專利名稱：夏比v型缺口測量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于長方體、圓柱體上的狹窄型缺口的測量設備，尤其涉及一種 夏比V型缺口測量裝置。
背景技術(shù)：
夏比V型缺口的沖擊試驗是檢測核電設備、構(gòu)件等金屬力學性能的重要手段之 一，它用于評定金屬材料在沖擊載荷下的韌、脆特性，沖擊試樣的宏觀斷口，其裂紋的擴展 總是沿著阻力最小的路徑行進，斷口的形貌、輪廓線也隨材料性能的最薄弱處或者應力最 大的部位方形成，因此，要保證金屬材料的質(zhì)量，就要確保試樣的切取及制備，并對試樣的 形狀、尺寸進行有效的測量分析，否則，試樣缺口尺寸偏差的大小，將會引起分散性的偏差。對于方體、柱體而言，其尺寸可以用各種卡尺來直接測量，對于一些缺口，現(xiàn)有的 卡尺也可以直接測量。然而，由于各種卡尺的卡腳具有一定寬度，因此，當一些缺口的寬度 極為細小時候，卡尺的卡腳無法深入到缺口底部，從而無法測得真值。例如，對于上述夏比V型缺口的測量來說，夏比V型缺口沖擊試塊的結(jié)構(gòu)如圖1 所示，在沖擊試塊1’的上平面處存在一個很窄的V型缺口 2’，該V型缺口 2’底部半徑為 0. 25mm ；其測量要求是獲取從V型缺口 2’底部至沖擊試塊1’底面的測量值A(chǔ)。若采用現(xiàn) 有的數(shù)顯游標卡尺，則需用其測深尺先測量沖擊試塊1’上平面至V型缺口 2’底部的值B， 再測量沖擊試塊1’上平面、底面的值C，最終得到測量值A(chǔ) = C-B。這種間接測量的方法需 要通過兩次測量并經(jīng)過運算后才能得到一個偏大的近似值，從而造成測量不確定度的因素 增加，使其測量誤差的概率增大，并最終導致無法分析分散性偏差的大小，對其材料力學性 能的判斷就不能加以正確分析，如將誤判用于實際，這將引發(fā)極大的核安全事故。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，本發(fā)明旨在提供一種夏比V型缺口測量裝 置，以實現(xiàn)準確測量缺口真實值，為核電的設備、構(gòu)件質(zhì)量提供有效保證的目的。本發(fā)明所述的一種夏比V型缺口測量裝置，它包括一帶有撥叉、測桿、和表體的測 量表，它還包括一 U型弓架、一小角度測量頭和一測量柱，所述弓架的兩端面分別設有一軸孔，且所述測量表的測桿穿過該一軸孔并通過固 緊裝置固定連接在該軸孔中；所述小角度測量頭的一端呈扁直線型，其另一端與所述測桿螺紋連接；所述測量柱與所述小角度測量頭相對設置，該測量柱的一端面與所述測桿垂直， 其另一端與所述弓架的另一個軸孔過盈配合。在上述的夏比V型缺口測量裝置中，所述測量柱與所述小角度測量頭相對的端面 的平面度范圍為0. 3-0. 6 μ m。在上述的夏比V型缺口測量裝置中，所述測量表為百分表。由于采用了上述的技術(shù)解決方案，本發(fā)明通過將千分尺的弓架和百分表有效組合，以“面_線”法的測量理念，準確有效的測得了夏比V型缺口的真值，獲取了對夏比V型 缺口沖擊試塊的幾何尺寸、形位偏差的測量數(shù)據(jù)，解決了卡尺不能測量其真值的難題，為產(chǎn) 品質(zhì)量提供有效保障。


圖1是夏比V型缺口沖擊試塊的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本發(fā)明夏比V型缺口測量裝置的使用狀態(tài)圖；圖3是本發(fā)明夏比V型缺口測量裝置中小角度測量頭的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖，對本發(fā)明的具體實施例進行詳細說明。請參閱圖1、圖2，本發(fā)明，即一種夏比V型缺口測量裝置，它包括U型弓架2、小角 度測量頭4、測量柱3和測量表7，其中，測量表7包括撥叉9、測桿5、和表體8 ；弓架2表面 設有隔熱板1。弓架2的兩端面分別設有一軸孔，且測量表7的測桿5穿過該一軸孔并通過固緊 裝置6固定連接在該軸孔中；小角度測量頭4的一端呈扁直線型，其另一端與測桿5螺紋連接；測量柱3與小角度測量頭4相對設置，該測量柱3的一端面與測桿5垂直，且該端 面的平面度范圍為0. 3-0. 6 u m，測量柱3的另一端與弓架2的另一個軸孔過盈配合。