專利名稱：光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)室的實(shí)驗(yàn)設(shè)備，具體涉及到光電效應(yīng)的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。
背景技術(shù)：
光電相應(yīng)實(shí)驗(yàn)裝置是各個(gè)理工類(lèi)的大專院校的物理實(shí)驗(yàn)室常用的一種實(shí)驗(yàn)設(shè)備，該實(shí)驗(yàn)設(shè)備一般是由光電管、光源、微電流測(cè)試儀、濾色片或中性減光片組成，光源一般采用高壓汞光源。在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中，需要更換濾色片或者中性減光片，在更換過(guò)程中，需要遮擋住光電管的接收端，防止光源發(fā)出的強(qiáng)光直接入射至光電管，導(dǎo)致光電管的電流過(guò)大而損壞。但是，在實(shí)際操作過(guò)程中，經(jīng)常發(fā)生由于學(xué)生操作不當(dāng)而導(dǎo)致光源發(fā)出的光直接入射至光電管而損壞光電管的情況發(fā)生。

實(shí)用新型內(nèi)容為了解決現(xiàn)有光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中，沒(méi)有專用安裝中性減光片或者濾光片的設(shè)備，而導(dǎo)致在更換中性減光片或者濾光片的過(guò)程中，經(jīng)常由于學(xué)生的誤操作導(dǎo)致光源發(fā)射出的光直接入射至接收裝置而導(dǎo)致光接收裝置的電流過(guò)大而損壞實(shí)驗(yàn)設(shè)備的問(wèn)題。本實(shí)用新型所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置包括光電管暗盒、光接收裝置、多個(gè)中性減光片和多個(gè)濾光片，該實(shí)驗(yàn)裝置還包括光片固定架，光片固定架設(shè)置在光電管暗盒和光源之間，所述光片固定架上沿豎直方向設(shè)置有多個(gè)光片固定孔，每個(gè)光片固定孔的內(nèi)徑均大于光電管暗盒的入光孔的直徑，每個(gè)光片固定孔內(nèi)嵌入固定有一個(gè)中性減光片或者濾光片。上述光片固定架包括支架、光片架和支撐腳，所述支架為U型支架，在該支架的兩個(gè)側(cè)壁上對(duì)稱設(shè)置有一對(duì)定位銷(xiāo)，所述兩個(gè)側(cè)壁的內(nèi)側(cè)沿豎直方向設(shè)置有定位凹槽，該支架的底部與支撐腳固定連接；所述光片架為不透明的平板，在每個(gè)光片固定孔的上部、光片架的兩側(cè)對(duì)稱設(shè)置有一對(duì)限位凹槽，光片架的頂部設(shè)置有拉手；光片架嵌入支架的U型槽內(nèi)，并且該光片架的兩側(cè)分別嵌入兩個(gè)側(cè)壁內(nèi)側(cè)的定位凹槽內(nèi)，支架上的一對(duì)定位銷(xiāo)嵌入光片架上的任意一對(duì)限位凹槽內(nèi)。上述光片固定孔的內(nèi)直徑可以為35mm至37mm。上述定位銷(xiāo)采用頂絲或彈簧銷(xiāo)實(shí)現(xiàn)。上述光片固定架上沿豎直方向設(shè)置有4個(gè)光片固定孔。上述述支撐腳為可調(diào)高度的支撐腳。上述支撐腳為可調(diào)高度的支撐腳，便于調(diào)節(jié)支架A的高度，以適應(yīng)各種高度的光
電管暗盒。本實(shí)施方式所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置在使用時(shí)，光片固定架上的一個(gè)光片固定孔與光電管暗盒的出光孔的位置相對(duì)應(yīng)，即位于該光片固定孔內(nèi)中性減光片或?yàn)V光片能夠覆蓋光電管暗盒的出光孔，以達(dá)到遮光的作用。本實(shí)用新型所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置在學(xué)生做實(shí)驗(yàn)的過(guò)程中，可以根據(jù)實(shí)驗(yàn)報(bào)告將實(shí)驗(yàn)過(guò)程中需要實(shí)用的中性減光片或?yàn)V光片先固定在光片固定架上，然后打開(kāi)電源開(kāi)始實(shí)驗(yàn)，在整個(gè)實(shí)驗(yàn)過(guò)程該種，只需要調(diào)整光片固定架上的光片架的高度，是相應(yīng)的中性減光片或?yàn)V光片遮擋在光源的光輸出端口上既可。由于光片架為不透明的，因此，在相鄰的中型減光片或?yàn)V光片交替的時(shí)候，光源輸出的光被遮擋住，能夠有效防止光源輸出的光直接入射至光接收裝置。本實(shí)用新型所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置可以廣泛應(yīng)用于理工科院校的物理實(shí)驗(yàn)室中。

圖1是本實(shí)用新型所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是本實(shí)施方式所述的光片固定架3的主視圖。圖3是圖2的側(cè)視圖。圖4是具體實(shí)施方式
二所述的支架3A的結(jié)構(gòu)示意圖。圖5是圖4的頂面示意圖。圖6是具體實(shí)施方式
二所述的光片架3B的主視圖。圖7和圖8是具體實(shí)施方式
