專利名稱：一種液晶顯示面板的檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種液晶顯示面板的檢測方法。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中，通過成盒(cell)制程得到的液晶顯示面板將進(jìn)入模組(module)制程，以將液晶顯示面板和驅(qū)動(dòng)IC裝配為液晶顯示模組。在模組制程中，通常是通過對(duì)液晶顯示模組綁定(bonding)后進(jìn)行點(diǎn)燈檢測，以對(duì)液晶顯示面板的影像殘留現(xiàn)象進(jìn)行攔檢。影 像殘留是指在結(jié)束外加電場時(shí)，液晶顯示面板的顯示畫面不會(huì)即時(shí)消失，而是逐漸延遲消失的現(xiàn)象，由此影響顯示品質(zhì)。因此，在液晶顯示模組點(diǎn)燈檢測過程中，當(dāng)檢測到液晶顯示面板有影像殘留現(xiàn)象時(shí)，由于液晶顯示面板已經(jīng)和驅(qū)動(dòng)IC裝配為液晶顯示模組，因此較難對(duì)其中的液晶顯示面板進(jìn)行修復(fù)。進(jìn)一步的，現(xiàn)有成盒制程階段使用的IDlG (IDATA I GATE, I數(shù)據(jù)線I掃描線)點(diǎn)燈檢測方法中，只能點(diǎn)亮黑、白、灰的單色顯示畫面，無法檢測影像殘留。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種液晶顯示面板的檢測方法，能夠在cell階段使用IDlG點(diǎn)燈檢測方法對(duì)影像殘留進(jìn)行攔檢，增強(qiáng)缺陷檢出能力，提升良率。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個(gè)技術(shù)方案是提供一種液晶顯示面板的檢測方法，在成盒制程階段使用的IDlG點(diǎn)燈檢測中，將液晶顯示面板的多條掃描線分為第一組掃描線、第二組掃描線，將液晶顯示面板的多條數(shù)據(jù)線分為第一組數(shù)據(jù)線和第二組數(shù)據(jù)線；第一組掃描線和第二組掃描線周期性地輸送掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，每個(gè)掃描周期分為第一子周期和第二子周期；在第一子周期，第一組掃描線輸送第一掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，且第一組數(shù)據(jù)線輸送第一檢測信號(hào)，第二組數(shù)據(jù)線輸送第二檢測信號(hào)；在第二子周期，第二組掃描線輸送第二掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，且第一組數(shù)據(jù)線輸送第二檢測信號(hào)，第二組數(shù)據(jù)線輸送第一檢測信號(hào)；其中，所述第一檢測信號(hào)和所述第二檢測信號(hào)分別提供不同顏色的第一顯示畫面和第二顯示畫面。其中，第一檢測信號(hào)是提供白色畫面的信號(hào)，第二檢測信號(hào)是提供黑色畫面的信號(hào)。其中，第一檢測信號(hào)是提供黑色畫面的信號(hào)，第二檢測信號(hào)是提供白色畫面的信號(hào)。其中，第一子周期為前半掃描周期，第二子周期為后半掃描周期。其中，第一子周期為后半掃描周期，第二子周期為前半掃描周期。其中，第一組掃描線為奇數(shù)組掃描線，第二組掃描線為偶數(shù)組掃描線，第一組數(shù)據(jù)線為奇數(shù)組數(shù)據(jù)線，第二組數(shù)據(jù)線為偶數(shù)組數(shù)據(jù)線。其中，第一組掃描線為偶數(shù)組掃描線，第二組掃描線為奇數(shù)組掃描線，第一組數(shù)據(jù)線為偶數(shù)組數(shù)據(jù)線，第二組數(shù)據(jù)線為奇數(shù)組數(shù)據(jù)線。
