本發(fā)明涉及顯示器領(lǐng)域，特別涉及一種用于goa電路的測試裝置、一種顯示器和一種用于goa電路的測試方法。

背景技術(shù)：

隨著tft-lcd(thinfilmtransistor-liquidcrystaldisplay，薄膜晶體管液晶顯示器)競爭日益激烈，低成本和窄邊框等已成為lcd產(chǎn)品的必備條件，因此，goa(gatedriveronarray，陣列基板柵極驅(qū)動)也成了行業(yè)現(xiàn)在最常用的電路。它不僅可以實現(xiàn)lcd窄邊框，同時可以省去柵極驅(qū)動ic，可有效降低成本。

如圖1所示，相關(guān)技術(shù)中，clk信號需經(jīng)過m3輸出gate信號，如果m3的尺寸太小，則gate信號對應的波形的上升時間和下降時間延時會很大，同時gate信號作為下一級goa電路的輸入，導致下一級goa電路無法打開，lcd會出現(xiàn)部分顯示的情況。如果m3的尺寸太大，對工藝要求高，同時，m3容易產(chǎn)生靜電釋放擊傷，m3的特性容易出現(xiàn)異常，且在高溫或者低溫下，m3的特性也會產(chǎn)生變化。尤其是在一些低溫條件試驗中，m3的特性出現(xiàn)異常的概率更高。因此，在此類分析問題時，往往要測試m3的特性確定問題點，但是由于goa電路太小，在測試m3的特性時非常麻煩。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明旨在至少在一定程度上解決上述技術(shù)中的技術(shù)問題之一。

為此，本發(fā)明的第一個目的在于提出一種用于goa電路的測試裝置，其能夠有效提高goa電路異常分析的速度，且實現(xiàn)方法簡單，不增加成本。

本發(fā)明的第二個目的在于提出一種顯示器。

本發(fā)明的第三個目的在于提出一種用于goa電路的測試方法。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明第一方面實施例提出了一種用于goa電路的測試裝置，所述goa電路包括輸出晶體管和上拉節(jié)點，所述測試裝置包括：第一開關(guān)電路，所述第一開關(guān)電路設置在所述上拉節(jié)點與所述輸出晶體管之間，所述第一開關(guān)電路包括第一信號接收線和第一開關(guān)，所述第一開關(guān)的柵極和源極連接到所述第一信號接收線，所述第一開關(guān)的漏極連接到所述輸出晶體管的柵極和源極，所述輸出晶體管的漏極作為所述goa電路的輸出端，所述第一信號接收線用于接收第一測試開關(guān)信號以控制所述第一開關(guān)的導通或關(guān)斷；第二開關(guān)電路，所述第二開關(guān)電路設置在所述輸出晶體管與所述goa電路的輸出端之間，所述第二開關(guān)電路包括第二信號接收線和第二開關(guān)，所述第二開關(guān)的柵極和源極連接到所述第二信號接收線，所述第二開關(guān)的漏極與所述goa電路的輸出端相連，所述第二信號接收線用于接收第二測試開關(guān)信號以控制所述第二開關(guān)的導通或關(guān)斷；測試單元，所述測試單元用于在對所述goa電路進行測試時控制所述goa電路不工作，并向所述第一開關(guān)電路施加第一測試開關(guān)信號和向所述第二開關(guān)電路施加第二測試開關(guān)信號，以及根據(jù)所述第一開關(guān)和第二開關(guān)的開關(guān)時序以及所述goa電路對應的顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)判斷所述goa電路的異常類型。

根據(jù)本發(fā)明實施例的用于goa電路的測試裝置，在對goa電路進行測試時，通過測試單元控制goa電路不工作，并向第一開關(guān)電路施加第一測試開關(guān)信號和向第二開關(guān)電路施加第二測試開關(guān)信號，進而根據(jù)第一開關(guān)和第二開關(guān)的開關(guān)時序以及goa電路對應的顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)即可判斷goa電路的異常類型。即言，可不進行輸出晶體管的特性測試即可判斷goa電路對應的顯示區(qū)域和輸出晶體管是否正常工作，且在不同溫度環(huán)境下都可適用，由此，能夠有效提高goa電路異常分析的速度，且實現(xiàn)方法簡單，不增加成本，在用于顯示器時，不影響顯示器的正常工作。

