專利名稱:基于soi工藝的微型靜電懸浮陀螺的制作方法
基于SOI工藝的微型靜電懸浮陀螺所屬領(lǐng)域本發(fā)明涉及一種基于SOI工藝的微型靜電懸浮陀螺,屬于微機(jī)電系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域。 現(xiàn)有技術(shù)微機(jī)械慣性傳感器具有體積小、重量輕、成本低、功耗微、可靠性高等優(yōu)點(diǎn),已經(jīng)在汽車、消費(fèi)電子等領(lǐng)域取得了廣泛的應(yīng)用。然而,現(xiàn)有MEMS慣性器件精度普遍不高,且不具有多軸角速度與加速度檢測的能力,這在一定程度上限制了其在對精度需求較高領(lǐng)域的應(yīng)用。制作一款具有高精度、多軸檢測能力的慣性測量系統(tǒng),已經(jīng)成為該領(lǐng)域的研究熱點(diǎn)。本發(fā)明研究涉及一種基于SOI工藝,采用徑向控制電極實(shí)現(xiàn)懸浮驅(qū)動(dòng)的微型靜電懸浮陀螺, 從而降低微型靜電懸浮陀螺的加工難度,以期加快MEMS在制導(dǎo)及控制裝置領(lǐng)域的應(yīng)用。韓豐田、吳秋平等人在文獻(xiàn)“基于靜電懸浮轉(zhuǎn)子的硅微陀螺技術(shù)”(期刊中國慣性技術(shù)學(xué)報(bào),Vol. 16 No. 3, Jun. 2008)中,公開了一種基于玻璃-硅-玻璃鍵合工藝、采用環(huán)形轉(zhuǎn)子的微型靜電懸浮陀螺儀。參閱圖6,該微型靜電懸浮陀螺由三層結(jié)構(gòu)組成,分別為 圓環(huán)狀轉(zhuǎn)子和徑向電極所在的硅層、上電極所在的上玻璃層、下電極所在的下玻璃層。在加工過程中,首先對三層結(jié)構(gòu)進(jìn)行分別加工,然后采用兩次玻-硅鍵合工藝將其粘結(jié)在一起; 其環(huán)形轉(zhuǎn)子的軸向控制是通過上玻璃層和下玻璃層中的懸浮電極驅(qū)動(dòng)的,環(huán)形轉(zhuǎn)子的徑向控制是通過硅層的徑向電極實(shí)現(xiàn)的,懸浮電極與徑向電極共同實(shí)現(xiàn)環(huán)形轉(zhuǎn)子的懸浮控制; 環(huán)形轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)是通過上玻璃層和下玻璃層中的旋轉(zhuǎn)電極實(shí)現(xiàn)的,其原理與靜電馬達(dá)工作原理類似;該陀螺通過檢測環(huán)形轉(zhuǎn)子與檢測電極間的電容差動(dòng)變化來敏感環(huán)形轉(zhuǎn)子位移信號(hào),從而實(shí)現(xiàn)三軸線加速度和二軸角速度的檢測。該微型靜電懸浮陀螺的主要缺點(diǎn)為該陀螺環(huán)形轉(zhuǎn)子的懸浮是通過上玻璃層與下玻璃層中的懸浮電極驅(qū)動(dòng)的,這種驅(qū)動(dòng)方式要求陀螺具有三層結(jié)構(gòu),不同結(jié)構(gòu)層之間通過硅-玻鍵合工藝粘結(jié)在一起。然而,硅-玻鍵合工藝不僅成本較高,而且工藝復(fù)雜,增加了器件在加工過程中失效的概率。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明針對現(xiàn)有技術(shù)工藝復(fù)雜、加工成本高、失效概率較大的缺點(diǎn),提出一種基于 SOI工藝,采用徑向控制電極實(shí)現(xiàn)懸浮驅(qū)動(dòng),具有雙層結(jié)構(gòu)的微型靜電懸浮陀螺。