專利名稱：液晶顯示器件顯示特性的測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及光電顯示器件的檢測設(shè)備，尤其涉及一種液晶顯示器件顯示特性的測試設(shè)備。
背景技術(shù)：
目前國外和國內(nèi)的液晶顯示器件顯示特性的測試儀普遍采用模仿液晶驅(qū)動芯片數(shù)字電路的結(jié)構(gòu)，如圖1所示包括時鐘電路1、行驅(qū)動電路2、顯示數(shù)據(jù)鎖存器3、缺陷檢測4、列驅(qū)動電路5、時序控制電路6和偏壓調(diào)制電路7。采用顯示數(shù)據(jù)鎖存器3串行移位寄存并行輸出數(shù)據(jù)的方式。行驅(qū)動電路2產(chǎn)生不同相位的驅(qū)動波形。先通過電路調(diào)制出各偏壓的驅(qū)動方波電壓(如V0--V6，V2--V5 V3--V4的方波)。然后利用控制時序電路對這些方波按設(shè)置的占空比調(diào)制利用分時輸出的方式，使測試儀按設(shè)定占空比輸出液晶驅(qū)動波形。波形的頻率是通過控制數(shù)字電路中同步時鐘的頻率來實現(xiàn)。1)由于時序控制電路6與列驅(qū)動電路5連接關(guān)系固定，這種方案是純數(shù)字模式，它使測試儀的驅(qū)動信號的輸出靈活性差。2)由于時序控制電路6與時鐘電路1連接關(guān)系固定，它使測試儀的波形的頻率可調(diào)范圍小。3)由于時序控制電路6與偏壓調(diào)制電路7連接關(guān)系固定，它使測試儀偏置電壓可調(diào)范圍小，已不適應(yīng)高速發(fā)展的液晶行業(yè)測試的需要。
本實用新型的內(nèi)容本實用新型的目的是解決背景技術(shù)純數(shù)字模式使驅(qū)動信號的輸出靈活性差；它使波形的頻率可調(diào)范圍小；偏置電壓可調(diào)范圍小等問題，因此，本實用新型將為液晶顯示器件提供一種顯示特性的測試儀器。
本實用新型如圖2所示它包括輸入與顯示電路1、微控制電路2、行列驅(qū)動信號發(fā)生電路3、缺陷檢測電路4、偏置電壓產(chǎn)生電路5、時鐘產(chǎn)生電路6、總線卡7、電源8、底板9、被測器件功耗顯示電路10和驅(qū)動信號電壓顯示電路11，行列時序控制數(shù)據(jù)存儲器12，輸入與顯示電路1通過數(shù)據(jù)排線與微控制電路2相連，使用戶參與頻率、偏置電壓、占空比的設(shè)置；偏置電壓產(chǎn)生電路5的輸入端CLK、RST、DQ通過總線卡7連到微控制電路2中微控制器數(shù)據(jù)線的輸出端P1的三根線上，通過微控制器將用戶設(shè)置的偏壓參數(shù)傳輸?shù)狡秒妷寒a(chǎn)生電路5，使偏置電壓產(chǎn)生電路5輸出不同的偏置電壓，偏置電壓產(chǎn)生電路5輸出不同的偏置電壓通過總線卡7中偏壓電源線連接到行列驅(qū)動信號發(fā)生電路3的基準電壓輸入端供行列驅(qū)動信號發(fā)生電路3調(diào)制輸出；時鐘產(chǎn)生電路6的控制信號連接到微控制電路2的數(shù)據(jù)線的輸出端P0口，通過微控制器將用戶設(shè)置的頻率參數(shù)傳輸?shù)綍r鐘產(chǎn)生電路6，時鐘產(chǎn)生電路6根據(jù)設(shè)定的參數(shù)將基準時鐘進行分頻得到行列驅(qū)動信號發(fā)生電路3所需要的時鐘脈沖，缺陷檢測電路4的檢測信號輸出端與微控制電路2中微控制器的中斷入口相連，缺陷檢測電路4將檢測到的缺陷信號傳送到微控制電路2；微控制電路2通過輸入與顯示電路1將液晶顯示器件有缺陷的行列顯示出來，微控制電路2中波形控制數(shù)據(jù)存儲器的輸出端與行列驅(qū)動信號發(fā)生電路3內(nèi)的波形選擇控制信號輸入端連接，微控制電路2中微處理器將要輸出的波形控制數(shù)據(jù)存入波形控制數(shù)據(jù)存儲器，波形控制數(shù)據(jù)存儲器在時鐘脈沖的控制下將驅(qū)動控制信號高速輸出到行列驅(qū)動信號發(fā)生電路3，行列驅(qū)動信號發(fā)生電路3產(chǎn)生液晶需要的頻率、偏置電壓、占空比可變的波形。
