
本發(fā)明涉及用于對微觀結(jié)構(gòu)進行圖案化的方法,并且特別地,涉及用于對微觀結(jié)構(gòu)的一個或多個部分進行圖案化的方法,該微觀結(jié)構(gòu)包括撓性基板、設(shè)置在基板上的導(dǎo)體和設(shè)置在導(dǎo)體上的金屬層,其中導(dǎo)體包括第一透明導(dǎo)電氧化物(TCO)層和第二透明導(dǎo)電氧化物(TCO)層以及夾在兩個TCO層之間的金屬摻雜的氧化硅層的疊層。
背景技術(shù):
:觸摸屏面板現(xiàn)在是無所不在的,并且常常用作輸入和顯示界面,例如,在自動取款機、移動通信設(shè)備以及導(dǎo)航裝置中。觸摸屏面板通常包括透明基部基板(例如,玻璃或聚對苯二甲酸乙二醇酯(PET))和設(shè)置在基部基板上的透明導(dǎo)電圖案(例如氧化銦錫(ITO))。然后,導(dǎo)電金屬圖案(例如,銅或銀)形成在透明導(dǎo)電圖案的邊緣上,以提供匯流條并降低設(shè)備的電阻率。導(dǎo)電金屬圖案通常通過導(dǎo)電粘合劑附著到透明導(dǎo)電圖案。在這種情況下,隨著導(dǎo)電粘合劑在高溫和高濕度下失效,電阻率在一段時間內(nèi)增加。其它現(xiàn)有的方法,諸如銀玻璃料,成本高并且需要待用于將線附接于其的特別昂貴的銦焊料。由于透明導(dǎo)電圖案材料諸如ITO的差的載流容量,導(dǎo)電金屬的電沉積是不可行的。類似地,金屬的無電沉積是具有挑戰(zhàn)性的,因為在鍍槽中所需的化學(xué)品與透明導(dǎo)電圖案材料諸如ITO發(fā)生不期望的副反應(yīng),很多情況下這導(dǎo)致在電鍍期間透明導(dǎo)電圖案材料諸如ITO的蝕刻。印刷在透明導(dǎo)電圖案材料諸如ITO上的銀墨廣泛用于提供匯流條。該方法是非常昂貴的,并且不適用于細間距圖案。因此,仍然需要提供克服或至少緩解上述問題的圖案化方法。技術(shù)實現(xiàn)要素:根據(jù)本發(fā)明的第一方面,存在提供用于對微觀結(jié)構(gòu)的一個或多個部分進行圖案化的方法,該微觀結(jié)構(gòu)包括撓性基板、設(shè)置在基板上的導(dǎo)體和設(shè)置在導(dǎo)體上的金屬層,其中導(dǎo)體包括第一透明導(dǎo)電氧化物(TCO)層和第二透明導(dǎo)電氧化物(TCO)層以及夾在兩個TCO層之間的金屬摻雜的氧化硅層的疊層。該方法包括:對金屬層進行圖案化以限定金屬層的待去除的一個或多個部分;使微觀結(jié)構(gòu)與金屬氯化物蝕刻劑接觸,以去除金屬層中的限定的一個或多個部分,從而暴露下面的第一TCO層的一個或多個部分,其中第一TCO層的暴露的一個或多個部分通過金屬氯化物蝕刻劑被順序地去除,從而暴露下面的摻雜的氧化硅層的一個或多個部分;使微觀結(jié)構(gòu)與基于堿金屬的蝕刻劑接觸,以去除摻雜的氧化硅層中的暴露的一個或多個部分,從而暴露下面的第二TCO層的一個或多個部分,其中第二TCO層的暴露的一個或多個部分通過堿金屬堿被順序地去除,從而暴露下面的基板的一個或多個部分,其中基板包含耐受或基本上耐受由基于堿金屬的蝕刻劑造成的水解的聚合物或共聚物。在各種實施方案中,耐受由基于堿金屬的蝕刻劑造成的水解的聚合物或共聚物可包括在主鏈中具有烯烴的聚合物或共聚物,優(yōu)選環(huán)烯烴聚合物(COP)、環(huán)烯烴共聚物(COC)、或雙軸取向的聚丙烯(BOPP)、或環(huán)狀嵌段共聚物(CBC)。在各種實施方案中,基于堿金屬的蝕刻劑可為堿金屬氫氧化物的水性溶液,優(yōu)選氫氧化鈉(NaOH)或氫氧化鉀(KOH)的水性溶液。