另外，根據(jù)本發(fā)明上述實施例的用于goa電路的測試裝置還可以具有如下附加的技術(shù)特征：

根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，當所述第一開關(guān)關(guān)斷、所述第二開關(guān)導通、且正常向所述goa電路提供數(shù)據(jù)信號時，如果所述goa電路對應的顯示區(qū)域處于正常顯示狀態(tài)，所述測試單元則再控制所述第一開關(guān)導通和所述第二開關(guān)關(guān)斷，并繼續(xù)判斷所述顯示區(qū)域此時是否處于正常顯示狀態(tài)，其中，如果繼續(xù)判斷所述顯示區(qū)域此時處于正常顯示狀態(tài)，所述測試單元則判斷所述goa電路發(fā)生上拉節(jié)點信號異常；如果繼續(xù)判斷所述顯示區(qū)域此時處于異常顯示狀態(tài)，所述測試單元則判斷所述goa電路發(fā)生輸出晶體管特性異常。

根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，當所述第一開關(guān)關(guān)斷、所述第二開關(guān)導通、且正常向所述goa電路提供數(shù)據(jù)信號時，如果所述goa電路對應的顯示區(qū)域處于異常顯示狀態(tài)，所述測試單元則判斷所述顯示區(qū)域發(fā)生異常。

根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述輸出晶體管、所述第一開關(guān)和所述第二開關(guān)均為tft，其能夠使顯示器具有高響應度、高亮度、高對比度等優(yōu)點。

根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述goa電路為單邊goa電路或雙邊goa電路。

進一步地，本發(fā)明提出了一種顯示器，其包括上述實施例的用于goa電路的測試裝置。

本發(fā)明實施例的顯示器，通過采用上述實施例的用于goa電路的測試裝置，能夠有效提高goa電路異常分析的速度，且實現(xiàn)方法簡單，不增加成本，不影響自身的正常工作。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明第三方面實施例提出了一種用于goa電路的測試方法，所述goa電路包括輸出晶體管和上拉節(jié)點，在所述上拉節(jié)點與所述輸出晶體管之間設置有第一開關(guān)電路，在所述輸出晶體管與所述goa電路的輸出端之間設置有第二開關(guān)電路，所述第一開關(guān)電路包括第一信號接收線和第一開關(guān)，所述第一開關(guān)的柵極和源極連接到所述第一信號接收線，所述第一開關(guān)的漏極連接到所述輸出晶體管的柵極和源極，所述輸出晶體管的漏極作為所述goa電路的輸出端，所述第一信號接收線用于接收第一測試開關(guān)信號以控制所述第一開關(guān)的導通或關(guān)斷，所述第二開關(guān)電路包括第二信號接收線和第二開關(guān)，所述第二開關(guān)的柵極和源極連接到所述第二信號接收線，所述第二開關(guān)的漏極與所述goa電路的輸出端相連，所述第二信號接收線用于接收第二測試開關(guān)信號以控制所述第二開關(guān)的導通或關(guān)斷，所述測試方法包括以下步驟：在對所述goa電路進行測試時控制所述goa電路不工作，并向所述第一開關(guān)電路施加第一測試開關(guān)信號和向所述第二開關(guān)電路施加第二測試開關(guān)信號；根據(jù)所述第一開關(guān)和第二開關(guān)的開關(guān)時序以及所述goa電路對應的顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)判斷所述goa電路的異常類型。

根據(jù)本發(fā)明實施例的用于goa電路的測試方法，在對goa電路進行測試時，控制goa電路不工作，并向第一開關(guān)電路施加第一測試開關(guān)信號和向第二開關(guān)電路施加第二測試開關(guān)信號，進而根據(jù)第一開關(guān)和第二開關(guān)的開關(guān)時序以及goa電路對應的顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)即可判斷goa電路的異常類型。即言，可不進行輸出晶體管的特性測試即可判斷goa電路對應的顯示區(qū)域和輸出晶體管是否正常工作，且在不同溫度環(huán)境下都可適用，由此，能夠有效提高goa電路異常分析的速度，且實現(xiàn)方法簡單，不增加成本，在用于顯示器時，不影響顯示器的正常工作。