參閱圖1,本發(fā)明的基于SOI工藝的微型靜電懸浮陀螺,包括上結(jié)構(gòu)層1、下結(jié)構(gòu)層 3以及兩者之間的二氧化硅絕緣層2 ;參閱圖2,所述上結(jié)構(gòu)層1包括環(huán)形轉(zhuǎn)子4,4個(gè)徑向檢測電極、8個(gè)徑向控制電極以及旋轉(zhuǎn)電極17 ;a個(gè)在圓弧方向?qū)挾葹棣鹊纳刃涡D(zhuǎn)電極17周向均布成圓環(huán)狀,位于環(huán)形轉(zhuǎn)子4內(nèi)側(cè),所述圓環(huán)與環(huán)形轉(zhuǎn)子4圓心重合;所述徑向控制電極和徑向檢測電極均為扇形,且兩者內(nèi)徑相同,外徑也相同;兩個(gè)徑向控制電極之間為一徑向檢測電極,共同構(gòu)成一組徑向電極,所述的8個(gè)徑向控制電極和4個(gè)徑向檢測電極一共組成四組徑向電極,四組徑向電極共同構(gòu)成一圓環(huán);各徑向檢測電極與相鄰的徑向控制電極之間的間距均相等;所述圓環(huán)與環(huán)形轉(zhuǎn)子4圓心重合,且圓環(huán)內(nèi)徑大于環(huán)形轉(zhuǎn)子4外徑;所述環(huán)形轉(zhuǎn)子4上靠近內(nèi)徑的一側(cè)周向均布有b個(gè)在圓弧方向上寬度為β的扇形缺口 18。a,b,θ,β滿足如下條件a = 3i,i為自然數(shù);當(dāng)i > 1時(shí),b = (2/3)a,當(dāng)i =1 時(shí),b = 4 ; θ = 360° /b-β ;參閱圖3,下結(jié)構(gòu)層3包括4個(gè)軸向檢測電極和4個(gè)軸向控制電極,所述4個(gè)軸向檢測電極均布為一圓環(huán)狀,4個(gè)軸向控制電極也均布為圓環(huán)狀,兩圓環(huán)圓心重合,且前者外徑小于后者內(nèi)徑;所述軸向檢測電極的內(nèi)徑與上結(jié)構(gòu)層1上的環(huán)形轉(zhuǎn)子4內(nèi)徑相同;所述軸向控制電極的外徑與上結(jié)構(gòu)層1上的環(huán)形轉(zhuǎn)子4外徑相同;參閱圖4,所述上結(jié)構(gòu)層1中環(huán)形轉(zhuǎn)子4與下結(jié)構(gòu)層3中4個(gè)軸向檢測電極組成的環(huán)形同軸;所述二氧化硅絕緣層2使得環(huán)形轉(zhuǎn)子4形成懸置。假設(shè)參考坐標(biāo)系如下Χ軸平行于第一徑向控制電極6和第二徑向控制電極7的中線,y軸平行于第三徑向控制電極9和第四徑向控制電極10的中線,ζ軸垂直于χ軸和y
軸O本技術(shù)方案中,上結(jié)構(gòu)層1中的徑向控制電極與下結(jié)構(gòu)層3中的軸向控制電極共同組成微陀螺的懸浮控制系統(tǒng)。在不工作時(shí),由于重力作用,環(huán)形轉(zhuǎn)子4自然置于下結(jié)構(gòu)層 3上。參閱圖1,由于上結(jié)構(gòu)層1與下結(jié)構(gòu)層3之間具有一定厚度的二氧化硅絕緣層2,因此, 在不工作時(shí),環(huán)形轉(zhuǎn)子4低于上結(jié)構(gòu)層1中的徑向檢測電極和徑向控制電極。當(dāng)在相鄰的每對徑向控制電極上施加幅值相同,極性相反的直流偏置時(shí),徑向控制電極將對環(huán)形轉(zhuǎn)子4 產(chǎn)生靜電吸引力,該靜電吸引力將在Z軸方向產(chǎn)生一個(gè)分力,從而抵消環(huán)形轉(zhuǎn)子4的重力, 實(shí)現(xiàn)環(huán)形轉(zhuǎn)子4的懸浮。當(dāng)微陀螺工作時(shí),若環(huán)形轉(zhuǎn)子4往上移動(dòng),可同時(shí)減小徑向控制電極上所施加的直流電壓的幅值,即可把環(huán)形轉(zhuǎn)子4拉回到平衡位置。