專利名稱：集成電路設(shè)計(jì)模擬環(huán)境的測試模式產(chǎn)生方法及儲存媒體的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于集成電路設(shè)計(jì)的模擬環(huán)境，特別是關(guān)于一種合并多個(gè)測試向量以產(chǎn)生可執(zhí)行多種測試行為的測試模式的方法及儲存媒體。
背景技術(shù)：
傳統(tǒng)使用集成電路測試環(huán)境來模擬設(shè)計(jì)中的集成電路的行為反應(yīng)時(shí)，測試人員針對個(gè)別的測試行為，需編寫?yīng)毩⒌臏y試向量。個(gè)別測試向量經(jīng)過測試環(huán)境的編譯以及連接之后，產(chǎn)生測試模式。該測試模式可以由測試人員執(zhí)行以產(chǎn)生與該測試向量所定義的行為相對應(yīng)的結(jié)果。集成電路測試環(huán)境包含仿真模型以仿真設(shè)計(jì)中集成電路的行為，以及該設(shè)計(jì)中集成電路所欲連接的多個(gè)裝置的模型，藉以仿真裝置的行為與該仿真模型互動(dòng)，以驗(yàn)證該仿真模型的行為正確。
圖1為傳統(tǒng)進(jìn)行集成電路測試環(huán)境中的行為模擬的流程圖。測試向量1～M分別針對不同測試行為所編寫。測試向量可包含配置定義部分以及行為定義部分，配置定義部分描述針對所定義的測試行為，對測試環(huán)境的仿真模型以及各裝置模型的配置作設(shè)定。
如圖所示，針對不同測試行為，首先準(zhǔn)備測試向量1～M。測試向量1～M需分別經(jīng)過編譯器編譯以及連接器連接，以產(chǎn)生測試模式1～M。測試模式1～M可分別被執(zhí)行，其執(zhí)行步驟為先對測試環(huán)境進(jìn)行配置設(shè)定，使設(shè)計(jì)環(huán)境的配置合乎測試要求后，再針對個(gè)別測試向量所定義的測試行為1～M進(jìn)行模擬動(dòng)作。測試模式1～M執(zhí)行后將產(chǎn)生對應(yīng)的執(zhí)行動(dòng)作記錄文件或是錯(cuò)誤記錄文件，供使用者驗(yàn)證所定義的測試行為是否已經(jīng)正常的結(jié)束。由圖示說明可知，要執(zhí)行M個(gè)測試向量所定義的測試行為，需經(jīng)過M次的編譯、連接以及配置設(shè)定的操作時(shí)間。
傳統(tǒng)進(jìn)行集成電路測試環(huán)境中的行為仿真的流程需分別的對個(gè)別測試向量進(jìn)行編譯以及連接動(dòng)作。在個(gè)別測試模式被執(zhí)行時(shí)，測試環(huán)境均由預(yù)設(shè)配置開始，經(jīng)由測試模式將所需的所有配置設(shè)定完成后，再進(jìn)行模擬的行為測試。由于對集成電路設(shè)計(jì)進(jìn)行模擬時(shí)，所需測試的行為數(shù)目眾多；若所有行為均需由獨(dú)立的測試向量所定義，并分別需要經(jīng)過編譯、連接、配置設(shè)定以及行為模擬等步驟來完成，所消耗的時(shí)間是相當(dāng)可觀的。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種測試模式的產(chǎn)生方法，其適用于集成電路設(shè)計(jì)模擬環(huán)境。該具選項(xiàng)功能測試模式產(chǎn)生方法包括合并至少二測試向量，藉以產(chǎn)生合并測試向量；其中個(gè)別測試向量定義一組測試行為；以及利用該集成電路設(shè)計(jì)模擬環(huán)境進(jìn)行該合并測試向量的編譯及連接后，產(chǎn)生合并測試模式；其中該合并測試模式可分別進(jìn)行個(gè)別測試向量所定義的測試行為。
本發(fā)明還提供一種儲存媒體，用以儲存計(jì)算機(jī)程序，上述計(jì)算機(jī)程序用以加載至計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中并且使得上述計(jì)算機(jī)系統(tǒng)執(zhí)行測試模式的產(chǎn)生方法；該測試模式產(chǎn)生方法適用于集成電路設(shè)計(jì)模擬環(huán)境并包括合并至少二測試向量，藉以產(chǎn)生合并測試向量；其中個(gè)別測試向量定義一組測試行為；以及利用該集成電路設(shè)計(jì)模擬環(huán)境進(jìn)行該合并測試向量的編譯及連接后，產(chǎn)生合并測試模式；其中該合并測試模式可分別進(jìn)行個(gè)別測試向量所定義的測試行為。


本發(fā)明通過后附詳細(xì)說明的圖示將會(huì)比較容易全盤了解，其僅為圖解之用而非將本發(fā)明限制于圖示范圍。
