專利名稱：：一種ito測試板和測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及LCD(LiquidCrystalDisplay,液晶顯示器)制造領(lǐng)域的測試技術(shù)，具體地說是涉及一種ITO電極測試技術(shù)。
背景技術(shù)：
：ITO(IndiumTinOxides,銦錫氧化物)玻璃是LCD重要組成部分，ITO腐蝕是液晶顯示器制造中非常嚴(yán)重的問題。ITO腐蝕是指ITO在潮濕或酸堿環(huán)境下，得到電子還原成金屬單體或交換得到酸堿根離子生成其它物質(zhì)。導(dǎo)致ITO腐蝕的一般原因是對ITO層保護不足或在保護前ITO已被污染。ITO腐蝕會造成液晶顯示板和液晶顯示器的報廢，ITO腐蝕是一種可靠性失效，發(fā)生過程緩慢，且通電狀態(tài)能加速反應(yīng)速度。所以如果在廠內(nèi)留下隱患，有可能出現(xiàn)產(chǎn)品被銷售至客戶甚至是終端客戶手上才體現(xiàn)，產(chǎn)品出現(xiàn)可靠性問題，廠家會遭到客戶投訴并要負(fù)相關(guān)的連帶責(zé)任。ITO腐蝕主要是由制程工藝來控制。制程工藝主要是通過加強對ITO表面的清潔，減少ITO表面污染，加強IT0表面防護來控制IT0腐蝕。目前ITO腐蝕改善中對于改善效果評價一般是使用實際產(chǎn)品加電后進(jìn)行可靠性試驗，根據(jù)可靠性試驗是否出現(xiàn)腐蝕來判定改善的好壞。但實際中不同產(chǎn)品之間存在著差異不同IC有不同的輸出電壓，不同LCD有不同的ITO走線線距和線寬。而且產(chǎn)品驅(qū)動過程中由于顯示畫面的不同顏色是由相鄰RGB象素的不同灰階混合而成，所以在復(fù)雜畫面中每根ITO線出現(xiàn)各灰階電壓的概率不一致，每一根ITO走線之間所承受的平均電壓也不一樣。這樣每根ITO在不同的電壓條件下進(jìn)行可靠性測試，得出的腐蝕評估不能體現(xiàn)出改善所適應(yīng)的條件范圍。而且由于條件的不一致，每根ITO走線出現(xiàn)腐蝕的概率也不一樣。同樣對于改善中所采用的材料的評估也不夠科學(xué)，而且對于可靠性測試中對腐蝕的極限條件也很難評估。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的主要目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)中對no玻璃腐蝕的改善效果評估不方便，不準(zhǔn)確的問題，提出一種測試板及其測試方法。為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種ITO測試板，包括玻璃基板、ITO導(dǎo)電層、絕緣層，該ITO導(dǎo)電層涂覆于該玻璃基板上，且該絕緣層涂覆于該ITO導(dǎo)電層的部分或全部表面。上述的ITO測試板，所述ITO導(dǎo)電層包括若干分區(qū)，每一分區(qū)包括二條線寬一致、走線平行的ITO平行電極。所述IT0導(dǎo)電層的各分區(qū)IT0平行電極的線寬、線距之一或之二設(shè)置為不同值。上述的ITO測試板，所述ITO導(dǎo)電層包括若干分區(qū)；每二個分區(qū)為一組，在同組分區(qū)內(nèi)，所述各ITO平行電極的線寬一致、線距一致；且該絕緣層僅涂覆于同組分區(qū)的其中之一分區(qū)之上；不同組分區(qū)之間，所述各IT0平行電極的線寬、線距之一或之二設(shè)置為不同值。上述的ITO測試板，所述ITO導(dǎo)電層包括若干分區(qū)；每一分區(qū)分別仿真STN或CSTN液晶顯示器的IT0電極走線。上述的ITO測試板，所述ITO導(dǎo)電層包括若干分區(qū)；所述分區(qū)被整體劃分二組，二組中的各分區(qū)一一對應(yīng)，對應(yīng)分區(qū)結(jié)構(gòu)相同、各ITO平行電極的線寬線距分別相同；所述絕緣層僅涂覆于其中之一組分區(qū)之上；同一分區(qū)的各ITO平行電極的線寬線距分別相同。