若環(huán)形轉(zhuǎn)子4往下移動(dòng),可同時(shí)增加徑向控制電極上所施加的直流電壓的幅值,即可把環(huán)形轉(zhuǎn)子4拉回到平衡位置。若環(huán)形轉(zhuǎn)子4繞χ軸或y軸轉(zhuǎn)動(dòng),則在與環(huán)形轉(zhuǎn)子4間距增加的兩軸向控制電極上, 施加合適的幅值相同、極性相反的直流電壓,即可把環(huán)形轉(zhuǎn)子4拉回到平衡位置。若環(huán)形轉(zhuǎn)子4沿χ軸平動(dòng),可在與環(huán)形轉(zhuǎn)子4間距增加且分布在χ軸兩側(cè)的兩相鄰電極上,施加合適的幅值相同、極性相反的直流電壓,即可把環(huán)形轉(zhuǎn)子4拉回至平衡位置。若環(huán)形轉(zhuǎn)子4沿y 軸平動(dòng),依此類推。由于本發(fā)明中環(huán)形轉(zhuǎn)子4帶有缺口 18,旋轉(zhuǎn)電極17與缺口 18處的靜電力較小,與非缺口處的靜電力較大,因此,本發(fā)明通過給旋轉(zhuǎn)電極17施加一定順序的脈沖信號(hào),可實(shí)現(xiàn)環(huán)形轉(zhuǎn)子4的旋轉(zhuǎn)。具體參閱圖5,本發(fā)明中旋轉(zhuǎn)電極17共a個(gè),定義環(huán)形轉(zhuǎn)子4上任意兩個(gè)相鄰缺口中間對應(yīng)的旋轉(zhuǎn)電極17為A,即A與非缺口位置相對應(yīng),在A的順時(shí)針方向, 旋轉(zhuǎn)電極依次為B、C。通過給A、B、C依次循環(huán)施加一定的直流脈沖信號(hào),可實(shí)現(xiàn)環(huán)形轉(zhuǎn)子 4的穩(wěn)定旋轉(zhuǎn)。本發(fā)明中位置檢測包括軸向位置檢測和徑向位置檢測。軸向位置檢測是通過提取環(huán)形轉(zhuǎn)子4與軸向檢測電極之間的電容值來實(shí)現(xiàn)的;徑向位置檢測是通過提取環(huán)形轉(zhuǎn)子 4與徑向檢測電極之間的電容值來實(shí)現(xiàn)的。本發(fā)明在不同的軸向控制電極和徑向控制電極上,施加不同頻率的高頻交流載波信號(hào),將載波信號(hào)通過電容耦合至環(huán)形轉(zhuǎn)子4上,然后通過與軸向檢測電極和徑向檢測電極連接的信號(hào)調(diào)理電路,檢測出環(huán)形轉(zhuǎn)子4的位置變化。 本發(fā)明可以實(shí)現(xiàn)二軸角速度以及三軸線加速度的檢測。本發(fā)明中上結(jié)構(gòu)層1和下結(jié)構(gòu)層3均由SOI硅片中的硅材料,經(jīng)過光刻、刻蝕、釋放、裂片等微細(xì)加工工藝制成;二氧化硅絕緣層2為SOI中二氧化硅絕緣層在經(jīng)過刻蝕、釋放等工藝后的剩余部分。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果是提出了利用徑向控制電極實(shí)現(xiàn)環(huán)形轉(zhuǎn)子的懸浮驅(qū)動(dòng)方式,僅需兩層結(jié)構(gòu)即可實(shí)現(xiàn)環(huán)形轉(zhuǎn)子的懸浮驅(qū)動(dòng),免除了現(xiàn)有技術(shù)中必須的鍵合工藝,在降低加工成本的同時(shí),大大的降低了微型靜電懸浮陀螺的工藝復(fù)雜度,從而提高了器件加工的成品率。下面結(jié)合附圖和實(shí)施實(shí)例對本發(fā)明進(jìn)一步說明。
