專利名稱：一種石英晶體振蕩器的測試調(diào)整裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于工業(yè)測試、生產(chǎn)領(lǐng)域，具體涉及一種石英晶體振蕩器的測試調(diào)整裝置及方法。
背景技術(shù)：
石英晶體振蕩器是一種產(chǎn)生穩(wěn)定頻率的被動元件，廣泛用于各類通訊系統(tǒng)、終端上，是被列入我國“十五”規(guī)劃重點扶植的產(chǎn)品類型。隨著手機、GPS等新型電子設(shè)備的廣泛應(yīng)用，石英晶體振蕩器的需求量以每年兩位數(shù)的增長量向上增長。在石英晶體振蕩器的使用上，由于石英無法與現(xiàn)時生產(chǎn)大規(guī)模電路使用的材料一起加工，所以石英晶體振蕩器一直作為一個單獨元器件存在。
在石英晶體振蕩器的生產(chǎn)上，由于歷史原因，我國一直在國際上處于落后地位。究其原因，石英晶體振蕩器國產(chǎn)生產(chǎn)設(shè)備研發(fā)的滯后是比較突出的問題，而且對于石英晶體振蕩器的性能測試方面也存在很大的空缺，這兩點有著千絲萬縷的關(guān)系，所以怎樣研制出一套具有對石英晶體振蕩器特性進行測試、適用于各類石英晶體振蕩器用振蕩電路調(diào)整的大規(guī)模生產(chǎn)系統(tǒng)，成為了我國石英晶體振蕩器生產(chǎn)行業(yè)是否能與國際接軌的關(guān)鍵。
由于未經(jīng)過調(diào)整的石英晶體振蕩器的頻率隨著環(huán)境溫度的變化而出現(xiàn)較大范圍的偏差，這一問題使該類產(chǎn)品的應(yīng)用范圍受到了極大的限制，所以必須通過技術(shù)手段調(diào)整石英晶體振蕩器的振蕩電路，使石英晶體振蕩器的頻率變化達到要求。為了達到以上目的，須對每一支未經(jīng)過調(diào)整的石英晶體振蕩器頻率隨著溫度變化而變化的規(guī)律進行測試，然后進行調(diào)整，所以急需研制對石英晶體振蕩器的測試及相應(yīng)的振蕩電路調(diào)整技術(shù)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種方便快捷而又適用于大規(guī)模工業(yè)生產(chǎn)的石英晶體振蕩器的測試調(diào)整裝置。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種根據(jù)前一目的裝置所實施的石英晶體振蕩器的測試調(diào)整方法。
為了達到前一發(fā)明目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下一種石英晶體振蕩器的測試調(diào)整裝置，包括處理中心、傳輸模塊和測試調(diào)整模塊，所述處理中心和測試調(diào)整模塊通過傳輸模塊相互連接，所述測試調(diào)整模塊包括電源、頻率計和調(diào)整電路，電源分別與測試調(diào)整模塊的其它元件或電路電連接，所述的頻率計和調(diào)整電路還設(shè)置有可連接外部的石英晶體振蕩器的接口。
本發(fā)明所述的測試調(diào)整模塊還包括選擇電路，所述選擇電路也設(shè)置有可連接外部的石英晶體振蕩器的接口，通過選擇電路在一個時間段里選擇不同的石英晶體振蕩器，可實現(xiàn)大規(guī)模的測試調(diào)整。
本發(fā)明所述的測試調(diào)整模塊還包括溫度控制器，所述的溫度控制器用于控制測試調(diào)整環(huán)境的工作溫度。
本發(fā)明的測試調(diào)整模塊設(shè)置有擴展接口，可通過所述擴展接口接入其它元件或電路，如數(shù)字萬用表、萬用表和相位噪聲測試儀等。
本發(fā)明的處理中心可采用普通計算機，或采用單片機，或采用基于電子計算機架構(gòu)的處理芯片或電路。相應(yīng)的，所述的傳輸模塊可采用普通計算機適用的總線控制器，或?qū)ｉT為用于電子信息傳輸用的控制器件或電路。
為了實現(xiàn)后一發(fā)明目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案為
一種石英晶體振蕩器的測試調(diào)整方法，通過頻率計測試石英晶體振蕩器的性能參數(shù)，并將該性能參數(shù)經(jīng)傳輸模塊傳送到處理中心，處理中心同時通過傳輸模塊控制頻率計工作，并處理所接收的性能參數(shù)，再根據(jù)處理結(jié)果控制調(diào)整電路對石英晶體振蕩器的振蕩電路進行調(diào)整。
為了實現(xiàn)大規(guī)模測試及調(diào)整，本發(fā)明所述的處理中心還可通過傳輸模塊控制選擇電路選擇不同的石英晶體振蕩器。所以可同時對大量的石英晶體振蕩器進行測試及調(diào)整，通過選擇電路對具體的石英晶體振蕩器做出選擇，宏觀上可在一段時間內(nèi)對大量石英晶體振蕩器進行測試及調(diào)整。