其中，液晶顯示面板電連接至點(diǎn)燈檢測裝置，點(diǎn)燈檢測裝置用于向液晶顯示面板提供第一掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)、第二掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)、第一檢測信號(hào)以及第二檢測信號(hào)。其中，第一組掃描線、第二組掃描線、第一組數(shù)據(jù)線和第二組數(shù)據(jù)線分別連接至點(diǎn)燈檢測裝置的信號(hào)發(fā)生器的不同信號(hào)通道。其中，第一組掃描線、第二組掃描線、第一組數(shù)據(jù)線和第二組數(shù)據(jù)線分別通過位于液晶顯示面板邊緣的對(duì)應(yīng)的導(dǎo)電膠分別連接至信號(hào)發(fā)生器的不同信號(hào)通道。本發(fā)明的有益效果是區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)的情況，本發(fā)明通過設(shè)置第一掃描線在第一子周期輸送掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，且第一組數(shù)據(jù)線輸送第一檢測信號(hào)，第二組數(shù)據(jù)線輸送第二檢測信號(hào)；第二組掃描線在第二子周期輸送掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，且第一組數(shù)據(jù)線輸送第二檢測信號(hào)，第二組數(shù)據(jù)線輸送第一檢測信號(hào)，使得在成盒制程中能顯示不同顏色的第一顯示畫面和第二顯示畫面，因此，在結(jié)束外電場時(shí)，能夠?qū)τ跋駳埩暨M(jìn)行攔檢，由此實(shí)現(xiàn)在成盒制程階段使用IDlG點(diǎn)燈檢測方法對(duì)液晶顯示面板的影像殘留進(jìn)行攔檢，增強(qiáng)缺陷檢出能力，提升良率。


圖I是本發(fā)明的一種液晶顯示面板的檢測方法的原理圖；圖2是本發(fā)明的數(shù)據(jù)線和掃描線輸送的信號(hào)的波形圖；圖3是根據(jù)本發(fā)明的液晶顯示面板的檢測方法產(chǎn)生的一種檢測畫面的效果示意圖；圖4是根據(jù)本發(fā)明的液晶顯示面板的檢測方法產(chǎn)生的另一種檢測畫面的效果示意圖；圖5是本發(fā)明的液晶顯示面板與點(diǎn)燈檢測裝置連接的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。請(qǐng)一起參閱圖I和圖2，圖I是本發(fā)明的一種液晶顯示面板的檢測方法的原理圖；圖2是圖I所示的數(shù)據(jù)線和掃描線輸送的信號(hào)的波形圖。首先請(qǐng)參閱圖1，本發(fā)明的液晶
顯不面板10包括多條掃描線Gll----G14…、與多條掃描線Gll----G14…相交的多條數(shù)據(jù)線
S11…-S14…以及多個(gè)薄膜晶體管τ。其中，掃描線Gll…為第一組bonding區(qū)域中的Gate掃描信號(hào)線，掃描線G12…為第二組bonding區(qū)域中的Gate掃描信號(hào)線,掃描線G13…為第三組bonding區(qū)域中的Gate掃描信號(hào)線，掃描線G14…為第四組bonding區(qū)域中的Gate掃描信號(hào)線。同理，數(shù)據(jù)線Sll…為第一組bonding區(qū)域中的紅(Red, R)綠(Green, G)藍(lán)(Blue, B)數(shù)據(jù)信號(hào)線，數(shù)據(jù)線S12…為第二組bonding區(qū)域中的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)線，數(shù)據(jù)線S13…為第三組bonding區(qū)域中的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)線，數(shù)據(jù)線S 14…為第四組bonding區(qū)域中的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)線。掃描線Glb--GH…分別連接對(duì)應(yīng)的薄膜晶體管T的柵極，數(shù)據(jù)線S11…-S14…分別連接對(duì)應(yīng)的薄膜晶體管τ的源極。本實(shí)施例中，在成盒制程階段使用IDlG點(diǎn)燈檢測方法對(duì)液晶顯示面板10進(jìn)行檢測，即每組掃描線或每組數(shù)據(jù)線對(duì)應(yīng)一個(gè)bonding區(qū)域的信號(hào)線。