本發(fā)明的另一個方面提供了圖案化微觀結(jié)構(gòu),其包括:撓性基板;設(shè)置在基板上的導(dǎo)體,其中導(dǎo)體包括第一透明導(dǎo)電氧化物(TCO)層和第二透明導(dǎo)電氧化物(TCO)層以及夾在所述兩個TCO層之間的金屬摻雜的氧化硅層的疊層;以及設(shè)置在導(dǎo)體上的金屬層,其中基板包含在主鏈中具有烯烴的聚合物或共聚物,優(yōu)選環(huán)烯烴聚合物(COP)、環(huán)烯烴共聚物(COC)、或雙軸取向的聚丙烯(BOPP)、或環(huán)狀嵌段共聚物(CBC)。在某些實施方案中,圖案化微觀結(jié)構(gòu)包括:撓性基板,其中基板包含環(huán)烯烴聚合物(COP);設(shè)置在基板上的導(dǎo)體,其中導(dǎo)體包括第一透明氧化銦錫(ITO)層和第二透明氧化銦錫(ITO)層以及夾在所述兩個ITO層之間的鋁摻雜的氧化硅(SiAlOx)層的疊層;以及設(shè)置在導(dǎo)體上的銅(Cu)金屬層。附圖說明在附圖中,貫穿不同視圖中相同的附圖標(biāo)記通常是指相同部件。附圖未必按比例繪制,相反,重點通常在于示出各種實施方案的原理。在下面的描述中,參考以下附圖描述本發(fā)明的各種實施方案。圖1A示出了圖案化微觀結(jié)構(gòu)的平面圖。圖1B示出了圖1A的微觀結(jié)構(gòu)的剖視圖。圖2A示出了在通過本發(fā)明的方法被圖案化之前的微觀結(jié)構(gòu)。圖2B示出了在通過本發(fā)明的方法被圖案化之前具有設(shè)置在金屬層上的蝕刻停止物的微觀結(jié)構(gòu)。圖2C示出了通過本發(fā)明的方法被圖案化直到暴露金屬摻雜的氧化硅層的微觀結(jié)構(gòu)。圖2D示出了通過本發(fā)明的方法被圖案化直到暴露基板的微觀結(jié)構(gòu),即,通過本發(fā)明的方法獲得的最終微觀結(jié)構(gòu)。圖3示出了在一個示例中的蝕刻時間對KOH溶液的濃度。具體實施方式下面的詳細描述涉及通過舉例說明的方式示出了其中可實踐本發(fā)明的具體細節(jié)和實施方案的附圖。足夠詳細地描述這些實施方案以使本領(lǐng)域的技術(shù)人員能夠?qū)嵺`本發(fā)明。在不脫離本發(fā)明的范圍的情況下,可利用其它實施方案并可進行改變。各種實施方案未必是互相排斥的,因為一些實施方案可與一個或多個其它實施方案組合以形成新的實施方案。圖1A示出了根據(jù)各種實施方案圖案化微觀結(jié)構(gòu)10的平面圖。微觀結(jié)構(gòu)10可包括撓性基板12、導(dǎo)體14和金屬層16??刹贾没?2、導(dǎo)體14和金屬層16,使得導(dǎo)體14設(shè)置在基板12上,并且金屬層16可設(shè)置在導(dǎo)體14上。微觀結(jié)構(gòu)10可例如形成觸摸屏面板的一部分。為了本討論并且為簡明起見,雖然微觀結(jié)構(gòu)10可被稱為包括基板12、導(dǎo)體14和金屬層16,但本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解和體會還可包括相應(yīng)部件中的一個或多個部件。例如,在圖1A中所示的舉例說明中,多個導(dǎo)體14設(shè)置在基板12上,并且多個金屬層16設(shè)置在導(dǎo)體14上。如圖所示,多個導(dǎo)體14設(shè)置成彼此相分隔,并且多個金屬層16設(shè)置成彼此相分隔。在優(yōu)選的實施方案中,導(dǎo)體14的數(shù)目對應(yīng)于金屬層16的數(shù)目。