四所述的光電效應(yīng)測(cè)試裝置在使用過(guò)程中的狀態(tài)示意圖，其中圖7是在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中使用最下面一個(gè)濾光片做實(shí)驗(yàn)時(shí)的狀態(tài)示意圖，圖8是使用下數(shù)第三個(gè)濾光片做實(shí)驗(yàn)時(shí)的狀態(tài)示意圖。
具體實(shí)施方式
具體實(shí)施方式
一本實(shí)施方式所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置包括光電管暗盒2、光接收裝置1、多個(gè)中性減光片和多個(gè)濾光片，該實(shí)驗(yàn)裝置還包括光片固定架3，光片固定架3設(shè)置在光電管暗盒2和光源I之間，所述光片固定架3上沿豎直方向設(shè)置有多個(gè)光片固定孔3B3，每個(gè)光片固定孔3B3的內(nèi)徑均大于光電管暗盒2的入光孔的直徑，每個(gè)光片固定孔3B3內(nèi)嵌入固定有一個(gè)中性減光片或者濾光片。本實(shí)施方式所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置在使用時(shí)，光片固定架3上的一個(gè)光片固定孔3B3與光電管暗盒2的出光孔的位置相對(duì)應(yīng)，即位于該光片固定孔3B3內(nèi)中性減光片或?yàn)V光片能夠覆蓋光電管暗盒2的出光孔，以達(dá)到遮光的作用。
具體實(shí)施方式
二 本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式
一所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置的區(qū)別在于，所述光片固定架3包括支架3A、光片架3B和支撐腳3C，所述支架3A為U型支架，在該支架3A的兩個(gè)側(cè)壁3A2上對(duì)稱設(shè)置有一對(duì)定位銷(xiāo)3A1，所述兩個(gè)側(cè)壁3A2的內(nèi)側(cè)沿豎直方向設(shè)置有定位凹槽3A4，該支架3A的底部與支撐腳3C固定連接；所述光片架3B為不透明的平板，在每個(gè)光片固定孔3B3的上部、光片架3B的兩側(cè)對(duì)稱設(shè)置有一對(duì)限位凹槽3B2，光片架3B的頂部設(shè)置有拉手3B1 ;光片架3B嵌入支架3A的U型槽3A3內(nèi)，并且該光片架3B的兩側(cè)分別嵌入兩個(gè)側(cè)壁3A2內(nèi)側(cè)的定位凹槽3A4內(nèi)，支架3A上的一對(duì)定位銷(xiāo)3A1嵌入光片架3B上的任意一對(duì)限位凹槽3B2內(nèi)。
具體實(shí)施方式
三本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式
一所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置的區(qū)別在于，所述光片固定孔3B3的內(nèi)直徑為35mm至37mm。
具體實(shí)施方式
四本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式
二所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置的區(qū)別在于，所述定位銷(xiāo)3A1采用頂絲實(shí)現(xiàn)。[0021]具體實(shí)施方式
五本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式
二所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置的區(qū)別在于，所述定位銷(xiāo)3A1采用彈簧銷(xiāo)實(shí)現(xiàn)。
具體實(shí)施方式
六本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式
二所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置的區(qū)別在于，所述光片固定架3上沿豎直方向設(shè)置有4個(gè)光片固定孔3B3。當(dāng)采用本實(shí)施方式所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置做實(shí)驗(yàn)的時(shí)候，首先將實(shí)驗(yàn)需要使用的四個(gè)中性減光片或者濾光片分別嵌入在光片架3B上的四個(gè)光片固定孔3B3內(nèi)，然后將該光片架3B插入支架3A的U型凹槽3A3內(nèi)，并使一對(duì)定位銷(xiāo)3A1嵌入光片架3B最下面一個(gè)光片固定孔3B3上方的一對(duì)限位凹槽3B2內(nèi)，參見(jiàn)圖7所示。當(dāng)需要調(diào)整中性減光片或?yàn)V光片的時(shí)候，松開(kāi)一對(duì)定位銷(xiāo)3A1，使得光片架3B繼續(xù)下降，直到需要的位置，在采用該對(duì)定位銷(xiāo)3A1固定光片架，參見(jiàn)圖8所示，是使用位于上部第二個(gè)光片固定孔3B3內(nèi)中性減光片或?yàn)V光片開(kāi)始實(shí)驗(yàn)。
具體實(shí)施方式
七本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式
