專(zhuān)利名稱(chēng)：X射線ct裝置、輻射檢測(cè)器和用于讀出輻射檢測(cè)器的電信號(hào)的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種包含二維布置的多個(gè)用于檢測(cè)X射線的檢測(cè)單元、通過(guò)切換檢測(cè)單元的時(shí)分電信號(hào)、和讀取該時(shí)分信號(hào)的X射線CT(計(jì)算機(jī)斷層攝影)裝置，以及輻射檢測(cè)器和用于讀出輻射檢測(cè)器的電信號(hào)的方法。
背景技術(shù)：
通常，X射線CT裝置使用X射線向作為目標(biāo)的病人照射、檢測(cè)發(fā)射的X射線、并可視化目標(biāo)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)而產(chǎn)生斷層攝影圖像(參見(jiàn)，例如JP-A-2001-242253)。
在用于醫(yī)療用途的X射線CT裝置中，來(lái)自X射線管的X射線在多個(gè)方向上照射目標(biāo)，在將目標(biāo)夾在中間的情況下，位于其面對(duì)位置的輻射檢測(cè)器吸收發(fā)射的X射線，并且最后產(chǎn)生電信號(hào)。該電信號(hào)反映了發(fā)射的X射線的強(qiáng)度。目標(biāo)的斷層攝影圖像取決于基于獲得的信號(hào)數(shù)據(jù)的重構(gòu)，并顯示在顯示設(shè)備上。
例如，在第三代X射線CT裝置中，X射線管和輻射檢測(cè)器在垂直于目標(biāo)的身體軸線的平面上轉(zhuǎn)動(dòng)，輻射檢測(cè)器檢測(cè)從X射線管發(fā)射而照射目標(biāo)的的X射線，并且檢測(cè)到的X射線檢測(cè)信號(hào)被傳遞至數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，從而獲得數(shù)據(jù)。通過(guò)一個(gè)周期(180°或360°)的轉(zhuǎn)動(dòng)重構(gòu)一個(gè)在轉(zhuǎn)動(dòng)平面上的斷層攝影圖像并顯示。
因此，輻射檢測(cè)器包括沿在轉(zhuǎn)動(dòng)平面的弧線上密集布置的大量的檢測(cè)器模塊。檢測(cè)器模塊被連接至數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。在許多情況中，檢測(cè)器模塊譬如是二維的光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊。
圖17是顯示常規(guī)二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊的示意圖。圖18是顯示圖17中的常規(guī)二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊1的側(cè)面圖。閃爍器沒(méi)有顯示在圖17中。
二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊1包括基片2上的多個(gè)檢測(cè)元件3，該多個(gè)檢測(cè)元件3在作為輻射檢測(cè)器轉(zhuǎn)動(dòng)方向的列方向(通道方向C)和在作為身體軸線的行方向(切片方向A)上，以獲得在一個(gè)周期的數(shù)據(jù)采集中的多個(gè)斷層攝影的數(shù)據(jù)。
檢測(cè)元件3包括閃爍器4和光敏二極管(PD)5。一般地，閃爍器4的數(shù)量等于光敏二極管5的數(shù)量，入射在閃爍器4上的X射線被轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光，并且該光通過(guò)光敏二極管5被轉(zhuǎn)換成電信號(hào)。此外，該由光敏二極管5轉(zhuǎn)換的電信號(hào)被從作為身體軸線的切片方向的一端或兩端采集，然后被引導(dǎo)至數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(未顯示)，以在輻射檢測(cè)器的轉(zhuǎn)動(dòng)平面上布置大量二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊1。
因此，光敏二極管5經(jīng)引線接合6被連接至多個(gè)積分器，以及光敏二極管5的電信號(hào)被傳遞至積分器7。此外，光敏二極管5經(jīng)引線接合6被連接至譬如MUX(多路復(fù)器)的公共開(kāi)關(guān)8，和開(kāi)關(guān)8被連接至在基片2上的電路基片9譬如FPC(柔性印刷電路)。
全部檢測(cè)元件3一一對(duì)應(yīng)地被連接至數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，因而減少了檢測(cè)元件3的活動(dòng)區(qū)域S1。然而，這樣增加了布線區(qū)域S2的尺寸，并因此不能通過(guò)引線被安裝在基片2上。即，引線結(jié)合6的數(shù)量被限制。此后，光敏二極管5的電信號(hào)被存儲(chǔ)在積分器7中，通過(guò)開(kāi)關(guān)8在切片方向A上進(jìn)行時(shí)分，并且順序輸出至譬如FPC的電路基片9。此外，電路基片9引導(dǎo)電信號(hào)至數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。
另外，檢測(cè)元件3數(shù)量的增加導(dǎo)致在布線區(qū)域S2的限制下不能確保用于檢測(cè)器元件3的足夠空間。于是，通過(guò)改進(jìn)布線模式，提出了另一種二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊。
圖19是顯示通過(guò)改進(jìn)布線模式形成的另一個(gè)常規(guī)二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊的示意圖。閃爍器沒(méi)有顯示在圖19中。
參考圖19，二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊1A包括以矩陣形式二維布置在基片2上的多個(gè)檢測(cè)元件3。晶體管開(kāi)關(guān)10被布置在檢測(cè)元件3的光敏二極管5的輸出端。在單一列上的光敏二極管5經(jīng)晶體管開(kāi)關(guān)10被連接至公共信號(hào)線11。在單一列上的光敏二極管5的晶體管開(kāi)關(guān)10被連接至公共控制線12。
在二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊1A中，X射線入射在檢測(cè)元件3的閃爍器(未顯示)上，然后被轉(zhuǎn)換成光。并且，光敏二極管5將光轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，并且將電信號(hào)作為電荷存儲(chǔ)進(jìn)光敏二極管5。控制線12在行方向中順序傳送開(kāi)關(guān)控制信號(hào)至晶體管開(kāi)關(guān)10，從而激活晶體管開(kāi)關(guān)10。該電信號(hào)根據(jù)在同一行上的光敏二極管5以相互并行的方式被時(shí)分，以及根據(jù)在同一列上的光敏二極管5在行方向(切片方向A)上順序地被時(shí)分。即，來(lái)自光敏二極管5的兩個(gè)電信號(hào)均經(jīng)晶體管開(kāi)關(guān)10被輸出至信號(hào)線11。
也就是說(shuō)，在顯示在圖19的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊1A中，晶體管開(kāi)關(guān)10被單獨(dú)地布置在光敏二極管5處，并且信號(hào)線11是公共使用的，從而減少了信號(hào)線11的數(shù)量。
圖20是顯示在常規(guī)二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊1、1A中的檢測(cè)元件3和讀出電路的連接方法的圖。圖21是顯示來(lái)自如圖20所示的常規(guī)檢測(cè)元件3的電信號(hào)的讀出時(shí)間的示意圖。
通過(guò)圖17或19中、具有對(duì)應(yīng)于16行的檢測(cè)元件3的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊1或二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊1A，電信號(hào)被輸出，如圖20所示。關(guān)注一列，然后通過(guò)公共積分放大器13時(shí)分檢測(cè)元件3的電信號(hào)。此后，時(shí)分信號(hào)通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器14進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換，并通過(guò)讀出電路讀出。參考圖21，用讀出時(shí)間作為軸線，然后來(lái)自16個(gè)檢測(cè)元件3的電信號(hào)D被讀出電路通過(guò)積分放大器13以行序順序讀出。
然后，該在行方向(切片方向A)上互相并行時(shí)分和讀出的、該列的檢測(cè)元件3的電信號(hào)，經(jīng)電路基片和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)傳遞至圖像重構(gòu)單元。進(jìn)而，圖像重構(gòu)單元重構(gòu)目標(biāo)的斷層攝影圖像。