另外，根據(jù)本發(fā)明上述實施例的用于goa電路的測試方法還可以具有如下附加的技術(shù)特征：

根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，當所述第一開關(guān)關(guān)斷、所述第二開關(guān)導通、且正常向所述goa電路提供數(shù)據(jù)信號時，如果所述goa電路對應的顯示區(qū)域處于正常顯示狀態(tài)，則再控制所述第一開關(guān)導通和所述第二開關(guān)關(guān)斷，并繼續(xù)判斷所述顯示區(qū)域此時是否處于正常顯示狀態(tài)，其中，如果繼續(xù)判斷所述顯示區(qū)域此時處于正常顯示狀態(tài)，則判斷所述goa電路發(fā)生上拉節(jié)點信號異常；如果繼續(xù)判斷所述顯示區(qū)域此時處于異常顯示狀態(tài)，則判斷所述goa電路發(fā)生輸出晶體管特性異常。

根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，當所述第一開關(guān)關(guān)斷、所述第二開關(guān)導通、且正常向所述goa電路提供數(shù)據(jù)信號時，如果所述goa電路對應的顯示區(qū)域處于異常顯示狀態(tài)，則判斷所述顯示區(qū)域發(fā)生異常。

根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述輸出晶體管、所述第一開關(guān)和所述第二開關(guān)均為tft。

附圖說明

圖1是相關(guān)技術(shù)中g(shù)oa電路的拓撲圖；

圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的用于goa電路的測試裝置的方框圖；

圖3是根據(jù)本發(fā)明一個具體實施例的用于goa電路的測試裝置的拓撲圖；

圖4是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的脈沖信號的示意圖；

圖5是根據(jù)本發(fā)明實施例的顯示器的方框圖；

圖6是根據(jù)本發(fā)明實施例的用于goa電路的測試方法的流程圖。

具體實施方式

下面詳細描述本發(fā)明的實施例，所述實施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的，旨在用于解釋本發(fā)明，而不能理解為對本發(fā)明的限制。

下面參照附圖來描述根據(jù)本發(fā)明實施例提出的用于goa電路的測試裝置、顯示器和用于goa電路的測試方法。

圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的用于goa電路的測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

在本發(fā)明的實施例中，如圖2所示，goa電路1包括輸出晶體管m3和上拉節(jié)點pu。測試裝置包括：第一開關(guān)電路10、第二開關(guān)電路20和測試單元30。

其中，參見圖3，第一開關(guān)電路10設置在上拉節(jié)點pu與輸出晶體管m3之間，第一開關(guān)電路10包括第一信號接收線switch1和第一開關(guān)q1，第一開關(guān)q1的柵極和源極連接到第一信號接收線switch1，第一開關(guān)q1的漏極連接到輸出晶體管m3的柵極和源極，輸出晶體管m3的漏極作為goa電路1的輸出端output，第一信號接收線switch1用于接收第一測試開關(guān)信號以控制第一開關(guān)q1的導通或關(guān)斷。第二開關(guān)電路20設置在輸出晶體管m3與goa電路1的輸出端之間，第二開關(guān)電路20包括第一信號接收線switch2和第二開關(guān)q2，第二開關(guān)q2的柵極和源極連接到第一信號接收線switch2，第二開關(guān)q2的漏極與goa電路1的輸出端output相連，第一信號接收線switch2用于接收第二測試開關(guān)信號以控制第二開關(guān)q2的導通或關(guān)斷。測試單元30用于在對goa電路1進行測試時控制goa電路1不工作，并向第一開關(guān)電路10施加第一測試開關(guān)信號和向第二開關(guān)電路20施加第二測試開關(guān)信號，以及根據(jù)第一開關(guān)q1和第二開關(guān)q2的開關(guān)時序以及goa電路1對應的顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)判斷goa電路1的異常類型。

可選地，輸出晶體管m3、第一開關(guān)q1和第二開關(guān)q2可均為tft。

在本發(fā)明的一個實施例中，當?shù)谝婚_關(guān)q1關(guān)斷、第二開關(guān)q2導通、且正常向goa電路1提供數(shù)據(jù)信號時，如果goa電路1對應的顯示區(qū)域處于正常顯示狀態(tài)，測試單元30則再控制第一開關(guān)q1導通和第二開關(guān)q2關(guān)斷，并繼續(xù)判斷顯示區(qū)域此時是否處于正常顯示狀態(tài)。

