部光抵達(dá)檢測單元21，進(jìn)而能提高檢測單元21的數(shù)據(jù)檢測準(zhǔn)確率。
[0097]如圖5A及5B所示，圖5A及5B為圖4A及4B的另一實(shí)施例。在本實(shí)施例中，檢測單元21及像素電極32是彼此相鄰的設(shè)置于第一基板10上。然而，與前述圖3A-4B中的實(shí)施例相似，像素區(qū)PA是以相鄰的柵線GL之間、以及具有至少一檢測單元21及像素電極32的相鄰的檢測讀取線SL及數(shù)據(jù)輸入線DL之間定義。此外，在本實(shí)施例中，像素區(qū)PA中的像素電極32至少部分包圍像素區(qū)PA中的檢測單元21。換言之，像素電極32可在像素區(qū)PA中至少部分圍繞檢測單元21的投影，如圖5A所示。借由此方式，檢測層20及像素電極32層的組合的迭層總高度可被降低，以致使光學(xué)裝置100的總迭層高度可被降低。
[0098]在此必須說明的是，像素區(qū)PA并不僅限于只有一對檢測單元21及像素電極32。在其它不同實(shí)施例中，像素區(qū)P亦可包含單一個像素電極32以及多個檢測單元21、多個像素電極32及單一個檢測單元21、或多個像素電極32及多個檢測單元21。具例而言，如圖6A所示，于相鄰的信號讀取線SL及數(shù)據(jù)輸入線DL間的像素區(qū)PAl可包含單一個檢測單元21及像素電極32。然而，如像素區(qū)PA2所示，多個檢測單元21可對應(yīng)于單一個像素電極32。在本實(shí)施例中，像素區(qū)PA2中的每個檢測單元21分別連接至各自的信號讀取線SL。雖然在本實(shí)施例里，在像素區(qū)PA2中，像素電極32是設(shè)置于一對檢測單元21的組合的一側(cè)，然而在其它不同實(shí)施例中，像素電極32亦可被設(shè)置于一對檢測單元21之間。換言之，在像素區(qū)PA中，檢測單元21及像素電極32的擺置位置是不受任何限制。舉例而言，如圖6B所示，像素區(qū)PA3可包含多個檢測單元21包圍著一特定的像素電極32，其中像素區(qū)PA3于三個相鄰的柵線GL間跨越。在本實(shí)施例中，檢測讀取線SL及數(shù)據(jù)輸入線DL系以交替順序設(shè)置。借由此方式，像素區(qū)中的檢測單元21及像素電極32可以最短距離分別耦接至檢測讀取線SL及數(shù)據(jù)輸入線DL。
[0099]圖7A及7B為檢測單元21及像素電極32的擺設(shè)方式的另一實(shí)施例。如圖7A所示，檢測單元21及像素電極32可被設(shè)置在位于相鄰的柵線GL之間的一對相鄰的檢測讀取線SL之間。在本實(shí)施例中，檢測讀取線SL及數(shù)據(jù)輸入線DL是以交替順序設(shè)置，其中像素區(qū)較佳是定義為:對應(yīng)于同一條柵線GL，于同一列的一對相鄰的檢測單元21及像素電極32，例如像素區(qū)PA5及像素區(qū)PA6。然而，在其它不同實(shí)施例中，像素區(qū)可包含像素區(qū)PA5及PA6的區(qū)域，以致使能于三個柵線GL間以一 4x4矩陣結(jié)構(gòu)形成像素區(qū)。
[0100]如圖6B及7A所示，在一實(shí)施例中，像素區(qū)也可定義在兩個檢測讀取線SL之間，并且具有檢測單元21及像素電極32至少其中之一。在本實(shí)施例中，像素區(qū)PA3設(shè)置于兩個檢測讀取線SL之間，并且具有三個檢測單元21包夾/圍繞單一像素電極32，其中像素區(qū)PA5及PA6分別為一對單一檢測單元21及單一像素電極32的組合。如圖6B及7A所示，像素區(qū)可橫跨多個柵線GL或可被局限于相鄰的柵線GL之間。