本實用新型工作時電源打開后，系統(tǒng)中的微控制電路進入自檢程序來檢測當(dāng)前各電路是否連接正確、連接無誤，系統(tǒng)顯示主菜單，請求輸入測試要求的波形頻率、偏置電壓、占空比、循環(huán)周期等參數(shù)。由微控制電路將用戶設(shè)置的頻率參數(shù)傳輸?shù)綍r鐘產(chǎn)生電路，再由時鐘產(chǎn)生電路根據(jù)用戶所設(shè)定的參數(shù)將基準時鐘進行分頻得到行列驅(qū)動信號發(fā)生電路所需要的時鐘脈沖；微控制器將用戶設(shè)置的偏壓參數(shù)傳輸?shù)狡秒妷寒a(chǎn)生電路，使偏置電壓產(chǎn)生電路輸出不同的偏置電壓。微控制電路中的微處理器將要輸出波形控制數(shù)據(jù)存入波形控制數(shù)據(jù)存儲器，波形控制數(shù)據(jù)存儲器在時鐘脈沖的控制下將驅(qū)動控制信號高速輸出到行列驅(qū)動信號發(fā)生電路，行列驅(qū)動信號發(fā)生電路產(chǎn)生的控制信號調(diào)制偏置電壓產(chǎn)生電路輸出的偏置電壓，產(chǎn)生液晶需要的頻率、偏置電壓、占空比可變的波形。缺陷檢測電路采集液晶器件中的功耗電流，當(dāng)功耗電流過大時檢測電路輸出中斷信號到微控制電路，微控制電路通過顯示電路將有缺陷的行列顯示出來。
本實用新型優(yōu)點由于本實用新型的時序控制電路與驅(qū)動電路采用可編程設(shè)置的連接結(jié)構(gòu)，使得時序控制電路輸出的控制信號可通過軟件改變從而使測試儀輸出按用戶要求設(shè)置的波形信號，解決了背景技術(shù)采用時序控制電路與驅(qū)動電路固定的連接，帶來的驅(qū)動信號的輸出靈活性差的問題。本實用新型利用RAM存儲顯示的驅(qū)動的波形數(shù)據(jù)，驅(qū)動波形數(shù)據(jù)的高字節(jié)為圖形的字模數(shù)據(jù)，驅(qū)動波形數(shù)據(jù)的低字節(jié)為顯示狀態(tài)的參數(shù)，利用簡單的數(shù)字時序電路，實現(xiàn)液晶驅(qū)動的動態(tài)驅(qū)動波形輸出。
本實用新型采用微控制電路控制可編程分頻時鐘電路的結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)波形的頻率在5HZ～2KHZ之間連續(xù)可調(diào)。解決了背景技術(shù)時序控制電路輸出參數(shù)確定后向時鐘電路輸出的控制信號不可實時改變，則使測試儀的波形的頻率可調(diào)范圍小不連續(xù)的問題。
本實用新型采用微控制電路與偏置電壓產(chǎn)生電路中數(shù)字電位器結(jié)合的結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)了液晶偏置電壓的精確數(shù)控調(diào)節(jié)，并通過軟件真值表修正，使系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單便于集成，控制數(shù)據(jù)線數(shù)減少，節(jié)省了控制系統(tǒng)的端口線，便于模塊化，可實現(xiàn)1/2～1/64偏壓比。解決了背景技術(shù)由于時序控制電路與偏壓調(diào)制電路連接關(guān)系固定，使測試儀偏置電壓可調(diào)范圍小，不適應(yīng)高速發(fā)展的液晶行業(yè)測試的需要等問題。本實用新型為液晶顯示器件提供一種新型顯示特性的測試儀器。
