專利名稱：檢查用標記以及電子機器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及設(shè)置于顯示面板的面板基板、TAB基板及可撓性基板中的至少兩個的相互連接的連接部位上的用于簡易地確認該連接部位的連接不良的檢查用標記與具備有附設(shè)著該種檢查用標記的顯示面板、TAB基板或可撓性基板的電子機器。
為提高此種顯示面板的顯示能力，除需要提高各顯示元件的光控制特性或發(fā)光特性外，顯示面板的電子零件的裝配作業(yè)的高精度化也是一項重要的因素。
圖9說明針對前述顯示面板實施的電子零件的裝配工序。顯示面板上連接有被稱為TAB(Tape Automated bonding帶體自動化裝配)基板及FPC(Flexible Printed Circuit可撓性印刷電路板)的電子組件，而在此以顯示面板與TAB基板的連接為例作說明。
在顯示面板50的面板基板51上，于其端部引出有顯示面板50的引線51a，對此引線51a借由ACF(Anisotropic Conductive Film各向異性導(dǎo)電膜)53以連接TAB基板52的引線52a。在顯示面板51上的以引線51a所形成的連接領(lǐng)域的左右兩側(cè)上設(shè)有校準標記51b，將此校準標記51b和與其重合的TAB基板52側(cè)的校準標記52b以攝影裝置54加以拍攝，而借由將其拍攝影像作觀察或作畫像處理，且借由調(diào)整機構(gòu)(未圖示)調(diào)整其位置使顯示面板50與TAB基板52形成為一定的位置關(guān)系。
然后，在其調(diào)整完成后，將面板基板51的端部與TAB基板52的端部夾持ACF 53且處于相互重疊的狀態(tài)，借由假壓接頭55壓制其重疊的部份，將面板基板51與TAB基板52利用ACF53作假壓接。
在該假壓接處理后，實行校準位置標記檢查與塵埃等的附著檢查，而僅將在此檢查中為合格的物品移動至真壓接工程。在真壓接工程中，對假壓接部份施加一定的溫度、一定的壓力及一定的時間，而將面板基板51與TAB基板52完全地壓接。
前述雖使用校準標記實行位置調(diào)整，其仍有拍攝畫像所具有的分解能的問題以及基板玻璃、TAB基板及FPC等的個別形成誤差的問題，其有難以將高密度化的引線分別完全地對位的問題。而且，在位置調(diào)整后，在實行假壓接或真壓接的過程中也會引發(fā)位置偏移、壓接不良以及連接不良等問題。
另外，尤其是在如有機EL顯示面板一樣，由電流注入型的顯示組件所構(gòu)成的顯示面板的場合，只要有微小的位置偏移，其相接觸的引線間的接觸面積將減少而對注入電流值產(chǎn)生不良影響，即使落實各引線間的連接，因接觸面積減小，會引發(fā)顯示性能惡化的問題，與電壓驅(qū)動式的液晶顯示面板比較，其要求要有更嚴密的對位精度。因此，有機EL顯示面板的場合，在將面板基板與TAB基板等作真壓接后，實行目視檢查，先將可借由目視能確認的程度的不良現(xiàn)象十分明顯的制品在第一階段加以排除，再對剩下的制品實行顯微鏡檢查，檢查出引線間的接觸面積是否保持適切。
在此，因顯微鏡檢查是高負荷的作業(yè)，因此盡可能地在前一階段的目視檢查中將不良品排除，而使顯微鏡檢查的對象減少。然而，借由目視檢查很難掌握引線間的接觸面積的好壞，而且，前述的位置調(diào)整用的校準標記在目視檢查時要以其確認不良狀況因過于細微無法使用。因此，在目視檢查工序中僅能排除壓接不良狀況較明顯的不良品，而存在無法減輕顯微鏡檢查工序負荷的問題。
為實現(xiàn)前述目的，本發(fā)明提供一種檢查用標記，其設(shè)在顯示面板的面板基板、TAB基板以及可撓性基板中的至少兩者的相互連接的連接部位上，用以確認該連接部位上的連接質(zhì)量；將分別設(shè)于所述各基板上的標記在相連接的對象之間進行組合以形成一對標記，而借由檢測連接后的所述一對標記間的電導(dǎo)通狀況，確認出所述連接的好壞。
所述的檢查用標記，其中前述電導(dǎo)通的檢測借由連接于前述各標記的檢查判斷回路加以執(zhí)行。