圖1 本發(fā)明提出的基于SOI工藝的微型靜電懸浮陀螺剖視2 圖1中上結(jié)構(gòu)層1的俯視3 圖1中下結(jié)構(gòu)層3的俯視4 上結(jié)構(gòu)層1和下結(jié)構(gòu)層3的結(jié)構(gòu)示意5 旋轉(zhuǎn)電極17的工作原理示意6 現(xiàn)有技術(shù)中提出的微型靜電懸浮陀螺示意中,1-上結(jié)構(gòu)層,2- 二氧化硅絕緣層,3-下結(jié)構(gòu)層,4-環(huán)形轉(zhuǎn)子,5-第一徑向檢測電極,6-第一徑向控制電極,7-第二徑向控制電極,8-第二徑向檢測電極,9-第三徑向控制電極,10-第四徑向控制電極,11-第三徑向檢測電極,12-第五徑向控制電極,13-第六徑向控制電極,14-第四徑向檢測電極,15-第七徑向控制電極,16-第八徑向控制電極,17-旋轉(zhuǎn)電極,18-缺口,19-第一軸向檢測電極,20-第二軸向檢測電極,21-第三軸向檢測電極, 22-第四軸向檢測電極,23-第一軸向控制電極,24-第二軸向控制電極,25-第三軸向控制電極,26-第四軸向控制電極。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的實(shí)施例做詳細(xì)的說明本實(shí)施例在以本發(fā)明技術(shù)方案為前提下進(jìn)行實(shí)施,給出了詳細(xì)的實(shí)施方式和過程,但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不限于下述的實(shí)施例。如圖1所示,本實(shí)施例中的基于SOI工藝的微型靜電懸浮陀螺包括上結(jié)構(gòu)層1、 下結(jié)構(gòu)層3以及兩者之間的二氧化硅絕緣層2。參閱圖2,所述上結(jié)構(gòu)層1包括環(huán)形轉(zhuǎn)子4,4個(gè)徑向檢測電極、8個(gè)徑向控制電極以及旋轉(zhuǎn)電極17 ;4個(gè)徑向檢測電極分別為第一徑向檢測電極5、第二徑向檢測電極8、第三徑向檢測電極11、第四徑向檢測電極14 ;8個(gè)徑向控制電極分別為第一徑向控制電極 6,第二徑向控制電極7,第三徑向控制電極9,第四徑向控制電極10,第五徑向控制電極12, 第六徑向控制電極13,第七徑向控制電極15,第八徑向控制電極16 ;12個(gè)在圓弧方向?qū)挾葹?8°的扇形旋轉(zhuǎn)電極17周向均布成圓環(huán)狀,位于環(huán)形轉(zhuǎn)子4內(nèi)側(cè),所述圓環(huán)與環(huán)形轉(zhuǎn)子 4圓心重合;所述徑向控制電極和徑向檢測電極均為扇形,且兩者內(nèi)徑相同,外徑也相同;兩個(gè)徑向控制電極之間為一徑向檢測電極,共同構(gòu)成一組徑向電極,所述的8個(gè)徑向控制電極和4個(gè)徑向檢測電極一共組成四組徑向電極,四組徑向電極共同構(gòu)成一圓環(huán);各徑向檢測電極與相鄰的徑向控制電極之間的間距均相等;所述圓環(huán)與環(huán)形轉(zhuǎn)子4圓心重合,且圓環(huán)內(nèi)徑大于環(huán)形轉(zhuǎn)子4外徑;所述環(huán)形轉(zhuǎn)子4上靠近內(nèi)徑的一側(cè)周向均布有8個(gè)在圓弧方向上寬度為27°的扇形缺口 18 ;參閱圖3,下結(jié)構(gòu)層3包括4個(gè)軸向檢測電極和4個(gè)軸向控制電極;4個(gè)軸向檢測電極分別為第一軸向檢測電極19,第二軸向檢測電極20,第三軸向檢測電極21,第四軸向檢測電極22 ;4個(gè)軸向控制電極分別為第一軸向控制電極23,第二軸向控制電極M,第三軸向控制電極25,第四軸向控制電極沈;所述4個(gè)軸向檢測電極均布為一圓環(huán)狀,4個(gè)軸向控制電極也均布為圓環(huán)狀,兩圓環(huán)圓心重合,且前者外徑小于后者內(nèi)徑;所述軸向檢測電極的內(nèi)徑與上結(jié)構(gòu)層1上的環(huán)形轉(zhuǎn)子4內(nèi)徑相同;所述軸向控制電極的外徑與上結(jié)構(gòu)層1上的環(huán)形轉(zhuǎn)子4外徑相同;參閱圖4,所述上結(jié)構(gòu)層1中環(huán)形轉(zhuǎn)子4與下結(jié)構(gòu)層3中4個(gè)軸向檢測電極組成的環(huán)形同軸;所述二氧化硅絕緣層2使得環(huán)形轉(zhuǎn)子4形成懸置。