具體為首先將多條掃描線Gll----G14…分為第一組掃描線Gl和第二組掃描線G2,將多條數(shù)據(jù)線Sll----S14…分為第一組數(shù)據(jù)線SI和第二組數(shù)據(jù)線S2。具體而言，本實(shí)施例中，第一組掃描線Gl為奇數(shù)組掃描線，其例如包括掃描線G11···和G13···，第二組掃描線G2為偶數(shù)組掃描線，其例如包括掃描線G12…和G14···，第一組數(shù)據(jù)線SI為奇數(shù)組數(shù)據(jù)線，其例如包括數(shù)據(jù)線Sll…和S13···，第二組數(shù)據(jù)線S2為偶數(shù)組數(shù)據(jù)線，其例如包括數(shù)據(jù)線S12…和S11··。應(yīng)理解，本發(fā)明中，第一組掃描線Gl也可以設(shè)置為偶數(shù)組掃描線，第二組掃描線G2對(duì)應(yīng)為奇數(shù)組掃描線，第一組數(shù)據(jù)線SI也可以設(shè)置為偶數(shù)組數(shù)據(jù)線，第二組數(shù)據(jù)線S2對(duì)應(yīng)設(shè)置為奇數(shù)組數(shù)據(jù)線。第一組掃描線Gl還可以為連續(xù)設(shè)置的掃描線，其例如包括掃描線Gll…和G12···，同理，第二組掃描線G2對(duì)應(yīng)為連續(xù)設(shè)置的掃描線G13…和G14···，第一組數(shù)據(jù)線SI為連續(xù)設(shè)置的數(shù)據(jù)線，其例如包括Sll…和S12···，第二組數(shù)據(jù)線S2對(duì)應(yīng)為連續(xù)設(shè)置的數(shù)據(jù)線S13…和S14···。本發(fā)明對(duì)掃描線和數(shù)據(jù)線的分組不作限制。本實(shí)施例中，第一組掃描線Gl和第二組掃描線G2周期性地輸送掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，其中，每個(gè)掃描周期分為第一子周期tl (如圖2所示)和第二子周期t2 (如圖2所示)。第一 組數(shù)據(jù)線SI和第二組數(shù)據(jù)線S2分別在第一子周期tl和第二子周期t2中輸送不同的檢測信號(hào)，如本發(fā)明的第一檢測信號(hào)103 (如圖2所示)和第二檢測信號(hào)104 (如圖2所示)。其中，第一檢測信號(hào)103和第二檢測信號(hào)104分別提供不同顏色的第一顯示畫面和第二顯示畫面。因此,本發(fā)明的液晶顯示面板10能夠顯示不同顏色的畫面。具體而言，請(qǐng)一并參閱圖I和圖2。在第一子周期tl，第一組掃描線Gl輸送第一掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)101至與第一組掃描線Gl連接的薄膜晶體管T的柵極，以打開對(duì)應(yīng)的薄膜晶體管T，并且第一組數(shù)據(jù)線SI在對(duì)應(yīng)的薄膜晶體管T開啟后輸送第一檢測信號(hào)103至與第一組數(shù)據(jù)線SI連接的薄膜晶體管T的源極，使得與第一組掃描線Gl和第一組數(shù)據(jù)線SI電連接的像素單元顯示第一顯示畫面。此時(shí)，第二組數(shù)據(jù)線S2輸送第二檢測信號(hào)104至與第二組數(shù)據(jù)線S2連接的薄膜晶體管T的源極，使得與第一組掃描線Gl和第二組數(shù)據(jù)線S2電連接的像素單元顯示第二顯示畫面。同理，在第二子周期t2，第二組掃描線G2輸送第二掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)102至與第二組掃描線G2連接的薄膜晶體管T的柵極，以打開相應(yīng)的薄膜晶體管T，并且第一組數(shù)據(jù)線SI在對(duì)應(yīng)的薄膜晶體管T開啟后輸送第二檢測信號(hào)104至與第一組數(shù)據(jù)線SI連接的薄膜晶體管T的源極，使得與第二組掃描線G2和第一組數(shù)據(jù)線SI電連接的像素單元顯示第二顯示畫面。此時(shí)，第二組數(shù)據(jù)線S2輸送第一檢測信號(hào)103至與第二組數(shù)據(jù)線S2連接的薄膜晶體管T的源極，使得與第二組掃描線G2和第二組數(shù)據(jù)線S2電連接的像素單元顯示第一顯示畫面。