所述的檢查用標記，其中前述電導(dǎo)通的檢測借由連接于前述標記的發(fā)光元件的亮熄情況加以判斷。
所述的檢查用標記，其中前述發(fā)光元件與形成于顯示面板的面板基板上的顯示元件一同形成。
所述的檢查用標記，其中前述一對標記由三角形的標記頂點相互頂合的一組標記所構(gòu)成。
所述的檢查用標記，其中前述一對標記至少設(shè)有兩組，且各組標記連接時的頂點間距離不同。
本發(fā)明還提供一種電子機器，其具備有顯示面板、TAB基板以及可撓性基板，這些面板或基板上設(shè)有前述任一檢查用標記。
本發(fā)明的檢查用標記可借由檢測檢查用標記間的電導(dǎo)通的情形簡易地確認連接后的位置偏差。
借由檢測連接后的一對標記間的電導(dǎo)通情況，在導(dǎo)通時判斷為連接良好，而在不導(dǎo)通時則判斷為連接不良。此場合，形成于連接對象的各基板上的標記與連接部位上的電極相同為具有導(dǎo)電性，借由介以ACF作壓接的方式在重疊的部分上確保其電導(dǎo)通的特性。另外，在連接部位的左右兩側(cè)分別設(shè)置一對標記，可在左右標記皆具有導(dǎo)通性時判斷為連接良好。
在基板間的連接后，對一對標記分別連接以檢查判斷回路的端子，在檢查判斷回路判斷出標記對間具導(dǎo)通性時判別為連接良好，而在判斷不具導(dǎo)通性時則判定為連接不良。
對一對標記的任一個連接以發(fā)光元件，在基板間連接后，采用一對標記對發(fā)光元件供給電源。借此，在發(fā)光元件為發(fā)光狀態(tài)時判定為連接良好，而在發(fā)光元件不發(fā)光時則判定為連接不良。
作為在顯示面板基板上形成前述檢查用發(fā)光元件的一顯示元件的形態(tài)于形成顯示元件時與顯示元件一同預(yù)先形成。借此可省卻另外連接發(fā)光元件的手續(xù)而可使檢查作業(yè)為更具效率。
借由將檢查用的一對標記設(shè)為三角形的標記頂點相互頂合的標記，其可借由檢測微小的位置偏差而檢測出導(dǎo)通不良，故可提高檢查精度。
設(shè)置至少兩組三角形的標記頂點相互頂接的標記，且連接時的頂點間距離不同。在連接部位的左右兩側(cè)不具有形成標記對的空間時僅在連接部位的單側(cè)設(shè)置檢查用標記，而可得到與于連接部位的左右兩側(cè)上形成標記對的場合具有相同的檢查效果的物品。
借由設(shè)置前述檢查用標記可提高檢查效率而可有效率地生產(chǎn)出連接狀態(tài)良好的電子機器。
下文，將結(jié)合附圖
，通過對本發(fā)明的較佳實施例的詳細描述，使本發(fā)明的技術(shù)方案及其有益效果顯而易見。
在有機EL顯示面板1的面板基板10上從畫面區(qū)域10a引出成為信號線的引線10b、10c，此引線10b、10c分別收束且分別在連接區(qū)域11、12與TAB基板2、3的引線2a、3a相連接。引線2b、3b搭接于TAB基板2、3的驅(qū)動IC。
TAB基板2、3的朝可撓性基板4一側(cè)的引線2c、3c在可撓性基板4上的連接區(qū)域13、14上被可撓性基板4上的連接線所連接。而且，在前述連接區(qū)域11、12、13、14的附近，校準標記11a、11b、12a、12b、13a、13b、14a、14b分別設(shè)于面板基板10、TAB基板2、3及可撓性基板4上。
在此種顯示面板的裝配狀態(tài)下，在面板基板10、TAB基板2、3以及可撓性基板4上分別設(shè)置檢查用標記。檢查用標記15a、15b、15c、15d設(shè)于面板基板10上，檢查用標記20a、20b、20c、20d設(shè)于TAB基板2上，檢查用標記30a、30b、30c、30d設(shè)于TAB基板3上，而檢查用標記40a、40b、40c、40d設(shè)于可撓性基板4上。這些檢查用標記分別以導(dǎo)電性材料制成，借由夾有ACF作壓接的方式在產(chǎn)生重疊的部分上形成處于可確保電導(dǎo)通的狀態(tài)。