在常規(guī)二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊1和1A中，電信號(hào)依賴(lài)于檢測(cè)元件3的行數(shù)被時(shí)分。因此，當(dāng)檢測(cè)元件3的行數(shù)較大時(shí)，將花費(fèi)較長(zhǎng)時(shí)間用于從所有行的檢測(cè)元件3讀出電信號(hào)。
具體地，積分放大器13將檢測(cè)元件3的電信號(hào)作為預(yù)定時(shí)間的電荷儲(chǔ)以便進(jìn)行積分。因此，從檢測(cè)元件3讀出電信號(hào)的時(shí)間是較長(zhǎng)的，主要依賴(lài)于在積分放大器13中電荷的存儲(chǔ)時(shí)間。
然而，從二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊中的檢測(cè)元件3讀出電信號(hào)的時(shí)間一般被限制在預(yù)定時(shí)間之內(nèi)。當(dāng)關(guān)于電信號(hào)的預(yù)定讀出時(shí)間的檢測(cè)元件的數(shù)量增加時(shí)，每行的電信號(hào)的讀出時(shí)間依據(jù)檢測(cè)元件增加的行數(shù)而縮短，即，電信號(hào)需要被更快地讀出。
假如輻射檢測(cè)器每秒采集900次數(shù)據(jù)，則數(shù)據(jù)需要在1.111ms的時(shí)間內(nèi)被采集一次。由于檢測(cè)元件的行數(shù)是16，則電信號(hào)需要在1.111ms時(shí)間內(nèi)從相應(yīng)于16行的檢測(cè)元件中被讀出，從而每行讀出速度是0.069ms。
依據(jù)電信號(hào)的讀出速度的增加，電信號(hào)的讀出電路沒(méi)有被在二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊中操作。此外，不僅噪聲增加，而且通過(guò)上面獲得的電信號(hào)產(chǎn)生的斷層攝影圖像的圖像質(zhì)量也降低。換言之，布置在二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊的基片上檢測(cè)器元件的行數(shù)被限制。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明被設(shè)計(jì)以解決該常規(guī)問(wèn)題。本發(fā)明的目的是提供一種X射線CT裝置、一種輻射檢測(cè)器和用于讀出輻射檢測(cè)器的電信號(hào)的方法，在其中通過(guò)降低所要求的從檢測(cè)元件讀出電信號(hào)的讀出速度，而簡(jiǎn)化了電路布局和減少了電信號(hào)的噪聲。
在一方面中，為了實(shí)現(xiàn)該目的，本發(fā)明提供一種X射線CT裝置，該裝置包括用于將X射線照射目標(biāo)的X射線發(fā)生單元和用于檢測(cè)透射過(guò)目標(biāo)的X射線的輻射檢測(cè)器，其中輻射檢測(cè)器包含被放置在二維位置和分離在多個(gè)讀出模塊中的多個(gè)檢測(cè)元件、用于從在各自讀出模塊中的檢測(cè)元件讀出電信號(hào)的讀出電路、用于切換從讀出模塊中的檢測(cè)元件讀出至讀出電路的電信號(hào)的開(kāi)關(guān)電路和開(kāi)關(guān)控制電路；該開(kāi)關(guān)控制電路用于控制開(kāi)關(guān)電路，以使從讀出模塊的公共讀出模塊中相應(yīng)的檢測(cè)元件分時(shí)讀出電信號(hào)至讀出電路，以及使得以并行方式從至少兩個(gè)檢測(cè)元件讀出相應(yīng)的電信號(hào)至讀出電路，這兩個(gè)檢測(cè)元件互相在不同的讀出模塊中。
此外，在一方面中，為了實(shí)現(xiàn)該目的，本發(fā)明提供一種X射線CT裝置，該裝置包括用于將X射線照射至目標(biāo)的X射線發(fā)生單元，用于檢測(cè)透射過(guò)目標(biāo)的X射線的輻射檢測(cè)器，和用于積累被檢測(cè)至輻射檢測(cè)器的X射線檢測(cè)的數(shù)據(jù)的、使用模數(shù)轉(zhuǎn)換器的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，其中輻射檢測(cè)器包含被放置在二維位置和被分離在多個(gè)讀出模塊中的多個(gè)檢測(cè)元件、用于從檢測(cè)元件積累電荷和從在各自讀出模塊的檢測(cè)元件中讀出電信號(hào)的積分放大器、用于從使用積分放大器讀出的電信號(hào)選擇輸出至模數(shù)轉(zhuǎn)換器的電信號(hào)的選擇器、用于切換從讀出模塊的檢測(cè)元件讀出至積分放大器的電信號(hào)的開(kāi)關(guān)電路和開(kāi)關(guān)控制電路；該開(kāi)關(guān)控制電路用于控制開(kāi)關(guān)電路，以使從讀出模塊的公共讀出模塊中相應(yīng)的檢測(cè)元件分時(shí)讀出電信號(hào)至積分放大器，以及使得以并行方式從至少兩個(gè)檢測(cè)元件讀出相應(yīng)的電信號(hào)至積分放大器，這兩個(gè)檢測(cè)元件互相在不同的讀出模塊中。
此外，在一方面中，為了實(shí)現(xiàn)該目的，本發(fā)明提供一種輻射檢測(cè)器，該輻射檢測(cè)器包括被放置在二維位置和被分離在多個(gè)讀出模塊中的多個(gè)檢測(cè)元件、用于從在各自讀出模塊中的檢測(cè)元件讀出電信號(hào)的讀出電路、用于切換從讀出模塊的檢測(cè)元件讀出至讀出電路的電信號(hào)的開(kāi)關(guān)電路和開(kāi)關(guān)控制電路；該開(kāi)關(guān)控制電路用于控制開(kāi)關(guān)電路，以使從讀出模塊的公共讀出模塊中相應(yīng)的檢測(cè)元件分時(shí)讀出電信號(hào)至讀出電路，以及使得以并行方式從至少兩個(gè)檢測(cè)元件讀出相應(yīng)的電信號(hào)至讀出電路，這兩個(gè)檢測(cè)元件互相在不同的讀出模塊中。
此外，在一方面中，為了實(shí)現(xiàn)該目的，本發(fā)明提供一種輻射檢測(cè)器，該輻射檢測(cè)器包括被放置在二維位置和被分離在多個(gè)讀出模塊中的多個(gè)檢測(cè)元件、用于從檢測(cè)元件積累電荷并從各自讀出模塊的檢測(cè)元件中讀出電信號(hào)的積分放大器、用于從使用積分放大器讀出的電信號(hào)選擇應(yīng)該輸出至模數(shù)轉(zhuǎn)換器的電信號(hào)的選擇器、用于切換從讀出模塊的檢測(cè)元件讀出至積分放大器的電信號(hào)的開(kāi)關(guān)電路和開(kāi)關(guān)控制電路；該開(kāi)關(guān)控制電路用于控制開(kāi)關(guān)電路，以使從讀出模塊的公共讀出模塊中相應(yīng)的檢測(cè)元件分時(shí)讀出電信號(hào)至積分放大器，以及使得以并行方式從至少兩個(gè)檢測(cè)元件讀出相應(yīng)的電信號(hào)至積分放大器，這兩個(gè)檢測(cè)元件互相在不同的讀出模塊中。
此外，在一方面中，為了實(shí)現(xiàn)該目的，本發(fā)明提供一種用于讀出輻射檢測(cè)器的電信號(hào)的方法，包括將被放置在二維位置中的多個(gè)檢測(cè)元件分離為多個(gè)讀出模塊，和使用分時(shí)從讀出模塊的公共讀出模塊中相應(yīng)檢測(cè)元件中讀出電信號(hào)，并以并行方式從至少兩個(gè)檢測(cè)元件讀出相應(yīng)的電信號(hào)，這兩個(gè)檢測(cè)元件互相在不同的讀出模塊中。
使用如上所述的X射線CT裝置、輻射檢測(cè)器和用于讀出輻射檢測(cè)器的電信號(hào)的方法，可以通過(guò)降低所要求的從檢測(cè)元件讀出電信號(hào)的讀出速度，簡(jiǎn)化電路布局和減少電信號(hào)的噪聲。


在附圖中圖1是顯示依據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的X射線CT裝置的結(jié)構(gòu)圖；
圖2是顯示圖1所示的X射線CT裝置20的X射線管和輻射檢測(cè)器的示意圖；圖3是示意性顯示圖2所示的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊的斜角透視圖；圖4是顯示圖3所示的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊的頂視圖；圖5是顯示圖2所示的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊中檢測(cè)元件和讀出電路的連接方法的原理圖；圖6是顯示圖5所示的經(jīng)積分放大器從檢測(cè)元件讀出電信號(hào)的時(shí)間的示意圖；圖7是顯示行和相關(guān)于讀出圖5所示的從檢測(cè)元件讀出電信號(hào)的時(shí)間之間的關(guān)系圖；圖8是顯示開(kāi)關(guān)電路的電路結(jié)構(gòu)的一個(gè)例子的示意圖，該開(kāi)關(guān)電路被布置在圖3所示的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊中；圖9是顯示電信號(hào)的讀出方向的一個(gè)例子的示意圖，該電信號(hào)來(lái)自圖5中所示的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊中的檢測(cè)元件；圖10是顯示電信號(hào)的時(shí)間的示意圖；圖11是顯示行和在以圖9所示讀出方向從檢測(cè)元件讀出電信號(hào)的時(shí)間之間的關(guān)系圖；圖12是顯示依據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的X射線CT裝置的結(jié)構(gòu)圖；圖13是顯示如圖12所示通過(guò)積分放大器從檢測(cè)元件讀出電信號(hào)的時(shí)間的示意圖；圖14是顯示從輻射檢測(cè)器輸出至A/D轉(zhuǎn)換器的電信號(hào)的順序的圖，此時(shí)圖13所示的X射線CT裝置使用0.5mm切片厚度采集X射線數(shù)據(jù)；圖15是顯示從輻射檢測(cè)器輸出至A/D轉(zhuǎn)換器的電信號(hào)的順序的圖，此時(shí)圖13所示的X射線CT裝置使用1.0mm切片厚度采集X射線數(shù)據(jù)；圖16是顯示從輻射檢測(cè)器23輸出至A/D轉(zhuǎn)換器的電信號(hào)的順序的圖，此時(shí)圖13所示的X射線CT裝置使用2.0mm切片厚度采集X射線數(shù)據(jù)；圖17是顯示一個(gè)常規(guī)二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊的示意圖；圖18是顯示圖17中所示的常規(guī)二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊的側(cè)視圖；圖19是顯示通過(guò)改進(jìn)布線模式來(lái)形成的另一個(gè)常規(guī)二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊的示意圖；