值得注意的是，本實(shí)施例中第一檢測信號(hào)103和第二檢測信號(hào)104為不同電壓的信號(hào)，如方波信號(hào)或者基準(zhǔn)電壓(VCOM)信號(hào)，其中，VCOM信號(hào)由短路棒(Shorting bar)的基準(zhǔn)電壓固化墊(VCOM Pad)輸送。當(dāng)打開的薄膜晶體管T輸入的是方波信號(hào)，則顯示白色畫面；當(dāng)打開的薄膜晶體管T輸入的是VCOM信號(hào)，則顯示黑色畫面。因此，本實(shí)施例中的第一檢測信號(hào)103和第二檢測信號(hào)104提供的顯示顏色有兩種情況第一種情況是第一檢測信號(hào)103為方波信號(hào)，即提供白色畫面的信號(hào)，第二檢測信號(hào)104為VCOM信號(hào)，即提供黑色畫面的信號(hào)；第二種情況是第一檢測信號(hào)103為VCOM信號(hào)，即提供黑色畫面的信號(hào)，第二檢測信號(hào)104為方波信號(hào)，即提供白色畫面的信號(hào)。
因此，當(dāng)?shù)谝粰z測信號(hào)103是提供白色畫面的信號(hào)以及第二檢測信號(hào)104是提供黑色畫面的信號(hào)時(shí),本發(fā)明的液晶顯示面板10顯示如圖3所示的顯示畫面。如圖3所示，液晶顯示面板10顯示的畫面為黑色和白色畫面間隔顯示。具體為在掃描線打開薄膜晶體管T，并且數(shù)據(jù)線向打開的薄膜晶體管T輸送第一檢測信號(hào)103時(shí)顯示白色；在掃描線打開薄膜晶體管T，并且數(shù)據(jù)線輸送第二檢測畫面104時(shí)顯示黑色。當(dāng)?shù)谝粰z測信號(hào)103是提供黑色畫面的信號(hào)以及第二檢測信號(hào)104是提供白色畫面的信號(hào)時(shí)，液晶顯示面板10顯示的畫面如圖4所示。圖4所顯示的畫面與圖3所示顯示的畫面的顏色正好相反。本實(shí)施例中，第一子周期tl為前半掃描周期，第二子周期t2為后半掃描周期，SP 第一子周期tl和第二子周期t2之和為一個(gè)完整的掃描周期t。在其他實(shí)施例中，第一子周期tl也可為后半掃描周期，第二子周期t2為前半掃描周期，并且本發(fā)明對(duì)第一子周期tl和第二子周期t2占同一個(gè)掃描周期中的具體時(shí)長不作限制，例如，在一個(gè)完整的掃描周期t中，tl可為t的1/3，t2對(duì)應(yīng)為t的2/3?！?br> 同理，當(dāng)?shù)谝唤M掃描線Gl為偶數(shù)組掃描線，第二組掃描線G2為奇數(shù)組掃描線，第一組數(shù)據(jù)線SI為偶數(shù)組數(shù)據(jù)線，第二組數(shù)據(jù)線S2為奇數(shù)組數(shù)據(jù)線時(shí)，或者第一組掃描線Gl和第二組掃描線G2為連續(xù)設(shè)置的掃描線，第一組數(shù)據(jù)線SI和第二組數(shù)據(jù)線S2為連續(xù)設(shè)置的數(shù)據(jù)線時(shí)，液晶顯示面板10顯示的檢測畫面也如圖3或者圖4所示。在其他實(shí)施例中，如果液晶顯示面板只有一個(gè)bonding區(qū)域的Gate掃描信號(hào)線以及一個(gè)bonding區(qū)域的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)線，則把bonding區(qū)域中的Gate掃描信號(hào)線進(jìn)行分組，同樣，把bonding區(qū)域中的RGB數(shù)據(jù)信號(hào)線進(jìn)行分組，然后再進(jìn)行IDlG點(diǎn)燈檢測，具體的分組情況和點(diǎn)燈檢測原理如前文所述，在此不再贅述。因此，本發(fā)明將多條掃描線分為第一組掃描線和第二組掃描線，將多條數(shù)據(jù)線分為第一組數(shù)據(jù)線和第二組數(shù)據(jù)線，并且第一組掃描線和第二組掃描線周期性地輸送掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，第一組數(shù)據(jù)線和第二組數(shù)據(jù)線在不同的掃描周期輸送不同的檢測信號(hào)，使得液晶顯示面板10能夠顯示不同顏色的黑白棋盤畫面，因此能夠在成盒制程階段使用IDlG點(diǎn)燈檢測方法檢測液晶顯示面板10的顯示是否存在殘留影像。