專利名稱：用于熱控涂層性能原位測(cè)試的輻射計(jì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于熱控涂層性能原位測(cè)試的輻射計(jì)，屬于航天熱控材料的空間輻照地面模擬測(cè)試領(lǐng)域。

背景技術(shù)：
隨著我國(guó)衛(wèi)星設(shè)計(jì)壽命從8年增加到15年，熱控涂層等暴露材料性能的退化將成為制約其長(zhǎng)壽命的重要因素之一。熱控材料的性能退化一般表現(xiàn)為太陽(yáng)吸收率與發(fā)射率比

的增大，從而造成衛(wèi)星溫度上升，這是衛(wèi)星在壽命后期溫度升高的主要原因。為了確保衛(wèi)星熱控涂層在空間環(huán)境的穩(wěn)定性，需要開(kāi)展熱控涂層在空間的高真空、紫外及粒子輻照環(huán)境下太陽(yáng)吸收率性能變化的地面模擬實(shí)驗(yàn)研究，為熱控涂層的應(yīng)用和性能改進(jìn)提供參考依據(jù)。
早期采用的試驗(yàn)方法是將樣品置于真空中進(jìn)行空間輻照，然后取出樣品進(jìn)行光學(xué)性能測(cè)試，這是一種非原位的測(cè)試方法。許多熱控涂層材料在真空中接受輻照，取出后在空氣中其變化的性能會(huì)有部分恢復(fù)，因此需要開(kāi)展可以在綜合模擬環(huán)境中進(jìn)行的原位測(cè)試的方法。
目前國(guó)內(nèi)外都建立了大型的綜合模擬環(huán)境設(shè)備，該設(shè)備可提供低溫、高真空、紫外輻照、高能粒子輻照的試驗(yàn)環(huán)境，但其內(nèi)部的熱控涂層吸收率的原位測(cè)試普遍采用反射率相對(duì)測(cè)量方法，測(cè)量系統(tǒng)包括積分球、探測(cè)器、光源、三維位移裝置、標(biāo)準(zhǔn)試件等，通過(guò)連續(xù)測(cè)試已知太陽(yáng)吸收率的標(biāo)準(zhǔn)試件和待測(cè)熱控涂層，利用比對(duì)測(cè)量法來(lái)測(cè)試待測(cè)涂層太陽(yáng)吸收率的變化。這種原位測(cè)量的方法受測(cè)試裝置的影響，測(cè)量精度不高；同時(shí)由于體積較大，在綜合模擬環(huán)境中進(jìn)行原位測(cè)試時(shí)將需要巨大的投資和試驗(yàn)運(yùn)行費(fèi)用。本發(fā)明針對(duì)此提出了一種可用于模擬空間環(huán)境中體積小、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、試驗(yàn)方便的熱控涂層性能原位測(cè)試的儀器。


發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種用于熱控涂層性能原位測(cè)試的輻射計(jì)，以克服現(xiàn)有熱控涂層性能原位測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)龐大、測(cè)試精度低、試驗(yàn)成本高等方面的不足，構(gòu)建一種測(cè)量簡(jiǎn)單、精度高、無(wú)可移動(dòng)器件的熱控涂層性能原位測(cè)試儀器。
本發(fā)明的技術(shù)解決方案是用于熱控涂層性能原位測(cè)試的輻射計(jì)，由測(cè)熱腔、試件板、熱探測(cè)器、試件板支桿、測(cè)熱腔支桿、隔熱腔、數(shù)據(jù)采集底座組成，其中測(cè)熱腔為輻射計(jì)的測(cè)試部分，由兩個(gè)測(cè)熱腔支桿支撐懸空置于隔熱腔內(nèi)部，并保持與隔熱腔端面齊平；測(cè)熱腔支桿的底端有螺紋可將其固定于隔熱腔的螺紋孔中，測(cè)熱腔支桿頂端有螺紋孔，并由螺釘通過(guò)測(cè)熱腔上的沉孔與其固定；試件板表面涂有待測(cè)熱控涂層，由試件板支桿支撐懸空置于測(cè)熱腔內(nèi)部，并