本發(fā)明還提供了一種IT0電極腐蝕的測試方法，包括如下步驟將仿真IT0電極走線的IT0測試板置于預(yù)定溫濕度的環(huán)境中，對IT0電極通以一定時間的工作電壓，對IT0電極的腐蝕情況進(jìn)行評估。上述的測試方法，所述工作電壓為仿真IT0電極在實際工作過程中所受的有效電壓。上述的測試方法，所述IT0測試板同時仿真STN或CSTN液晶顯示器的IT0電極走線；或分別仿真STN或CSTN液晶顯示器的IT0電極走線。上的測試方法，所述IT0測試板采用同一玻璃基板分區(qū)仿真STN和CSTN液晶顯示器的ITO電極，各分區(qū)IT0電極的走線間距、線寬、絕緣層覆蓋、絕緣層覆蓋材料中的一個或一個以上因素不相同。上述的測試方法，所述ITO測試板采用同一玻璃基板對稱設(shè)置ITO導(dǎo)電層，該ITO導(dǎo)電層包括分成二組的若干分區(qū)，二組中各分區(qū)一一對應(yīng)，對應(yīng)分區(qū)的ITO走線結(jié)構(gòu)相同；每組內(nèi)各分區(qū)的走線線寬或線距之一或之二設(shè)置為不同值；其中之一組涂覆絕緣層。上述的測試方法，對涂覆相同的絕緣層、相同線距、相同線寬的ITO電極，按正交設(shè)計的不同電壓、溫度、濕度組合成不同的高溫高濕環(huán)境，對各組ITO電極通電相同時間，以評估不同電壓、溫度、濕度對ITO腐蝕的影響。上述的測試方法，對ITO電極走線線距相同、線寬相同的IT0測試板，涂覆不同之絕緣層，以評估不同之絕緣層材料的防腐性能。本發(fā)明的有益的效果是采用本發(fā)明所述的技術(shù)方案，可以仿真STN、CSTN液晶顯示器的ITO走線間距、線寬、所受有效電壓及絕緣層覆蓋等情況，在一定的高溫高濕條件下進(jìn)行腐蝕評估，可以更客觀更科學(xué)的評估腐蝕改善或新材料的效果，為ITO的設(shè)計、生產(chǎn)提供依據(jù)。同理，可以通過極差分析得到最容易產(chǎn)生腐蝕的電壓、溫度、濕度條件，可以對現(xiàn)有工程防腐蝕能力進(jìn)行客觀的評估，為改善提高ITO的防腐能力、保證LCD產(chǎn)品質(zhì)量提供依據(jù)。下面結(jié)合附圖和具體實施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)地說明。圖1是本發(fā)明實施例一it0測試板結(jié)構(gòu)示意圖2是本發(fā)明實施例一it0測試板上第六區(qū)域中it0走線的放大示意圖。具體實施例方式實施例一如圖1所示，該ITO測試板包括玻璃基板、it0導(dǎo)電層、絕緣層，該no導(dǎo)電層涂覆于該玻璃基板上，且該絕緣層涂覆于該ito導(dǎo)電層的部分表面。該ITO測試板ITO導(dǎo)電層被分成第一部分A和第二部分B，每個部分包括三個區(qū)域，其中，第一部分A包括第一區(qū)域1、第三區(qū)域3和第五區(qū)域5;第二部B分包括第二區(qū)域2、第四區(qū)域4和第六區(qū)域6;第一、第二部分A、B的各區(qū)域?qū)ΨQ分布，區(qū)別在于第一部分A上涂有絕緣層，第二區(qū)域B上沒有涂絕緣層。每個區(qū)域內(nèi)都分布有兩組線寬一致的ITO走線組成的平行電極，各區(qū)域串聯(lián)連接，電極之間不相連且間距固定。圖2為圖1中第六區(qū)域6的放大圖，該區(qū)域內(nèi)平行電極Pl和P2之間的線距S為10um，平行電極P1和P2在第六區(qū)域6內(nèi)的線寬W為15um。每個區(qū)域內(nèi)的電極之間線距值設(shè)計成不同值，這樣可以根據(jù)LCD的設(shè)計需要，有目的性的研究特定線距下ITO測試板的腐蝕情況。同樣ITO走線線寬也可根據(jù)LCD的設(shè)計需要設(shè)定。圖1中第一區(qū)域1和第二區(qū)域2內(nèi)平行電極的線距設(shè)置為20um;第三區(qū)域3和第四區(qū)域4區(qū)內(nèi)平行電極之間的線距設(shè)置為15um;第五區(qū)域5和第六區(qū)域6區(qū)內(nèi)平行電極的線距設(shè)置為10Pm。所有區(qū)域內(nèi)的ITO走線線寬都設(shè)置為15um。測試時，在同一測試板任意兩根ITO走線之間的電壓差都是一樣的，這樣可以改善用實際產(chǎn)品做測試時的不一致性。