請(qǐng)參閱圖5，圖5是本發(fā)明的液晶顯示面板與點(diǎn)燈檢測裝置連接的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖5所示，本發(fā)明的液晶顯示面板10電連接至點(diǎn)燈檢測裝置20。其中，點(diǎn)燈檢測裝置20用于向液晶顯不面板10提供第一掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)101、第二掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)102、第一檢測信號(hào)103以及第二檢測信號(hào)104。本實(shí)施例中，第一組掃描線G1、第二組掃描線G2、第一組數(shù)據(jù)線SI和第二組數(shù)據(jù)線S2分別連接至點(diǎn)燈檢測裝置20的信號(hào)發(fā)生器201的不同信號(hào)通道。具體而言，位于液晶顯示面板10的邊緣設(shè)置有多個(gè)導(dǎo)電膠111、112、113以及114，其中，第一組掃描線Gl通過導(dǎo)電膠111連接到信號(hào)發(fā)生器201的第一信號(hào)通道211，第二組掃描線G2通過導(dǎo)電膠112連接到信號(hào)發(fā)生器201的第二信號(hào)通道212，第一組數(shù)據(jù)線SI通過導(dǎo)電膠113連接到信號(hào)發(fā)生器201的第三信號(hào)通道213以及第二組數(shù)據(jù)線S2通過導(dǎo)電膠114連接至信號(hào)發(fā)生器201的第四信號(hào)通道214。本發(fā)明的信號(hào)通道可以通過信號(hào)發(fā)生器201中的軟體進(jìn)行設(shè)置。其中，每個(gè)信號(hào)通道輸送不同的信號(hào)，優(yōu)選為第一信號(hào)通道211在第一子周期tl輸送第一掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)101，第二信號(hào)通道212在第二子周期t2輸送第二掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)102。第三信號(hào)通道213在第一子周期tl輸送第一檢測信號(hào)103，在第二子周期t2輸送第二檢測信號(hào)104。第四信號(hào)通道214在第一子周期tl輸送第二檢測信號(hào)104，在第二子周期t2輸送第一檢測信號(hào)103。通過在信號(hào)發(fā)生器201中設(shè)置不同的信號(hào)通道，并且每一信號(hào)通道提供不同的信號(hào)，以提供如圖3和圖4所示的黑白棋盤檢測畫面對(duì)液晶顯示面板10的影像殘留進(jìn)行檢測。即，本發(fā)明可在成盒制程階段使用IDlG點(diǎn)燈檢測方法對(duì)液晶顯示面板10進(jìn)行影像殘留檢測，增強(qiáng)缺陷檢出能力。
以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種液晶顯示面板的檢測方法，其特征在于， 在成盒制程階段使用的IDlG點(diǎn)燈檢測中，將所述液晶顯示面板的多條掃描線分為第一組掃描線、第二組掃描線，將所述液晶顯示面板的多條數(shù)據(jù)線分為第一組數(shù)據(jù)線和第二組數(shù)據(jù)線； 所述第一組掃描線和第二組掃描線周期性地輸送掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，每個(gè)掃描周期分為第一子周期和第二子周期； 在所述第一子周期，所述第一組掃描線輸送第一掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，且所述第一組數(shù)據(jù)線輸送第一檢測信號(hào)，所述第二組數(shù)據(jù)線輸送第二檢測信號(hào)； 在所述第二子周期，所述第二組掃描線輸送第二掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，且所述第一組數(shù)據(jù)線輸送所述第二檢測信號(hào)，所述第二組數(shù)據(jù)線輸送所述第一檢測信號(hào)； 其中，所述第一檢測信號(hào)和所述第二檢測信號(hào)分別提供不同顏色的第一顯示畫面和第二顯示畫面。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，所述第一檢測信號(hào)是提供白色畫面的信號(hào)，所述第二檢測信號(hào)是提供黑色畫面的信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，所述第一檢測信號(hào)是提供黑色畫面的信號(hào)，所述第二檢測信號(hào)是提供白色畫面的信號(hào)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述第一子周期為前半掃描周期，所述第二子周期為后半掃描周期。