根據(jù)夏比V型缺口精度的測量需要，改制所需的計量器具要保證等級，要符合相 關(guān)計量器具的檢定規(guī)程，選用的計量器具要保證計量器具的Mcp值；本發(fā)明中選用的測量 表7為0-10mm的百分表，并配合經(jīng)過改制的千分尺弓架2和經(jīng)過調(diào)質(zhì)、測量面徑寬小于 0. 25mm的小角度測量頭4，來實現(xiàn)夏比V型缺口的測量。本發(fā)明的工作原理是借助于撥叉9引發(fā)測量表7齒條-齒輪的傳動，將測桿5微 小的直線位移轉(zhuǎn)變?yōu)橹羔樀慕俏灰?。使用本發(fā)明的具體測量方法是手握該測量裝置，用右 手拇指輕按測量表7的撥叉9，使測量表7的測桿5向上作直線位移；此時，將夏比V型缺 口的沖擊試塊10放在測量柱3的端面上，然后，移去拇指，還原撥叉9，使裝有小角度測量頭 4的測桿5順勢嵌入沖擊試塊10的V型缺口的底部，這時測量表7指針位置的讀數(shù)即是測 量值A(chǔ)。綜上所述，本發(fā)明具有以下優(yōu)點1、用四等或二級的標準量塊作比較測量；可消除因百分表示值誤差所帶來的影 響，提高測量精度，保證測試數(shù)據(jù)的準確性；2、小角度測量頭的角度小、葉片?。徊捎谩懊?線”法直接測量，從而提高測量的位 置精度，保證量值傳遞的可溯性；3、測量簡單、方便快捷、小巧隨機、直接讀數(shù)，提高測量的工作效率；4、小角度測量頭和測量柱均選用合金剛，經(jīng)過調(diào)質(zhì)硬度增強，延長了本測量裝置 的使用壽命，節(jié)能增效；5、本測量裝置除了具有對夏比V型缺口進行檢測的功能外，還可用于各種狹窄型 鍵、銷的凹槽測量，并可根據(jù)產(chǎn)品測試的不同需求，擴大測量裝置的工作測量范圍。
以上結(jié)合附圖實施例對本發(fā)明進行了詳細說明，本領(lǐng)域中普通技術(shù)人員可根據(jù)上 述說明對本發(fā)明做出種種變化例。因而，實施例中的某些細節(jié)不應構(gòu)成對本發(fā)明的限定，本 發(fā)明將以所附權(quán)利要求書界定的范圍作為本發(fā)明的保護范圍。
權(quán)利要求
一種夏比V型缺口測量裝置，它包括一帶有撥叉、測桿和表體的測量表，其特征在于，所述的測量裝置還包括一U型弓架、一小角度測量頭和一測量柱，所述弓架的兩端面分別設有一軸孔，且所述測量表的測桿穿過該一軸孔并通過固緊裝置固定連接在該軸孔中；所述小角度測量頭的一端呈扁直線型，其另一端與所述測桿螺紋連接；所述測量柱與所述小角度測量頭相對設置，該測量柱的一端面與所述測桿垂直，其另一端與所述弓架的另一個軸孔過盈配合。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的夏比V型缺口測量裝置，其特征在于，所述測量柱與所述小角 度測量頭相對的端面的平面度范圍為0. 3-0. 6 u m。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的夏比V型缺口測量裝置，其特征在于，所述測量表為百分表。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種夏比V型缺口測量裝置，它包括一帶有撥叉、測桿和表體的測量表，它還包括一U型弓架、一小角度測量頭和一測量柱，所述弓架的兩端面分別設有一軸孔，且所述測量表的測桿穿過該一軸孔并通過固緊裝置固定連接在該軸孔中；所述小角度測量頭的一端呈扁直線型，其另一端與所述測桿螺紋連接；所述測量柱與所述小角度測量頭相對設置，該測量柱的一端面與所述測桿垂直，其另一端與所述弓架的另一個軸孔過盈配合。本發(fā)明準確有效的測得了夏比V型缺口的真值，獲取了對夏比V型缺口沖擊試塊的幾何尺寸、形位偏差的測量數(shù)據(jù)，解決了卡尺不能測量其真值的難題，為產(chǎn)品質(zhì)量提供有效保障。
文檔編號G01B5/00GK101871758SQ201010202068
公開日2010年10月27日 申請日期2010年6月17日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月17日
發(fā)明者潘福庚 申請人:上海電氣核電設備有限公司