接收器件將一幀光斑像轉換為串行數(shù)據(jù)傳送給第四比較器和鎖存器；3)第四比較器將所接收到的光斑像的數(shù)據(jù)與鎖存器的輸出數(shù)據(jù)逐一比較，直至該 幀光斑像的數(shù)據(jù)比較完畢后找出該幀光斑像的串行數(shù)據(jù)峰值，找出的串行數(shù)據(jù)峰值由鎖存 器發(fā)送至光發(fā)射器件；其中，當?shù)谒谋容^器檢測到輸入的數(shù)據(jù)值高于鎖存器的輸出數(shù)據(jù)值時，即向鎖存 器輸出一個鎖存信號，鎖存器收到鎖存信號后將輸入的數(shù)據(jù)值保存到輸出端，使其輸出端 輸出的數(shù)據(jù)值更新為當前輸入的數(shù)據(jù)值；4)光發(fā)射器件將鎖存器送來的光斑像的串行數(shù)據(jù)峰值，與設定的光束強度過弱閾 值和光束強度過強閾值進行比較；其中，當光斑像的串行數(shù)據(jù)峰值低于光束強度過弱閾值時，則對當前光束的強度 信號進行增加調節(jié)；其中，當光斑像的串行數(shù)據(jù)峰值高于光束強度過強閾值時，則對當前光束的強度 信號進行減小調節(jié)。本發(fā)明提供的環(huán)境光自適應位移測量裝置及其測量方法，通過曝光時間調整模塊 檢測光接收器件接收到的光斑像中環(huán)境光的平均強度，通過光強調整模塊檢測光接收器件 接收到的光斑像的光強峰值，并根據(jù)曝光時間調整模塊和光強調整模塊的檢測結果調整光 接收器件的曝光時間及光發(fā)射器件的發(fā)射光束強度，因此能根據(jù)環(huán)境光的變化自適應調節(jié) 曝光時間及發(fā)射光束強度，減少環(huán)境光的影響，其檢測精度較高。
圖1是本發(fā)明實施例的環(huán)境光自適應位移測量裝置的光路及結構示意圖；圖2是本發(fā)明實施例的環(huán)境光自適應位移測量裝置中的曝光時間調整模塊和光 強調整模塊的結構示意圖；圖3是本發(fā)明實施例的環(huán)境光自適應位移測量裝置的工作時序圖。
具體實施例方式以下結合
對本發(fā)明的實施例作進一步詳細描述，但本實施例并不用于限 制本發(fā)明，凡是采用本發(fā)明的相似結構及其相似變化，均應列入本發(fā)明的保護范圍。如圖1所示，本發(fā)明實施例所提供的一種環(huán)境光自適應位移測量裝置，包括光發(fā) 射器件10、光學鏡組13、光接收器件14和數(shù)據(jù)處理單元15 ；所述光發(fā)射器件10用于向被 測物體12表面發(fā)射光束使被測物體12表面產(chǎn)生光斑，所述光學鏡組13用于接收被測物體 12表面光斑的反射光線并聚焦成像，所述光接收器14用于接收光學鏡組13的成像，并將成 像轉換為采樣數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)處理單元15電氣連接光接收器件14及光發(fā)射器件10，其特征 在于所述數(shù)據(jù)處理單元15內設有曝光時間調整模塊和光強調整模塊；如圖2所示，所述曝光時間調整模塊包括三個比較器、一個計數(shù)器J、一個累加器 A、一個除法器D和一個邏輯門芯片L;所述三個比較器分別為第一比較器B1、第二比較器 B2和第三比較器B3;
所述光強調整模塊包括第四比較器B4和鎖存器S ；所述光接收器件14連接并輸出數(shù)據(jù)至第一比較器B1、第四比較器B4和鎖存器S ；所述第一比較器B1分別連接并輸出數(shù)據(jù)至計數(shù)器J、累加器A，所述計數(shù)器J連接 并輸出數(shù)據(jù)至第二比較器B2、除法器D，所述累加器J連接并輸出數(shù)據(jù)至除法器D，所述除法 器D連接并輸出數(shù)據(jù)至第三比較器B3，所述第二比較器B2、第三比較器B3連接并輸出數(shù)據(jù) 至邏輯門芯片L，所述邏輯門芯片L連接并控制光接收器件14的曝光時間；所述第四比較器B4連接并輸出數(shù)據(jù)至鎖存器S，所述鎖存器S的輸出分兩路，一路 連接并輸出數(shù)據(jù)至第四比較器B4，另一路連接并控制光發(fā)射器件10的發(fā)射光束強度；本發(fā)明實施例中還包括一個脈沖信號發(fā)生器M,所述脈沖信號發(fā)生器M連接并控 制光接收器件14、光發(fā)射器件10同步運行；如圖3所示，當脈沖信號發(fā)生器M發(fā)出一個控 制脈沖信號時，光發(fā)射器件10發(fā)射測量光束，同時光接收器件14接收由光學鏡組成像的被 測物體表面的反射光線的光斑像，一次運行結束后，光接收器件向曝光時間調整模塊和光 強調整模塊輸出光斑像的采樣數(shù)據(jù)。