一種面板及其測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及液晶顯示器件制造技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種面板及其測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 觸摸面板和液晶面板的一體化包括"In-cell"方法和"On-cell"方法。其中， On Cell是指將觸摸屏嵌入到顯示屏的彩膜基板和偏光片之間的方法，即在液晶面板上配 觸摸傳感器。常見的On cell的結(jié)構(gòu)從下到上依次是玻璃基板、下偏光片、TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶體管）基板、觸控電極層和上偏光片。形成這一結(jié)構(gòu)的主要工藝流程包 括以下步驟：
[0003] 第一步：TFT基板和彩膜基板對盒之后，在彩膜基板的上表面沉積一層 IT0(Indium Tin Oxides，銦錫金屬氧化物），該ITO透明導(dǎo)電；
[0004] 第二步：對所述ITO層依次進(jìn)行曝光、刻蝕、剝離等工藝后形成觸控電極層；
[0005] 所述觸控電極層具有交替排列的掃描信號輸入通道和感應(yīng)信號輸出通道構(gòu)成的 觸摸屏感應(yīng)電路FPC(Flexible Printed Circuit，柔性電路板），和與該FPC綁定有pin(引 腳），該pin用于對掃描信號輸入通道和感應(yīng)信號輸出通道的短路或斷路進(jìn)行測試；
[0006] 第三步：使用藍(lán)膜涂覆機(jī)在所述觸控電極層上涂覆一層藍(lán)膜；
[0007] 所述藍(lán)膜涂覆在彩膜基板的顯示區(qū)域，用于在后續(xù)切割過程中保護(hù)觸控電極層；
[0008] 第四步：對進(jìn)行上述三步后得到的包含多個(gè)cell (顯示面板）的面板進(jìn)行切割，切 割出單個(gè)的cell ;
[0009] 第五步：將各cell表面的藍(lán)膜撕掉，之后分別對每一 cell的觸控電極層進(jìn)行測 試；
[0010] 第六步：在測試完之后，針對每一個(gè)cell進(jìn)行偏光片的貼附、ICQntegrated circuit，集成電路）芯片綁定等工藝，制作出最后的模組樣品。
[0011] 上述工藝流程涂覆的藍(lán)膜雖然起到了保護(hù)觸控電極層的作用，然而，依然存在以 下三個(gè)方面的問題：
[0012] 第一方面：由于該種涂覆是通過網(wǎng)狀的疏密來控制用于形成藍(lán)膜的藍(lán)膠的透過 率，在藍(lán)膜的透過率控制不好的情況下，涂覆的藍(lán)膜很容易遮擋切割標(biāo)記線以及觸摸屏感 應(yīng)電路FPC的綁定pin，造成在切割出cell的過程中，切割設(shè)備不斷報(bào)警；
[0013] 第二方面：上述工藝還需要在切割之后專門增加一道撕掉藍(lán)膜的工藝，然而在撕 掉藍(lán)膜之后，需要針對單個(gè)cell進(jìn)行觸控電極層的測試，撕掉藍(lán)膜以及進(jìn)行單個(gè)cell進(jìn)行 觸控電極層的過程中，均對觸控電極層存在劃傷的風(fēng)險(xiǎn)；
[0014] 第三方面：對觸控電路層的測試是在面板被切割為單個(gè)cell之后，通過在治具上 制作一個(gè)與該單個(gè)cell的FPC相匹配的FPC，將該相匹配的FPC假壓在該單個(gè)cell的FPC 的pin上，以便于進(jìn)行測試。由于單個(gè)cell的FPC的pin pitch(引腳中心距）特別小，一 般200um左右，且各個(gè)不同型號的cell的FPC的引腳數(shù)目不一樣，每制作一種型號的產(chǎn)品 均需要相應(yīng)制作一個(gè)相匹配的FPC來測試，這就使得測試復(fù)雜度增加，測試效率降低，而且 測試成本變高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0015] 本發(fā)明實(shí)施例提供一種面板及其測試方法，用以解決現(xiàn)有技術(shù)存在的對觸控電極 層的測試存在測試復(fù)雜度高的問題。
[0016] -種面板，包括設(shè)置有多個(gè)顯示面板的面板區(qū)域，和設(shè)置有測試線、第一測試墊和 第二測試墊的外圍區(qū)域；
[0017] 所述顯示面板包括：薄膜晶體管TFT基板，與TFT基板相對設(shè)置的彩膜基板，位于 所述TFT基板與所述彩膜基板之間的液晶層；以及
[0018] 位于所述彩膜基板中遠(yuǎn)離所述液晶層一側(cè)面的觸控電極層，所述觸控電極層具有 驅(qū)動(dòng)信號輸入引腳和通道間電容值輸出引腳，以及交替排列的第一通道和第二通道，每一 第一通道與一個(gè)驅(qū)動(dòng)信號輸入引腳相綁定，每一第二通道與一個(gè)通道間電容值輸出引腳相 綁定，每一第一通道和與其相鄰的一個(gè)第二通道形成通道對；