圖1為傳統(tǒng)進(jìn)行集成電路測試環(huán)境中的行為模擬的流程圖。
圖2A為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例，整理測試向量格式的示意圖。
圖2B為將圖2A中的測試向量合并為合并測試向量的示意圖。
圖3為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例，通過合并測試向量來產(chǎn)生具選項(xiàng)功能的測試模式的流程圖。
標(biāo)號說明1～M測試向量11、21、31…M1配置定義12、22、32…M2行為定義
A0合并測試向量A01共同配置具體實(shí)施方式
詳細(xì)分析測試向量的格式后，經(jīng)過比較得知，不同的測試向量中包含的配置定義里有許多共同的部分，也就是不同向量的測試行為中會(huì)有多個(gè)執(zhí)行步驟是相同的。這是因?yàn)樵诓煌臏y試行為中，往往只著重在功能性的測試行為定義，以測試在設(shè)計(jì)階段的集成電路是否可正確執(zhí)行其功能，而較少進(jìn)行其配置的改變。即使是要作測試配置與功能間的關(guān)系測試，在不同的測試向量間具有差異的配置設(shè)定也為數(shù)不多。
如前文所述，集成電路測試環(huán)境包含仿真模型以仿真設(shè)計(jì)中集成電路的行為，以及該設(shè)計(jì)中集成電路所欲連接的多個(gè)裝置模型，藉以仿真裝置的行為并與該仿真模型互動(dòng)，以驗(yàn)證該仿真模型的行為正確。事實(shí)上，因?yàn)椴煌瑴y試向量間的配置定義大多具有相似性，據(jù)此可提出一種測試向量的寫作方式在測試向量的開頭寫入一組預(yù)設(shè)的共同配置定義，設(shè)定仿真模型以及裝置模型的配置，再根據(jù)測試向量個(gè)別的需求，對與共同配置定義的不同部分，以動(dòng)作定義的方式加以修改。以下再配合圖式及實(shí)施例做詳細(xì)說明。
首先，請參考圖2A，圖2A為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例，整理測試向量格式的示意圖。測試向量1～M分別包括配置定義11～M1以及行為定義12～M2。如圖所示，在不同的測試向量中，配置定義11～M1可能會(huì)有相同，因此將具有相同配置定義者整理表示為共同配置，設(shè)定仿真模型以及裝置模型的配置。行為定義12～M2中包含測試向量所需進(jìn)行的動(dòng)作描述，行為定義的內(nèi)容則以選項(xiàng)向量的方式表示。根據(jù)本發(fā)明提供的方法，行為定義12～M2中包含有針對個(gè)別測試向量所需的與共同配置所定義不同的配置部分，以設(shè)定仿真模型或裝置模型的暫存器等動(dòng)作描述，來完成個(gè)別的配置設(shè)定。舉例來說，若測試向量1須于仿真模型中設(shè)定與該共同配置不同的配置，其可于行為定義12中，利用定義一組修改仿真模型中暫存器值的動(dòng)作，來修改仿真模型的配置設(shè)定。
請參考圖2B，圖2B為將圖2A中的測試向量整合為合并測試向量的示意圖。合并測試向量A0包括共同配置A01及行為定義I2至M2，行為定義I2至M2的選項(xiàng)向量部分是依序記錄于共同配置A01之后。個(gè)別測試向量的選項(xiàng)向量可以宏(macro)的方式儲存。
請?jiān)賲⒖紙D3，圖3為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例，通過合并測試向量來產(chǎn)生具選項(xiàng)功能的測試模式的流程圖。首先產(chǎn)生多個(gè)測試向量(步驟S0)；多個(gè)測試向量接著合并為一合并測試向量(步驟S1)，可參考第2A及2B圖所示。該合并測試向量接著進(jìn)入編譯程序(步驟S2)，隨即進(jìn)行連接程序(步驟S3)；經(jīng)過編譯與連接之后，前述共同配置部分將成為可執(zhí)行的配置函數(shù)，個(gè)別選項(xiàng)向量成為可執(zhí)行的選項(xiàng)函數(shù)。
配置函數(shù)首先被執(zhí)行以對測試環(huán)境進(jìn)行配置設(shè)定(步驟S4)；而配置函數(shù)執(zhí)行后的結(jié)果則可被儲存來作為合并測試模式(步驟S5)。該合并測試模式具有多個(gè)選項(xiàng)函數(shù)，使用者可以依不同的需要，于執(zhí)行該合并測試模式時(shí)提供相關(guān)的參數(shù)(步驟S6)。然后，該合并測試模式在被執(zhí)行時(shí)，可根據(jù)使用者提供的參數(shù)分別或同時(shí)執(zhí)行對應(yīng)的選項(xiàng)函數(shù)(步驟S7)。