圖20是顯示二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊中檢測(cè)元件和讀出電路的連接方法圖；圖21是顯示從圖20中所示的常規(guī)檢測(cè)元件讀出電信號(hào)的時(shí)間的示意圖；具體實(shí)施方式
參考附圖將說(shuō)明，依據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的X射線CT裝置、輻射檢測(cè)器和用于讀出輻射檢測(cè)器的電信號(hào)的方法。
圖1是顯示依據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的X射線CT裝置的結(jié)構(gòu)圖。
X射線CT裝置20包括臺(tái)架21a、操作臺(tái)21b、X射線管22、和作為X射線產(chǎn)生單元的輻射檢測(cè)器23。通過(guò)在一側(cè)的X射線管22和在另一側(cè)的輻射檢測(cè)器23，將操作臺(tái)21b夾在其中。X射線管22面對(duì)在臺(tái)架21a上的輻射檢測(cè)器23。成像區(qū)域在X射線管22和輻射檢測(cè)器23之間，以及目標(biāo)(未顯示)被設(shè)置在操作臺(tái)21b上。
X射線管22連接至X射線控制/高電壓產(chǎn)生單元24。X射線控制/高電壓產(chǎn)生單元24具有將預(yù)定電能應(yīng)用至X射線管22來(lái)控制X射線管22的功能。
操作臺(tái)/臺(tái)架21被連接至驅(qū)動(dòng)操作臺(tái)/臺(tái)架控制單元25。驅(qū)動(dòng)操作臺(tái)/臺(tái)架控制單元25具有將控制信號(hào)應(yīng)用至操作臺(tái)/臺(tái)架21來(lái)控制操作臺(tái)/臺(tái)架21的功能。
具有多個(gè)檢測(cè)元件的輻射檢測(cè)器23包括用于切換檢測(cè)元件的電信號(hào)讀出的開(kāi)關(guān)電路26和用于控制開(kāi)關(guān)電路26的開(kāi)關(guān)控制電路27。輻射檢測(cè)器23被連接至數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(DAS)28，和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元29被連接至數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28。此外，數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元29均被連接至圖象重構(gòu)單元30。
輻射檢測(cè)器23通過(guò)使用檢測(cè)元件和將檢測(cè)的X射線作為電信號(hào)傳送至數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28，而具有檢測(cè)從X射線管22發(fā)射并穿過(guò)目標(biāo)的X射線的功能。
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28具有將從輻射檢測(cè)器23發(fā)射的電信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)的功能，通過(guò)各種必要處理產(chǎn)生X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)的功能，將產(chǎn)生的X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)寫(xiě)入數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元29的功能，以及傳遞X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)至圖象重構(gòu)單元30的功能。
圖象重構(gòu)單元30通過(guò)時(shí)從數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28接收的X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)或從數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元29中讀取的X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)執(zhí)行圖像重構(gòu)處理，而具有產(chǎn)生目標(biāo)圖象數(shù)據(jù)的功能。
此外，數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元29、圖象重構(gòu)單元30、驅(qū)動(dòng)操作臺(tái)/臺(tái)架控制單元25、X射線控制/高電壓產(chǎn)生單元24均被連接至中央處理單元(在下文中，被稱(chēng)作CPU)31。連接CPU31的是控制臺(tái)32、圖象處理單元33、圖象存儲(chǔ)單元34、和圖象顯示單元35。
各種程序被預(yù)先讀入CPU31。此外，CPU31具有依據(jù)來(lái)自控制臺(tái)32的操作信息、應(yīng)用控制信號(hào)來(lái)控制驅(qū)動(dòng)操作臺(tái)/臺(tái)架控制單元25和X射線控制/高電壓產(chǎn)生單元24的功能；還具有接收來(lái)自數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元29、圖象重構(gòu)單元30的圖象數(shù)據(jù)或X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)來(lái)執(zhí)行各種數(shù)據(jù)處理，以及然后將處理的數(shù)據(jù)記錄至數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元29和圖象存儲(chǔ)單元34或傳遞數(shù)據(jù)至圖象處理單元33和圖象顯示單元35的功能。
圖象處理單元33具有從CPU31接收?qǐng)D象數(shù)據(jù)來(lái)對(duì)接收數(shù)據(jù)執(zhí)行各種圖象處理，然后將數(shù)據(jù)記錄至圖象存儲(chǔ)單元34或傳遞數(shù)據(jù)和在圖象顯示單元35上顯示數(shù)據(jù)的功能。
圖2是顯示圖1所示的X射線CT裝置20中的X射線管22和輻射檢測(cè)器23的示意圖。圖3是示意性顯示圖2所示的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊的斜角透視圖。圖4是顯示圖3所示的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊的頂視圖。
X射線管22和輻射檢測(cè)器23互相面對(duì)，并且進(jìn)一步被布置在它們可以在垂直于目標(biāo)的身體軸線方向(切片方向A)附近的平面上以通道方向C轉(zhuǎn)動(dòng)的位置。輻射檢測(cè)器23包括大量沿轉(zhuǎn)動(dòng)方向的弧線密集布置的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40。二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40被連接至圖1所示的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28。
在二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40中，多個(gè)檢測(cè)元件42被布置在基片41譬如印刷電路板(在下文中，稱(chēng)為PCB)的通道方向C和切片方向A。圖3和4顯示二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40的例子，該模塊40包括對(duì)應(yīng)于切片方向A的16行的檢測(cè)元件42。為了容易理解，圖3和4顯示的例子中，通道方向C中的檢測(cè)元件42對(duì)應(yīng)于四列。