[0101]圖7B為圖7A的另一實(shí)施例。如圖7B所示，相較于像素區(qū)PA5，下方的像素區(qū)PA6的檢測單元21及像素電極32的位子對換。在本實(shí)施例中，將檢測單元21連接至檢測讀取線SL的電路是與連接像素電極32至數(shù)據(jù)輸入線DL絕緣交錯。換言之，在本實(shí)施例中，與一條柵線GL相關(guān)的一對相鄰的檢測單元21及像素電極32(參見圖7B中的像素區(qū)PA5)會是與相鄰的柵線GL相關(guān)的一對相鄰像素電極32及檢測單元21相鄰(參見圖7B中的像素區(qū)PA6);其中，分別連接檢測單元21及像素電極32至檢測讀取線SL及數(shù)據(jù)輸入線DL的電路相互絕緣交錯(參見像素區(qū)PA6)。借此方式，可降低顯示不均的效果(Mura Effect)，并且可使像素區(qū)PA5中位于像素區(qū)PA6的檢測單元21上方的像素電極32被驅(qū)動。
[0102]參照圖6A-7B，必須說明的是，像素陣列中的像素電極32可與同個像素陣列的檢測單元21重迭或不重迭，例如圖3A-4B中像素電極32與檢測單元21重迭的方式相似。
[0103]圖8A為圖2A中光學(xué)裝置100的另一實(shí)施例。圖8B則是為圖8A的實(shí)施例的剖視圖。如圖8A及SB所示，檢測層20及濾光層30可分別設(shè)置于第一基板50及一第二基板51上，其中濾光層30還是直接設(shè)置于檢測層20上。換言之，濾光層30包含第二基板51，其是設(shè)置于檢測層
20上方并且是用于承載像素電極層32及液晶層31。如圖8A及8B所示，檢測層20及濾光層30分別耦接至與控制模塊40相關(guān)的第一柵單元41A及第二柵單元41B。與前述的實(shí)施例相似，第一柵單元41A具有至少一柵線GL，其中每個柵線GL對應(yīng)于不同列的檢測單元21。第二柵單元41B具有至少有一柵線GL，其中每個柵線GL對應(yīng)于不同列的像素電極32。在本實(shí)施例中，由于檢測層20及濾光層30位于不同基板，圖2A的數(shù)據(jù)讀寫單元42的功能由數(shù)據(jù)讀取單元42A及數(shù)據(jù)寫入單元42B分別承擔(dān)。換言之，檢測層20中的多個檢測單元21以及濾光層30中的多個像素電極32均分別耦接至與控制模塊40相關(guān)的數(shù)據(jù)讀取單元42A及數(shù)據(jù)寫入單元42B。與圖2A中實(shí)施例相似，圖8A的實(shí)施例中的每個檢測單元21及像素電極32是分別經(jīng)由檢測讀取線及數(shù)據(jù)輸入線耦接數(shù)據(jù)讀取單元42A及數(shù)據(jù)輸入單元42B。借由此方式，控制模塊40可接收檢測單元21的預(yù)掃描影像PI以及輸入數(shù)據(jù)信號至像素電極32。
[0104]此外，如圖8A所示，控制模塊也可包含計(jì)時單元45，是用于以順序啟動檢測層20中的柵線以使得數(shù)據(jù)讀取單元42A接收并傳輸預(yù)掃描影像PI至控制模塊40。在其它不同實(shí)施例中，圖8A的控制模塊40也可包含儲存單元43來儲存預(yù)掃描影像。借此，在控制模塊40接收到預(yù)掃描影像PI后，控制模塊40可根據(jù)預(yù)掃描影像PI產(chǎn)生并傳輸光阻擋圖案信號LBP至數(shù)據(jù)寫入單元42B，以致使數(shù)據(jù)寫入單元42B可控制濾光層30以選擇性允許或阻擋外部光抵達(dá)檢測層20。