其中，如果繼續(xù)判斷顯示區(qū)域此時處于正常顯示狀態(tài)，測試單元30則判斷goa電路1發(fā)生上拉節(jié)點pu信號異常；如果繼續(xù)判斷顯示區(qū)域此時處于異常顯示狀態(tài)，測試單元30則判斷goa電路1發(fā)生輸出晶體管m3特性異常。

在本發(fā)明的另一個實施例中，當?shù)谝婚_關(guān)q1關(guān)斷、第二開關(guān)q2導通、且正常向goa電路1提供數(shù)據(jù)信號時，如果goa電路1對應的顯示區(qū)域處于異常顯示狀態(tài)，測試單元30則判斷顯示區(qū)域發(fā)生異常。

在本發(fā)明的實施例中，第一測試開關(guān)信號和第二測試開關(guān)信號可均為脈沖信號，如圖3所示，其高電平為vgh，低電平為vgl。

具體而言，當goa電路1對應的顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)正常時，如果測試單元30施加的第一測試開關(guān)信號和第二測試開關(guān)信號均為低電平vgl，則第一開關(guān)q1和第二開關(guān)q2均處于關(guān)斷狀態(tài)，goa電路1的工作狀態(tài)如圖3虛線所示。

當goa電路1對應的顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)異常時，如果對goa電路1進行測試，即判斷輸出晶體管m3是否正常，則測試單元30控制goa電路1不工作，即clk與pu點均無信號。

此時，測試單元30可以先向第二開關(guān)電路20施加高電平vgh的第二測試開關(guān)信號，第二開關(guān)q2導通，向第一開關(guān)電路10施加低電平vgl的第一測試開關(guān)信號，第一開關(guān)q1關(guān)斷，數(shù)據(jù)信號照常提供，檢測顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)是否正常。如果顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)異常，則可判斷顯示區(qū)域本身存在異常；如果顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)正常，則可判斷顯示區(qū)域正常。

然后，測試單元30向第二開關(guān)電路20施加低電平vgl的第二測試開關(guān)信號，第二開關(guān)q2關(guān)斷，向第一開關(guān)電路10施加高電平vgh的第一測試開關(guān)信號，第一開關(guān)q1導通，數(shù)據(jù)信號照常提供，再檢測顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)是否正常。如果顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)異常，則可判斷輸出晶體管m3的特性存在異常；如果顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)正常，則可判斷輸出晶體管m3的特性正常，goa電路1的異常是由于上拉節(jié)點pu處的信號異常造成的。

需要說明的是，在本發(fā)明的實施例中，goa電路1可以為單邊goa電路，也可以為雙邊goa電路。

綜上，根據(jù)本發(fā)明實施例的用于goa電路的測試裝置，在對goa電路進行測試時，通過測試單元控制goa電路不工作，并向第一開關(guān)電路施加第一測試開關(guān)信號和向第二開關(guān)電路施加第二測試開關(guān)信號，進而根據(jù)第一開關(guān)和第二開關(guān)的開關(guān)時序以及goa電路對應的顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)即可判斷goa電路的異常類型。即言，可不進行輸出晶體管的特性測試即可判斷goa電路對應的顯示區(qū)域和輸出晶體管是否正常工作，且在不同溫度環(huán)境下都可適用，由此，能夠有效提高goa電路異常分析的速度，且實現(xiàn)方法簡單，不增加成本，在用于顯示器時，不影響顯示器的正常工作。

圖5是根據(jù)本發(fā)明實施例的顯示器的方框圖。如圖5所示，該顯示器1000，包括上述實施例的用于goa電路的測試裝置100。

本發(fā)明實施例的顯示器，通過采用上述實施例的用于goa電路的測試裝置，能夠有效提高goa電路異常分析的速度，且實現(xiàn)方法簡單，不增加成本，不影響自身的正常工作。