檢測(cè)元件42包括閃爍器43和光敏二極管44，并且具有檢測(cè)X射線和將檢測(cè)到的X射線轉(zhuǎn)換成電信號(hào)的功能。一般地，閃爍器43的元件數(shù)量等于光敏二極管44的元件數(shù)量。閃爍器43具有將入射在檢測(cè)元件42上的X射線轉(zhuǎn)換成光和傳遞光至光敏二極管44的功能。光敏二極管44具有將從閃爍器43接收的光轉(zhuǎn)換成電信號(hào)的功能。
由光敏二極管44轉(zhuǎn)換的電信號(hào)需要從身體軸線方向的一個(gè)方向或兩個(gè)方向采集，并引導(dǎo)至數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28，以便布置大量檢測(cè)器模塊在輻射檢測(cè)器23的轉(zhuǎn)動(dòng)方向上。因此，光敏二極管44通過(guò)譬如引線接合45的連接裝置連接至在基片41上的讀出電路。
然而，當(dāng)檢測(cè)元件42數(shù)較大、且全部檢測(cè)元件42均被一一對(duì)應(yīng)地連接至數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28時(shí)，檢測(cè)元件42的有效區(qū)域的大小被減小、并且其接線區(qū)域的大小被增加，從而阻止了通過(guò)引線在基片41上的安裝。因而，二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40包括在其任意位置的開(kāi)關(guān)電路26和開(kāi)關(guān)控制電路27，該開(kāi)關(guān)電路26用于以任意接線模式切換從檢測(cè)元件42讀出的電信號(hào)，該開(kāi)關(guān)控制電路27用于控制該開(kāi)關(guān)電路26。
通過(guò)將來(lái)自開(kāi)關(guān)控制電路27的開(kāi)關(guān)控制信號(hào)施加到開(kāi)關(guān)電路26的控制操作，對(duì)該用于讀出電信號(hào)的檢測(cè)元件42進(jìn)行切換。也就是說(shuō)，來(lái)自該多個(gè)檢測(cè)元件42的電信號(hào)是由開(kāi)關(guān)電路26進(jìn)行分時(shí)并導(dǎo)入公共度出電路。
開(kāi)關(guān)控制電路27可被布置在檢測(cè)器模塊之外。
圖5是顯示在圖2所示的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40中的檢測(cè)元件42和讀出電路的連接方法的原理圖。圖6是顯示通過(guò)圖5所示積分放大器51從檢測(cè)元件42讀出電信號(hào)的時(shí)間的示意圖。
在二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40中，用于對(duì)讀出的電信號(hào)進(jìn)行時(shí)分的目的的檢測(cè)元件42被分成多個(gè)讀出模塊，并且檢測(cè)元件42被連接至讀出電路50。此外，讀出電路50被連接至數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28。
讀出電路50包括依據(jù)讀出模塊個(gè)數(shù)的多個(gè)積分放大器51和一選擇器52。數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28包括A/D轉(zhuǎn)換器53。在單個(gè)讀出模塊中的檢測(cè)元件42連接至公共積分放大器51。此外，積分放大器51連接至公共選擇器52，和選擇器52連接至數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28的A/轉(zhuǎn)換器53。積分放大器51具有放大器控制器54。
在二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40中，將電信號(hào)在行方向的每一列時(shí)分以用于讀出操作。這里，在行方向中的一列中，檢測(cè)元件42被分為多個(gè)讀出模塊。
參考圖5，在具有與16行對(duì)應(yīng)的檢測(cè)元件42的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40中，檢測(cè)元件42在行方向上被分為四個(gè)讀出模塊(模塊1、模塊2、模塊3、和模塊4)，以及該被分為四個(gè)讀出模塊的檢測(cè)元件42分別連接至四個(gè)積分放大器51(AMP1、AMP2、AMP3、和AMP4)。
從檢測(cè)元件42的單個(gè)讀出模塊中讀出的電信號(hào)可通過(guò)開(kāi)關(guān)電路26進(jìn)行切換。連接至該讀出模塊的讀出電路50的積分放大器51可分別并行操作。在各個(gè)讀出模塊中，電信號(hào)通過(guò)開(kāi)關(guān)電路26的切換操作沿行的順序以不變的讀出方向，被從檢測(cè)元件42讀出至積分放大器51，如圖5所示。
積分放大器51存儲(chǔ)用于放大檢測(cè)元件42的電信號(hào)的電荷。預(yù)定數(shù)量的電荷被存儲(chǔ)，然后電信號(hào)被輸出至選擇器52。在選擇器52中，從積分放大器51接收的電信號(hào)被切換，然后順序地輸出至數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28的A/D轉(zhuǎn)換器53。此外，在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28的A/D轉(zhuǎn)換器53中，從檢測(cè)元件42接收的電信號(hào)順序地被轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，然后輸出給讀出電路50中的后續(xù)電路。
當(dāng)電信號(hào)被從積分放大器51輸出給選擇器52時(shí)，放大器控制器54隨時(shí)清除(初始化)存儲(chǔ)在積分放大器51中的電荷，以另外存儲(chǔ)電荷在積分放大器51中。因此，若存儲(chǔ)在一個(gè)積分放大器51中的電荷被定時(shí)清除以用于將來(lái)自單一檢測(cè)元件42的電荷存儲(chǔ)在積分放大器51中，則單獨(dú)檢測(cè)元件42產(chǎn)生電信號(hào)。若存儲(chǔ)在一個(gè)積分放大器51中的電荷被定時(shí)清除以用于將來(lái)自多個(gè)檢測(cè)元件42的電荷存儲(chǔ)在積分放大器51中，則響應(yīng)于該多個(gè)檢測(cè)元件42而產(chǎn)生一個(gè)電信號(hào)。
雖然開(kāi)關(guān)電路26可被布置在每個(gè)檢測(cè)元件42處，但開(kāi)關(guān)電路26也可被布置在與檢測(cè)元件42分離的任意位置處，并且具有切換檢測(cè)元件42的功能。參考圖5，為了容易理解，開(kāi)關(guān)電路26一般被布置在每個(gè)檢測(cè)元件42處。
圖6的水平軸顯示電信號(hào)的讀出時(shí)間。參考圖6，通過(guò)開(kāi)關(guān)電路26在每一個(gè)讀出模塊(模塊1、模塊2、模塊3、和模塊4)順序地切換這些行中檢測(cè)元件42的電信號(hào)(1至16)，并且通過(guò)積分放大器51(AMP1、AMP2、AMP3、和AMP4)讀出電信號(hào)。即，被連接至模塊1中檢測(cè)元件42的積分放大器51(AMP1)順序地從包含行1、行2、行3、和行4的四行中的檢測(cè)元件42讀出電信號(hào)。
此外，被連接至模塊2中的檢測(cè)元件42的積分放大器51(AMP2)順序地從包含行5、行6、行7、和行8的四行中的檢測(cè)元件42讀出電信號(hào)。前述這些也適用于模塊3和模塊4。
開(kāi)關(guān)控制電路27施加至開(kāi)關(guān)電路26的轉(zhuǎn)換控制信號(hào)通過(guò)積分放大器51調(diào)整每一個(gè)讀出模塊的檢測(cè)元件42電信號(hào)的讀出時(shí)間。
由積分放大器51讀出并經(jīng)過(guò)后面選擇器52的電信號(hào)被數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28的A/D轉(zhuǎn)換器53轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)。由于A/D轉(zhuǎn)換器53通常被布置到多個(gè)積分放大器51，則積分放大器51的電信號(hào)被順序地輸出至A/A轉(zhuǎn)換器53。因此，積分放大器51的電信號(hào)需要經(jīng)過(guò)時(shí)間延遲而輸出至公共的A/D轉(zhuǎn)換器53，以使A/D轉(zhuǎn)換器53順序地轉(zhuǎn)換電信號(hào)為數(shù)字信號(hào)。
例如，作為模塊2中第一個(gè)讀出的、行5中檢測(cè)元件42電信號(hào)的讀出時(shí)間被設(shè)定成，在作為模塊1中第一個(gè)讀出的、行1中檢測(cè)元件42電信號(hào)的讀出時(shí)間和作為模塊2中第二個(gè)讀出的、行2中檢測(cè)元件42電信號(hào)的讀出時(shí)間之間。因而，可確保用于A/D轉(zhuǎn)換器53至少讀出電信號(hào)的必需時(shí)間延遲Δt。
在這種情況中，用于通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器53至少讀出電信號(hào)必需的時(shí)間延遲Δt短于用于通過(guò)積分放大器51存儲(chǔ)電荷必需的時(shí)間t。該電荷部分地被并行存儲(chǔ)在積分放大器51中。因而，就整個(gè)讀出電路50而言，減少了電信號(hào)的讀出時(shí)間。
類(lèi)似地，模塊3和模塊4的電信號(hào)的讀出時(shí)間被偏移，因此，在行方向上以如圖6所示的行1、行5、行9、行13、行2、......和行16的讀出順序從如圖5所示的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40的列中讀出電信號(hào)。