保持與測(cè)熱腔端面齊平；試件板支桿的底端有螺紋可將其固定于測(cè)熱腔的螺紋孔中，試件板支桿頂端有螺紋孔，并由螺釘通過(guò)試件板上的通孔與其固定；熱探測(cè)器分別置于試件板的下面和測(cè)熱腔底部；隔熱腔作為外殼包圍著測(cè)熱腔，用于阻止空間輻照對(duì)測(cè)熱腔內(nèi)部的熱擾動(dòng)，并用螺釘固定于數(shù)據(jù)采集底座上端；數(shù)據(jù)采集底座內(nèi)置信號(hào)采集板卡，數(shù)據(jù)采集底座底部有三個(gè)用于固定的螺孔，可將輻射計(jì)固定于模擬空間環(huán)境中接受空間輻照。
測(cè)熱腔內(nèi)包括有試件板、熱探測(cè)器、試件板支桿、多層隔熱層。測(cè)熱腔的設(shè)計(jì)目標(biāo)是減少影響試件板的熱因素，因此測(cè)熱腔的設(shè)計(jì)主要圍繞減小其內(nèi)部熱損失展開(kāi)。測(cè)熱腔材料選擇航天用鋁合金；為減小測(cè)熱腔內(nèi)部輻射換熱，其表面經(jīng)過(guò)拋光處理，測(cè)熱腔的底部粘接雙面鍍鋁的滌綸薄膜隔熱材料，從而有效地減小測(cè)熱腔壁的發(fā)射率，達(dá)到減小輻射換熱目的。
試件板表面涂有被測(cè)涂層，將帶有熱控涂層的試件板作為被測(cè)系統(tǒng)，由于輻射計(jì)測(cè)試原理是基于能量守恒的原理，因此要求被測(cè)系統(tǒng)在任意時(shí)刻應(yīng)該達(dá)到熱平衡，所以試件板的材料要求有高導(dǎo)熱率，并且試件板的厚度應(yīng)該較薄，此時(shí)試件板可看作是一個(gè)具有固定溫度的質(zhì)點(diǎn)，從而滿足試件板和涂層組成的被測(cè)系統(tǒng)的瞬態(tài)熱平衡。試件板材料和測(cè)熱腔材料應(yīng)保持一致，從而使試件板和測(cè)熱腔在模擬空間環(huán)境中接受輻照時(shí)具有相同的溫度梯度，減小試件板與測(cè)熱腔的輻射換熱。
測(cè)熱腔內(nèi)部有兩個(gè)薄膜熱探測(cè)器，分別用于探測(cè)試件板和測(cè)熱腔熱沉端的溫度變化，薄膜熱探測(cè)器可根據(jù)探測(cè)溫度的范圍和精度的要求合理選擇薄膜熱電偶或者薄膜熱電阻探測(cè)器。
為減小熱傳導(dǎo)引起的熱損失，試件板邊緣不與測(cè)熱腔接觸，測(cè)熱腔邊緣不與隔熱腔接觸，因此試件板和測(cè)熱腔都由支桿支撐。支桿選擇低熱導(dǎo)率、高機(jī)械強(qiáng)度的金屬材料或者選擇聚酰亞胺工程塑料。
隔熱腔的材料選擇具有高強(qiáng)度、低熱膨脹系數(shù)、密度小的鋁合金材料，隔熱腔表面經(jīng)過(guò)光亮陽(yáng)極氧化處理；隔熱腔與測(cè)熱腔不相互接觸。
數(shù)據(jù)采集底座內(nèi)置數(shù)據(jù)采集板卡，數(shù)據(jù)采集板卡用于對(duì)被測(cè)溫度的數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)采集。數(shù)據(jù)采集底座外殼上有電源口和數(shù)據(jù)通信口，分別用于數(shù)據(jù)采集板卡的供電和與上位機(jī)的通信。數(shù)據(jù)采集底座結(jié)構(gòu)材料的選擇和表面處理與隔熱腔相同，從而保證內(nèi)部采集電路溫度不至于過(guò)高。
模擬空間環(huán)境中測(cè)試熱控涂層性能變化的方法為試件板表面的熱控涂層吸收模擬空間環(huán)境中太陽(yáng)模擬器的輻照能量為QIn，熱控涂層與模擬空間環(huán)境的輻射換熱量為QRad，試件板的內(nèi)能增加和測(cè)熱腔內(nèi)部的熱損失表示為QIn-energy、Qheat-exchange，熱控涂層在經(jīng)受模擬空間環(huán)境中的紫外和粒子輻照后，根據(jù)能量守恒式 QIn＝QRad+QIn-energy+Qheat-exchange 實(shí)時(shí)計(jì)算得到涂層的太陽(yáng)吸收率與發(fā)射率比