由于不同區(qū)域有不同的線距，所以可以在一個測試板上評價不同線距的ITO走線在同樣的測試條件下腐蝕的情況，可以更客觀更科學(xué)地評估腐蝕改善或新材料的效果。測試方法LCD工作時，驅(qū)動時信號是變動數(shù)字信號，測試時只需要施加等效的直流電壓。不同型號LCD的有效電壓不一樣，主要跟驅(qū)動IC和驅(qū)動IC設(shè)置的初始化驅(qū)動方法及ITO電阻有關(guān)，現(xiàn)有產(chǎn)品大部分在1(Tl5V左右。將上述測試板的第一接電端11、第二接電端12之間施加15V直流電壓，仿真產(chǎn)品工作過程中所受的有效電壓，在溫度為6CTC，濕度95%的環(huán)境條件下通電96個小時。在96小時后，停電取出ITO測試板，在顯微鏡下觀察腐蝕的狀況，以腐蝕位置和腐蝕面積為參考，以IT0走線的線寬為基準(zhǔn)，對腐蝕面積進(jìn)行估算，從而對腐蝕程度進(jìn)行量化腐蝕點寬度超過線寬的一半計10分，不夠一半計5分，腐蝕點長度為線寬的N倍，則計10*化長度得分乘以寬度得分即該腐蝕點的腐蝕得分。計算測試板上各個區(qū)域內(nèi)腐蝕得分之和，即可得到在該特定條件下各線距值IT0走線的腐蝕情況即改善效果。實施例二本例中，使用實施例一中所述的IT0測試板評估新的IT0保護膠材料的性能。將三組測試板經(jīng)過超聲波清洗后，分別涂敷絕緣保護層，絕緣保護層膠材采用目前通用的材料1號硅膠和新材料2、3號硅膠，然后通15V直流電，投入溫度6(TC、濕度95%的高溫高濕條件下進(jìn)行實驗。經(jīng)過48小時后按照上例中提供的量化方法進(jìn)行腐蝕數(shù)值統(tǒng)計，得到如下數(shù)據(jù)表1:數(shù)據(jù)表l<table>complextableseeoriginaldocumentpage7</column></row><table>根據(jù)數(shù)據(jù)表1可以明顯的看出，新材料2號硅膠較目前使用的材料1號硅膠防腐蝕效果明顯提升。經(jīng)過這樣的評估就可以客觀地得出材料的優(yōu)劣。同時根據(jù)測試板上不同區(qū)域的腐蝕狀況得出2號硅膠更適用于第三區(qū)域和第六區(qū)域的線距的產(chǎn)品。此方法同樣適用于對與ITO接觸的材料對腐蝕影響的評估。比如清洗劑、ACF(異方向性導(dǎo)電膠)、ITO絕緣保護層膠材以及所有在制程中有可能與IT0面接觸的材料。實施例三本例以實施例一所述的ITO測試板為基礎(chǔ)，并上述提供的量化方法進(jìn)行可靠性測試評估及現(xiàn)有工程防腐蝕能力的評估。設(shè)計一個三因子三水平的DOE(DesignofExperiments實驗設(shè)計)實驗，分析溫度、濕度和電壓對腐蝕的影響。將九組IT0電極走線結(jié)構(gòu)相同的測試板經(jīng)過超聲波清洗后，涂敷相同的ITO絕緣保護層膠材，然后按正交設(shè)計的不同的電壓、溫度、濕度組合分別進(jìn)行高溫高濕實驗經(jīng)過96小時后對腐蝕數(shù)值進(jìn)行統(tǒng)計，可得到數(shù)據(jù)表2，然后進(jìn)行極差分析即可得到最容易產(chǎn)生腐蝕的電壓、溫度、濕度條件。此條件即為可靠性測試最嚴(yán)格條件，在此條件下就可以對現(xiàn)有工程防腐蝕能力進(jìn)行客觀的評估。<table>tableseeoriginaldocumentpage8</column></row><table><table>tableseeoriginaldocumentpage9</column></row><table>根據(jù)數(shù)據(jù)表3中的極差值可以判斷電壓對于腐蝕的影響最大，電壓越大越容易發(fā)生腐蝕；濕度為水平2時更容易發(fā)生腐蝕；溫度為60度時更容易發(fā)生腐蝕。以上內(nèi)容是結(jié)合具體的優(yōu)選實施方式對本發(fā)明所作的進(jìn)一步詳細(xì)說明，不能認(rèn)定本發(fā)明的實施只局限于這些說明。對于測試領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視為屬于本發(fā)明的保護范圍。