這里，存儲(chǔ)在積分放大器51中的電荷被清除，在電信號(hào)從單一檢測(cè)元件讀出至積分放大器51的時(shí)間。此外，當(dāng)多個(gè)相鄰檢測(cè)元件42的電信號(hào)被讀出至積分放大器51時(shí)，存儲(chǔ)在積分放大器51中的電荷可被清除。放大器控制器54控制用于清除存儲(chǔ)在積分放大器51中電荷的時(shí)間，如上所述。
當(dāng)多個(gè)相鄰檢測(cè)元件42的電信號(hào)被讀出至積分放大器51、然后積分放大器51輸出電信號(hào)至A/D轉(zhuǎn)換器53、并且存儲(chǔ)在積分放大器51中的電荷被清除時(shí)，電信號(hào)可以在依據(jù)切片厚度而定的時(shí)間讀出。即，當(dāng)在切片方向A上基于多個(gè)相鄰檢測(cè)元件42的電荷而產(chǎn)生一個(gè)電信號(hào)時(shí)，可使用依據(jù)檢測(cè)元件42數(shù)的該切片厚度采集X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)。
例如，在使用0.5mm切片厚度從單一檢測(cè)元件42采集X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)的情況下，電信號(hào)在將切片方向A上相鄰兩個(gè)檢測(cè)元件42的電荷存儲(chǔ)至積分放大器51時(shí)，被輸出至A/D轉(zhuǎn)換器53，并在此后清除存儲(chǔ)在積分放大器51中的電荷，從而使用1mm切片厚度采集X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)。
圖7是顯示行和基于讀出圖5所示檢測(cè)元件42電信號(hào)的時(shí)間之間的關(guān)系圖。
參考圖7，垂直軸顯示電信號(hào)的讀出時(shí)間，和水平軸顯示讀出電信號(hào)的檢測(cè)元件42的行。檢測(cè)元件42在行方向上被分成讀出模塊，并且以并行方式在每一個(gè)讀出模塊中操作。因此，用于依據(jù)時(shí)間而增加行的朝向右上直線的數(shù)量對(duì)應(yīng)于讀出模塊的數(shù)量，如圖7所示。此外，由于每一讀出模塊的讀出時(shí)間被偏移，則直線依據(jù)該讀出模塊在時(shí)間方向被偏移。
圖8是顯示被布置在圖3中所示的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40中的開(kāi)關(guān)電路26電路結(jié)構(gòu)的一個(gè)例子的示意圖。閃爍器43沒(méi)有在圖7中顯示。
參考圖7，二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40包括例如以二維矩陣形式布置在基片41上的多個(gè)檢測(cè)元件42。參考圖8，二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40具有在切片方向A上與16行對(duì)應(yīng)的檢測(cè)元件42，為了容易理解，在通道方向C上檢測(cè)元件42的列數(shù)是3。
在二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40中，作為開(kāi)關(guān)電路26的晶體管開(kāi)關(guān)60被單獨(dú)布置在檢測(cè)元件42的光敏二極管44的輸出側(cè)。此外，檢測(cè)元件42被分成為多個(gè)讀出模塊，例如在切片方向A上每四行的四個(gè)讀出模塊(模塊1、模塊2、模塊3、和模塊4)。在公共讀出模塊的單一列中的光敏二極管44被經(jīng)晶體管開(kāi)關(guān)60連接至公共信號(hào)線61，以及在單一行中的光敏二極管44的晶體管開(kāi)關(guān)60被連接至公共控制線62。
控制線62被連接至開(kāi)關(guān)控制電路27。開(kāi)關(guān)控制電路27具有的功能為通過(guò)將開(kāi)關(guān)控制信號(hào)經(jīng)公共控制線62施加至形成開(kāi)關(guān)電路26的晶體管開(kāi)關(guān)60，在任意時(shí)間將被連接至公共控制線62的單一列中的晶體管開(kāi)關(guān)60設(shè)置成激活狀態(tài)。從而，開(kāi)關(guān)控制信號(hào)被施加至在不同讀出模塊中的多個(gè)控制線62，以將在多個(gè)行和列中的開(kāi)關(guān)電路26設(shè)置成激活。在不同讀出模塊中的晶體管開(kāi)關(guān)60以并行方式被操作，以同時(shí)地讀出在多個(gè)行和列中的光敏二極管44的電信號(hào)。此外，在對(duì)開(kāi)關(guān)控制信號(hào)的時(shí)間進(jìn)行控制操作的情況下，在公共讀出模塊中的光敏二極管44的電信號(hào)在行方向被分時(shí)。
布置到二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40的開(kāi)關(guān)電路26的電路結(jié)構(gòu)不限于如圖8所示的電路模式，可通過(guò)組合積分器和譬如MUX(多路復(fù)用器)的開(kāi)關(guān)而構(gòu)造，類(lèi)似于常規(guī)二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊1。
接下來(lái)，將說(shuō)明X射線CT裝置的操作。
首先，目標(biāo)(未顯示)被安置在操作臺(tái)21b。輸入控制臺(tái)32的操作信息傳遞給CPU31，預(yù)先被讀入CPU31的各種程序被執(zhí)行，以及控制信號(hào)被傳遞給驅(qū)動(dòng)操作臺(tái)/臺(tái)架控制單元25和X射線控制/高電壓發(fā)生單元24。即，CPU31的控制信號(hào)控制驅(qū)動(dòng)操作臺(tái)/臺(tái)架控制單元25和X射線控制/高電壓發(fā)生單元24，操作臺(tái)21b被驅(qū)動(dòng)至由控制臺(tái)32設(shè)定的位置，并且從X射線管22使用X射線以設(shè)定的狀態(tài)對(duì)目標(biāo)進(jìn)行照射。
照射目標(biāo)的X射線被發(fā)射并穿過(guò)目標(biāo)，并入射在圖2所示的輻射檢測(cè)器23的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40。即，發(fā)射并穿過(guò)目標(biāo)的X射線被入射至多個(gè)檢測(cè)元件42的閃爍器43，如圖3、4、或8所示，該檢測(cè)元件42被二維布置在二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40的基片41的切片方向A和通道方向C。
閃爍器43轉(zhuǎn)換入射X射線為光，并傳遞該光至光敏二極管44。光敏二極管44轉(zhuǎn)換從閃爍器43接收的光為電信號(hào)。在如圖8所示的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40的例子中，轉(zhuǎn)換的電信號(hào)被作為電荷暫時(shí)存儲(chǔ)在光敏二極管44中。
開(kāi)關(guān)控制電路27使用預(yù)定時(shí)間延遲，來(lái)將開(kāi)關(guān)控制信號(hào)經(jīng)控制線62傳送至讀出模塊的讀出電路50的行中的晶體管開(kāi)關(guān)60。例如，開(kāi)關(guān)控制電路27以模塊1、模塊2、模塊3、和模塊4的行1、行5、行9、和行13的順序傳遞開(kāi)關(guān)控制信號(hào)至晶體管開(kāi)關(guān)60，從而將晶體管開(kāi)關(guān)60設(shè)置成激活。
在這個(gè)例子中，傳遞給不同讀出模塊中晶體管開(kāi)關(guān)60的開(kāi)關(guān)控制信號(hào)的延遲時(shí)間被設(shè)定為用于通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器53讀出電信號(hào)必需的時(shí)間延遲Δt。
因此，電信號(hào)被以行1、行5、行9、和行13的順序從光敏二極管44中讀出。
開(kāi)關(guān)控制電路27經(jīng)控制線62根據(jù)預(yù)定延遲時(shí)間，將開(kāi)關(guān)控制信號(hào)傳送至讀出模塊中與電信號(hào)被讀出完畢的行的相鄰行中的晶體管開(kāi)關(guān)60，即，行2、行6、行10、和行14中的晶體管開(kāi)關(guān)60。
在這個(gè)例子中，傳遞給公共讀出模塊中晶體管開(kāi)關(guān)60的開(kāi)關(guān)控制信號(hào)的延遲時(shí)間可被設(shè)定為用于存儲(chǔ)電荷在積分放大器51中所必需的全部時(shí)間t。
此外，在通過(guò)開(kāi)關(guān)控制電路27的開(kāi)關(guān)控制信號(hào)對(duì)晶體管開(kāi)關(guān)60的控制操作下，在讀出模塊中的晶體管開(kāi)關(guān)60被并行操作。從而電信號(hào)被從光敏二極管44以圖6所示讀出順序讀出至積分放大器51。即，時(shí)分電信號(hào)被從公共讀出模塊的光敏二極管44中經(jīng)信號(hào)線61順序讀出至積分放大器51。并且電信號(hào)根據(jù)讀出時(shí)間的偏移部分并行地從不同讀出模塊中的光二極管44經(jīng)信號(hào)線61讀出至積分放大器51。