本發(fā)明的原理是用于熱控涂層性能原位測(cè)試的輻射計(jì)是利用測(cè)熱法來(lái)測(cè)試熱控層太陽(yáng)吸收率與發(fā)射率比

的變化。將試件板表面涂有待測(cè)涂層的輻射計(jì)放到特定的輻射環(huán)境下，利用兩個(gè)熱探測(cè)器分別探測(cè)熱控涂層試件板下面和測(cè)熱腔熱沉端的溫度，根據(jù)測(cè)試溫度的變化得到通過(guò)熱控涂層熱通量的變化，再由熱通量的變化計(jì)算得到熱控涂層性能的變化。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的優(yōu)點(diǎn)在于克服現(xiàn)有熱控涂層原位測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)龐大、測(cè)試精度低、試驗(yàn)成本高等方面的不足，并具有以下優(yōu)點(diǎn)測(cè)量簡(jiǎn)單、易于參數(shù)設(shè)置、優(yōu)化和工程實(shí)現(xiàn)；無(wú)可移動(dòng)的器件，因此測(cè)試精度高；同時(shí)該儀器體積小、重量輕、功耗較低，滿足星載要求，可實(shí)現(xiàn)熱控涂層性能變化的在軌測(cè)試。



圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)剖面圖； 圖2為本發(fā)明實(shí)現(xiàn)熱控涂層性能變化測(cè)試的原理流程圖； 圖具體標(biāo)號(hào)如下 1、測(cè)熱腔2、試件板 3、熱探測(cè)器4、試件板支桿 5、測(cè)熱腔支桿6、隔熱腔 7、數(shù)據(jù)采集底座
具體實(shí)施例方式 如圖1所示，本發(fā)明包括測(cè)熱腔1、試件板2、熱探測(cè)器3、試件板支桿4、測(cè)熱腔支桿5、隔熱腔6、數(shù)據(jù)采集底座7，其中測(cè)熱腔1為輻射計(jì)的測(cè)試部分，由測(cè)熱腔支桿5支撐懸空置于隔熱腔6內(nèi)部，并保持與隔熱腔6端面齊平；測(cè)熱腔支桿5的底端有螺紋可將其固定于隔熱腔6的螺紋孔中，測(cè)熱腔支桿5頂端有螺紋孔，并由螺釘通過(guò)測(cè)熱腔1上的沉孔與其固定；試件板2表面涂有待測(cè)熱控涂層，由試件板支桿4支撐懸空置于測(cè)熱腔1內(nèi)部，并保持與測(cè)熱腔1端面齊平；試件板支桿4的底端有螺紋可將其固定于測(cè)熱腔1的螺紋孔中，試件板支桿4頂端有螺紋孔，并由螺釘通過(guò)試件板2上的通孔與其固定；熱探測(cè)器3分別置于試件板2的下面和測(cè)熱腔1底部；隔熱腔6作為外殼包圍著測(cè)熱腔1，用于阻止空間輻照對(duì)測(cè)熱腔1內(nèi)部的熱擾動(dòng)，并用螺釘固定于數(shù)據(jù)采集底座7上端；數(shù)據(jù)采集底座7內(nèi)置信號(hào)采集板卡，底座底部有三個(gè)用于固定的螺孔，可將輻射計(jì)固定于模擬空間環(huán)境中接受空間輻照。
測(cè)熱腔1的設(shè)計(jì)目標(biāo)是減少影響試件板2的熱因素，因此測(cè)熱腔1的設(shè)計(jì)主要圍繞減小其內(nèi)部熱損失展開(kāi)。由于試件板2和測(cè)熱腔1之間的換熱在空間環(huán)境中主要有熱傳導(dǎo)和輻射換熱兩種形式，因此為減小試件板2和測(cè)熱腔1杯壁的傳導(dǎo)換熱，使二者不接觸；測(cè)熱腔1有一圈圓形邊緣，該邊緣部分的面積應(yīng)與試件板2的面積近似相等，并與試件板2涂有相同熱控涂層，該設(shè)計(jì)的目的是使輻射源照射在試件板2和測(cè)熱腔1上的輻射量相同，使二者有近似相同的溫度，從而減小測(cè)熱腔1與試件板2的輻射換熱；測(cè)熱腔1材料選擇航天鋁合金材料，其表面經(jīng)過(guò)拋光處理，測(cè)熱腔1的底部粘接雙面鍍鋁的滌綸薄膜隔熱材料，其發(fā)射率很低，可有效地減小輻射換熱。