二所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置的區(qū)別在于，所述支撐腳3C為可調(diào)高度的支撐腳。本實(shí)施方式中的支撐腳3C為可調(diào)高度的支撐腳，便于調(diào)節(jié)支架3A的高度，以適應(yīng)各種高度的光電管暗盒2。本實(shí)用新型所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置不局限于上述各個(gè)具體實(shí)施方式
所描述的具體結(jié)構(gòu)，還可以是上述各實(shí)施方式所記載的具體技術(shù)特征的合理組合。
權(quán)利要求1.光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置，它包括光電管暗盒(2)、微電流測(cè)試儀、光源(I)、多個(gè)中性減光片和多個(gè)濾光片，其特征在于，該實(shí)驗(yàn)裝置還包括光片固定架(3)，光片固定架(3)設(shè)置在光電管暗盒(2 )和光源(I)之間，所述光片固定架(3 )上沿豎直方向設(shè)置有多個(gè)光片固定孔(3B3)，每個(gè)光片固定孔(3B3)的內(nèi)徑均大于光電管暗盒(2)的入光孔的直徑，每個(gè)光片固定孔(3B3)內(nèi)嵌入固定有一個(gè)中性減光片或者濾光片。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置，其特征在于，所述光片固定架(3) 包括支架(3A)、光片架(3B)和支撐腳(3C)，所述支架(3A)為U型支架，在該支架(3A)的兩個(gè)側(cè)壁(3A2)上對(duì)稱設(shè)置有一對(duì)定位銷(xiāo)(3A1 )，所述兩個(gè)側(cè)壁(3A2)的內(nèi)側(cè)沿豎直方向設(shè)置有定位凹槽(3A4)，該支架(3A)的底部與支撐腳(3C)固定連接；所述光片架(3B)為不透明的平板，在每個(gè)光片固定孔(3B3)的上部、光片架(3B)的兩側(cè)對(duì)稱設(shè)置有一對(duì)限位凹槽 (3B2)，光片架(3B)的頂部設(shè)置有拉手(3B1);光片架(3B)嵌入支架(3A)的U型槽(3A3) 內(nèi)，并且該光片架(3B)的兩側(cè)分別嵌入兩個(gè)側(cè)壁(3A2)內(nèi)側(cè)的定位凹槽(3A4)內(nèi)，支架(3A) 上的一對(duì)定位銷(xiāo)(3A1)嵌入光片架(3B)上的任意一對(duì)限位凹槽(3B2)內(nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置，其特征在于，所述光片固定孔(3B3) 的內(nèi)直徑為35mm至37mm。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置，其特征在于，所述定位銷(xiāo)(3A1)采用頂絲實(shí)現(xiàn)。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置，其特征在于，所述定位銷(xiāo)(3A1)采用彈簧銷(xiāo)實(shí)現(xiàn)。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置，其特征在于，所述光片固定架(3)上沿豎直方向設(shè)置有4個(gè)光片固定孔(3B3)。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置，其特征在于，所述支撐腳(3C)為可調(diào)高度的支撐腳。
專利摘要光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置，本實(shí)用新型涉及光電效應(yīng)的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。為了解決現(xiàn)有光電效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)裝置在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中，沒(méi)有專用安裝中性減光片或者濾光片的設(shè)備，而導(dǎo)致在更換中性減光片或者濾光片的過(guò)程中，經(jīng)常由于學(xué)生的誤操作導(dǎo)致光源發(fā)射出的光直接入射至接收裝置而導(dǎo)致光接收裝置的電流過(guò)大而損壞實(shí)驗(yàn)設(shè)備的問(wèn)題。本實(shí)用新型所述的光電效應(yīng)實(shí)驗(yàn)設(shè)備包括光電管暗盒、光接收裝置、多個(gè)中性減光片和多個(gè)濾光片，該實(shí)驗(yàn)裝置還包括光片固定架，光片固定架設(shè)置在光電管暗盒和光接收裝置之間，所述光片固定架上沿豎直方向設(shè)置有多個(gè)光片固定孔，所述光片固定孔用于固定中性減光片或者濾光片。本實(shí)用新型可以廣泛應(yīng)用于理工科院校的物理實(shí)驗(yàn)室中。
文檔編號(hào)G09B23/18GK202855158SQ20122058034
公開(kāi)日2013年4月3日 申請(qǐng)日期2012年11月6日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月6日
發(fā)明者王飛, 高寬云, 李茂月, 李敬然 申請(qǐng)人:哈爾濱理工大學(xué)