也就是說(shuō)，四個(gè)積分放大器51(AMPs)共用和讀出對(duì)應(yīng)于16行的光敏二極管44的電信號(hào)。因此，對(duì)應(yīng)于一個(gè)積分器51(AMP)的4行的數(shù)據(jù)可被一次采集。若輻射檢測(cè)器23每秒采集900次數(shù)據(jù)，則對(duì)應(yīng)于一次的數(shù)據(jù)需要在1.111ms的時(shí)間里被采集。因而，對(duì)于一個(gè)積分放大器51(AMP)，電信號(hào)需要在1.111ms的時(shí)間里從對(duì)應(yīng)于4行的檢測(cè)元件42中讀出，以及讀出速度是0.069ms每行。
也就是說(shuō)，具有如圖5或8所示的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40的輻射檢測(cè)器23具有作為X射線檢測(cè)信號(hào)的電信號(hào)的讀出速度，該速度與具有常規(guī)的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊1、1A的輻射檢測(cè)器的電信號(hào)讀出速度相比是減小的。
在具有如圖5或8所示的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40的輻射檢測(cè)器23中，公共讀出模塊的多個(gè)光敏二極管44經(jīng)晶體管開(kāi)關(guān)60連接多個(gè)公共信號(hào)線61。從而，減少了信號(hào)線61的數(shù)量，抑制了檢測(cè)元件42的有效區(qū)域的減少和引線區(qū)域的增加，并且簡(jiǎn)化了在基片上的安裝和引線。因此，減小了電信號(hào)的噪聲。
如上所述，在晶體管開(kāi)關(guān)60的控制操作下從光敏二極管44讀出的電信號(hào)，被傳遞給使用引線結(jié)合45布置在基片41上的讀出電路50的積分放大器51。
積分放大器51存儲(chǔ)從讀出模塊的光敏二極管44讀出的電信號(hào)的電荷。通過(guò)選擇器52的操作，積分放大器51將電信號(hào)順序地輸出至圖1中所示數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28的A/D轉(zhuǎn)換器53，該電信號(hào)是作為X射線檢測(cè)信號(hào)以預(yù)定讀出順序從輻射檢測(cè)器23輸出的。
在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28中，A/D轉(zhuǎn)換器53轉(zhuǎn)換從輻射檢測(cè)器23接收到的電信號(hào)為數(shù)字信號(hào)，并由各種必需的處理操作產(chǎn)生X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)。通過(guò)在轉(zhuǎn)動(dòng)平面上一個(gè)周期(大約180°或大約360°)的轉(zhuǎn)動(dòng)來(lái)采集X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)。采集的X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)被寫(xiě)入和存儲(chǔ)到數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元29。
此外，圖象重構(gòu)單元30從數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28接收X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)，或從數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元29讀出X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)，然后執(zhí)行圖象重構(gòu)處理，從而重構(gòu)目標(biāo)的圖象數(shù)據(jù)。重構(gòu)的圖象數(shù)據(jù)被傳遞給CPU31，從而CPU31實(shí)施圖象數(shù)據(jù)的各種數(shù)據(jù)處理操作，并將數(shù)據(jù)記錄至圖像存儲(chǔ)單元34。若需要，圖象處理單元33對(duì)圖象數(shù)據(jù)實(shí)施各種成像處理。
顯示目標(biāo)斷層攝影圖像的最終產(chǎn)生的圖象數(shù)據(jù)被傳遞和顯示在圖像顯示單元35。通過(guò)減少在輻射檢測(cè)器23中的信號(hào)線61的數(shù)量和簡(jiǎn)化在基片41上的安裝以減少圖象質(zhì)量的劣化，從而減少了在用于產(chǎn)生圖象數(shù)據(jù)的電信號(hào)中的噪聲。
接下來(lái)，說(shuō)明依據(jù)改良實(shí)施例的X射線CT裝置20。
參考圖6，在二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40中，其中檢測(cè)元件42如圖5所示通過(guò)用于每一個(gè)讀出模塊的開(kāi)關(guān)電路26而被連接至公共積分放大器51，來(lái)自讀出模塊的檢測(cè)元件42的電信號(hào)的讀出順序具有相同的行序，即，來(lái)自較接近積分放大器51的行的電信號(hào)被優(yōu)先讀出，并且在來(lái)自相鄰行的檢測(cè)元件42的電信號(hào)的讀出時(shí)間之間有一個(gè)長(zhǎng)時(shí)間延遲。
例如，當(dāng)與16行對(duì)應(yīng)的檢測(cè)元件42被分成為用于4行的四個(gè)讀出模塊(模塊1、模塊2、模塊3、和模塊4)時(shí)，在讀出模塊中首先讀出的行1、行5、行9、和行13的讀出時(shí)間與在讀出模塊中最后讀出的行4、行8、行12、和行16的讀出時(shí)間之間的時(shí)間延遲，是對(duì)應(yīng)于近似一個(gè)視圖的時(shí)間(1.111ms)。
因此，相鄰行(行4和5、行8和9、以及行12和13)的讀出時(shí)間偏移了近乎一個(gè)采樣周期。這樣，由于從通過(guò)上述采樣獲得的電信號(hào)產(chǎn)生圖像數(shù)據(jù)，從而降低圖像質(zhì)量是很危險(xiǎn)的。
為了解決上述問(wèn)題，在單一讀出模塊的行中，檢測(cè)元件42的電信號(hào)的讀出方向，即讀出順序，可被調(diào)整以減少與相鄰行的檢測(cè)元件42的電信號(hào)讀出時(shí)間之間的差異。開(kāi)關(guān)控制電路27可具有改變被傳遞給開(kāi)關(guān)電路26的開(kāi)關(guān)控制信號(hào)順序的功能，以執(zhí)行上述調(diào)整。
圖9是顯示電信號(hào)的讀出方向的一個(gè)例子的示意圖，該電信號(hào)來(lái)自圖5中所示的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40中的檢測(cè)元件42。
參考圖9，電信號(hào)的讀出方向可根據(jù)開(kāi)關(guān)控制電路27傳遞給開(kāi)關(guān)電路26的開(kāi)關(guān)控制信號(hào)被控制，以反轉(zhuǎn)在相鄰讀出模塊中的電信號(hào)的讀出方向。例如，電信號(hào)以模塊1中行1、行2、行3、和行4的順序被讀出，并且電信號(hào)以與模塊1相鄰的模塊2中行8、行7、行6、和行5的順序被讀出，即，模塊1中電信號(hào)讀出方向的相反方向。
圖10是顯示由圖9所示的積分放大器51從檢測(cè)元件42讀出電信號(hào)的時(shí)間的示意圖。
參考圖10，水平軸顯示電信號(hào)的讀出時(shí)間。作為讀出目標(biāo)的行和讀出時(shí)間的關(guān)系，以及讀出行的順序，基于以圖9所示讀出方向從讀出模塊中各行的檢測(cè)元件讀出電信號(hào)而顯示在圖10中。
即，積分放大器51(AMP1)以行1、行2、行3、和行4的順序讀出模塊1的電信號(hào)。積分放大器51(AMP2)以行8、行7、行6、和行5的順序讀出模塊2的電信號(hào)。同樣地，積分放大器51(AMP3和AMP4)分別地以與模塊1相同的方向讀出模塊3的電信號(hào)，以與模塊2相同的方向讀出模塊4的電信號(hào)。
在讀出模塊中電信號(hào)的讀出時(shí)間被相互地偏移，從而將讀出電信號(hào)的操作設(shè)置成以模塊1、模塊2、模塊3、和模塊4的順序并行操作。因此，在圖9中所示的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40的列中在行方向讀出電信號(hào)的順序是行1、行8、行9、行16、行2、...、行16，如圖10所示。具體地，與在模塊1中最后出的行4相鄰的下一個(gè)讀出行是模塊2中的行5，與在模塊2中首先讀出的行8相鄰的下一個(gè)讀出行是模塊3中的行9，以及與在模塊3中最后讀出的行12相鄰的下一個(gè)讀出行是模塊4中的行13。
即，為了減少在從相鄰行讀出電信號(hào)的讀出時(shí)間之間的時(shí)間延遲，電信號(hào)的讀出順序或讀出方向由從開(kāi)關(guān)控制電路27傳遞給開(kāi)關(guān)電路26的開(kāi)關(guān)控制信號(hào)控制。
圖11是顯示在以圖9所示讀出方向讀出檢測(cè)元件42的電信號(hào)的行和時(shí)間之間的關(guān)系圖。
參考圖11，垂直軸顯示電信號(hào)的讀出時(shí)間，和水平軸顯示讀出電信號(hào)的檢測(cè)元件42的行。檢測(cè)元件42被分為在行方向的讀出模塊，并在讀出方向上依賴(lài)于相鄰讀出模塊的變化而以并行方式操作。如圖11所示，依據(jù)時(shí)間增加行數(shù)的向右上的直線和依據(jù)時(shí)間減少行數(shù)的向左上的直線交替布置，向右上的直線數(shù)和向左上的直線數(shù)之和就是讀出模塊數(shù)。由于每個(gè)讀出模塊的讀出時(shí)間被偏移，因此，直線也依據(jù)讀出模塊而在時(shí)間方向上被偏移。
