專利名稱：一種用于降低原子熒光光譜儀光學背景及噪聲的裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種原子熒光光譜儀，具體涉及一種用于降低原子熒光光譜儀光
學背景及噪聲的裝置。
背景技術：
原子熒光光譜分析是20世紀60年代中期提出并發(fā)展起來的光譜分析技術，是原 子光譜法中的一個重要分支，它是原子吸收和原子發(fā)射光譜的綜合與發(fā)展，是一種優(yōu)良的 痕量分析技術。 現(xiàn)有技術中，原子熒光光譜儀主要用于檢測Hg， As、 Se、 Te、 Bi、 Sb、 Sn或其他元素 的ppt級檢測，其被廣泛應用于環(huán)境保護、臨床醫(yī)學、農業(yè)、地質冶金、制藥行業(yè)、石化行業(yè) 等行業(yè)，其不僅可以測定金屬元素，而且也可以被間接用來測定非金屬元素和有機化合物。 原子熒光光譜分析法(AFS)是利用原子熒光譜線的波長和強度進行物質的定性及定量分 析方法，它的基本原理是原子蒸氣吸收特征波長的光輻射之后，原子被激發(fā)至高能級，然后 回到基態(tài)時便發(fā)射出一定波長的原子熒光，再依據(jù)熒光的強度分析所測元素的含量。原子 熒光光譜儀的基本結構包括激發(fā)光源、原子化器、分光系統(tǒng)、檢測器、信號放大器以及數(shù)據(jù) 處理器等部分。 現(xiàn)有技術中，光源發(fā)射的特征光譜會照射到光路筒內壁及其后的光學暗室內壁， 由于光的漫反射作用，會有一部分反射進入到信號接收裝置，這部分光被稱為雜散光，雜散 光的存在造成儀器本底高，且不穩(wěn)定。 于是，設計一種能降低原子熒光光譜儀光學背景及噪聲的裝置已成為本技術領域 中亟待解決的技術問題。

實用新型內容本實用新型的目的在于克服上述技術的不足，提供一種用于降低原子熒光光譜儀 光學背景及噪聲的裝置，其解決了原子熒光光譜儀工作中形成的雜散光而影響儀器穩(wěn)定性 的技術缺陷和設計弊端。
本實用新型為滿足上述目的，采用以下技術方案一種用于降低原子熒光光譜儀 光學背景及噪聲的裝置，包括光學暗室，所述光學暗室與光路筒的外壁相貼合，所述光路筒 正對所述光學暗室的一側設置有兩光源以及信號接收裝置，所述光源的正前方靠近所述光 學暗室處各裝有一反射鏡，以吸收并反射光源發(fā)出的光線。 更進一步，所述反射鏡由所述光路筒內壁向外壁凸設。 更進一步，所述光學暗室內壁處設置有吸光材料。 更進一步，所述光路筒的內壁正對所述信號接收裝置處設置有通光孔。 更進一步，所述光源為空心陰極燈。 更進一步，所述反射鏡與水平面夾角在30度至60度。 更進一步，所述角度為60度。[0014] 基于上述設計，本實用新型的優(yōu)點在于整個裝置結構簡單，布局合理；最大程度
地降低儀器的雜散光，將儀器空白測量的噪聲值降低到最?。挥脩舨僮魇褂梅奖?。 本實用新型的其他目的和優(yōu)點可以從本實用新型所揭露的技術特征中得到進一
步的了解。為讓本實用新型之上述和其他目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉實施例
并配合所附圖式，作詳細說明如下。

圖1是本實用新型之一實施例的用于降低原子熒光光譜儀光學背景及噪聲的裝 置的結構示意圖。 圖1中標號說明光學暗室11、光路筒12、光源13、信號接收裝置14、反射鏡15、 通光孔16、吸光材料17。
具體實施方案 請參考圖1所示，本實用新型的一種用于降低原子熒光光譜儀光學背景及噪聲的 裝置，包括光學暗室ll，光學暗室11與光路筒12的外壁相貼合，光路筒12正對光學暗室 11的一側設置有兩光源13以及信號接收裝置14，光源13的正前方靠近光學暗室11處各 裝有反射鏡15，反射鏡15由光路筒12內壁向外壁凸設，光學暗室11內壁處設置有吸光材 料17，光路筒12的內壁正對信號接收裝置14處設置有通光孔16，本實施例中光源為空心 陰極燈。反射鏡15與水平面夾角在30度至60度，本實用新型中的角度為60度。 整個裝置的工作原理為第一，光源13發(fā)出的特征光譜會直接照射到反射鏡15 上，其中部分被吸收，部分被向反射鏡15斜上方反射，而不會進入到信號接收裝置14，形成 雜散光；其二，信號接收裝置14的正前方的通光孔16，避免雜散光照射到信號接收裝置14 對面筒壁上，而反射進入信號接收裝置14，形成雜散光；其三，光學暗室11的室壁上的吸光 材料17，當雜散光照射到光學暗室11之后，大部分被吸收，避免反射作用，從而降低了光學
W旦 冃足。
權利要求一種用于降低原子熒光光譜儀光學背景及噪聲的裝置，包括光學暗室，所述光學暗室與光路筒的外壁相貼合，所述光路筒正對所述光學暗室的一側設置有兩光源以及信號接收裝置，其特征在于所述光源的正前方靠近所述光學暗室處各裝有反射鏡，以吸收并反射光源發(fā)出的光線。
2. 如權利要求1所述的用于降低原子熒光光譜儀光學背景及噪聲的裝置，其特征在 于所述反射鏡由所述光路筒內壁向外壁凸設。
3. 如權利要求1所述的用于降低原子熒光光譜儀光學背景及噪聲的裝置，其特征在 于所述光學暗室內壁處設置有吸光材料。
4. 如權利要求1所述的用于降低原子熒光光譜儀光學背景及噪聲的裝置，其特征在 于所述光路筒的內壁正對所述信號接收裝置處設置有通光孔。
5. 如權利要求1所述的用于降低原子熒光光譜儀光學背景及噪聲的裝置，其特征在 于所述光源為空心陰極燈。
6. 如權利要求1所述的用于降低原子熒光光譜儀光學背景及噪聲的裝置，其特征在 于所述反射鏡與水平面夾角在30度至60度。
7. 如權利要求6所述的用于降低原子熒光光譜儀光學背景及噪聲的裝置，其特征在于所述角度為60度。
專利摘要本實用新型涉及一種用于降低原子熒光光譜儀光學背景及噪聲的裝置，包括光學暗室，光學暗室與光路筒的外壁相貼合，光路筒正對光學暗室的一側設置有兩光源以及信號接收裝置，光源的正前方靠近光學暗室處各裝有一反射鏡，反射鏡由光路筒內壁向外壁凸設，光學暗室內壁處設置有吸光材料，光路筒的內壁正對信號接收裝置處設置有通光孔，本實施例中光源為空心陰極燈。整個裝置結構簡單，布局合理；最大程度地降低儀器的雜散光，將儀器空白測量的噪聲值降低到最小；用戶操作使用方便。其適用于環(huán)境保護、臨床醫(yī)學、農業(yè)、地質冶金、制藥行業(yè)、石化行業(yè)等行業(yè)的原子光譜分析中的降低儀器使用中的光學背景及噪聲之用。
文檔編號G01N21/64GK201477048SQ200920232838
公開日2010年5月19日 申請日期2009年7月23日 優(yōu)先權日2009年7月23日
發(fā)明者劉召貴, 胡曉斌, 譚周勇, 郭昕, 馬聰 申請人:江蘇天瑞儀器股份有限公司