本發(fā)明中上結(jié)構(gòu)層1和下結(jié)構(gòu)層3分別由SOI硅片中的器件層與襯底層,經(jīng)過光刻、刻蝕、釋放、裂片等微細(xì)加工工藝加工而成;二氧化硅絕緣層2為SOI中二氧化硅絕緣層在經(jīng)過刻蝕、釋放等工藝后的剩余部分。假設(shè)參考坐標(biāo)系如下x軸平行于第一徑向控制電極6和第二徑向控制電極7的中線,y軸平行于第三徑向控制電極9和第四徑向控制電極10的中線,ζ軸垂直于χ軸和y
軸O本發(fā)明中環(huán)形轉(zhuǎn)子4的懸浮上結(jié)構(gòu)層1中的徑向控制電極與下結(jié)構(gòu)層3中的軸向控制電極共同組成微陀螺的懸浮控制系統(tǒng)。當(dāng)微陀螺工作時(shí),本發(fā)明的懸浮控制包括以下幾個(gè)方面(1)若陀螺從靜止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入穩(wěn)定懸浮狀態(tài)。在不工作時(shí),由于重力作用,環(huán)形轉(zhuǎn)子 4自然置于下結(jié)構(gòu)層3上。參閱圖1,上結(jié)構(gòu)層1與下結(jié)構(gòu)層3之間具有一定厚度的氧化層, 因此,在本發(fā)明的微陀螺不工作時(shí),環(huán)形轉(zhuǎn)子4低于上結(jié)構(gòu)層1中的徑向檢測電極和徑向控制電極。當(dāng)環(huán)形轉(zhuǎn)子4的初始位置與徑向檢測電極同軸時(shí),在相鄰的兩個(gè)徑向控制電極上施加幅值相同,極性相反的直流電壓,且所有徑向控制電極上的直流電壓幅值相等,具體的為在第一徑向控制電極6和第二徑向控制電極7上,施加幅值為V,極性相反的直流電壓; 在第三徑向控制電極9和第四徑向控制電極10上,施加幅值為V,極性相反的直流電壓;在第五徑向控制電極12和第六徑向控制電極13上,施加幅值為V,極性相反的直流電壓;在第七徑向控制電極15和第八徑向控制電極16上,施加幅值為V,極性相反的直流電壓。此時(shí),徑向控制電極將對環(huán)形轉(zhuǎn)子產(chǎn)生靜電吸引力,該靜電吸引力在Z軸方向的分力,用于抵消環(huán)形轉(zhuǎn)子的重力,實(shí)現(xiàn)環(huán)形轉(zhuǎn)子的懸浮。當(dāng)環(huán)形轉(zhuǎn)子4的初始位置與徑向檢測電極不同軸時(shí),即當(dāng)環(huán)形轉(zhuǎn)子4位于非中心位置時(shí),在相鄰的每對徑向控制電極上施加幅值相同,極性相反的直流電壓,但不同徑向控制電極上所施加的直流電壓的幅值不同,例如,環(huán)形轉(zhuǎn)子4偏離中心位置沿χ軸正方向移動(dòng)一定距離,則在第一徑向控制電極6和第二徑向控制電極7上,施加幅值為VI,極性相反的直流電壓;在第三徑向控制電極9和第四徑向控制電極10上,施加幅值為V2,極性相反的直流電壓;在第五徑向控制電極12和第六徑向控制電極13上,施加幅值為V3,極性相反的直流電壓;在第七徑向控制電極15和第八徑向控制電極16上,施加幅值為V4,極性相反的直流電壓;并且,V3 > V2 = V4 > VI,此時(shí)即可實(shí)現(xiàn)環(huán)形轉(zhuǎn)子4的懸浮。