置校正部38c的X-Y位置檢測部檢測到的位置信息進行校正。
[0096]透鏡支撐體5上設置有X方向位置檢測磁石43及Y方向位置檢測磁石45，分別對應于這些而設置的磁氣檢測元件49、51檢測出各位置檢測磁石43、45的磁場，晃動傳感器37檢測到的晃動量進行消除的目標位置E、F(X、Y)上，檢測透鏡支撐體5是否移動了。據(jù)此，透鏡支撐體5的晃動校正能正確且迅速進行。
[0097]透鏡支撐體5的X-Y方向位置通過設置于透鏡支撐體5上的位置檢測磁石43、45和設置于底座8上的磁氣檢測元件49、51就能進行檢測，所以結(jié)構(gòu)小型且簡單。
[0098]另外，透鏡支撐體5的Z方向位置檢測不采用Z方向位置檢測用的磁石和磁氣檢測元件，根據(jù)預先實測的比對-位置數(shù)據(jù)，算出Z方向的移動位置。所以，能提供部品點數(shù)少、構(gòu)成簡單且廉價的自動對焦照相機。
[0099]對透鏡支撐體5的Z方向位置進行演算后，基于演算得到的透鏡支撐體5的移動量，對X方向磁氣檢測元件49及Y方向磁氣檢測元件51的檢測值進行校正，所以，透鏡支撐體5的晃動校正能正確進行。
[0100]透鏡支撐體5根據(jù)向第I線圈19及第2線圈16a?16d流通電流后的電磁力，光軸方向及X-Y方向移動就能夠進行，用緊湊的構(gòu)成實現(xiàn)了透鏡支撐體5的驅(qū)動。
[0101]各位置檢測磁石43、45及重錘59、59被配置于環(huán)口 3空間部13所對應的位置，所以各位置檢測磁石43、45及重錘59、59在透鏡驅(qū)動裝置I組裝時，在動作時能防止被吸附于環(huán)口 3上。
[0102]X方向磁氣檢測元件49及Y方向磁氣檢測元件51因為設置在I個電路基板55上，將I個電路基板55僅固定于構(gòu)成固定體一部分的底座8上就可以了，所以組裝較容易。
[0103]在透鏡支撐體5上，設置有重錘59、59，X方向位置檢測磁石43及Y方向位置檢測磁石45之間，重量達到均衡，透鏡支撐體5的移動能很順暢進行。
[0104]磁石17及作為晃動校正機能的第2線圈16a?16d被配置于從前側(cè)看其平面呈四角形的環(huán)口 3的進深的某個角部3b上，具有晃動校正機能同時，其構(gòu)成與不搭配有晃動校正機能的透鏡驅(qū)動裝置相同的尺寸，所以其構(gòu)成緊湊。
[0105]被存儲于數(shù)據(jù)存儲部36中的比對-位置數(shù)據(jù)，可以利用預先儲存在個別自動對焦照相機中的存儲數(shù)據(jù)，進行個體差的晃動校正。
[0106]以下對本發(fā)明的其它實施形態(tài)進行說明，在以下說明的實施形態(tài)中，如起到與上述第I實施形態(tài)相同作用效果的部分則用相同符號加以說明，省略其部分的說明。以下，主要說明的是與第I實施形態(tài)不同之處。
[0107]參考圖8及圖9，對第2實施形態(tài)的自動對焦照相機2進行說明。在此第2實施形態(tài)中，透鏡支撐體5的Z方向中的移動位置算出部37不設置在聚合焦點控制部34上，設置在Z方向驅(qū)動部32上，這一點于第I實施形態(tài)不同。移動位置算出部中，如圖9所示那樣，向第I線圈19通電，預先實測出透鏡支撐體5的移動距離之間的關系數(shù)據(jù)，根據(jù)向檢測到的第I線圈19通電的電流值II，演算出行程(移動距離)B3 J-Y控制部38的Z位置檢測部38b接收此移動位置算出部算出的透鏡支撐體5的位置，通過X-Y控制部38的X-Y位置校正部38c，根據(jù)X方向磁氣檢測元件49及Y方向磁氣元件51對檢測到的檢測位置進行校正。
[0108]根據(jù)此第2實施形態(tài)，能起到與第I實施形態(tài)相同的作用效果。
[0109]本發(fā)明不限于上述實施形態(tài)，只要不脫離本發(fā)明的主旨可在允許范圍內(nèi)作種種變形。比如，在第I及第2實施形態(tài)中，透鏡支撐體5的Z方向、X方向及Y方向的驅(qū)動不限于向第I線圈19及第2線圈16a?16d通電，可以在各方向上設置上移動透鏡支撐體5的馬達，根據(jù)各馬達，可以向X方向、Y方向及Z方向進行驅(qū)動。
[0110]在第I及第2實施形態(tài)中，第2線圈16a?16d及磁石17不限制在環(huán)口 3的各角部3b上，也可以在相互周方向上空出90度的間隔。
[0111]第2線圈16a?16d相互以90度間隔空出，僅設置成相鄰的2個。
[0112]第2線圈16a?16d也可以配置在第I線圈19的內(nèi)周側(cè)。