權(quán)利要求1.一種ITO測試板，其特征是包括玻璃基板、ITO導(dǎo)電層、絕緣層，該ITO導(dǎo)電層涂覆于該玻璃基板上，且該絕緣層涂覆于該ITO導(dǎo)電層的部分或全部表面。2.如權(quán)利要求1所述的IT0測試板，其特征是所述ITO導(dǎo)電層包括若干分區(qū)，每一分區(qū)包括二條線寬一致、線距一致、走線平行的ITO平行電極。3.如權(quán)利要求1或2所述的IT0測試板，其特征是所述ITO導(dǎo)電層包括若干分區(qū)；每二個分區(qū)為一組，在同組分區(qū)內(nèi)，所述各ITO平行電極的線寬一致、線距一致；且該絕緣層僅涂覆于同組分區(qū)的其中之一分區(qū)之上；不同組分區(qū)之間，所述各ITO平行電極的線寬、線距之一或之二設(shè)置為不同值。4.如權(quán)利要求1或2或3所述的IT0測試板，其特征是所述IT0導(dǎo)電層包括若干分區(qū)；每一分區(qū)分別仿真STN或CSTN液晶顯示器的IT0電極走線。5.如權(quán)利要求1或2所述的IT0測試板，其特征是所述ITO導(dǎo)電層包括若干分區(qū)；所述分區(qū)被整體劃分二組，二組中的各分區(qū)一一對應(yīng)，對應(yīng)分區(qū)結(jié)構(gòu)相同、各ITO平行電極的線寬線距分別相同；所述絕緣層僅涂覆于其中之一組分區(qū)之上；同一分區(qū)的各ITO平行電極的線寬線距分別相同。6.—種IT0電極腐蝕的測試方法，包括如下步驟將仿真ITO電極走線的IT0測試板置于預(yù)定溫濕度的環(huán)境中，對IT0電極通以一定時間的工作電壓，對IT0電極的腐蝕情況進(jìn)行評估。7.如權(quán)利要求6所述的測試方法，其特征是所述工作電壓為仿真IT0電極在實際工作過程中所受的有效電壓。8.如權(quán)利要求6或7所述的測試方法，其特征是所述ITO測試板同時仿真STN或CSTN液晶顯示器的IT0電極走線；或分別仿真STN或CSTN液晶顯示器的IT0電極走線。9.如權(quán)利要求6或7所述的測試方法，其特征是所述ITO測試板采用同一玻璃基板分區(qū)仿真STN和CSTN液晶顯示器的IT0電極，各分區(qū)IT0電極的走線間距、線寬、絕緣層覆蓋、絕緣層覆蓋材料中的一個或一個以上因素不相同。10.如權(quán)利要求6或7所述的測試方法，其特征是所述ITO測試板采用同一玻璃基板對稱設(shè)置IT0導(dǎo)電層，該IT0導(dǎo)電層包括分成二組的若干分區(qū)，二組中各分區(qū)一一對應(yīng)，對應(yīng)分區(qū)的ITO走線結(jié)構(gòu)相同；每組內(nèi)各分區(qū)的走線線寬或線距之一或之二設(shè)置為不同值；其中之一組涂覆絕緣層。11.如權(quán)利要求6或7所述的測試方法，其特征是對涂覆相同的絕緣層、相同線距、相同線寬的ITO電極，按正交設(shè)計的不同電壓、溫度、濕度組合成不同的高溫高濕環(huán)境，對各組ITO電極通電相同時間，以評估不同電壓、溫度、濕度對ITO腐蝕的影響。12.如權(quán)利要求6或7所述的測試方法，其特征是對IT0電極走線線距相同、線寬相同的ITO測試板，涂覆不同之絕緣層，以評估不同之絕緣層材料的防腐性能。全文摘要本發(fā)明公開了一種ITO測試板，該測試板包括玻璃基板、ITO導(dǎo)電層和絕緣層，其中，ITO導(dǎo)電層涂覆于玻璃基板上，絕緣層涂覆于ITO導(dǎo)電層的部分或全部表面；該ITO測試板可仿真STN或CSTN液晶顯示器的ITO電極走線。本發(fā)明還公開了一種使用ITO測試板的測試方法，該方法將ITO測試板置于預(yù)定溫度濕度的環(huán)境中，對ITO電極通以一定時間的工作電壓，對ITO測試版的腐蝕情況進(jìn)行評估。采用本發(fā)明的方案，可以對影響ITO玻璃腐蝕的因素進(jìn)行有效、客觀地測試和評估。文檔編號G01R31/28GK101339302SQ20071007582公開日2009年1月7日申請日期2007年7月5日優(yōu)先權(quán)日2007年7月5日發(fā)明者周佩先,石道才,楓鄭申請人:比亞迪股份有限公司