當(dāng)環(huán)形轉(zhuǎn)子4偏離中心位置,向其他方向移動(dòng)時(shí),依此類推。(2)若環(huán)形轉(zhuǎn)子4沿ζ軸向上移動(dòng)。此時(shí)可減少8個(gè)徑向控制電極上所施加直流電壓的幅值,具體的,將第一徑向控制電極6、第三徑向控制電極9、第五徑向控制電極12、 第七徑向控制電極15上施加電壓的電壓變?yōu)?V-Δ V),將第二徑向控制電極7、第四徑向控制電極10、第六徑向控制電極13、第八徑向控制電極16上施加電壓變?yōu)?(V-AV),從而減小上述電極對環(huán)形轉(zhuǎn)子4的靜電力,從而把環(huán)形轉(zhuǎn)子4拉回到平衡位置。若環(huán)形轉(zhuǎn)子4沿 ζ軸向下運(yùn)動(dòng)時(shí),依此類推。(3)若環(huán)形轉(zhuǎn)子4繞y軸轉(zhuǎn)動(dòng),左高右低,則在第三軸向控制電極25、第四軸向控制電極沈上施加幅值相等、相位相反的直流電壓,即可把環(huán)形轉(zhuǎn)子4拉回到平衡位置。同理,若環(huán)形轉(zhuǎn)子4繞y軸轉(zhuǎn)動(dòng),左低右高,則在第一軸向控制電極23,第二軸向控制電極M 上施加幅值相等、相位相反的直流電壓,即可把環(huán)形轉(zhuǎn)子4拉回到平衡位置。若環(huán)形轉(zhuǎn)子4 繞χ軸轉(zhuǎn)動(dòng),依此類推。(4)若環(huán)形轉(zhuǎn)子4沿χ正方向移動(dòng)時(shí),則在第五徑向控制電極12,第六徑向控制電極13上,施加幅值相等,極性相反的直流電壓,即可把環(huán)形轉(zhuǎn)子4拉回到平衡位置。若環(huán)形轉(zhuǎn)子4沿χ負(fù)方向移動(dòng)時(shí),則在第一徑向控制電極6、第二徑向控制電極7上,施加幅值相等,極性相反的直流電壓,即可把環(huán)形轉(zhuǎn)子4拉回到平衡位置。若環(huán)形轉(zhuǎn)子4沿y軸移動(dòng), 依此類推。本發(fā)明的旋轉(zhuǎn)由于本發(fā)明中環(huán)形轉(zhuǎn)子4帶有缺口,旋轉(zhuǎn)電極與環(huán)形轉(zhuǎn)子缺口處的靜電力較小,與環(huán)形轉(zhuǎn)子非缺口處的靜電力較大,因此,本發(fā)明通過給旋轉(zhuǎn)電極施加一定順序的脈沖信號(hào),實(shí)現(xiàn)環(huán)形轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)。具體的,本發(fā)明中旋轉(zhuǎn)電極共12個(gè),定義環(huán)形轉(zhuǎn)子上任意兩個(gè)相鄰缺口中間對應(yīng)的旋轉(zhuǎn)電極為A,即A與非缺口位置相對應(yīng),在A的順時(shí)針方向,旋轉(zhuǎn)電極依次為B、C,如圖5所示。在第一周期內(nèi),給B施加直流電壓,A與C用于檢測環(huán)形轉(zhuǎn)子的位置;當(dāng)檢測到環(huán)形轉(zhuǎn)子上兩個(gè)相鄰缺口中間對應(yīng)的旋轉(zhuǎn)電極為B時(shí),即B與非缺口位置相對應(yīng)時(shí),給C施加直流電壓,A與B用于檢測環(huán)形轉(zhuǎn)子的位置;當(dāng)檢測到環(huán)形轉(zhuǎn)子上兩個(gè)相鄰缺口中間對應(yīng)的旋轉(zhuǎn)電極為C時(shí),即C與非缺口位置相對應(yīng)時(shí),給A施加直流電壓,B與C用于檢測環(huán)形轉(zhuǎn)子的位置…從而實(shí)現(xiàn)環(huán)形轉(zhuǎn)子的高速旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)。