專利名稱：平板顯示面板電極線缺陷的檢測用的測試面板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種利用氣體放電腔體中的氣體放電檢測平板顯示面板電極 線缺陷的檢測用的測試面板，具體地說是一種平板顯示面板電極線缺陷的檢 測用的測試面板。
技術(shù)背景目前采用的蔭罩式等離子體顯示板主要包括前基板、后基板和蔭罩。前 基板從玻璃基板起，分別是掃描電極、介質(zhì)層以及在介質(zhì)層表面形成的保護 層；后基板從玻璃基板起，分別是與掃描電極垂直的尋址電極，介質(zhì)層以及 在介質(zhì)層上形成的保護層；夾在前、后基板中間的蔭罩是由導(dǎo)電材料(例如 鐵或其合金)加工而成的包含網(wǎng)孔陣列的金屬薄網(wǎng)板。前后基板上的電極線一般采用印刷，烘干，曝光，顯影，燒結(jié)的工藝。 但電極線由于工藝控制的難以把握的影響，容易出現(xiàn)斷線和連線等缺陷情況。目前檢測前后基板電極線開短路的裝置基本都是進口的光學(xué)檢測裝置， 這樣的裝置精密復(fù)雜，不僅價格昂貴，而且檢測速度也較慢，同時很多部件 國內(nèi)難以買到，需要廠商派人前來維護，維護費用高不說，周期還很長，對 于裝置維護使用不利。 發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是針對現(xiàn)有的蔭罩式等離子體前后基板電極線的開短路檢 測速度較慢，裝置昂貴，維護不方便等問題。提出一種基于氣體放電對電極 缺陷進行判定的方法及其檢測裝置，它可廣泛用于具有Ag電極的PDP基板的 生產(chǎn)中。本發(fā)明的技術(shù)方案是一種平板顯示面板電極線缺陷的檢測用的測試面板，其特征是可以由在玻璃la表面依次燒結(jié)有電極lb和介質(zhì)層lc的PDP面板構(gòu)成；可以是在玻璃或者其它非導(dǎo)電材料la的表面蒸鍍一層金屬等導(dǎo)電材料作為測試電極lbp然后在測試電極的局部測試區(qū)內(nèi)覆蓋絕緣介質(zhì)層1C構(gòu)成；可以是采用 整塊的銀、鋁、銅或其合金等導(dǎo)電金屬材料作為測試電極lbp然后在這些 金屬材料表面采用表面氧化的氧化工藝形成一層不導(dǎo)電的絕緣層lc構(gòu)成(此時不需要基板la)。測試電極lb或lb,的所用材料可以是銀、鋁、銅等導(dǎo)電金屬及其合金或表面鍍有導(dǎo)電材料膜的非金屬材料，測試面板的基板la、側(cè)邊3、絕緣介質(zhì) 層lc、絕緣介質(zhì)層12所用材料可以為玻璃、陶瓷、塑料膜、有機絕緣層、 無機絕緣層、金屬材料的表面氧化等非導(dǎo)電的絕緣介質(zhì)層。所述的測試面板可以是略小于待測面板，測試面板1與待測面板2保持 相對固定的靜態(tài)檢測方式，此時檢測僅移動檢測頭8，也可以是測試面板1 小于待測面板2，檢測時固定待測試面板2，同時移動測試面板1和檢測頭8 的動態(tài)掃描的檢測方式。本發(fā)明的有益效果1、 本發(fā)明為快速準(zhǔn)確地檢出前后基板電極線的斷線和連線缺陷點提供了 必備的手段。2、 具有制作工藝簡單，成本低的優(yōu)點。相比于目前進口的光學(xué)檢測設(shè)備價格昂貴，檢測較慢，維護困難等缺點， 本發(fā)明的優(yōu)勢明顯，是一個良好的替代選擇。四.