此檢查用標記在正確的裝配狀態(tài)下位于連接區(qū)域11、12、13、14的左右，設(shè)成相對于各連接區(qū)域的中心軸為左右對稱狀。而且，各個標記呈三角形狀，連接對象間的標記的組合使其頂點頂接而形成一對標記，設(shè)定成在各連接區(qū)域左右的一對檢查用標記的頂點為相互接觸的狀態(tài)時為正確的連接狀態(tài)。為得到此種位置設(shè)定效果，可在各基板的校準標記所連結(jié)的直線上設(shè)置各檢查用標記的頂點即可。
圖2說明利用前述檢查用標記實施簡易的檢查。在此僅舉例說明連接區(qū)域11的單側(cè)，其相反側(cè)以及其它連接區(qū)域則同樣地實施。TAB基板2夾有ACF16壓接于面板基板10上，而在TAB基板2一側(cè)的檢查用標記20a與在面板基板10一側(cè)的檢查用標記15a也同樣地被壓接，在檢查用標記20a、15a間的重疊部份上可取得兩檢查用標記的導(dǎo)通性。另外，在檢查時，這些檢查用標記20a、15a連接有檢查判斷回路17，而借由該檢查判斷回路17檢測前述檢查用標記15a、20a間是否有電導(dǎo)通。
圖3說明這種檢查用標記的功能。在面板基板10一側(cè)，在校準用標記11a的軸上設(shè)有檢查用標記15a，而在TAB基板2一側(cè)同樣地在校準用標記11a的軸上設(shè)有檢查用標記20a。在此，于連接區(qū)域11中，面板基板10一側(cè)的引線10b于與TAB基板2一側(cè)的引線2a介以ACF壓接時產(chǎn)生角度θ的位置偏移。因此，引線10b、2a間的接觸面積成為斜線所示的區(qū)域而與正確的連接狀態(tài)比較時減少許多。在有機EL顯示面板1上，這種連接基板間的角度偏移對顯示性能有巨大的影響，因此須在檢查流程中將其找出并排除。但是，在這種程度的位置偏移的場合，僅以目視對連接區(qū)域11及校準用標記11a作檢查時難以掌握其位置偏移狀況。
針對此問題，借由在離開連接區(qū)域11的中心位置O且在連接領(lǐng)域的長度方向上為設(shè)定距離a的位置上設(shè)置三角形的檢查用標記20a時，可將微小的角度偏移θ擴大成y＝a·sinθ的y方向上的偏差而加以辨識。以此偏差，頂接頂點的三角形的檢查用標記的兩頂點呈分離的狀態(tài)，而無法獲得檢查用標記間的電性導(dǎo)通。借由前述的檢查判斷回路17檢測此情形即可確認出位置偏差所導(dǎo)致的連接不良。借此即可借由檢查用標記間的電性導(dǎo)通確認出極微小的角度偏差。
另外，在連接區(qū)域的長度方向(x方向)產(chǎn)生位置偏差而在檢查用標記15a，20a的頂點產(chǎn)生間隙x時也可同樣地檢測出。然而，在產(chǎn)生x方向的位置偏差的場合，即使在連接區(qū)域11的單側(cè)檢測出檢查用標記20a、15a間的導(dǎo)通，亦須考慮檢查用標記20a與檢查用標記15a的重疊方向上的位置偏差，因此于連接區(qū)域11的相反側(cè)也對檢查用標記連接有檢查判斷回路17而檢測其導(dǎo)通性。而且，在左右兩方利用檢查判斷回路17檢測檢查用標記間的導(dǎo)通時則定為「合格」，而在用檢查判斷回路17檢測出左右任一邊不導(dǎo)通時則定為「不合格」，借此即可簡易地檢查出連接區(qū)域的長度方向(x方向)的位置偏差。
圖4為另一實施例的示意圖。在前述的實施例中，以檢查判斷回路實行檢查用標記間的導(dǎo)通檢測，而在本實施例中設(shè)置發(fā)光元件以辨識出判斷結(jié)果。也就是，與圖2的實施例相同，TAB基板2介以ACF 16壓接連接于面板基板10上，而在TAB基板2一側(cè)形成檢查用標記20a，且在面板基板10側(cè)形成檢查用標記15a。另外，在面板基板10上設(shè)置具有經(jīng)接地的電源供給區(qū)51的發(fā)光元件50，并用配線52連接檢查用標記15a。而且，在TAB基板2上形成電源供應(yīng)區(qū)53并借由配線54連接檢查用標記20a。