由于石英晶體振蕩器的頻率可隨環(huán)境溫度的不同而有變化，所以本發(fā)明還通過溫度控制器控制測試調(diào)整的工作環(huán)境的溫度，從而頻率計可根據(jù)不同環(huán)境溫度測試出石英晶體振蕩器的頻率偏差，并通過調(diào)整電路對振蕩電路進行相應(yīng)的調(diào)整，使石英晶體振蕩器的頻率較為穩(wěn)定。
本發(fā)明對石英晶體振蕩器進行測試的性能參數(shù)主要包括頻率、頻率容差、溫度特性、老化率、電壓特性、負載特性、壓控頻率范圍；或增加測試響應(yīng)曲線和線性率；所述的性能參數(shù)還可包括啟動時間和電流特性，或者包括通過數(shù)字萬用表測試輸出電壓，或通過相位噪聲測試儀測試的相位噪聲等。
本發(fā)明可對石英晶體振蕩器特性進行大規(guī)模的測試及調(diào)整、而且結(jié)構(gòu)簡單，只需普通計算機或單片機結(jié)合常見的元件，而且本發(fā)明兼容性強，可通過擴展接口隨時兼容其它元件或電路，很好的解決了現(xiàn)有技術(shù)對石英晶體振蕩器在大規(guī)模測試及調(diào)整上的不足，適合推廣使用。


圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)框圖；圖2為本發(fā)明的工作流程圖。
具體實施例方式
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明做進一步的說明。
本發(fā)明的結(jié)構(gòu)框圖如附圖1所示，包括處理中心1、傳輸模塊2和測試調(diào)整模塊3，其中，處理中心1包括數(shù)據(jù)處理中心和數(shù)據(jù)存儲中心，數(shù)據(jù)處理中心采用普通個人計算機的CPU單元，數(shù)據(jù)存儲中心采用與個人計算機配套的大容量硬盤，傳輸模塊2為一個數(shù)據(jù)傳輸控制器，本實施例采用普通個人計算機適用的總線控制器，測試調(diào)整模塊3包括電源、頻率計、選擇電路、溫度控制器、其它測試儀及調(diào)整電路，其它測試儀主要是通過擴展接口可根據(jù)實際需要擴接的元件或電路，如數(shù)字萬用表等。
數(shù)據(jù)處理中心和數(shù)據(jù)存儲中心相互連接，而且數(shù)據(jù)處理中心還通過數(shù)據(jù)傳輸控制器與測試調(diào)整模塊的所有元件或電路連接，而測試調(diào)整模塊3的選擇電路與外部待測的元器件4(即石英晶體振蕩器)連接。
本實施例先將石英晶體諧振器捆綁上待測試調(diào)整的IC芯片，成為一個未調(diào)整的石英晶體振蕩器，該IC芯片主要實現(xiàn)根據(jù)調(diào)整電路的寫入內(nèi)容對石英晶體振蕩器的性能做出調(diào)整。
本發(fā)明的工作流程圖如附圖2所示，首先可在計算機上對系統(tǒng)進行初始化，如設(shè)置工作參數(shù)，設(shè)置在不同時間選擇不同的待測元器件，或在不同時間改變測試環(huán)境的溫度等；然后數(shù)據(jù)處理中心根據(jù)設(shè)置的內(nèi)容控制選擇電路選擇具體的待測元器件，并控制頻率計進行測試，頻率計將測試的性能參數(shù)通過數(shù)據(jù)傳輸控制器傳輸?shù)教幚碇行?，并保存在?shù)據(jù)存儲中心，數(shù)據(jù)處理中心再根據(jù)測試結(jié)果控制調(diào)整電路對元器件進行調(diào)整，調(diào)整電路將調(diào)整指令寫入石英晶體振蕩器中與石英晶體諧振器捆綁一起的IC芯片中。本發(fā)明可通過數(shù)據(jù)處理中心自動控制整個測試調(diào)整流程，也可人工控制，在測試過程中可根據(jù)需要退出整個工作過程。
具體而言，主要包括1、測試過程開始，包括放好待測元器件，啟動電源，所有部件處于啟動狀態(tài)；2、啟動設(shè)置程序，進入用戶設(shè)置界面；3、用戶設(shè)置調(diào)整初始環(huán)境，即設(shè)置用于判斷哪些產(chǎn)品經(jīng)過上述的測試后可以被認為是有可能經(jīng)過調(diào)整成為合格產(chǎn)品的條件，一般都根據(jù)國家指定的相關(guān)產(chǎn)品標準；4、用戶設(shè)置調(diào)整目標值，即設(shè)置經(jīng)過篩選后進行調(diào)整的產(chǎn)品調(diào)試后各特性的最終目標值；5、用戶設(shè)定測試需經(jīng)過的過程及各過程的狀態(tài)；6、進入測試7、循環(huán)測試直到過程完成8、進入產(chǎn)品篩選過程，根據(jù)之前的記錄及設(shè)定值判斷；9、進入調(diào)整，根據(jù)之前的記錄所進行，主要是調(diào)整電路進行調(diào)整；10、循環(huán)調(diào)整直到過程完成；11、進入用于驗證的測試，即對調(diào)整后的元器件再進行測試；12、循環(huán)測試直到過程完成；13、通知用戶在所有產(chǎn)品中哪些是合格產(chǎn)品、哪些是不合格產(chǎn)品；14、過程結(jié)束。