試件板2表面涂有被測(cè)涂層，將帶有熱控涂層的試件板2作為被測(cè)系統(tǒng)，由于輻射計(jì)測(cè)試原理是基于能量守恒的原理，因此要求被測(cè)系統(tǒng)在任意時(shí)刻應(yīng)該達(dá)到熱平衡。所以試件板2的材料要求有高導(dǎo)熱率，并且試件板2的厚度應(yīng)該較薄，厚度應(yīng)該小于0.5mm，此時(shí)試件板2可看作是一個(gè)具有固定溫度的質(zhì)點(diǎn)，從而滿足試件板2和涂層組成的被測(cè)系統(tǒng)的瞬態(tài)平衡。伴隨試件板2尺寸的減小帶來(lái)的弊端是機(jī)械強(qiáng)度的下降，因此試件板2材料選擇應(yīng)綜合考慮導(dǎo)熱和機(jī)械強(qiáng)度的要求。
為減小傳導(dǎo)引起的熱損失，試件板2邊緣不與測(cè)熱腔1接觸，測(cè)熱腔1邊緣不與隔熱腔5接觸，因此試件板2和測(cè)熱腔1都由支桿支撐，試件板支桿4和測(cè)熱腔支桿5選擇低熱導(dǎo)率、高機(jī)械強(qiáng)度的鈦合金等金屬材料或者是聚酰亞胺等工程塑料，同時(shí)支桿的長(zhǎng)度和與試件板2以及測(cè)熱腔1的接觸面積也應(yīng)根據(jù)盡量減小熱傳導(dǎo)的原則最優(yōu)化設(shè)計(jì)。
測(cè)熱腔1內(nèi)部有兩個(gè)薄膜熱探測(cè)器3，分別用于探測(cè)試件板2和測(cè)熱腔1熱沉端的溫度變化。根據(jù)地面模擬環(huán)境的溫度范圍和探測(cè)精度的要求，熱探測(cè)器3選擇薄膜鉑電阻探測(cè)器，探測(cè)精度可達(dá)0.3攝氏度。
隔熱腔6的設(shè)計(jì)為開(kāi)口的圓杯型結(jié)構(gòu)，材料選擇具有高強(qiáng)度、低熱膨脹系數(shù)、密度小的鋁合金。為減小隔熱腔6與測(cè)熱腔1的熱交換，應(yīng)盡量減小隔熱腔6外壁對(duì)輻射能量的吸收，由于鋁合金材料已具有較高反射率，為進(jìn)一步減小輻射環(huán)境對(duì)隔熱腔的熱輻射，隔熱腔6的外表面應(yīng)選擇具有低吸收率發(fā)射率比的材料。通過(guò)對(duì)隔熱腔6表面進(jìn)行光亮陽(yáng)極氧化處理，其表面吸收率發(fā)射率比為0.3，可提高隔熱腔6的隔熱效果。
數(shù)據(jù)采集底座7內(nèi)置數(shù)據(jù)采集板卡，數(shù)據(jù)采集底座7外殼上有電源口和數(shù)據(jù)通信口，分別用于數(shù)據(jù)采集板卡的供電和與上位機(jī)的通信。數(shù)據(jù)采集底座7結(jié)構(gòu)采用圓形底座，底座設(shè)置有三個(gè)M6的螺孔可用于固定輻射計(jì)，其結(jié)構(gòu)材料的選擇和表面處理與隔熱腔6相同，從而保證內(nèi)部采集電路溫度不至于過(guò)高。
數(shù)據(jù)采集板卡用于對(duì)被測(cè)溫度的數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)采集。由于輻射計(jì)的設(shè)計(jì)既要滿足模擬空間環(huán)境的原位測(cè)試，又要考慮到以后可實(shí)現(xiàn)星載在軌測(cè)試的目的，因此數(shù)據(jù)采集模塊應(yīng)該具有功耗低的特點(diǎn)，所以熱探測(cè)器3的數(shù)據(jù)采集板卡沒(méi)有微處理器芯片。數(shù)據(jù)采集板卡只完成數(shù)據(jù)采集和與上位機(jī)通信的功能，其中數(shù)據(jù)采集板卡與上位機(jī)的通信是由上位機(jī)的并口模擬SPI(串行外圍設(shè)備接口)實(shí)現(xiàn)，整個(gè)數(shù)據(jù)的處理由上位機(jī)實(shí)現(xiàn)。