在其它實施方案中,導(dǎo)體14的數(shù)目不對應(yīng)于金屬層16的數(shù)目。圖1B示出了圖1A的微觀結(jié)構(gòu)10的剖視圖。在各種實施方案中,導(dǎo)體14可設(shè)置在微觀結(jié)構(gòu)10的基板12的兩個相對的主表面上。同樣地,金屬層16可設(shè)置在設(shè)置于微觀結(jié)構(gòu)10的基板12的兩個相對的主表面上的導(dǎo)體14上。金屬層16的一部分可設(shè)置在導(dǎo)體14上,而金屬層16的另一部分可設(shè)置在基板12上(即,金屬層16的另一部分接觸基板12),如圖1B所示。例如,導(dǎo)體14和金屬層16在基板12的兩個相對的主表面上的布置可適用于其中期望雙面觸摸屏面板的應(yīng)用。在其它實施方案中,導(dǎo)體14和金屬層16可僅設(shè)置在微觀結(jié)構(gòu)10的基板12的一個表面上。在圖2D中所示的各種實施方案中,導(dǎo)體14可包括第一透明導(dǎo)電氧化物(TCO)層14A和第二透明導(dǎo)電氧化物(TCO)層14C以及夾在兩個TCO層14A,14C之間的金屬摻雜的氧化硅層14B的疊層。導(dǎo)體14的細節(jié)及其制造方法可見于PCT公開WO2013/010067中,其內(nèi)容據(jù)此全文以引用方式并入用于所有目的。基板12可包含耐受或基本上耐受由堿金屬堿溶液造成的水解的聚合物或共聚物。換句話講,當(dāng)與堿金屬堿溶液接觸時,基板12的聚合物或共聚物完全不水解,或如果其水解,那么其最小限度地水解,使得10%、或9%、或8%、或7%、或6%、或5%、或4%、或3%、或2%、或1%,或更少的基板水解。可物理地檢查基板12的水解程度。例如,如果沒有顏色上的改變或發(fā)生不超過1μm的厚度減小,那么可認為基板12已最小限度地水解。在各種實施方案中,基板12可包含在主鏈中具有烯烴的聚合物或共聚物。術(shù)語“烯烴”是指具有C=C鍵的化合物。在各種實施方案中,基板12可包含環(huán)烯烴聚合物(COP)、環(huán)烯烴共聚物(COC)、或雙軸取向的聚丙烯(BOPP)。環(huán)烯烴聚合物可,例如由降冰片烯開環(huán)易位聚合和附加的聚合過程來合成,如在Yamazaki的分子催化雜志A:化學(xué)(JournalofMolecularCatalysisA:Chemical)第213卷(2004年)第81頁-第87頁中所描述,其內(nèi)容據(jù)此全文以引用方式并入用于所有目的。環(huán)烯烴共聚物可例如由降冰片烯(NB)與乙烯的共聚作用來合成,如在Chu等人,聚合物(Polymer)第41卷(2000年)第401頁-第404頁中所描述,其內(nèi)容據(jù)此全文以引用方式并入用于所有目的。另選地,基板12可包含環(huán)狀嵌段共聚物(CBC)。環(huán)狀嵌段共聚物可例如由苯乙烯和共軛二烯的完全氫化的嵌段共聚物來合成,如在Zhou等人,信息顯示學(xué)會會志(JournaloftheSID)第18/1卷(2010年)第66頁-第75頁所描述,其內(nèi)容據(jù)此全文以引用方式并入用于所有目的。在另一另選的實施方案中,基板12可包含聚萘二甲酸乙二醇酯(PEN)和聚酰亞胺。在一個實施方案中,基板12可包含COP。在各種實施方案中,第一TCO層14A和第二TCO層14C可包含氧化銦錫(ITO)、氟摻雜的氧化錫(FTO)或銦摻雜的氧化鋅(IZO)。第一TCO層14A和第二TCO層14C可為相同的材料或彼此不同的材料。例如,在一個實施方案中,第一TCO層14A和第二TCO層14C各自為ITO。