[0019] 位于所述觸控電極層上的第一透明絕緣層；
[0020] 所述測試線包括：用于連接第一測試墊和驅(qū)動(dòng)信號輸入引腳的第一測試線，和用 于連接第二測試墊和通道間電容值輸出引腳的第二測試線；
[0021] 其中，針對任一通道對，在向與該通道對的第一通道連接的第一測試墊輸入驅(qū)動(dòng) 信號時(shí)，能從與該通道對的第二通道連接的第二測試墊輸出，該通道對的第一通道和第二 通道間的電容值。
[0022] -種對上述面板中的觸控電極層進(jìn)行測試的方法，所述方法包括：
[0023] 針對形成的每一通道對，分別執(zhí)行以下操作：
[0024] 將第一探針扎在與該通道對中的第一通道相對應(yīng)的第一測試墊上，將第二探針扎 在與該通道對中的第二通道相對應(yīng)的第二測試墊上；
[0025] 向該第一探針輸入驅(qū)動(dòng)信號；
[0026] 接收該第二探針輸出的電容值；
[0027] 若該電容值不在設(shè)定的數(shù)值范圍內(nèi)，則確定該通道對中的第一通道和/或第二通 道短路或斷路。
[0028] 本發(fā)明實(shí)施例的方案中，首先提供了一種面板，對現(xiàn)有的面板的結(jié)構(gòu)進(jìn)行了改進(jìn)， 將面板劃分為兩個(gè)區(qū)域，一個(gè)是面板區(qū)域，一個(gè)是外圍區(qū)域，在面板區(qū)域設(shè)定多個(gè)顯示面 板，并且在顯示面板的觸控電極層上形成用于保護(hù)觸控電極層的第一透明絕緣層，在外圍 區(qū)域設(shè)置第一測試線和第二測試線、第一測試墊和第二測試墊，第一測試線連接第一測試 墊和驅(qū)動(dòng)信號輸入引腳的，第二測試線連接第二測試墊和通道間電容值輸出引腳，這就為 后續(xù)測試過程中第一探針和第二探針的扎針提供了較大的接觸面，以及將輸入第一探針的 驅(qū)動(dòng)信號通過第一測試線傳輸給第一通道，將第二通道反饋的電容值通過第二測試線傳輸 給第二探針，進(jìn)而可以利用第二探針接收的電容值來判斷出第一通道或第二通道的短路或 斷路情況。由于觸控電極層的通道測試在面板上時(shí)就可以測試，而不需要等到將面板切割 成單個(gè)顯示面板時(shí)進(jìn)行測試，利用探針扎在測試墊上就可以測試整個(gè)面板中所有的顯示面 板的觸控電極層，不需要進(jìn)行藍(lán)膜的涂覆以及撕掉，也不需要制作相匹配的FPC，因此，使得 測試較為簡單，并且測試效率也相對較高。
【附圖說明】
[0029] 圖1為本申請實(shí)施例中的面板的平面示意圖之一；
[0030] 圖2為本申請實(shí)施例中的顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0031] 圖3為本申請實(shí)施例中的測試線的走線示意圖之一；
[0032] 圖4為本申請實(shí)施例中的測試線的走線示意圖之二；
[0033] 圖5為本申請實(shí)施例中的測試線的走線示意圖之三；
[0034] 圖6為本申請實(shí)施例中的測試線的走線示意圖之四；
[0035] 圖7為本申請實(shí)施例中的測試線的走線示意圖之五；
[0036] 圖8為本申請實(shí)施例中的測試線的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0037] 圖9(1)為本申請實(shí)施例中的形成觸控電極層和ITO層、以及第一透明絕緣層和第 二透明絕緣層后的面板的示意圖；
[0038] 圖9 (2)為本申請實(shí)施例中的在觸控電極層和ITO層上沉積Si02絕緣層后的面板 的不意圖；
[0039] 圖10本申請實(shí)施例中的面板的界面結(jié)構(gòu)示意圖；
[0040] 圖11本申請實(shí)施例中的面板的平面示意圖之二。
【具體實(shí)施方式】
[0041] 為了解決現(xiàn)有技術(shù)的對觸控電極層的測試存在測試復(fù)雜度高的問題，本發(fā)明實(shí)施 例提供一種面板及其測試方法。
[0042] 本發(fā)明實(shí)施例的主要思想是在對具有觸控電極層的面板（未進(jìn)行切割）上搭建一 個(gè)測試環(huán)境，然后基于該測試環(huán)境進(jìn)行測試，測試完之后再進(jìn)行切割，得到單個(gè)顯示面板。 該測試環(huán)境中，顯示面板上的較小的驅(qū)動(dòng)信號輸入引腳與顯示面板之外的第一測試墊通過 第一測試線相連接，顯示面板上的較小通道間電容值輸出引腳與顯示面板之外的第二測試 墊通過第二測試線相連接，并且上述連接需要確保在對所述觸控電極層進(jìn)行測試時(shí)，針對 任一通道對，在向與該通道對的第一通道連接的第一測試墊輸入一驅(qū)動(dòng)信號時(shí)，能從與該 通道對的第二通