如圖2所示，本發(fā)明實(shí)現(xiàn)熱控涂層性能變化測(cè)試的原理流程為將表面涂有待測(cè)涂層的輻射計(jì)放到模擬空間的輻照環(huán)境下，由于整個(gè)測(cè)量系統(tǒng)處在真空環(huán)境內(nèi)，沒(méi)有對(duì)流，能量的交換基本上是輻射傳輸，利用兩個(gè)熱探測(cè)器3分別探測(cè)涂層下面試件板2和測(cè)熱腔1熱沉端的溫度；數(shù)據(jù)采集板卡完成熱探測(cè)器3的信號(hào)調(diào)理、運(yùn)算放大及模數(shù)轉(zhuǎn)換，并通過(guò)與上位機(jī)的通信將信號(hào)送至上位機(jī)處理；上位機(jī)通過(guò)溫度的變化計(jì)算得到熱控涂層吸收的熱量和與空間輻射換熱的熱量，從而計(jì)算得到熱控涂層的太陽(yáng)吸收率發(fā)射率比。
上位機(jī)的數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)模擬空間環(huán)境中熱控涂層性能變化的測(cè)試試件板2表面的熱控涂層吸收模擬空間環(huán)境中太陽(yáng)模擬器的輻照為QIn＝αsAE，熱控涂層與模擬空間環(huán)境的輻射換熱為QRad＝εAσTplane4，試件板2的內(nèi)能增加和測(cè)熱腔1內(nèi)部的熱損失表示為QIn-energy、Qheat-exchange，其中αs、ε為熱控涂層的太陽(yáng)吸收率、發(fā)射率，A為試件板2面積、E為太陽(yáng)模擬器輻照、Tplane為試件板2下面熱探測(cè)器3溫度、σ為斯蒂芬-波爾茲曼常數(shù)；熱控涂層在經(jīng)受模擬空間環(huán)境中的紫外輻照和粒子輻照后，有能量守恒式 QIn＝QRad+QIn-energy+Qheat-exchange 通過(guò)對(duì)輻射計(jì)的測(cè)熱腔1、試件板2、試件板支桿4、測(cè)熱腔支桿5、隔熱腔6的合理設(shè)計(jì)，試件板2的內(nèi)能增加和測(cè)熱腔1內(nèi)部的熱損失兩項(xiàng)已經(jīng)很小，工程上可以忽略不計(jì)。此時(shí)能量守恒式為 αsAE＝εAσTplane4 即 因此，通過(guò)熱探測(cè)器3實(shí)時(shí)探測(cè)溫度可計(jì)算得到涂層的太陽(yáng)吸收率與發(fā)射率比

從而實(shí)現(xiàn)熱控涂層性能變化的原位測(cè)試。
本發(fā)明說(shuō)明書(shū)中未作詳細(xì)描述的內(nèi)容屬于本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員公知的現(xiàn)有技術(shù)。
權(quán)利要求
1.用于熱控涂層性能原位測(cè)試的輻射計(jì)，其特征在于包括測(cè)熱腔(1)、試件板(2)、熱探測(cè)器(3)、試件板支桿(4)、測(cè)熱腔支桿(5)、隔熱腔(6)、數(shù)據(jù)采集底座(7)，其中測(cè)熱腔(1)為輻射計(jì)的測(cè)試部分，由測(cè)熱腔支桿(5)支撐置于隔熱腔(6)內(nèi)部；試件板(2)表面涂有待測(cè)熱控涂層，由試件板支桿(4)支撐置于測(cè)熱腔(1)內(nèi)部；熱探測(cè)器(3)分別置于試件板(2)的下面和測(cè)熱腔(1)底部；隔熱腔(6)作為外殼包圍著測(cè)熱腔(1)并固定于數(shù)據(jù)采集底座(7)上端；數(shù)據(jù)采集底座(7)內(nèi)置信號(hào)采集板卡；熱控涂層接受模擬空間環(huán)境的輻照后，由熱探測(cè)器(3)探測(cè)溫度的變化，根據(jù)溫度的變化得到通過(guò)涂層熱通量的變化，再由熱通量的變化計(jì)算得到涂層性能的變化。