第一TCO層14A和第二TCO層14C可具有相同或不同的厚度。例如,對于第一TCO層14A和第二TCO層14C合適的厚度可包括50nm或更小,諸如45nm、40nm、35nm、30nm、25nm、20nm或更小。在例示性實施方案中,第一TCO層14A和第二TCO層14C厚度相同,例如,約20nm-25nm。根據(jù)各種實施方案,夾在第一TCO層14A和第二TCO層14C之間的金屬摻雜的氧化硅14B可為鋁摻雜的氧化硅(SiAlOx)。在另選的實施方案中,夾在第一TCO層14A和第二TCO層14C之間的金屬摻雜的氧化硅14B可為銀或鋅摻雜的氧化硅。金屬摻雜的氧化硅14B可具有約50nm或更小的厚度,諸如45nm、40nm、35nm、30nm或更小。在某些實施方案中,導(dǎo)體14可包含約20nm-25nm厚度的第一ITO層14A、約20nm-25nm厚度的第二ITO層14C以及夾在兩個ITO層14A,14C之間的SiAlOx層14B的疊層,SiAlOx層14B具有約40nm-45nm的厚度。在各種實施方案中,金屬層16可包含銅(Cu)、鎳(Ni)、銀(Ag)、鈀(Pd)、金(Au)、鉬(Mo)、鈦(Ti)或它們的合金。在一個實施方案中,金屬層16可包含Cu。接著,將描述用于對如上所述的微觀結(jié)構(gòu)10的一個或多個部分進行圖案化的方法。通過本發(fā)明的方法的圖案化微觀結(jié)構(gòu)的形成在圖2A-圖2D中示出。圖2A示出了在通過本發(fā)明的方法被圖案化之前的微觀結(jié)構(gòu)10。微觀結(jié)構(gòu)10包括撓性基板12、導(dǎo)體14和金屬層16。布置基板12、導(dǎo)體14和金屬層16,使得導(dǎo)體14設(shè)置在基板12上,并且金屬層16設(shè)置在導(dǎo)體14上。導(dǎo)體14包括第一透明導(dǎo)電氧化物(TCO)層14A和第二透明導(dǎo)電氧化物(TCO)層14C以及夾在兩個TCO層14A,14C之間的金屬摻雜的氧化硅層14B的疊層。該方法可包括對金屬層16進行圖案化以限定金屬層16的待去除的一個或多個部分??衫缤ㄟ^本領(lǐng)域常用的光刻技術(shù)來對金屬層16進行圖案化。在一個舉例說明中,預(yù)圖案化的蝕刻停止物或抗蝕劑18可首先設(shè)置在金屬層16上(圖2B)。換句話講,在蝕刻停止物或抗蝕劑18上預(yù)成形的圖案對應(yīng)于待傳輸至下面金屬層16和底下后續(xù)層的圖案,從而限定金屬層16的待去除的一個或多個部分。在將蝕刻停止物或抗蝕劑18設(shè)置在金屬層16上之后,微觀結(jié)構(gòu)10與金屬氯化物蝕刻劑接觸。金屬氯化物蝕刻劑去除金屬層16中的限定的一個或多個部分,從而暴露下面的第一TCO層14A的一個或多個部分。在金屬氯化物蝕刻劑與下面的第一TCO層14A的暴露的一個或多個部分進一步接觸時,下面的第一TCO層14A的一個或多個部分隨后通過金屬氯化物蝕刻劑去除,從而暴露下面的摻雜的氧化硅層14B的一個或多個部分(圖2C)。用于以上蝕刻步驟中的金屬氯化物蝕刻劑首先有利地去除金屬層16的一個或多個部分,之后順序地去除第一TCO層14A的一個或多個部分。在各種實施方案中,金屬氯化物蝕刻劑為鹽酸和氯化銅(CuCl2)的混合物或鹽酸和氯化鐵(FeCl3)的混合物。在去除第一TCO層14A的一個或多個部分后,微觀結(jié)構(gòu)10與基于堿金屬的蝕刻劑接觸。在該蝕刻步驟中,基于堿金屬的蝕刻劑選擇性地去除摻雜的氧化硅層14B的暴露的一個或多個部分,從而暴露下面的第二TCO層14C的一個或多個部分。