在檢查時，對電源供應(yīng)區(qū)51、53用觸針或?qū)щ娤鹉z等實行電源供給。當檢查用標記15a、20a的頂點接觸并確保導(dǎo)通時則發(fā)光元件50發(fā)光，借此即可辨別出無位置偏移現(xiàn)象。此發(fā)光元件50可在面板基板10形成后個別加以設(shè)置，而若為有機EL顯示面板等的顯示組件的面板基板時，則在面板基板上形成顯示元件的同時，也可作為其顯示元件的一部分同時形成檢查用的發(fā)光元件50。
在此實施例中，如圖5所示，將形成于各連接區(qū)域的多個的發(fā)光元件50匯集于一處而形成，其可提高檢查時的可視性。此時，分散配置的各檢查用標記與發(fā)光元件50借由另外形成于面板基板10上的連接用配線加以連接。另外，在形成多個發(fā)光元件50的場合，共享一對電源供應(yīng)區(qū)51、53，也可從該處起在各基板上形成延伸至各發(fā)光元件的配線。
圖6所示為又一實施例的示意圖。在此實施例中，作為前述的一對標記為設(shè)置A、B兩組檢查用標記15a、20a，并將連接時的頂點間隔設(shè)定為不同。借此，如圖6(a)所示，一方的A側(cè)的組導(dǎo)通(ON)而另一方的B側(cè)的組非導(dǎo)通(OFF)時，則判斷為“合格”。相對于此，在左方向上產(chǎn)生壓接偏差時(參閱圖6(b))在A、B皆為導(dǎo)通(ON)的場合，及在右方向上產(chǎn)生壓接偏差(參閱圖6(C))而使A、B皆為非導(dǎo)通(OFF)的場合則判斷為“不合格”。借此，僅借由于連接區(qū)域的單側(cè)設(shè)置檢查用標記即可與在連接區(qū)域的兩側(cè)設(shè)置檢查用標記的情形時相同，即可檢測連接區(qū)域的長度方向的偏差而判斷出連接不良。在此，連接不良的判斷可使用前述的檢查判斷回路17或者使用前述發(fā)光元件50。
依照本發(fā)明的檢查用標記的形態(tài)，其并不只限定于前述的在左右設(shè)置三角形狀的標記而使其頂點為相互頂合的形態(tài)。圖7為適用作為本發(fā)明的檢查用標記的又一實施例的示意圖。如圖7(a)所示的標記，為使三角形狀的標記排列上下而使其頂點相互頂合而在連接對象的一方上設(shè)置上側(cè)標記且于另一方上設(shè)置下側(cè)標記。也可借由設(shè)置標記的空間如前述將標記配置成上下方式。
如圖7(b)～(e)所示的標記，將a側(cè)的標記設(shè)置在連接對象的朝向一方的一側(cè)并將b側(cè)的標記設(shè)置在連接對象的朝向另一方的一側(cè)，而當兩者在四個方向上具有適當?shù)拈g隔時，則電導(dǎo)通狀態(tài)為非導(dǎo)通，若產(chǎn)生位置偏差時，標記a、b間重疊而產(chǎn)生電導(dǎo)通現(xiàn)象，因此在確認出電導(dǎo)通的場合可將其判斷為連接不良。在前述的各實施例中說明有關(guān)面板基板與TAB基板的連接情形，然而包含COG(Cip On Glass)的面板基板與可撓性基板等的其它組合也可適用本發(fā)明。
圖8所示為用于在面板基板上連接TAB基板的作業(yè)流程，適用于前述各實施例的檢查工程的基板連接作業(yè)。如前述的現(xiàn)有技術(shù)所示，在假壓接工序終了后，要搬送制品將其設(shè)置在真壓接處理裝置上，而依需要在假壓接工序終了時應(yīng)實行簡易檢查。這樣可借由在各工程的前階段排除不合格品，可減輕后續(xù)工程的負擔。
接著如前述對假壓接部分以一定的時間施加一定的溫度及一定的壓力，而將面板基板10與TAB基板2的連接區(qū)域11(或者12)介以ACF作真壓接。然后，將實行過真壓接的制品自真壓接處理裝置排出而對其進行簡易檢查。關(guān)于各工程的簡易檢查的實施與否可視生產(chǎn)情況而定。