上面讀出的電信號(hào)被施加至數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28并轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，以產(chǎn)生X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)。此外，圖像圖構(gòu)單元30實(shí)施數(shù)據(jù)的圖象重構(gòu)處理，從而重構(gòu)圖象數(shù)據(jù)。在這個(gè)例子中，相鄰行中的輻射檢測(cè)器23的檢測(cè)元件42的電信號(hào)被使用短時(shí)間延遲讀出，并被用作重構(gòu)圖象數(shù)據(jù)的X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)。因此，抑制了圖象數(shù)據(jù)的圖象質(zhì)量的惡化。
使用上述X射線CT裝置20和輻射檢測(cè)器23，降低了對(duì)從控測(cè)元件42讀出電信號(hào)的讀出速度的要求，從而簡(jiǎn)化了電路設(shè)計(jì)和減小了電信號(hào)的噪聲。
即，將開(kāi)關(guān)電路26布置到二維布置在輻射檢測(cè)器23中的檢測(cè)元件42，檢測(cè)元件42在行方向上分為讀出模塊，開(kāi)關(guān)電路26以并行方式工作于不同讀出模塊之間，從而以并行方式讀出電信號(hào)。開(kāi)關(guān)電路26在相同讀出模塊中時(shí)分電信號(hào)，并順序讀出電信號(hào)。這樣，用于電信號(hào)讀出的信號(hào)線61的數(shù)量被減少，作為積分放大器51之一的讀出目標(biāo)的檢測(cè)元件42的數(shù)量被減少。從而降低了用于電信號(hào)讀出的讀出電路50的工作速度。
因此，簡(jiǎn)化了輻射檢測(cè)器23的電路設(shè)計(jì)，以及減小了電信號(hào)的噪聲。并且降低了電信號(hào)讀出的速度，從而緩解了物理限制。二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40和檢測(cè)元件42可被密集布置，從而可經(jīng)信號(hào)線61連接至后級(jí)的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)28。
在這個(gè)例子中，沒(méi)有在二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40中布置任何特定計(jì)算電路比如積分器，而僅僅開(kāi)關(guān)電路26的控制時(shí)間可被調(diào)整，從而實(shí)施各種處理操作包含電信號(hào)讀出時(shí)間和讀出順序的簡(jiǎn)單模擬調(diào)整、以及從檢測(cè)元件42讀出的電信號(hào)的其他處理。與之相反，通過(guò)在檢測(cè)元件42附近布置電荷/電壓轉(zhuǎn)換電路譬如積分器，減少了電路間隙，提高了響應(yīng)速度，改善了噪聲性能。
通過(guò)變化每個(gè)讀出模塊電信號(hào)的讀出方向，減少了相鄰行檢測(cè)元件42的電信號(hào)讀出時(shí)間之間的時(shí)間延遲，從而抑制了圖象數(shù)據(jù)的圖象質(zhì)量惡化。
圖12是顯示依據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的X射線CT裝置的結(jié)構(gòu)圖。
參考圖12，X射線CT裝置20A不同于圖1所示的X射線CT裝置20，表現(xiàn)在檢測(cè)元件42的數(shù)量、積分放大器51的數(shù)量和檢測(cè)元件42的讀出模塊的劃分方法上。其他結(jié)構(gòu)和操作與圖1所示的X射線CT裝置20基本上相同。因此，只有檢測(cè)元件42、積分放大器51和相關(guān)部件被顯示，相同參考數(shù)字表示相同部件，其說(shuō)明被省略。
X射線CT裝置20A的輻射檢測(cè)器23包括具被二維布置的檢測(cè)元件42(480行×24列)的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40。參考圖12，考慮單一列。
檢測(cè)元件42被在切片方向A上分為多個(gè)例如兩個(gè)A/D轉(zhuǎn)換模塊。該A/D轉(zhuǎn)換模塊中的檢測(cè)元件42被分為多個(gè)例如四個(gè)讀出模塊(模塊1、模塊2、模塊3、和模塊4)。該讀出模塊不僅包含在切片方向A上的相鄰檢測(cè)元件42的組，還包含有在切片方向A上的不相鄰檢測(cè)元件42的組。因此，檢測(cè)元件42被分為總共8個(gè)讀出模塊。
參考圖12，四個(gè)相鄰檢測(cè)元件42被設(shè)置為一個(gè)元件組，相鄰的元件組被順序設(shè)置為四個(gè)不同讀出模塊。包括四個(gè)相鄰檢測(cè)元件42的間隔的元件組被包含在公共讀出模塊中。
讀出模塊中的檢測(cè)元件42通過(guò)開(kāi)關(guān)電路26被切換連接至公共積分放大器51。因而，積分放大器51的數(shù)量等于讀出模塊的數(shù)量。此外，被連接至在A/D轉(zhuǎn)換模塊中檢測(cè)元件42的積分放大器51經(jīng)公共選擇器52被切換連接至一個(gè)公共A/D轉(zhuǎn)換器53。類(lèi)似地，被連接至另一個(gè)A/D轉(zhuǎn)換模塊中檢測(cè)元件42的積分放大器51經(jīng)公共選擇器52被切換連接至另一個(gè)公共A/D轉(zhuǎn)換器53。
積分放大器51具有在任意時(shí)刻清除存儲(chǔ)在積分放大器51中的電荷的放大器控制器54。
在X射線CT裝置20A中，從一個(gè)A/D轉(zhuǎn)換塊中的檢測(cè)元件42讀出至積分放大器51的電信號(hào)讀出方向，與從另一個(gè)A/D轉(zhuǎn)換模塊中的檢測(cè)元件42讀出至積分放大器51的電信號(hào)讀出方向相反。
圖13是顯示從圖9所示的積分放大器51中的檢測(cè)元件42讀出電信號(hào)的時(shí)間的示意圖。
在圖13中，水平軸表示時(shí)間。參考圖13，在通過(guò)積分放大器51從A/D轉(zhuǎn)換模塊中的檢測(cè)元件42讀出電信號(hào)。公共讀出模塊的電信號(hào)被時(shí)分和讀出。然而，不同讀出模塊的電信號(hào)被以并行方式讀出。通過(guò)積分放大器51A/D轉(zhuǎn)換塊中的檢測(cè)元件42中讀出的電信號(hào)被設(shè)定為相應(yīng)于A/D轉(zhuǎn)換器53的讀出時(shí)間的時(shí)間延遲Δt。在另一方面，因電信號(hào)被輸出至單獨(dú)的A/D轉(zhuǎn)換器53，所以通過(guò)積分放大器51從不同A/D轉(zhuǎn)換模塊中的檢測(cè)元件42讀出的電信號(hào)不被設(shè)定為時(shí)間延遲Δt。
此外，從不同A/D轉(zhuǎn)換模塊中的檢測(cè)元件42讀出電信號(hào)的方向互相相反，以減少在X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)中引起的時(shí)間延遲，該X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)通過(guò)在不同A/D轉(zhuǎn)換模塊中相鄰布置的檢測(cè)元件42(特別地，在第241行和第240行中的檢測(cè)元件42)獲得。
在X射線CT裝置20A中，布置了多個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器53，檢測(cè)元件42在切片方向A上分為A/D轉(zhuǎn)換模塊，以及該檢測(cè)元件42又進(jìn)一步分為多個(gè)讀出模塊。從而，積分放大器51能從每一個(gè)A/D轉(zhuǎn)換模塊和每一個(gè)讀出模塊中以互相并行的方式讀出檢測(cè)元件42的電信號(hào)。與圖1所示的X射線CT裝置20類(lèi)似，可使用較短時(shí)間從具有大量行的實(shí)際的二維光敏二極管陣列檢測(cè)器模塊40讀出電信號(hào)。
與圖1中所示的X射線CT裝置20類(lèi)似，在X射線CT裝置20A中，在通過(guò)放大器控制器54用于清除存儲(chǔ)在積分放大器51中電荷的定時(shí)控制操作下，輻射檢測(cè)器23依據(jù)切片厚度采集X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)。
圖14是顯示從輻射檢測(cè)器23輸出至A/D轉(zhuǎn)換器53的電信號(hào)的順序的圖，此時(shí)圖13所示的X射線CT裝置20A使用0.5mm厚切片采集X射線數(shù)據(jù)。圖15是顯示從輻射檢測(cè)器23輸出至A/D轉(zhuǎn)換器53的電信號(hào)的順序圖，此時(shí)圖13所示的X射線CT裝置20A使用1.0mm厚切片采集X射線數(shù)據(jù)。圖16是顯示從輻射檢測(cè)器23輸出至A/D轉(zhuǎn)換器53的電信號(hào)的順序圖，此時(shí)圖13所示的X射線CT裝置20A使用2.0mm厚切片采集X射線數(shù)據(jù)。
切片厚度被設(shè)定作為掃描條件。依據(jù)這個(gè)設(shè)定的切片厚度，對(duì)各個(gè)檢測(cè)元件、積分放大器51、選擇器52等的控制順序?qū)⒈桓淖儭?br> 參考圖14、15和16，方格表示檢測(cè)元件42，方格中的參考數(shù)字表示輸出至A/D轉(zhuǎn)換器53的電信號(hào)順序。圖14、15、和16是顯示(480行×24列)的檢測(cè)元件42的二維布置的示意圖。現(xiàn)假定，單一檢測(cè)元件42檢測(cè)使用0.5mm厚切片的X射線數(shù)據(jù)。