在基于堿金屬的蝕刻劑與下面的第二TCO層14C的暴露的一個或多個部分進一步接觸時,下面的第二TCO層14C的一個或多個部分通過基于堿金屬的蝕刻劑去除,從而暴露下面的基板12的一個或多個部分(圖2D)。此時,基于堿金屬的蝕刻劑與基板12的暴露的一個或多個部分的進一步接觸不導(dǎo)致去除基板12的暴露的一個或多個部分,因為基板12被選擇為包含耐受或基本上耐受由基于堿金屬的蝕刻劑造成的水解的聚合物或共聚物。在各種實施方案中,基于堿金屬的蝕刻劑可為堿金屬氫氧化物的水性溶液,諸如氫氧化鈉(NaOH)或氫氧化鉀(KOH)的水性溶液?;谒龌趬A金屬的蝕刻劑的總重量,KOH或NaOH的濃度可在4重量%和43重量%之間。就4重量%的基于堿金屬的蝕刻劑而言,基于堿金屬的蝕刻劑蝕刻金屬摻雜的氧化硅層14B和第二TCO層14C,并且同時剝離蝕刻停止物/光致抗蝕劑18。就43重量%的基于堿金屬的蝕刻劑而言,基于堿金屬的蝕刻劑蝕刻金屬摻雜的氧化硅層14B和第二TCO層14C,但不剝離蝕刻停止物/光致抗蝕劑18。在一個實施方案中,基于堿金屬的蝕刻劑可為4重量%的KOH。有利地,在第二接觸步驟中,基于堿金屬的蝕刻劑可在短的時間段內(nèi)和低溫下與微觀結(jié)構(gòu)10接觸。在各種實施方案中,在約50℃至約90℃的溫度下約30秒至約4分鐘的接觸時間段足以去除金屬摻雜的氧化硅層14B和第二TCO層14C的一個或多個部分。在各種實施方案中,諸如在觸摸屏應(yīng)用中,基板12和導(dǎo)體14是透明的,具有在可見光區(qū)域內(nèi)不小于88%的透明度。為了本發(fā)明可易于理解并付諸實際效果,現(xiàn)在將通過下列非限制性實施例的方式來描述具體實施方案。實施例在該實施例中,示出了圖案化透明導(dǎo)體的方法,該透明導(dǎo)體由ITO和SiAlOx的層以及導(dǎo)電金屬匯流條組成。在該方法中,將透明導(dǎo)體濺射在撓性透明基板的相對側(cè)上。透明導(dǎo)體由三個層,即,ITO(20nm-25nm)/SiAlOx(40nm-45nm)/ITO(20nm-25nm)組成。接著,將銅層濺射在透明導(dǎo)體上。電鍍可用于電鍍銅以制備約3μm-12μm的較厚銅層。然后,使用光刻方法對銅層和透明導(dǎo)體進行圖案化,由此可商購獲得的氯化銅蝕刻劑或氯化鐵蝕刻劑用于同時蝕刻銅和透明導(dǎo)體的ITO。由氯化銅蝕刻劑或氯化鐵蝕刻劑蝕刻SiAlOx非常困難。從而,為了增加透明導(dǎo)體蝕刻速率和有利于清潔蝕刻,基于堿金屬的蝕刻溶液用于蝕刻的SiAlOx層。在這種情況下,使用堿金屬氫氧化物諸如NaOH或KOH。堿金屬氫氧化物可在水中溶解,以得到期望濃度(例如,4重量%-43重量%)。在暴露時間較長時,光致抗蝕劑可在KOH溶液中剝離,但銅充當(dāng)掩膜并保護下面透明導(dǎo)體圖案。由于堿金屬氫氧化物選擇性地蝕刻ITO和SiAlOx層,所以如就酸性蝕刻劑而言,銅層受到保護而免于過度蝕刻。就酸性蝕刻劑而言,需要較長的蝕刻時間以蝕刻SiAlOx層。因此,銅層被過度蝕刻。由于銅的過度蝕刻,所以得到銅擋板的低于100μm的細間距是個挑戰(zhàn),并且為了補償側(cè)壁蝕刻需要較厚的銅層。本發(fā)明的方法采用基于堿金屬的蝕刻劑,因此避免了與酸性蝕刻劑相關(guān)的問題。然而,就基板諸如被基于堿金屬的蝕刻劑水解的玻璃而言,使用基于堿金屬的蝕刻劑不是有利的。為了避免該問題,透明撓性基板選自非可水解(或基本上較少可水解)的聚合物,諸如環(huán)烯烴聚合物、環(huán)烯烴共聚物、雙軸取向的聚丙烯或環(huán)狀嵌段共聚物。此類聚合物體系不具有用于水解的酰胺、酸和酯官能團。