本實用新型用于LCD屏的中試生產(chǎn)線上，可以滿足不同筆段結(jié)構(gòu)和點陣液晶屏的生產(chǎn)檢測之用。該儀器輸出頻率、偏置電壓、占空比、工作電壓的峰值均可調(diào)節(jié)。本實用新型操作簡單，測試快速準確，適合于工廠批量檢測LCD液晶屏。微控制電路與各電路之間采用門陣列電路設(shè)計，簡化電路結(jié)構(gòu)，提高工作速度。本實用新型利用RAM存儲顯示驅(qū)動波形數(shù)據(jù)，驅(qū)動波形數(shù)據(jù)的高字節(jié)為圖形的字模數(shù)據(jù)，驅(qū)動波形數(shù)據(jù)的低字節(jié)為顯示狀態(tài)的參數(shù)，利用簡單的電路，實現(xiàn)了微控制電路的數(shù)據(jù)存儲器與外部設(shè)備的高速數(shù)據(jù)傳輸。輸出波形的靈活性強，根據(jù)測試需要顯示實現(xiàn)全顯示、全關(guān)閉、隔行顯示、隔列顯示、交叉、網(wǎng)格、英文、漢字、圖形等測試信息。測試信息由計算機編輯傳入本實用新型。


圖1是背景技術(shù)的結(jié)構(gòu)示意圖圖2是本實用新型結(jié)構(gòu)示意圖圖3是本實用新型機械結(jié)構(gòu)示意圖圖4是本實用新型的流程圖具體實施方式
如圖2、圖3、圖4所示包括輸入與顯示電路1、微控制電路2、行列驅(qū)動信號發(fā)生電路3、缺陷檢測電路4、偏置電壓產(chǎn)生電路5、時鐘產(chǎn)生電路6、總線卡7、電源8、底板9、被測器件功耗顯示電路10、驅(qū)動信號電壓顯示電路11和行列時序控制數(shù)據(jù)存儲器12實施例輸入與顯示電路1由一個4×4十六位鍵盤和一塊128×64點陣液晶模塊組成。微控制電路2(嵌入高速CMOS微處理器主控制板)由一塊WINBOND的高速單片機型號為78E58及其外圍芯片組成，外圍芯片包括數(shù)據(jù)存儲器型號為6264，譯碼器型號為74HC138、可編程譯碼器型號為GAL16V8，地址鎖存器型號為74HC573，總線驅(qū)動器型號為74HC245，擴展芯片型號為8255，串行通訊芯片型號為MAX232。行列驅(qū)動信號發(fā)生電路3包括總線驅(qū)動器型號為74HC245，地址鎖存器型號為74HC573，數(shù)據(jù)存儲器62256及高精度模擬開關(guān)MAX333。缺陷檢測模塊4包括數(shù)控電位器、功耗設(shè)置電位器DS1860、電壓比較器741和功耗電流放大器3140。偏置電壓產(chǎn)生電路5由內(nèi)嵌兩電阻的DS1860數(shù)字電位器和運算發(fā)大器組成。時鐘產(chǎn)生電路6由2M晶振及定時器8254組成?？偩€卡7采用72芯總線。電源8包括+5V，+30V，+15V，-15V直流電壓。底板9采用鋁制支架。底板9與9號機殼固定連接。被測器件功耗顯示電路10采用5V指針表頭。驅(qū)動信號電壓顯示電路11采用30V指針表頭。行列時序控制數(shù)據(jù)存儲器12采用地址鎖存器型號為74HC573，數(shù)據(jù)存儲器62256組成。
