專利名稱：一種無塵布表面光潔度的檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及無塵布檢測方法領(lǐng)域，尤其是指一種無塵布表面光 潔度的檢測方法。
背景技術(shù)：
無塵布是廣泛使用在電子光學(xué)設(shè)備的一種化學(xué)布料，對其表面 光潔效果有很高的要求，要達到"無塵"的效果需要盡可能的減少 表面毛剌的數(shù)量，消除無潛在的掉毛因素。目前無塵布的表面光潔 度的檢査方法是將無塵布攤開，憑經(jīng)驗用肉眼檢査布面毛刺狀況， 這樣的檢驗方法存在檢驗標準不能夠統(tǒng)一，主觀性太強的缺點，給 供需雙方帶來了很多分歧。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于針對目前無塵布表面光潔度的檢測存在的 不足，而提供能量化表面光潔度的的一種無塵布表面光潔度的檢測 方法。
為達到上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案 一種無塵布表面光潔度的檢測方法，它包括以下幾個步驟
1) 、取至少一片待測無塵布將無塵布對折；
2) 、量取對折線的長度；
3) 、在選定倍體視顯微鏡下點數(shù)折邊上毛刺的數(shù)量；
34)、表面光潔度的表征參數(shù)毛刺線密度=所有次測量毛刺 總數(shù)/總測量距離。
本發(fā)明的有益效果在于本發(fā)明通過以上步驟的方法，能客觀 的提出計算出無塵布表面光潔度的表征參數(shù)毛刺線密度。毛刺線 密度的數(shù)值越小，表面光潔度效果越好，通過跟制定參照毛刺線密 度進行對比可以判斷無塵布表面光潔度是否達到所需的要求；這樣 能解決困擾無塵布表面光潔度檢查的問題，來提高無塵布檢驗的效 率與客觀可靠性，以往單憑肉眼檢査相比，此方法具有精度高，可 操作性強的特點。
具體實施例方式
下面對本發(fā)明作進一步闡述
對一次無塵布表面表面光潔度的具體檢測步驟如下
1、 取3片待測無塵布分別對折；
2、 用直尺分別量取對折線的長度均為10cm、 20cm、 30cm;
3在60倍體視顯微鏡下點數(shù)折邊上毛刺的數(shù)量分別為5、 20、
16;
4、取三片無塵布毛剌數(shù)量測量值的平均值即為表面光潔度的 表征參數(shù)毛剌線密度
毛刺線密度=三次測量毛刺總數(shù)/測量距離=(5+20+16) /10+20+30=0. 76。
本發(fā)明通過以上步驟的方法，能客觀的提出計算出無塵布表面 光潔度的表征參數(shù)毛刺線密度。毛刺線密度的數(shù)值越小，表面光潔度效果越好，通過跟制定參照毛刺線密度進行對比可以判斷無塵
布表面光潔度是否達到所需的要求；這樣能解決困擾無塵布表面光 潔度檢查的問題，來提高無塵布檢驗的效率與客觀可靠性，以往單 憑肉眼檢查相比，此方法具有精度高，可操作性強的特點。
以上所述實施例，只是本發(fā)明的較佳實例，并非來限制本發(fā)明 實施范圍，故凡依本發(fā)明申請專利范圍所述的構(gòu)造、特征及原理所 做的等效變化或修飾，均應(yīng)包括于本發(fā)明專利申請范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1、一種無塵布表面光潔度的檢測方法，其特征在于，它包括以下幾個步驟1)、取至少一片待測無塵布將無塵布對折；2)、量取對折線的長度；3)、在選定倍體視顯微鏡下點數(shù)折邊上毛刺的數(shù)量；4)、表面光潔度的表征參數(shù)毛刺線密度＝所有次測量毛刺總數(shù)/總測量距離。
全文摘要
本發(fā)明涉及無塵布檢測方法領(lǐng)域，尤其是指一種無塵布表面光潔度的檢測方法；它包括以下幾個步驟1)取至少一片待測無塵布將無塵布對折；2)量取對折線的長度；3)在選定倍體視顯微鏡下點數(shù)折邊上毛刺的數(shù)量；4)表面光潔度的表征參數(shù)毛刺線密度＝所有次測量毛刺總數(shù)/總測量距離；這樣能客觀的提出計算出無塵布表面光潔度的表征參數(shù)毛刺線密度；毛刺線密度的數(shù)值越小，表面光潔度效果越好，通過跟制定參照毛刺線密度進行對比可以判斷無塵布表面光潔度是否達到所需的要求；這樣能解決困擾無塵布表面光潔度檢查的問題，來提高無塵布檢驗的效率與客觀可靠性，此方法具有精度高，可操作性強的特點。
文檔編號G01N33/36GK101498672SQ200810026210
公開日2009年8月5日 申請日期2008年1月31日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月31日
發(fā)明者汪永紅 申請人:東莞市碩源電子材料有限公司