圖l 、圖2是為本發(fā)明具有電極圖案的測試面板示意圖。 圖3是為具有電極圖案的待測面板示意圖。圖4是為本發(fā)明的單邊介質(zhì)放電電極線圖案缺陷檢測裝置的意圖。 圖5是為本發(fā)明的雙邊介質(zhì)放電電極線圖案缺陷檢測裝置的示意圖。 圖6是平板顯示器面板電極線圖案缺陷種類示意圖。 圖7待測面板引線區(qū)電極線分類示意圖五. 具體實施例 下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明作進一步的說明。如圖卜3所示。一種平板顯示面板電極線缺陷的檢測用的測試面板，其特征是可以由在玻璃la表面依次燒結(jié)有電極lb和介質(zhì)層lc的PDP面板構(gòu)成；可以是在玻 璃或者其它非導(dǎo)電材料la的表面蒸鍍一層金屬等導(dǎo)電材料作為測試電極lbP然后在測試電極的局部測試區(qū)內(nèi)覆蓋絕緣介質(zhì)層lc構(gòu)成；可以是采用整塊的銀、鋁、銅或其合金等導(dǎo)電金屬材料作為測試電極lbp然后在這些金屬材料表面采用表面氧化的氧化工藝形成一層不導(dǎo)電的絕緣層lc構(gòu)成(此 時不需要基板la)。測試電極lb或lb,的所用材料可以是銀、鋁、銅等導(dǎo)電金屬及其合金或 表面鍍有導(dǎo)電材料膜的非金屬材料，測試面板的基板la、側(cè)邊3、絕緣介質(zhì) 層lc、絕緣介質(zhì)層12所用材料可以為玻璃、陶瓷、塑料膜、有機絕緣層、 無機絕緣層、金屬材料的表面氧化等非導(dǎo)電的絕緣介質(zhì)層。所述的測試面板可以是略小于待測面板，測試面板1與待測面板2保持 相對固定的靜態(tài)檢測方式，此時檢測僅移動檢測頭8，也可以是測試面板1 小于待測面板2，檢測時固定待測試面板2，同時移動測試面板1和檢測頭8 的動態(tài)掃描的檢測方式。實例一。具體的測試方法是首先將待測面板2上電極線2b的引線區(qū)電極線相應(yīng) 分為A、 B、 C三類，將待測面板2與測試用面板1面向組合，中間保持一 定的間隙，充入一定的工作氣體；在測試電極lb和待測導(dǎo)電電極組2b的一 端加上一定的交流電壓，然后依次給A類(或B類或C類)電極線加上適 當(dāng)?shù)慕涣麟妷?，在控制系統(tǒng)ll作用下，檢測頭8在X、 Y方向以適當(dāng)?shù)墓獍?對所檢測的面板2進行掃描檢測，若某根A (或B或C)類電極線出現(xiàn)出現(xiàn) 不發(fā)光區(qū)域，則亮暗交接點即是這條電極線的完全斷線點13處，若是發(fā)現(xiàn)某 根A (或B或C)類測電極線的中間某處發(fā)光偏弱，即該電極線的發(fā)光線條 有凹陷等，則凹陷處即為該電極線的不完全斷線缺口處，系統(tǒng)給出提示，通 過CCD進一步確定斷線性質(zhì)，以確定是需修補的不完全斷線15還是不影響 顯示效果而不需要修補的不完全斷線14，并在控制系統(tǒng)11中記錄斷線點的位置，為后道的切斷修補程序提供指令，并在控制系統(tǒng)11中記錄斷線缺點的 位置，然后用修補機對斷線點進行修補；若在兩相鄰待測電極之間的暗區(qū)檢 測到發(fā)光點，則該發(fā)光點即為電極間短路點16或電極邊緣不整點17;在控 制系統(tǒng)11中記錄短路點16或電極邊緣不整點17的位置，最后采用激光進行 切斷。實例二?？紤]給加壓電源5的夾具制備A、 B、 C三類電極線比較困難，則考慮 僅給加壓電源5的夾具制備一類電極線，假設(shè)為A類(空出B、 C類電極線 的位置)，然后將加壓電源5的夾具制備成可左右精確移動的裝置，分三次檢 測(假設(shè)加壓電源5的夾具在測試時朝同一個方向移動)，然后將待測面板2 上電極線2b的引線區(qū)電極線相應(yīng)分為A、 B、 C三類，將待測面板2與測試 用面板l面向組合，中間保持一定的間隙，充入一定的工作氣體；在測試電 極lb和待測導(dǎo)電電極組2b的一端加上一定的交流電壓，在控制系統(tǒng)13作用 下，檢測頭11在X、 Y方向以適當(dāng)?shù)墓獍邔λ鶛z測的面板18進行掃描檢測， 第--次加壓時將加壓電源5的夾具的電極線與待測面板上A類電極線相重 疊，若某根A類電極線出現(xiàn)出現(xiàn)不發(fā)光區(qū)域，則亮暗交接點即是這條電極線 