5.根據(jù)權(quán)利要求2或3任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述第一子周期為后半掃描周期，所述第二子周期為前半掃描周期。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一組掃描線為奇數(shù)組掃描線，所述第二組掃描線為偶數(shù)組掃描線，所述第一組數(shù)據(jù)線為奇數(shù)組數(shù)據(jù)線，所述第二組數(shù)據(jù)線為偶數(shù)組數(shù)據(jù)線。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一組掃描線為偶數(shù)組掃描線，所述第二組掃描線為奇數(shù)組掃描線，所述第一組數(shù)據(jù)線為偶數(shù)組數(shù)據(jù)線，所述第二組數(shù)據(jù)線為奇數(shù)組數(shù)據(jù)線。
8.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，所述液晶顯示面板電連接至點(diǎn)燈檢測裝置，所述點(diǎn)燈檢測裝置用于向所述液晶顯示面板提供所述第一掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)、所述第二掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)、所述第一檢測信號(hào)以及所述第二檢測信號(hào)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述第一組掃描線、所述第二組掃描線、所述第一組數(shù)據(jù)線和所述第二組數(shù)據(jù)線分別連接至所述點(diǎn)燈檢測裝置的信號(hào)發(fā)生器的不同信號(hào)通道。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，所述第一組掃描線、所述第二組掃描線、所述第一組數(shù)據(jù)線和第二組數(shù)據(jù)線分別通過位于所述液晶顯示面板邊緣的對(duì)應(yīng)的導(dǎo)電膠分別連接至所述信號(hào)發(fā)生器的不同信號(hào)通道。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種液晶顯示面板的檢測方法，具體為在成盒制程階段使用的1D1G點(diǎn)燈檢測中，每個(gè)掃描周期分為第一子周期和第二子周期；在第一子周期，第一組掃描線輸送第一掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，且第一組數(shù)據(jù)線輸送第一檢測信號(hào)，第二組數(shù)據(jù)線輸送第二檢測信號(hào)；在第二子周期，第二組掃描線輸送第二掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，且第一組數(shù)據(jù)線輸送第二檢測信號(hào)，第二組數(shù)據(jù)線輸送第一檢測信號(hào)。通過以上方式，本發(fā)明能夠在成盒制程階段使用1D1G點(diǎn)燈檢測方法對(duì)液晶顯示面板的影像殘留進(jìn)行攔檢，增強(qiáng)缺陷檢出能力，提升良率。
文檔編號(hào)G02F1/1362GK102944945SQ20121047914
公開日2013年2月27日 申請(qǐng)日期2012年11月22日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月22日
發(fā)明者李志明, 黃皓, 潘昶宏 申請(qǐng)人:深圳市華星光電技術(shù)有限公司