[0113]在上述的實施形態(tài)中，透鏡支撐體5在保持變焦透鏡后，相應于變焦倍率可以向Z方向移動。
[0114]存儲于聚合焦點控制部34上的比對-位置數(shù)據(jù)(圖2(b)和電流值-位置數(shù)據(jù)(參考圖9)不限制于預先對每一臺實測的數(shù)據(jù)，也可以對每個所定單位(比如批號)實測的數(shù)據(jù)進行存儲，也可以是模擬的數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)，每團體的偏差較小，所以沒有必要一定要對每個團體進行實測，制造也較容易。
[0115]位置檢測元件的X、Y方向磁氣檢測元件49、51及被位置檢測元件的X、Y方向位置檢測磁石的2組可以是點對稱位置配置。
[0116]位置檢測元件X、Y方向磁氣檢測元件49、51作為霍爾元件，被位置檢測元件X、Y方向位置檢測磁石43、45作為2極磁石。比如，可以是MR元件和多極磁石。
[0117]另外，Χ、Υ方向磁氣檢測元件49、51可以固定在透鏡支撐體5上，Χ、Υ方向位置檢測磁石43、45可以固定在底座8上。
【主權項】
1.自動對焦照相機，包括 支撐透鏡的透鏡支撐體； 用于設置透鏡支撐體能向光軸方向的Z方向及與該Z方向正交的X方向及Y方向移動的固定體； 為使透鏡支撐體向Z方向的聚合焦點位置移動而向Z方向驅(qū)動部發(fā)出驅(qū)動信號的聚合焦點控制部； 為了消除晃動量為使透鏡支撐體向X方向及Y方向移動而向X-Y驅(qū)動部發(fā)出驅(qū)動信號的X-Y控制部； 設置在透鏡支撐體或固定體其中一個上的X方向位置檢測磁石及Y方向位置檢測磁石； 設置在透鏡支撐體或固定體中另一個上面的與X方向位置檢測磁石在Z方向相對向的X方向磁氣檢測元件及與Y方向位置檢測磁石在Z方向相對向的Y方向磁氣檢測元件； 其特征在于， X-Y控制部對X方向磁氣檢測元件及Y方向磁氣檢測元件處接收到的磁氣檢測信號，與透鏡支撐體在Z方向的相對初期位置的移動量相適應進行校正。2.如權利要求1所述的自動對焦照相機，其特征在于，透鏡支撐體在Z方向的相對初期位置的移動量用聚合焦點控制部或Z方向驅(qū)動部被演算。3.如權利要求2所述的自動對焦照相機，其特征在于， 聚合焦點控制部存儲透鏡支撐體在初期位置中的比對比和到聚合焦點位置為止之間距離關系的在初期位置中的比對比-位置數(shù)據(jù)，該比對-位置數(shù)據(jù)根據(jù)實測或者模擬預先得至IJ，該在初期位置中的比對比是對在聚合焦點位置中的比對的在初期位置中的比對的比， 聚合焦點控制部讓Z方向驅(qū)動部透鏡支撐體向處于比對高峰聚合焦點位置進行移動，算出在初期位置中的比對比，從在初期位置中的比對比，根據(jù)在初期位置中的比對比-位置數(shù)據(jù)演算透鏡支撐體在Z方向的相對初期位置的移動量。4.如權利要求2所述的自動對焦照相機，其特征在于， Z方向驅(qū)動部存儲根據(jù)流通的電流透鏡支撐體向Z方向移動時，預先測定Z方向驅(qū)動部上流通的電流和移動位置之間關系的電流-位置數(shù)據(jù)， Z方向驅(qū)動部基于從聚合焦點位置流通電流的電流-位置數(shù)據(jù)，演算出透鏡支撐體在Z方向的相對初期位置的移動量。5.—種附帶照相機的移動終端裝置，其特征在于:搭載有權利要求1至4中任一項記載的自動對焦照相機。
【專利摘要】一種小型簡易的構(gòu)成且在透鏡支撐體中能夠高精度地檢測出與光軸相正交的X-Y方向位置的自動對焦照相機和附帶照相機的移動終端裝置，其中自動對焦照相機中，從畫像傳感器處接收到的現(xiàn)有比對值與過去接收到的比對值進行比較，為比對值處于最大聚合焦點位置，透鏡支撐體就會向Z方向移動。具有從畫像傳感器處接收到的比對值和透鏡支撐體位置之間關系進行測定的比對-位置數(shù)據(jù)。透鏡支撐體處于初期位置時，從畫像傳感器接收到的比對值處，依據(jù)比對-位置數(shù)據(jù)，演算出比對值最大時的聚合焦點位置，演算透鏡支撐體的Z方向移動量，對X方向磁氣檢測元件及Y方向磁氣檢測元件所接收到的磁氣檢測信號相應于透鏡支撐體的Z方向移動量進行校正。
【IPC分類】G02B7/09, H04N5/225, G03B13/36
【公開號】CN105527779
【申請?zhí)枴緾N201610081957
【發(fā)明人】白木學, 多田純一
【申請人】新思考電機有限公司
【公開日】2016年4月27日
【申請日】2012年6月4日
【公告號】CN102809873A, CN102809873B, CN202916568U