另外，本發(fā)明實施例的顯示器的其他構(gòu)成及其作用對本領(lǐng)域的技術(shù)人員而言是已知的，為減少冗余，此處不做贅述。

圖6是根據(jù)本發(fā)明實施例的用于goa電路的測試方法的流程圖。

在本發(fā)明的實施例中，參見圖3，goa電路包括輸出晶體管m3和上拉節(jié)點pu，在上拉節(jié)點pu與輸出晶體管m3之間設置有第一開關(guān)電路，在輸出晶體管m3與goa電路的輸出端之間設置有第二開關(guān)電路，第一開關(guān)電路包括第一信號接收線switch1和第一開關(guān)q1，第一開關(guān)q1的柵極和源極連接到第一信號接收線switch1，第一開關(guān)q1的漏極連接到輸出晶體管的柵極和源極，輸出晶體管m3的漏極作為goa電路的輸出端，第一信號接收線switch1用于接收第一測試開關(guān)信號以控制第一開關(guān)q1的導通或關(guān)斷，第二開關(guān)電路包括第二信號接收線switch2和第二開關(guān)q2，第二開關(guān)q2的柵極和源極連接到第二信號接收線switch2，第二開關(guān)q2的漏極與goa電路的輸出端相連，第二信號接收線switch2用于接收第二測試開關(guān)信號以控制第二開關(guān)q2的導通或關(guān)斷。

其中，輸出晶體管m3、第一開關(guān)q1和第二開關(guān)q2可均為tft。

如圖6所示，測試方法包括以下步驟：

s101，在對goa電路進行測試時控制goa電路不工作，并向第一開關(guān)q1電路施加第一測試開關(guān)信號和向第二開關(guān)q2電路施加第二測試開關(guān)信號。

s102，根據(jù)第一開關(guān)q1和第二開關(guān)q2的開關(guān)時序以及goa電路對應的顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)判斷goa電路的異常類型。

在本發(fā)明一個實施例中，當?shù)谝婚_關(guān)q1關(guān)斷、第二開關(guān)q2導通、且正常向goa電路提供數(shù)據(jù)信號時，如果goa電路對應的顯示區(qū)域處于正常顯示狀態(tài)，則再控制第一開關(guān)q1導通和第二開關(guān)q2關(guān)斷，并繼續(xù)判斷顯示區(qū)域此時是否處于正常顯示狀態(tài)。

其中，如果繼續(xù)判斷顯示區(qū)域此時處于正常顯示狀態(tài)，則判斷goa電路發(fā)生上拉節(jié)點信號異常；如果繼續(xù)判斷顯示區(qū)域此時處于異常顯示狀態(tài)，則判斷goa電路發(fā)生輸出晶體管特性異常。

進一步地，當?shù)谝婚_關(guān)q1關(guān)斷、第二開關(guān)q2導通、且正常向goa電路提供數(shù)據(jù)信號時，如果goa電路對應的顯示區(qū)域處于異常顯示狀態(tài)，則判斷顯示區(qū)域發(fā)生異常。

具體而言，當goa電路對應的顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)正常時，如果施加的第一測試開關(guān)信號和第二測試開關(guān)信號均為低電平vgl，則第一開關(guān)q1和第二開關(guān)q2均處于關(guān)斷狀態(tài)，goa電路的工作狀態(tài)如圖3虛線所示。

當goa電路對應的顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)異常時，如果對goa電路進行測試，即判斷輸出晶體管m3是否正常，則控制goa電路不工作，即clk與pu點均無信號。

此時，可以先向第二開關(guān)電路施加高電平vgh的第二測試開關(guān)信號，第二開關(guān)q2導通，向第一開關(guān)電路施加低電平vgl的第一測試開關(guān)信號，第一開關(guān)q1關(guān)斷，數(shù)據(jù)信號照常提供，檢測顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)是否正常。如果顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)異常，則可判斷顯示區(qū)域本身存在異常；如果顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)正常，則可判斷顯示區(qū)域正常。

然后，向第二開關(guān)電路施加低電平vgl的第二測試開關(guān)信號，第二開關(guān)q2關(guān)斷，向第一開關(guān)電路施加高電平vgh的第一測試開關(guān)信號，第一開關(guān)q1導通，數(shù)據(jù)信號照常提供，再檢測顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)是否正常。如果顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)異常，則可判斷輸出晶體管m3的特性存在異常；如果顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)正常，則可判斷輸出晶體管m3的特性正常，goa電路的異常是由于上拉節(jié)點pu處的信號異常造成的。