的完全斷線點13處，若是發(fā)現(xiàn)某根A類測電極線的中間某處發(fā)光偏弱，即 該電極線的發(fā)光線條有凹陷等，則凹陷處即為該電極線的不完全斷線缺口處， 系統(tǒng)給出提示，通過CCD進一步確定斷線性質(zhì)，以確定是需修補的不完全 斷線15還是不影響顯示效果而不需要修補的不完全斷線14，并在控制系統(tǒng) 11中記錄斷線的位置，為后道的切斷修補程序提供指令，并在控制系統(tǒng)11 中記錄斷線缺點的位置，然后用修補機對斷線點進行修補；若在兩相鄰待測 電極之間的暗區(qū)檢測到發(fā)光點，則該發(fā)光點即為電極間短路點16或電極邊緣 不整點17;在控制系統(tǒng)11中記錄短路點16或電極邊緣不整點17.的位置， 最后采用激光進行切斷。測試完后將電源的夾具上電極線向右移動至待測面 板C類電極線位置，加壓檢測，原理與給A類電極線加壓檢測時相同，最后 再電源夾具向右移動至待測面板B類電極線位置，加壓檢測，同樣原理與給 待測面板A類電極線加壓檢測時相同，這樣便可完成整個面板電極線的斷連線缺陷的檢測。本實施例僅給出了部分具體的應(yīng)用例子，但對于從事平板顯示器的專業(yè) 人員而言，還可根據(jù)以上啟示設(shè)計出多種變形產(chǎn)品，這仍被認(rèn)為涵蓋于本發(fā) 明之中。
權(quán)利要求
1、一種平板顯示面板電極線缺陷的檢測用的測試面板，其特征是可以由在玻璃(1a)表面依次燒結(jié)有電極(1b)和介質(zhì)層(1c)的PDP面板構(gòu)成；可以是在玻璃或者其它非導(dǎo)電材料(1a)的表面蒸鍍一層金屬等導(dǎo)電材料作為測試電極(1b1)，然后在測試電極的局部測試區(qū)內(nèi)覆蓋絕緣介質(zhì)層(1c)構(gòu)成；可以是采用整塊的銀、鋁、銅或其合金等導(dǎo)電金屬材料作為測試電極(1b1)，然后在這些金屬材料表面采用表面氧化的氧化工藝形成一層不導(dǎo)電的絕緣層(1c)構(gòu)成。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的平板顯示面板電極線缺陷的檢測用的測試面板，其 特征是測試電極(lb)或(lb,)的所用材料可以是銀、鋁、銅等導(dǎo)電金屬及 其合金或表面鍍有導(dǎo)電材料膜的非金屬材料，測試面板的基板(la)、側(cè)邊(3)、 絕緣介質(zhì)層(lc)、絕緣介質(zhì)層(12)所用材料可以為玻璃、陶瓷、塑料膜、 有機絕緣層、無機絕緣層、金屬材料的表面氧化等非導(dǎo)電的絕緣介質(zhì)層。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的平板顯示面板電極線缺陷的檢測用的測試面板，其 特征是它可以是略小于待測面板，測試面板(1)與待測面板(2)保持相對 固定的靜態(tài)檢測方式，此時檢測僅移動檢測頭(S)，也可以是測試面板(1) 小于待測面板(2)，檢測時固定待測試面板(2)，同時移動測試面板(1)和 檢測頭(8)的動態(tài)掃描的檢測方式。
全文摘要
本發(fā)明針對采用Ag、Al電極等電極結(jié)構(gòu)的等離子體顯示板，在制程中產(chǎn)出的Ag、Al電極等電極的斷線缺陷、連線缺陷，公開了一種平板顯示面板電極線缺陷的檢測用的測試面板，其特征是可以由在玻璃(1a)表面依次燒結(jié)有電極(1b)和介質(zhì)層(1c)的PDP面板構(gòu)成；可以是在玻璃或者其它非導(dǎo)電材料(1a)的表面蒸鍍一層金屬等導(dǎo)電材料作為測試電極(1b₁)，然后在測試電極的局部測試區(qū)內(nèi)覆蓋絕緣介質(zhì)層(1c)構(gòu)成；可以是采用整塊的銀、鋁、銅或其合金等導(dǎo)電金屬材料作為測試電極(1b₁)，然后在這些金屬材料表面采用表面氧化的氧化工藝形成一層不導(dǎo)電的絕緣層(1c)構(gòu)成。利用本發(fā)明的測試面板能夠快速準(zhǔn)確地找出前后基板電極線的斷線和連線缺陷點，具有制作工藝簡單，成本低的優(yōu)點。
文檔編號H01J9/42GK101252071SQ200810024608
公開日2008年8月27日 申請日期2008年3月28日 優(yōu)先權(quán)日2008年3月28日
發(fā)明者雄 張, 朱立鋒, 青 李, 林青園, 王保平, 程 陳, 黃秋銘 申請人:南京華顯高科有限公司