在具體實施例中,使用來自瑞翁工業(yè)公司(Zeonindustries)的100μm厚的環(huán)烯烴聚合物(ZF-16)。在蝕刻工藝加工前后測試基板的光學(xué)特性。如以下數(shù)據(jù)所示,在蝕刻工藝加工期間,光學(xué)特性諸如透射率、霧度、清晰度和b*值不受影響。表1示出了蝕刻參數(shù)的實施例,其使用KOH作為用于基于環(huán)烯烴聚合物的基板的基于堿金屬的蝕刻劑。在圖3中示出蝕刻時間對KOH溶液濃度。表2比較在蝕刻前后的基板的光學(xué)特性。表1.在本發(fā)明的方法中使用的蝕刻參數(shù)的實施例實施例1實施例2KOH4g43g水96g57g溫度80℃80℃蝕刻時間4分鐘0.5分鐘基板環(huán)烯烴聚合物環(huán)烯烴聚合物表2.在用堿性蝕刻劑處理前后的COP膜的光學(xué)特性基于本發(fā)明的方法,已經(jīng)實現(xiàn)了包括不小于89%的透射率,不大于2%的霧度和不小于98%的清晰度的基板的光學(xué)特性。本發(fā)明的方法使用COP、COC、BOPP材料,其具有特別低的延遲特性,這導(dǎo)致了優(yōu)異的戶外可讀特性。概括地說,使用基于堿的蝕刻劑諸如氨氣和氧化劑的常規(guī)蝕刻方法不是合適的,因為這些蝕刻劑不可蝕刻夾在兩個透明導(dǎo)電氧化物層之間的氧化硅或金屬摻雜的氧化硅。本公開描述了制備用于觸摸屏傳感器的透明導(dǎo)體和導(dǎo)電金屬圖案的方法,例如,使用基于堿金屬的蝕刻劑通過選擇耐受或基本上耐受由基于堿金屬的蝕刻劑造成的水解的基板。所謂“包含”意指包括但不限于詞語“包含”隨后的內(nèi)容。因此,使用術(shù)語“包含”指示列出的要素為需要的或強制的,但其它要素是任選的并且可或可不存在。所謂“由......組成”意指包括并且限于短語“由......組成”隨后的內(nèi)容。因此,短語“由......組成”指示列出的要素為需要的或強制的,并且不可存在其它要素。本文例示性地描述的本發(fā)明可在不存在本文未具體公開的任何一種或多種要素、一種或多種要素限制的情況下進行適當(dāng)?shù)貙嵺`。因此,例如,術(shù)語“包含”、“包括”、“含有”等應(yīng)當(dāng)寬泛并且沒有限制地解讀。另外,雖然本文采用的術(shù)語和表達已經(jīng)用作描述而非限制的術(shù)語,并且非旨在使用此類術(shù)語和表達而排出所示和所描述的特征或其部分的任何等同物,但應(yīng)當(dāng)認識到,在所要求保護的本發(fā)明的范圍內(nèi)的各種修改是可以的。因此,應(yīng)當(dāng)理解,雖然本發(fā)明已通過優(yōu)選的實施方案和任選的特征而具體公開,但本領(lǐng)域的技術(shù)人員可推出本文所公開的在其中所實施的本發(fā)明的修改和變型,并且此類修改和變型被認為在本發(fā)明的范圍內(nèi)。所謂“大約”與給定數(shù)值有關(guān),諸如對于溫度和時間段,其意指包括在指定值的10%內(nèi)的數(shù)值。本文已經(jīng)廣義地并概括地描述了本發(fā)明。落在一般性公開內(nèi)的每個較窄的種類和亞屬分組也形成本發(fā)明的一部分。這包括本發(fā)明的一般描述,其前提條件或者負面限制是將任何主題從該屬中去除,而不管被去除的材料在本文是否被具體地敘述。其它實施方案在以下權(quán)利要求書和非限制性實施例內(nèi)。此外,在本發(fā)明的特征或方面以馬庫什組來描述時,本領(lǐng)域的技術(shù)人員將認識到本發(fā)明也因此以馬庫什組中的任何單個成員或成員的亞組來描述。當(dāng)前第1頁1 2 3