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于熱控涂層性能原位測(cè)試的輻射計(jì)，其特征在于測(cè)熱腔(1)材料選擇航天用鋁合金，其表面經(jīng)過(guò)拋光處理，底部粘接雙面鍍鋁的滌綸薄膜隔熱材料。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于熱控涂層性能原位測(cè)試的輻射計(jì)，其特征在于試件板(2)材料和測(cè)熱腔(1)材料保持一致，試件板(2)邊緣不與測(cè)熱腔(1)接觸。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于熱控涂層性能原位測(cè)試的輻射計(jì)，其特征在于熱探測(cè)器(3)采用薄膜熱探測(cè)器。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于熱控涂層性能原位測(cè)試的輻射計(jì)，其特征在于試件板支桿(4)和測(cè)熱腔支桿(5)選擇金屬材料或者聚酰亞胺工程塑料。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于熱控涂層性能原位測(cè)試的輻射計(jì)，其特征在于隔熱腔(6)材料選擇鋁合金材料，隔熱腔表面經(jīng)過(guò)光亮陽(yáng)極氧化處理；隔熱腔(6)與測(cè)熱腔(1)不相互接觸。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輻射計(jì)在模擬空間環(huán)境中測(cè)試熱控涂層性能變化的方法，其特征在于試件板(2)表面的熱控涂層吸收模擬空間環(huán)境中太陽(yáng)模擬器的輻照能量為QIn，熱控涂層與模擬空間環(huán)境的輻射換熱量為QRad，試件板(2)的內(nèi)能增加和測(cè)熱腔(1)內(nèi)部的熱損失為QIn-energy、Qheat-exchange，熱控涂層在經(jīng)受模擬空間環(huán)境中的紫外和粒子輻照后，根據(jù)能量守恒式
QIn＝QRad+QIn-energy+Qheal-exchange
實(shí)時(shí)計(jì)算得到涂層的太陽(yáng)吸收率與發(fā)射率比
的變化。
全文摘要
用于熱控涂層性能原位測(cè)試的輻射計(jì)由測(cè)熱腔、試件板、熱探測(cè)器、試件板支桿、測(cè)熱腔支桿、隔熱腔和數(shù)據(jù)采集底座組成，其中測(cè)熱腔為輻射計(jì)的測(cè)試部分，由測(cè)熱腔支桿支撐置于隔熱腔內(nèi)部；試件板表面涂有待測(cè)熱控涂層，由試件板支桿支撐置于測(cè)熱腔內(nèi)部；熱探測(cè)器為薄膜熱探測(cè)器，分別置于試件板的下面和測(cè)熱腔底部；隔熱腔用于阻止空間輻照對(duì)測(cè)熱腔內(nèi)部的熱擾動(dòng)；數(shù)據(jù)采集底座內(nèi)置信號(hào)采集板卡。熱控涂層接受模擬空間環(huán)境的輻照后，由熱探測(cè)器探測(cè)溫度的變化，根據(jù)溫度的變化得到通過(guò)涂層熱通量的變化，再由熱通量的變化計(jì)算得到涂層性能的變化。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、時(shí)間常數(shù)小、測(cè)試精度高，可以較好的實(shí)現(xiàn)模擬空間環(huán)境中熱控涂層性能的原位測(cè)試。
文檔編號(hào)G01N25/20GK101813650SQ20101010744
公開(kāi)日2010年8月25日 申請(qǐng)日期2010年2月5日 優(yōu)先權(quán)日2010年2月5日
發(fā)明者趙慧潔, 邢輝, 張穎, 王立, 張慶祥, 唐吾 申請(qǐng)人:北京航空航天大學(xué)