權(quán)利要求
1.一種石英晶體振蕩器的測試調(diào)整裝置，其特征在于包括處理中心、傳輸模塊和測試調(diào)整模塊，所述處理中心和測試調(diào)整模塊通過傳輸模塊相互連接，所述測試調(diào)整模塊包括電源、頻率計和調(diào)整電路，所述電源分別與測試調(diào)整模塊的其它元件或電路電連接，所述的頻率計和調(diào)整電路還設(shè)置有可連接外部的石英晶體振蕩器的接口。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的石英晶體振蕩器的測試調(diào)整裝置，其特征在于所述的測試調(diào)整模塊還包括選擇電路，所述選擇電路還設(shè)置有可連接外部的石英晶體振蕩器的接口。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的石英晶體振蕩器的測試調(diào)整裝置，其特征在于所述的測試調(diào)整模塊還包括溫度控制器。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的石英晶體振蕩器的測試調(diào)整裝置，其特征在于所述的測試調(diào)整模塊設(shè)置有可接入其它元件或電路擴展接口。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的石英晶體振蕩器的測試調(diào)整裝置，其特征在于所述的處理中心可采用普通計算機，或采用單片機，或采用基于電子計算機架構(gòu)的處理芯片或電路。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的石英晶體振蕩器的測試調(diào)整裝置，其特征在于所述的傳輸模塊采用普通計算機適用的總線控制器，或?qū)ｉT為用于電子信息傳輸用的控制器件或電路。
7.一種采用權(quán)利要求1所述測試調(diào)整裝置的石英晶體振蕩器的測試調(diào)整方法，其特征在于通過所述頻率計測試石英晶體振蕩器的性能參數(shù)，并將該性能參數(shù)經(jīng)傳輸模塊傳送到處理中心，處理中心同時通過傳輸模塊控制頻率計工作，并處理所接收的性能參數(shù)，再根據(jù)處理結(jié)果控制調(diào)整電路對石英晶體振蕩器的振蕩電路進行調(diào)整。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的石英晶體振蕩器的測試調(diào)整方法，其特征在于所述的處理中心還可通過傳輸模塊控制選擇電路選擇不同的石英晶體振蕩器。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的石英晶體振蕩器的測試調(diào)整方法，其特征在于還可通過溫度控制器控制測試調(diào)整的工作環(huán)境的溫度。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的石英晶體振蕩器的測試方法，其特征在于所述的頻率計測試石英晶體振蕩器的性能參數(shù)包括頻率、頻率容差、溫度特性、老化率、電壓特性、負載特性、壓控頻率范圍。
全文摘要
本發(fā)明提供一種石英晶體振蕩器的測試調(diào)整裝置及其測試調(diào)整方法，裝置包括處理中心、傳輸模塊和測試調(diào)整模塊，處理中心和測試調(diào)整模塊通過傳輸模塊相互連接，測試調(diào)整模塊包括電源、頻率計和調(diào)整電路，電源分別給測試調(diào)整模塊的其它元件或電路供電，頻率計和調(diào)整電路還可連接外部的石英晶體振蕩器。頻率計測試石英晶體振蕩器的性能參數(shù)，并將該性能參數(shù)經(jīng)傳輸模塊傳送到處理中心，處理中心同時通過傳輸模塊控制頻率計工作，并處理所接收的性能參數(shù)，再根據(jù)處理結(jié)果控制調(diào)整電路對石英晶體振蕩器進行調(diào)整。本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術(shù)在對石英晶體振蕩器的大規(guī)模測試調(diào)整上的不足，有效提升了石英晶體振蕩器的生產(chǎn)技術(shù)。
文檔編號G01R31/28GK1657957SQ20051003335
公開日2005年8月24日 申請日期2005年3月2日 優(yōu)先權(quán)日2005年3月2日
發(fā)明者歐陽晟 申請人:歐陽槐清