使用本發(fā)明提供的方法，多個(gè)的測試行為可以被定義于單一的測試向量中，經(jīng)過一次的編譯、連接以及配置設(shè)定后儲存為具選項(xiàng)的測試模式。該具選項(xiàng)的測試模式可接收參數(shù)，分別執(zhí)行個(gè)別的測試行為，或一次執(zhí)行所有的測試行為。將圖3中的流程圖與圖1中的流程圖比較，可知同樣執(zhí)行M個(gè)測試行為的情況中，M-1次的編譯、連接以及配置設(shè)定行為被節(jié)省下來，這節(jié)省了大量的時(shí)間花費(fèi)。
本發(fā)明所提出的方法，或者其中某些部分，可能以計(jì)算機(jī)程序(計(jì)算機(jī)指令)的方式加以實(shí)現(xiàn)，此計(jì)算機(jī)程序(計(jì)算機(jī)指令)可能建置于物理儲存媒體中，如軟盤(floppy diskettes)、光盤(CD-ROMS)、硬盤(hard drives)或其它任何機(jī)器可辨讀的儲存媒體中。當(dāng)前述的計(jì)算機(jī)程序(計(jì)算機(jī)指令)經(jīng)由如計(jì)算機(jī)等機(jī)器加載并執(zhí)行時(shí)，此加載計(jì)算機(jī)程序(計(jì)算機(jī)指令)的機(jī)器即轉(zhuǎn)換為用以實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的裝置。再者，本發(fā)明所揭示的方法及系統(tǒng)可以計(jì)算機(jī)程序(計(jì)算機(jī)指令)的方式經(jīng)由傳輸媒體進(jìn)行傳輸，如電線(electrical wire)、電纜(cable)、光纖(fiber optics)或其它任何可進(jìn)行傳輸?shù)膫鬏斆襟w。當(dāng)前述經(jīng)由傳輸媒體傳輸?shù)挠?jì)算機(jī)程序(計(jì)算機(jī)指令)經(jīng)由如計(jì)算機(jī)等機(jī)器加載并執(zhí)行時(shí)，此加載計(jì)算機(jī)程序(計(jì)算機(jī)指令)的機(jī)器即轉(zhuǎn)換為用以實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的裝置。又再者，本發(fā)明所揭示的方法及系統(tǒng)可以計(jì)算機(jī)程序(計(jì)算機(jī)指令)的型態(tài)應(yīng)用于通用目的(general-purpose)處理器中，當(dāng)前述應(yīng)用于通用目的處理器的計(jì)算機(jī)程序(計(jì)算機(jī)指令)與該處理器相結(jié)合時(shí)，即提供用以實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的裝置，其功能相當(dāng)于具有特定功能的邏輯電路(logic circuits)。
雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的更動(dòng)與潤飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視所附的權(quán)利要求范圍所界定者為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種測試模式的產(chǎn)生方法，其適用于集成電路設(shè)計(jì)模擬環(huán)境；該具選項(xiàng)功能測試模式產(chǎn)生方法包括合并至少二測試向量，藉以產(chǎn)生合并測試向量；其中個(gè)別測試向量定義一組測試行為；以及利用該集成電路設(shè)計(jì)模擬環(huán)境進(jìn)行該合并測試向量的編譯及連接后，產(chǎn)生合并測試模式；其中該合并測試模式可分別進(jìn)行個(gè)別測試向量所定義的測試行為。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試模式的產(chǎn)生方法，其中個(gè)別測試向量包含測試配置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試模式的產(chǎn)生方法，其中合并該等測試向量的步驟還包含比較個(gè)別測試向量的測試配置，將所有測試向量的測試配置中相同部分記錄為共同配置；分別記錄個(gè)別測試向量與該共同配置的不同部分為選項(xiàng)向量；以及將該共同配置與個(gè)別選項(xiàng)向量以預(yù)先決定的格式儲存至該合并測試向量。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試模式的產(chǎn)生方法，其中該合并測試向量的格式為該共同配置存放于該合并測試向量的起始位置；以及依序以宏存放個(gè)別選項(xiàng)向量于該共同配置之后。