本發(fā)明實施例中，所述光接收器件是(XD。本發(fā)明實施例所提供的環(huán)境光自適應位移測量裝置的位移測量方法，其特征在 于，具體步驟如下A、設定第一比較器中的環(huán)境光信號閾值，第二比較器中的環(huán)境光數(shù)量閾值，第三 比較器中的環(huán)境光過弱閾值和環(huán)境光過強閾值，光發(fā)射器件中的光束強度過弱閾值和光束 強度過強閾值；B、先由光發(fā)射器件向被測物體表面發(fā)射一束光束使被測物體表面產(chǎn)生光斑，被測 物體表面光斑的反射光線經(jīng)光學鏡組聚焦為光斑像后由光接收器件接收；C、光接收器件將光斑像分別送至曝光時間調整模塊和光強調整模塊分析；所述步驟C中，曝光時間調整模塊分析光斑像的具體步驟如下1)將計數(shù)器和累加器清零；2)光接收器件將一幀光斑像轉換為串行數(shù)據(jù)傳送給第一比較器；3)第一比較器將所接收到的數(shù)據(jù)與環(huán)境光信號閾值逐一比較，直至該幀光斑像的 數(shù)據(jù)比較完畢；其中，當?shù)谝槐容^器檢測到數(shù)據(jù)值低于環(huán)境光信號閾值時，即將該數(shù)據(jù)值認定為 環(huán)境光信號，隨即將該數(shù)據(jù)送入累加器中與累加器中的數(shù)據(jù)進行累加，同時使計數(shù)器中的 環(huán)境光數(shù)量加1 ；4)計數(shù)器將計數(shù)結果送至第二比較器和除法器，累加器將累加結果送至除法器；5)除法器將累加器中的數(shù)據(jù)與計數(shù)器中的環(huán)境光數(shù)量相除，得到環(huán)境光的平均強 度后送至第三比較器；6)第二比較器將環(huán)境光數(shù)量與環(huán)境光數(shù)量閾值進行比較，并將比較結果送至邏輯 門芯片；其中，當環(huán)境光數(shù)量低于環(huán)境光數(shù)量閾值時，認定為環(huán)境光數(shù)量太少，此時第二比 較器輸出0，反之則認定為環(huán)境光數(shù)量較多，此時第二比較器輸出1 ；7)第三比較器將環(huán)境光的平均強度與環(huán)境光過弱閾值、環(huán)境光過強閾值分別比 較，并將比較結果分別送至邏輯門芯片；
其中，環(huán)境光的平均強度與環(huán)境光過弱閾值比較時，若環(huán)境光的平均強度值低于 環(huán)境光過弱閾值，則認定為曝光時間過短，此時第三比較器輸出0，反之則輸出1 ；其中，環(huán)境光的平均強度與環(huán)境光過強閾值比較時，若環(huán)境光的平均強度值高于 環(huán)境光過強閾值，則認定為曝光時間過長，此時第三比較器輸出0，反之則輸出1 ；8)邏輯門芯片對第二比較器的比較結果和第三比較器的兩個比較結果進行邏輯 運算，并根據(jù)運算結果調整光接收器件的曝光時間；其中，當?shù)诙容^器的比較結果為環(huán)境光數(shù)量太少時，邏輯門芯片將光接收器件 的曝光時間延長；其中，當?shù)谌容^器的比較結果為環(huán)境光數(shù)量較多，而且第三比較器的比較結果 為曝光時間過短時，邏輯門芯片將光接收器件的曝光時間延長；其中，當?shù)谌容^器的比較結果為環(huán)境光數(shù)量較多，而且第三比較器的比較結果 為曝光時間過長時，邏輯門芯片將光接收器件的曝光時間縮短；所述步驟C中，光強調整模塊分析光斑像的具體步驟如下1)將鎖存器清零；2)光接收器件將一幀光斑像轉換為串行數(shù)據(jù)傳送給第四比較器和鎖存器；3)第四比較器將所接收到的光斑像的數(shù)據(jù)與鎖存器的輸出數(shù)據(jù)逐一比較，直至該 幀光斑像的數(shù)據(jù)比較完畢后找出該幀光斑像的串行數(shù)據(jù)峰值，找出的串行數(shù)據(jù)峰值由鎖存 器發(fā)送至光發(fā)射器件；其中，當?shù)谒谋容^器檢測到輸入的數(shù)據(jù)值高于鎖存器的輸出數(shù)據(jù)值時，即向鎖存 