需要說明的是，在本發(fā)明的實施例中，goa電路可以為單邊goa電路，也可以為雙邊goa電路。

綜上，根據(jù)本發(fā)明實施例的用于goa電路的測試方法，在對goa電路進行測試時，控制goa電路不工作，并向第一開關(guān)電路施加第一測試開關(guān)信號和向第二開關(guān)電路施加第二測試開關(guān)信號，進而根據(jù)第一開關(guān)和第二開關(guān)的開關(guān)時序以及goa電路對應的顯示區(qū)域的顯示狀態(tài)即可判斷goa電路的異常類型。即言，可不進行輸出晶體管的特性測試即可判斷goa電路對應的顯示區(qū)域和輸出晶體管是否正常工作，且在不同溫度環(huán)境下都可適用，由此，能夠有效提高goa電路異常分析的速度，且實現(xiàn)方法簡單，不增加成本，在用于顯示器時，不影響顯示器的正常工作。

在本發(fā)明的描述中，術(shù)語“第一”、“第二”僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隱含地包括至少一個該特征。在本發(fā)明的描述中，“多個”的含義是至少兩個，例如兩個，三個等，除非另有明確具體的限定。

在本發(fā)明中，除非另有明確的規(guī)定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接觸，或第一和第二特征通過中間媒介間接接觸。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或僅僅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或僅僅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本說明書的描述中，參考術(shù)語“一個實施例”、“一些實施例”、“示例”、“具體示例”、或“一些示例”等的描述意指結(jié)合該實施例或示例描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點包含于本發(fā)明的至少一個實施例或示例中。在本說明書中，對上述術(shù)語的示意性表述不必須針對的是相同的實施例或示例。而且，描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點可以在任一個或多個實施例或示例中以合適的方式結(jié)合。此外，在不相互矛盾的情況下，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以將本說明書中描述的不同實施例或示例以及不同實施例或示例的特征進行結(jié)合和組合。

需要說明的是，在流程圖中表示或在此以其他方式描述的邏輯和/或步驟，例如，可以被認為是用于實現(xiàn)邏輯功能的可執(zhí)行指令的定序列表，可以具體實現(xiàn)在任何計算機可讀介質(zhì)中，以供指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設備(如基于計算機的系統(tǒng)、包括處理器的系統(tǒng)或其他可以從指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設備取指令并執(zhí)行指令的系統(tǒng))使用，或結(jié)合這些指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設備而使用。就本說明書而言，"計算機可讀介質(zhì)"可以是任何可以包含、存儲、通信、傳播或傳輸程序以供指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設備或結(jié)合這些指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設備而使用的裝置。計算機可讀介質(zhì)的更具體的示例(非窮盡性列表)包括以下：具有一個或多個布線的電連接部(電子裝置)，便攜式計算機盤盒(磁裝置)，隨機存取存儲器(ram)，只讀存儲器(rom)，可擦除可編輯只讀存儲器(eprom或閃速存儲器)，光纖裝置，以及便攜式光盤只讀存儲器(cdrom)。另外，計算機可讀介質(zhì)甚至可以是可在其上打印所述程序的紙或其他合適的介質(zhì)，因為可以例如通過對紙或其他介質(zhì)進行光學掃描，接著進行編輯、解譯或必要時以其他合適方式進行處理來以電子方式獲得所述程序，然后將其存儲在計算機存儲器中。

應當理解，本發(fā)明的各部分可以用硬件、軟件、固件或它們的組合來實現(xiàn)。在上述實施方式中，多個步驟或方法可以用存儲在存儲器中且由合適的指令執(zhí)行系統(tǒng)執(zhí)行的軟件或固件來實現(xiàn)。例如，如果用硬件來實現(xiàn)，和在另一實施方式中一樣，可用本領(lǐng)域公知的下列技術(shù)中的任一項或他們的組合來實現(xiàn)：具有用于對數(shù)據(jù)信號實現(xiàn)邏輯功能的邏輯門電路的離散邏輯電路，具有合適的組合邏輯門電路的專用集成電路，可編程門陣列(pga)，現(xiàn)場可編程門陣列(fpga)等。

盡管上面已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的實施例，可以理解的是，上述實施例是示例性的，不能理解為對本發(fā)明的限制，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在本發(fā)明的范圍內(nèi)可以對上述實施例進行變化、修改、替換和變型。