權(quán)利要求1.液晶顯示器件顯示特性的測試儀，它包括輸入與顯示電路1、電源8、底板9、被測器件功耗顯示電路10和驅(qū)動信號電壓顯示電路11，行列時序控制數(shù)據(jù)存儲器12，其特征在于還包括微控制電路2、行列驅(qū)動信號發(fā)生電路3、缺陷檢測電路4、偏置電壓產(chǎn)生電路5、時鐘產(chǎn)生電路6、總線卡7，輸入與顯示電路1通過數(shù)據(jù)排線與微控制電路2相連，使用戶參與頻率、偏置電壓、占空比的設(shè)置；偏置電壓產(chǎn)生電路5的輸入端CLK、RST、DQ通過總線卡7連到微控制電路2中的微控制器數(shù)據(jù)線輸出端P1.3、P1.4、P1.5的三根線上，通過微控制器將用戶設(shè)置的偏壓參數(shù)傳輸?shù)狡秒妷寒a(chǎn)生電路5，使偏置電壓產(chǎn)生電路5輸出不同的偏置電壓；通過總線卡7中的偏壓電源線連接到行列驅(qū)動信號發(fā)生電路3的基準電壓輸入端供行列驅(qū)動信號發(fā)生電路3調(diào)制輸出；時鐘產(chǎn)生電路6的控制信號連接到微控制電路2數(shù)據(jù)線的輸出端P0口，通過微控制器將用戶設(shè)置的頻率參數(shù)傳輸?shù)綍r鐘產(chǎn)生電路6，時鐘產(chǎn)生電路6根據(jù)設(shè)定的參數(shù)將基準時鐘進行分頻得到行列驅(qū)動信號發(fā)生電路3所需要的時鐘脈沖；缺陷檢測電路4的檢測信號輸出端與微控制電路2中的微控制器的中斷入口相連，缺陷檢測電路4將檢測到的缺陷信號傳送到微控制電路2；微控制電路2通過輸入與顯示電路1將液晶顯示器件有缺陷的行列顯示出來；微控制電路2中的波形控制數(shù)據(jù)存儲器的輸出端與行列驅(qū)動信號發(fā)生電路3內(nèi)的波形選擇控制信號的輸入端連接，微控制電路2中的微處理器將要輸出波形控制數(shù)據(jù)存入波形控制數(shù)據(jù)存儲器，波形控制數(shù)據(jù)存儲器在時鐘脈沖的控制下將驅(qū)動控制信號高速輸出到行列驅(qū)動信號發(fā)生電路3，行列驅(qū)動信號發(fā)生電路3產(chǎn)生液晶需要的頻率、偏置電壓、占空比可變的波形。
專利摘要本實用新型涉及液晶顯示器件顯示特性的測試儀，它包括輸入與顯示電路1、微控制電路2、行列驅(qū)動信號發(fā)生電路3、缺陷檢測電路4、偏置電壓產(chǎn)生電路5、時鐘產(chǎn)生電路6、總線卡7、電源8、底板9、被測器件功耗顯示電路10和驅(qū)動信號電壓顯示電路11，行列時序控制數(shù)據(jù)存儲器12，用簡單的數(shù)字時序電路，實現(xiàn)液晶驅(qū)動的動態(tài)驅(qū)動波形的輸出。采用微控制電路控制可編程分頻時鐘電路實現(xiàn)5Hz～2KHz的連續(xù)可調(diào)范圍。采用微控制電路與MAXIM數(shù)控電位器結(jié)合的結(jié)構(gòu)，使系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單便于集成，控制數(shù)據(jù)線數(shù)減少，節(jié)省了控制系統(tǒng)的端口線，便于模塊化，可實現(xiàn)1/2～1/64偏壓比。本實用新型為液晶顯示器件提供一種顯示特性的測試儀器，適合于工廠批量檢測LCD液晶屏。
文檔編號G01R31/28GK2567588SQ0227482
公開日2003年8月20日 申請日期2002年8月17日 優(yōu)先權(quán)日2002年8月17日
發(fā)明者于濤, 仲崇亮, 張航, 董磊, 張睿鵬 申請人:中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機械與物理研究所