本陀螺工作時(shí),通過檢測環(huán)形轉(zhuǎn)子與徑向檢測電極與軸向檢測電極之間的電容差動(dòng)變化來檢測環(huán)形轉(zhuǎn)子位移信號(hào)。由于微靜電陀螺中環(huán)形轉(zhuǎn)子在高速旋轉(zhuǎn),環(huán)形轉(zhuǎn)子無法引線,本發(fā)明利用高頻交流信號(hào)耦合的方法,將高頻載波信號(hào)通過徑向控制電極、軸向控制電極耦合至環(huán)形轉(zhuǎn)子。具體的,在第一徑向控制電極6和第二徑向控制電極7上,施加幅值相同、頻率為Π、相位相差180°的載波;在第三徑向控制電極9和第四徑向控制電極10 上,施加幅值相同、頻率為f2、相位相差180°的載波;在第五徑向控制電極12和第六徑向控制電極13上,施加幅值相同、頻率為f3、相位相差180°的載波;在第七徑向控制電極15 和第八徑向控制電極上,施加幅值相同16、頻率為f4、相位相差180°的載波;在第一軸向控制電極23和第二軸向控制電極M上,施加幅值相同、頻率為f5、相位相差180°的載波; 在第三軸向控制電極25和第四軸向控制電極沈上,施加幅值相同、頻率為f6、相位相差 180°的載波。每個(gè)徑向檢測電極和軸向檢測電極與信號(hào)調(diào)理電路相連接,用于檢測環(huán)形轉(zhuǎn)子的位置變化。具體的,第一徑向檢測電極5連接信號(hào)調(diào)理電路1,處理頻率為fl和f4的交流調(diào)制信號(hào);第二徑向檢測電極8連接信號(hào)調(diào)理電路2,處理頻率為fl和f2的交流調(diào)制信號(hào); 第三徑向檢測電極11連接信號(hào)調(diào)理電路3,處理頻率為f2和f3的交流調(diào)制信號(hào);第四徑向檢測電極14連接信號(hào)調(diào)理電路4,處理頻率為f3和f4的交流調(diào)制信號(hào)。第一軸向檢測電極19連接信號(hào)調(diào)理電路5,處理頻率為f5且相位與第一軸向控制電極23加載的載波相位相同的交流調(diào)制信號(hào);第二軸向檢測電極20連接信號(hào)調(diào)理電路6,處理頻率為f5且相位與第二軸向控制電極M加載的載波相位相同的交流調(diào)制信號(hào);第三軸向檢測電極21連接信號(hào)調(diào)理電路7,處理頻率為f6且相位與第三軸向控制電極25加載的載波相位相同的交流調(diào)制信號(hào);第四軸向檢測電極22連接信號(hào)調(diào)理電路8,處理頻率為f6且相位與第四軸向控制電極26加載的載波相位相同的交流調(diào)制信號(hào)。信號(hào)調(diào)理電路9對信號(hào)調(diào)理電路1、信號(hào)調(diào)理電路2、信號(hào)調(diào)理電路3、信號(hào)調(diào)理電路4、信號(hào)調(diào)理電路5、信號(hào)調(diào)理電路6、信號(hào)調(diào)理電路7以及信號(hào)調(diào)理電路8的處理結(jié)果進(jìn)行處理,從而檢測出環(huán)形轉(zhuǎn)子的位置變化。通過以上信號(hào)調(diào)理方法,可以實(shí)現(xiàn)二軸角速度以及三軸線加速度的檢測。
權(quán)利要求