器輸出一個鎖存信號，鎖存器收到鎖存信號后將輸入的數(shù)據(jù)值保存到輸出端，使其輸出端 輸出的數(shù)據(jù)值更新為當前輸入的數(shù)據(jù)值；4)光發(fā)射器件將鎖存器送來的光斑像的串行數(shù)據(jù)峰值，與設定的光束強度過弱閾 值和光束強度過強閾值進行比較；其中，當光斑像的串行數(shù)據(jù)峰值低于光束強度過弱閾值時，則對當前光束的強度 信號進行增加調節(jié)；其中，當光斑像的串行數(shù)據(jù)峰值高于光束強度過強閾值時，則對當前光束的強度 信號進行減小調節(jié)。
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權利要求
一種環(huán)境光自適應位移測量裝置，包括光發(fā)射器件、光學鏡組、光接收器件和數(shù)據(jù)處理單元；所述光發(fā)射器件用于向被測物體表面發(fā)射光束使被測物體表面產(chǎn)生光斑，所述光學鏡組用于接收被測物體表面光斑的反射光線并聚焦成像，所述光接收器用于接收光學鏡組的成像，并將成像轉換為采樣數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)處理單元電氣連接光接收器件及光發(fā)射器件，其特征在于所述數(shù)據(jù)處理單元內設有曝光時間調整模塊和光強調整模塊；所述曝光時間調整模塊包括三個比較器、一個計數(shù)器、一個累加器、一個除法器和一個邏輯門芯片；所述三個比較器分別為第一比較器、第二比較器和第三比較器；所述光強調整模塊包括第四比較器和鎖存器；所述光接收器件連接并輸出數(shù)據(jù)至第一比較器、第四比較器和鎖存器；所述第一比較器分別連接并輸出數(shù)據(jù)至計數(shù)器、累加器，所述計數(shù)器連接并輸出數(shù)據(jù)至第二比較器、除法器，所述累加器連接并輸出數(shù)據(jù)至除法器，所述除法器連接并輸出數(shù)據(jù)至第三比較器，所述第二、第三比較器連接并輸出數(shù)據(jù)至邏輯門芯片，所述邏輯門芯片連接并控制光接收器件的曝光時間；所述第四比較器連接并輸出數(shù)據(jù)至鎖存器，所述鎖存器的輸出分兩路，一路連接并輸出數(shù)據(jù)至第四比較器，另一路連接并控制光發(fā)射器件的發(fā)射光束強度。
2.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其特征在于還包括一個脈沖信號發(fā)生器，所述脈沖信 號發(fā)生器連接并控制光接收器件、光發(fā)射器件同步運行。
3.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其特征在于所述光接收器件是CCD。
4.一種權利要求1所述的環(huán)境光自適應位移測量裝置的位移測量方法，其特征在于， 具體步驟如下A、設定第一比較器中的環(huán)境光信號閾值，第二比較器中的環(huán)境光數(shù)量閾值，第三比較 器中的環(huán)境光過弱閾值和環(huán)境光過強閾值，光發(fā)射器件中的光束強度過弱閾值和光束強度 過強閾值；B、先由光發(fā)射器件向被測物體表面發(fā)射一束光束使被測物體表面產(chǎn)生光斑，被測物體 表面光斑的反射光線經(jīng)光學鏡組聚焦為光斑像后由光接收器件接收；C、光接收器件將光斑像分別送至曝光時間調整模塊和光強調整模塊分析；所述步驟C中，曝光時間調整模塊分析光斑像的具體步驟如下1)將計數(shù)器和累加器清零；2)光接收器件將一幀光斑像轉換為串行數(shù)據(jù)傳送給第一比較器；3)第一比較器將所接收到的數(shù)據(jù)與環(huán)境光信號閾值逐一比較，直至該幀光斑像的數(shù)據(jù) 比較完畢；其中，當?shù)谝槐容^器檢測到數(shù)據(jù)值低于環(huán)境光信號閾值時，即將該數(shù)據(jù)值認定為環(huán)境 光信號，隨即將該數(shù)據(jù)送入累加器中與累加器中的數(shù)據(jù)進行累加，同時使計數(shù)器中的環(huán)境 光數(shù)量加1 ；4)計數(shù)器將計數(shù)結果送至第二比較器和除法器，累加器將累加結果送至除法器；5)除法器將累加器中的數(shù)據(jù)與計數(shù)器中的環(huán)境光數(shù)量相除，得到環(huán)境光的平均強度后 送至第三比較器；6)第二比較器將環(huán)境光數(shù)量與環(huán)境光數(shù)量閾值進行比較，并將比較結果送至邏輯門芯片；其中，當環(huán)境光數(shù)量低于環(huán)境光數(shù)量閾值時，認定為環(huán)境光數(shù)量太少，此時第二比較器 輸出0，反之則認定為環(huán)境光數(shù)量較多，此時第二比較器輸出1 ；7)第三比較器將環(huán)境光的平均強度與環(huán)境光過弱閾值、環(huán)境光過強閾值分別比較，并 將比較結果分別送至邏輯門芯片；其中，環(huán)境光的平均強度與環(huán)境光過弱閾值比較時，若環(huán)境光的平均強度值低于環(huán)境 光過弱閾值，則認定為曝光時間過短，此時第三比較器輸出0，反之則輸出1 ；其中，環(huán)境光的平均強度與環(huán)境光過強閾值比較時，若環(huán)境光的平均強度值高于環(huán)境 光過強閾值，則認定為曝光時間過長，此時第三比較器輸出0，反之則輸出1 ；8)邏輯門芯片對第二比較器的比較結果和第三比較器的兩個比較結果進行邏輯運算， 并根據(jù)運算結果調整光接收器件的曝光時間；其中，當?shù)诙容^器的比較結果為環(huán)境光數(shù)量太少時，邏輯門芯片將光接收器件的曝 光時間延長；其中，當?shù)谌容^器的比較結果為環(huán)境光數(shù)量較多，而且第三比較器的比較結果為曝 光時間過短時，邏輯門芯片將光接收器件的曝光時間延長；其中，當?shù)谌容^器的比較結果為環(huán)境光數(shù)量較多，而且第三比較器的比較結果為曝 光時間過長時，邏輯門芯片將光接收器件的曝光時間縮短；所述步驟C中，光強調整模塊分析光斑像的具體步驟如下1)將鎖存器清零；2)光接收器件將一幀光斑像轉換為串行數(shù)據(jù)傳送給第四比較器和鎖存器；3)第四比較器將所接收到的光斑像的數(shù)據(jù)與鎖存器的輸出數(shù)據(jù)逐一比較，直至該幀光 斑像的數(shù)據(jù)比較完畢后找出該幀光斑像的串行數(shù)據(jù)峰值，找出的串行數(shù)據(jù)峰值由鎖存器發(fā) 送至光發(fā)射器件；其中，當?shù)谒谋容^器檢測到輸入的數(shù)據(jù)值高于鎖存器的輸出數(shù)據(jù)值時，即向鎖存器輸 出一個鎖存信號，鎖存器收到鎖存信號后將輸入的數(shù)據(jù)值保存到輸出端，使其輸出端輸出 的數(shù)據(jù)值更新為當前輸入的數(shù)據(jù)值；4)光發(fā)射器件將鎖存器送來的光斑像的串行數(shù)據(jù)峰值，與設定的光束強度過弱閾值和 光束強度過強閾值進行比較；其中，當光斑像的串行數(shù)據(jù)峰值低于光束強度過弱閾值時，則對當前光束的強度信號 進行增加調節(jié)；其中，當光斑像的串行數(shù)據(jù)峰值高于光束強度過強閾值時，則對當前光束的強度信號 進行減小調節(jié)。全文摘要
一種環(huán)境光自適應位移測量裝置及其測量方法，涉及精密檢測技術領域，所解決的是提高檢測精度的技術問題。該裝置包括光發(fā)射器件、光學鏡組、光接收器件和數(shù)據(jù)處理單元；所述數(shù)據(jù)處理單元內設有曝光時間調整模塊和光強調整模塊；所述曝光時間調整模塊用于檢測光斑像中環(huán)境光的平均強度；所述光強調整模塊用于檢測光斑像的光強峰值；測量時，先由光發(fā)射器件向被測物體表面發(fā)射一束光束使被測物體表面產(chǎn)生光斑，該光斑的反射光線經(jīng)光學鏡組聚焦后由光接收器件接收并送至曝光時間調整模塊和光強調整模塊分析，然后根據(jù)分析結果自適應調節(jié)光接收器件的曝光時間及光發(fā)射器件的發(fā)射光束強度。本發(fā)明提供的裝置，檢測精度高。
文檔編號G01B11/02GK101922918SQ201010221510
公開日2010年12月22日 申請日期2010年7月8日 優(yōu)先權日2010年7月8日
發(fā)明者劉偉文, 張磊, 趙輝, 陶衛(wèi) 申請人:上海雷尼威爾測量技術有限公司