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試模式的產(chǎn)生方法，其中該合并測試模式包括至少二選項(xiàng)函數(shù)分別對應(yīng)該等宏。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試模式的產(chǎn)生方法，其中該集成電路設(shè)計(jì)模擬環(huán)境分別將該等宏編譯及連接為該等選項(xiàng)函數(shù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試模式的產(chǎn)生方法，其中該合并測試模式可接收測試參數(shù)，藉以執(zhí)行指定的該選項(xiàng)函數(shù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試模式產(chǎn)生方法，其中該合并測試模式可接收測試參數(shù)，藉以同時(shí)執(zhí)行所有該選項(xiàng)函數(shù)。
9.一種儲存媒體，用以儲存計(jì)算機(jī)程序，上述計(jì)算機(jī)程序用以加載至計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中并且使得上述計(jì)算機(jī)系統(tǒng)執(zhí)行測試模式的產(chǎn)生方法；該具選項(xiàng)功能測試膜式產(chǎn)生方法適用于集成電路設(shè)計(jì)模擬環(huán)境并包括合并至少二測試向量，藉以產(chǎn)生合并測試向量；其中個(gè)別測試向量定義一組測試行為；以及利用該集成電路設(shè)計(jì)模擬環(huán)境進(jìn)行該合并測試向量的編譯及連接后，產(chǎn)生合并測試模式；其中該合并測試模式可分別進(jìn)行個(gè)別測試向量所定義的測試行為。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的儲存媒體，其中個(gè)別測試向量包含測試配置。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的儲存媒體，其中合并該等測試向量的步驟還包含比較個(gè)別測試向量的測試配置，將所有測試向量的測試配置中相同部分記錄為共同配置；分別記錄個(gè)別測試向量與該共同配置的不同部分為選項(xiàng)向量；以及將該共同配置與個(gè)別選項(xiàng)向量以預(yù)先決定的格式儲存至該合并測試向量。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的儲存媒體，其中該合并測試向量的格式為該共同配置存放于該合并測試向量的起始位置；以及依序以宏存放個(gè)別選項(xiàng)向量于該共同配置之后。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的儲存媒體，其中該合并測試模式包括至少二選項(xiàng)函數(shù)分別對應(yīng)該等宏。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的儲存媒體，其中該集成電路設(shè)計(jì)模擬環(huán)境分別將該等宏編譯及連接為該等選項(xiàng)函數(shù)。
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的儲存媒體，其中該合并測試模式可接收測試參數(shù)，藉以執(zhí)行指定的該選項(xiàng)函數(shù)。
16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的儲存媒體，其中該合并測試模式可接收測試參數(shù)，藉以同時(shí)執(zhí)行所有該選項(xiàng)函數(shù)。
全文摘要
本發(fā)明提供一種測試模式(test pattern)的產(chǎn)生方法及儲存媒體，其適用于集成電路設(shè)計(jì)模擬環(huán)境。該具選項(xiàng)功能測試模式產(chǎn)生方法包括合并至少二測試向量，藉以產(chǎn)生合并測試向量；其中個(gè)別測試向量定義一組測試行為；以及利用該集成電路設(shè)計(jì)模擬環(huán)境進(jìn)行該合并測試向量的編譯及連接后，產(chǎn)生合并測試模式；其中該合并測試模式可分別進(jìn)行個(gè)別測試向量所定義的測試行為。
文檔編號G01R31/28GK1776444SQ200510126968
公開日2006年5月24日 申請日期2005年11月29日 優(yōu)先權(quán)日2005年11月29日
發(fā)明者王敏書, 王淳佑, 楊君智 申請人:威盛電子股份有限公司