在此簡易檢查中借由前述的檢查判斷回路17或者發(fā)光元件50的發(fā)光或不發(fā)光的情形判斷其連接的好壞。當在此簡易檢查中確認出偏差時(NG)則作為連接不合格品而廢棄或者再次回收使用，而對于此簡易檢查中為合格的制品(G)則實行顯微鏡檢查。于顯微鏡檢查中借由顯微鏡畫像詳細檢查連接區(qū)域11(或者12)的引線的接觸面積，將接觸面積為滿足規(guī)定狀態(tài)的制品視為合格品(G)。另外，將不符合規(guī)定的物品(NG)作為不良品而廢棄或轉(zhuǎn)至回收單位。
借由將此種檢查用標記分別設(shè)置于面板基板10、TAB基板2、3以及可撓性基板4上可提高簡易檢查找出不合格品的比率，可減少實行高負荷的顯微鏡檢查的對象。
本發(fā)明因具有前述的組成，故可在顯示面板、TAB基板以及可撓性基板的連接作業(yè)后的檢查時，借由簡易的檢查工序高精度地排除不合格品而可減輕顯微鏡檢查工程的負荷，因此可實現(xiàn)有效率的檢查作業(yè)。
如熟悉此技術(shù)的人員所了解的，以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并非用以限定本發(fā)明的權(quán)利要求；凡是其它未脫離本發(fā)明所揭示的構(gòu)思下所完成的等效改變或修飾，均應(yīng)包含在所述的權(quán)利要求內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種檢查用標記，設(shè)于顯示面板的面板基板、TAB基板以及可撓性基板中的至少兩者的相互連接的連接部位上，用以確認該連接部位上的連接質(zhì)量；其特征在于將分別設(shè)于所述各基板上的標記在相連接的對象之間進行組合以形成一對標記，而借由檢測連接后的所述一對標記間的電導(dǎo)通狀況，確認出所述連接的好壞。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢查用標記，其特征在于所述電導(dǎo)通的檢測借由連接在前述各標記的檢查判斷回路加以執(zhí)行。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢查用標記，其特征在于所述電導(dǎo)通的檢測借由連接在前述標記的發(fā)光元件的亮熄情況加以判斷。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的檢查用標記，其特征在于所述發(fā)光元件與形成于顯示面板的面板基板上的顯示元件一同形成。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4的任一項所述的檢查用標記，其特征在于所述一對標記由三角形的標記頂點相互頂合的一組標記所構(gòu)成。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢查用標記，其特征在于所述一對標記至少設(shè)有兩組，且使各組標記連接時的頂點間距離為不同。
7.一種電子機器，其具備有顯示面板、TAB基板以及可撓性基板，其特征在于這些面板或基板上設(shè)有權(quán)利要求1～6中任一項所述的檢查用標記。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種檢查用標記以及電子機器，是在顯示面板、TAB基板及可撓性基板的連接作業(yè)后的檢查作業(yè)中，可借由簡易的檢查工序高精密度地排除不合格品，從而可減輕顯微鏡檢查工序的負擔。在面板基板10、TAB基板2、3及可撓性基板4的相互連接區(qū)域11、12、13、14上，在以設(shè)定距離離開該連接區(qū)域的位置上，于各組件上設(shè)置檢查用標記15a～15d、20a～20d、30a～30d、40a～40d，借由確認檢查用標記間的電導(dǎo)通情況判斷出連接的好壞。
文檔編號G09F9/00GK1440009SQ03102
公開日2003年9月3日 申請日期2003年2月14日 優(yōu)先權(quán)日2002年2月20日
發(fā)明者大峽秀隆 申請人:東北先鋒株式會社