[0105]圖8C為圖8B的另一實(shí)施例。如圖8C所示，可進(jìn)一步包含第三基板52。具體而言，第三基板52是設(shè)置于第二基板51下方，并且可與第一基板50夾合檢測層20。換言之，第三基板52、第一基板50及中間夾合的檢測層20共同形成一模塊;而第二基板51及其上的濾光層30則形成另一模塊。兩個模塊相迭合以共同組成本實(shí)施例中的光學(xué)裝置。第三基板52及第二基板51間較佳可借由光學(xué)膠來結(jié)合，以降低錯位的機(jī)會，確保濾光層30與檢測層20間的對位關(guān)系。借由第三基板52及第一基板51的保護(hù)，可提高預(yù)防檢測層20因外力受損的功能。此外，由于兩個模塊可各自獨(dú)立制造后再組合，因此此一設(shè)計(jì)在制程上也較為簡易，可提高良率。
[0106]圖9為光學(xué)掃描方法的流程圖，其方法是用于一光學(xué)裝置中。在本實(shí)施例中，此處所言的光學(xué)裝置較佳為上述任一實(shí)施例的光學(xué)裝置，其中光學(xué)裝置包含檢測層20、濾光層30以及控制模塊40。如圖9所示，光學(xué)掃描方法包含步驟S110、S120、S130及S140。
[0107]步驟SI10包含在控制模塊中接收檢測層所產(chǎn)生的一預(yù)掃描影像。在本實(shí)施例中，如圖2A及8A所示，控制模塊40會從檢測層20接收預(yù)掃描影像PI，并且會將預(yù)掃描影像PI儲存于儲存單元43中。在一實(shí)施例中，如圖2A及2B所示，控制模塊40接著可進(jìn)行一預(yù)掃描階段，借由傳輸一信號TS至柵單元41來驅(qū)動檢測層20以致使檢測層20會將檢測單元產(chǎn)生的信號(形成預(yù)掃描影像PI的信號)傳輸至數(shù)據(jù)讀寫單元42。借由此方式，數(shù)據(jù)讀寫單元42可接著將預(yù)掃描影像PI傳輸至控制模塊40，其中此預(yù)掃描階段可依需求被重復(fù)執(zhí)行。
[0108]步驟S120包含在控制模塊中接收一掃描指令。在本實(shí)施例中，在控制模塊40接收并儲存預(yù)掃描影像于儲存單元43中后，控制模塊40可接收掃描指令以執(zhí)行影像掃描。在一實(shí)施例中，根據(jù)使用者觸碰光學(xué)裝置100的顯示器，掃描指令可被自動產(chǎn)生;然而，在其它不同實(shí)施例中，掃描指令可根據(jù)使用者借由光學(xué)裝置100的鍵盤按鈕輸入的訊息產(chǎn)生。在其它不同實(shí)施例中，控制模塊40可依據(jù)預(yù)定預(yù)設(shè)時間定期自動產(chǎn)生掃描指令。
[0109]步驟S130包含根據(jù)掃描指令，依據(jù)預(yù)掃描影像以控制模塊控制濾光層以選擇性允許或阻擋外部光。換言之，當(dāng)控制模塊40自使用者接收掃描指令后，控制模塊40會讀取儲存單元43中所儲存的預(yù)掃描影像PI。控制模塊40接著會依據(jù)預(yù)掃描影像PI控制濾光層30以選擇性允許或阻擋外部光抵達(dá)檢測層20。
[0110]在本實(shí)施例中，檢測層20及濾光層30可被設(shè)置于同一個基板上，例如如圖2A中所示的實(shí)施例?？刂颇K40會從數(shù)據(jù)讀寫單元42接收到預(yù)掃描影像PI，并且根據(jù)預(yù)掃描影像產(chǎn)生并傳輸光阻擋圖案信號LBP至數(shù)據(jù)讀寫單元42，以致使能借由數(shù)據(jù)讀寫單元42控制濾光層30以選擇性允許或阻擋外部光。
[0111]在其它不同實(shí)施例中，檢測層20及濾光層30可被設(shè)置于不同基板上，例如如圖8A及SB所示的實(shí)施例。在本實(shí)施例中，控制模塊40會從數(shù)據(jù)讀取單元42A接收預(yù)掃描影像PI。根據(jù)預(yù)掃描影像PI，控制模塊40會產(chǎn)生光阻擋圖案信號LBP并傳輸至數(shù)據(jù)寫入單元42B，以致使能借由數(shù)據(jù)寫入單元42B控制濾光層30以選擇性允許或阻擋外部光。
[0112]圖10為產(chǎn)生預(yù)掃描影像的流程圖。如圖10所