1.基于SOI工藝的微型靜電懸浮陀螺,包括上結(jié)構(gòu)層(1)、下結(jié)構(gòu)層(3)以及兩者之間的二氧化硅絕緣層(2);所述上結(jié)構(gòu)層⑴包括環(huán)形轉(zhuǎn)子⑷,4個(gè)徑向檢測電極、8個(gè)徑向控制電極以及旋轉(zhuǎn)電極(17) ;a個(gè)在圓弧方向?qū)挾葹棣鹊纳刃涡D(zhuǎn)電極(17)周向均布成圓環(huán)狀,位于環(huán)形轉(zhuǎn)子 (4)內(nèi)側(cè),所述圓環(huán)與環(huán)形轉(zhuǎn)子(4)圓心重合;所述徑向控制電極和徑向檢測電極均為扇形,且兩者內(nèi)徑相同,外徑也相同;兩個(gè)徑向控制電極之間為一徑向檢測電極,共同構(gòu)成一組徑向電極,所述的8個(gè)徑向控制電極和4個(gè)徑向檢測電極一共組成四組徑向電極,四組徑向電極共同構(gòu)成一圓環(huán);各徑向檢測電極與相鄰的徑向控制電極之間的間距均相等;所述圓環(huán)與環(huán)形轉(zhuǎn)子(4)圓心重合,且圓環(huán)內(nèi)徑大于環(huán)形轉(zhuǎn)子(4)外徑;所述環(huán)形轉(zhuǎn)子(4)上靠近內(nèi)徑的一側(cè)周向均布有b個(gè)在圓弧方向上寬度為β的扇形缺口(18) ;a, b,θ,β滿足如下條件a = 3i,i為自然數(shù);當(dāng)i > 1時(shí),b = (2/3)a,當(dāng)i =1 時(shí),b = 4 ; θ = 360° /b-β ;下結(jié)構(gòu)層(3)包括4個(gè)軸向檢測電極和4個(gè)軸向控制電極,所述4個(gè)軸向檢測電極均布為一圓環(huán)狀,4個(gè)軸向控制電極也均布為圓環(huán)狀,兩圓環(huán)圓心重合,且前者外徑小于后者內(nèi)徑;所述軸向檢測電極的內(nèi)徑與上結(jié)構(gòu)層⑴上的環(huán)形轉(zhuǎn)子⑷內(nèi)徑相同;所述軸向控制電極的外徑與上結(jié)構(gòu)層(1)上的環(huán)形轉(zhuǎn)子(4)外徑相同;所述上結(jié)構(gòu)層(1)中環(huán)形轉(zhuǎn)子(4)與下結(jié)構(gòu)層(3)中4個(gè)軸向檢測電極組成的環(huán)形同軸;所述二氧化硅絕緣層(2)使得環(huán)形轉(zhuǎn)子(4)形成懸置。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種基于SOI工藝的微型靜電懸浮陀螺,屬于微機(jī)電系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明利用SOI硅片的器件層加工出環(huán)形轉(zhuǎn)子、徑向控制電極、徑向檢測電極,以及旋轉(zhuǎn)電極,利用SOI硅片的襯底層加工出軸向控制電極與軸向檢測電極。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單,提出了利用徑向控制電極實(shí)現(xiàn)環(huán)形轉(zhuǎn)子的懸浮驅(qū)動(dòng)方式,不需要在轉(zhuǎn)子上下設(shè)置電極,僅需兩層結(jié)構(gòu)即可實(shí)現(xiàn)環(huán)形轉(zhuǎn)子的懸浮驅(qū)動(dòng),免除了現(xiàn)有技術(shù)中必須的鍵合工藝,在降低加工成本的同時(shí),大大的降低了微型靜電懸浮陀螺的工藝復(fù)雜度,從而提高了器件加工的成品率。
文檔編號(hào)B81B3/00GK102435180SQ20111025538
公開日2012年5月2日 申請日期2011年8月31日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月31日
發(fā)明者常洪龍, 楊勇, 袁廣民, 謝建兵, 趙海濤, 郝永存 申請人:西北工業(yè)大學(xué)