參考圖14，在通過(guò)開(kāi)關(guān)電路26切換將電荷施加至積分放大器51的檢測(cè)元件42，積分放大器51在各個(gè)時(shí)間順序輸出電信號(hào)至A/D轉(zhuǎn)換器53，并且放大器控制器54清除存儲(chǔ)在積分放大器51中的電荷。從而，A/D轉(zhuǎn)換器53順序讀出等于從各個(gè)檢測(cè)元件積累的電荷總值的電信號(hào)。因此，通過(guò)以如圖14所示的時(shí)間和順序輸出電信號(hào)至A/D轉(zhuǎn)換器53，而使用0.5mm厚切片采集X射線數(shù)據(jù)。
參考圖15，通過(guò)開(kāi)關(guān)電路26每次切換兩次將電荷施加至積分放大器51的檢測(cè)元件42，積分放大器51順序輸出電信號(hào)至A/D轉(zhuǎn)換器53。然后，通過(guò)使用放大器控制器54清除存儲(chǔ)在積分放大器51中的電荷，A/D轉(zhuǎn)換器53順序讀出一個(gè)等于在切片方向A上兩個(gè)相鄰檢測(cè)元件積累的電荷總值的電信號(hào)。因此，通過(guò)以圖15所示的時(shí)間和順序輸出電信號(hào)至A/D轉(zhuǎn)換器53，使用1mm厚切片采集X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)。
類(lèi)似地，參考圖16，通過(guò)開(kāi)關(guān)電路26每次切換兩次將電荷施加至積分放大器51的檢測(cè)元件42，積分放大器51順序輸出電信號(hào)至A/D轉(zhuǎn)換器53。然后，通過(guò)使用放大器控制器54清除存儲(chǔ)在積分放大器51中的電荷，A/D轉(zhuǎn)換器53順序讀出一個(gè)等于在切片方向A四個(gè)相鄰檢測(cè)元件的電荷總值的電信號(hào)。因此，通過(guò)以圖15所示的時(shí)間和順序輸出電信號(hào)至A/D轉(zhuǎn)換器53，使用2mm厚切片采集X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)。
在使用1mm或2mm厚切片采集X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)的情況下，從檢測(cè)元件42至積分放大器51的讀出電信號(hào)的順序與圖15所示的讀出順序相同。
通過(guò)調(diào)整輸出至A/D轉(zhuǎn)換器的電信號(hào)的定時(shí)，可容易地使用理想的切片厚度采集X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)。
在依據(jù)第一和第二實(shí)施例的X射線CT裝置20和X射線CT裝置20A中，檢測(cè)元件42可包含存儲(chǔ)電荷的第一存儲(chǔ)元件和第二存儲(chǔ)元件，以降低積分放大器51從切片方向A上的相鄰檢測(cè)元件42讀出電信號(hào)的時(shí)間延遲。在第一存儲(chǔ)元件暫時(shí)存儲(chǔ)電荷后，同時(shí)或具有一個(gè)短時(shí)間延遲地，電荷被從第一存儲(chǔ)元件傳遞至第二存儲(chǔ)元件，并且積分放大器51從第二存儲(chǔ)元件中讀出電信號(hào)。
此外，在依據(jù)第二實(shí)施例的X射線CT裝置20A中，積分放大器51讀出電信號(hào)的方向被改變?yōu)榕c每個(gè)A/D轉(zhuǎn)換模塊相反。另外，電信號(hào)的讀出方向可被改變?yōu)榕c每個(gè)相鄰讀出模塊相反，以使在讀出模塊的至少一個(gè)邊界附近的電信號(hào)的讀出時(shí)間變得互相接近。上述讀出方向使X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)的采集在切片方向上具有較短的時(shí)間延遲。
權(quán)利要求
1.一種X射線CT裝置，包括X射線發(fā)生單元，用于將X射線照射至目標(biāo)；和輻射檢測(cè)器，用于檢測(cè)透射過(guò)目標(biāo)的X射線；其中輻射檢測(cè)器包含多個(gè)檢測(cè)元件，被放置成二維位置以及分離成多個(gè)讀出模塊；讀出電路，用于從在各個(gè)讀出模塊中的檢測(cè)元件讀出電信號(hào)；開(kāi)關(guān)電路，用于切換從讀出電路中的檢測(cè)元件讀出至讀出電路的電信號(hào)；和開(kāi)關(guān)控制電路，用于控制開(kāi)關(guān)電路，以使得從讀出模塊的公共讀出模塊中相應(yīng)的檢測(cè)元件分時(shí)讀出電信號(hào)至讀出電路，以及使得以并行方式從至少兩個(gè)檢測(cè)元件讀出相應(yīng)的電信號(hào)至讀出電路，這兩個(gè)檢測(cè)元件彼此在不同的讀出模塊中。
2.依據(jù)權(quán)利要求1的X射線CT裝置，其中輻射檢測(cè)器配置成通過(guò)控制開(kāi)關(guān)電路，使在每個(gè)讀出模塊中的分時(shí)電信號(hào)讀出順序是可變的。
3.依據(jù)權(quán)利要求1的X射線CT裝置，其中開(kāi)關(guān)電路配置有晶體管開(kāi)關(guān)，該晶體管開(kāi)關(guān)是分離的和二維布置在包含于檢測(cè)元件中的光敏二極管的輸出側(cè)的。
4.依據(jù)權(quán)利要求1的X射線CT裝置，其中開(kāi)關(guān)控制電路被配置成，改變?cè)诿總€(gè)讀出模塊中分時(shí)電信號(hào)的讀出方向，以使至少兩個(gè)分時(shí)電信號(hào)的讀出時(shí)間變得互相靠近，該兩個(gè)電信號(hào)在讀出模塊的至少一個(gè)邊界附近。
5.依據(jù)權(quán)利要求1的X射線CT裝置，其中讀出電路被配置成，依據(jù)作為掃描條件而設(shè)置的切片厚度在某一時(shí)刻讀出分時(shí)電信號(hào)。
6.依據(jù)權(quán)利要求1的X射線CT裝置，其中至少一個(gè)讀出模塊包含第一檢測(cè)元件組，包含屬于相鄰行的一些檢測(cè)元件；和第二檢測(cè)元件組，包含屬于其他相鄰行的其他檢測(cè)元件，該第二檢測(cè)元件組與第一檢測(cè)元件組分離。
7.一種X射線CT裝置，包括X射線發(fā)生單元，用于將X射線照射至目標(biāo)；輻射檢測(cè)器，用于檢測(cè)透射過(guò)目標(biāo)的X射線；和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，用于積累被檢測(cè)至輻射檢測(cè)器的X射線檢測(cè)數(shù)據(jù)；其中輻射檢測(cè)器包含多個(gè)檢測(cè)元件，被放置成二維位置以及分離成多個(gè)讀出模塊；積分放大器，用于從檢測(cè)元件積累電荷和從各個(gè)讀出模塊的檢測(cè)元件中讀出電信號(hào)；選擇器，用于從使用積分放大器讀出的電信號(hào)中選擇電信號(hào)輸出至模數(shù)轉(zhuǎn)換器；開(kāi)關(guān)電路，用于切換從讀出模塊的檢測(cè)元件讀出至積分放大器的電信號(hào)；和開(kāi)關(guān)控制電路，用于控制開(kāi)關(guān)電路，以使得從讀出模塊的公共讀出模塊中相應(yīng)的檢測(cè)元件分時(shí)讀出電信號(hào)至積分放大器，以及使得以并行方式從至少兩個(gè)檢測(cè)元件讀出相應(yīng)的電信號(hào)至積分放大器，這兩個(gè)檢測(cè)元件彼此在不同的讀出模塊中。
8.一種輻射檢測(cè)器，包括多個(gè)檢測(cè)元件，被放置成二維位置以及分離成多個(gè)讀出模塊；讀出電路，用于從在各個(gè)讀出模塊中的檢測(cè)元件讀出電信號(hào)；開(kāi)關(guān)電路，用于切換從讀出模塊的檢測(cè)元件讀出至讀出電路的電信號(hào)；和開(kāi)關(guān)控制電路，用于控制開(kāi)關(guān)電路，以使得從讀出模塊的公共讀出模塊中相應(yīng)的檢測(cè)元件分時(shí)讀出電信號(hào)至讀出電路，以及使得以并行方式從至少兩個(gè)檢測(cè)元件讀出相應(yīng)的電信號(hào)至讀出電路，這兩個(gè)檢測(cè)元件彼此在不同的讀出模塊中。
9.一種輻射檢測(cè)器，包括多個(gè)檢測(cè)元件，被放置成二維位置以及分離成多個(gè)讀出模塊；積分放大器，用于從檢測(cè)元件積累電荷和從各個(gè)讀出模塊的檢測(cè)元件中讀出電信號(hào)；選擇器，用于從積分放大器讀出的電信號(hào)中選擇應(yīng)該輸出至模數(shù)轉(zhuǎn)換器的電信號(hào)；開(kāi)關(guān)電路，用于切換從讀出模塊的檢測(cè)元件讀出至積分放大器的電信號(hào)；和開(kāi)關(guān)控制電路，用于控制開(kāi)關(guān)電路，以使得從讀出模塊的公共讀出模塊中相應(yīng)的檢測(cè)元件分時(shí)讀出電信號(hào)至積分放大器，以及使得以并行方式從至少兩個(gè)檢測(cè)元件讀出相應(yīng)的電信號(hào)至積分放大器，這兩個(gè)檢測(cè)元件彼此在不同的讀出模塊中。
10.一種用于讀出輻射檢測(cè)器的電信號(hào)的方法，包括將放置于二維位置中的多個(gè)檢測(cè)元件分離為多個(gè)讀出模塊；和分時(shí)從讀出模塊的公共讀出模塊中的相應(yīng)檢測(cè)元件中讀出電信號(hào)，并以并行方式從至少兩個(gè)檢測(cè)元件讀出相應(yīng)的電信號(hào)，這兩個(gè)檢測(cè)元件彼此在不同的讀出模塊中。
全文摘要
一種X射線CT裝置20，包括X射線發(fā)生單元22和輻射檢測(cè)器23。輻射檢測(cè)器23包含被放置在二維位置并被分離在多個(gè)讀出模塊中的多個(gè)檢測(cè)元件、用于從在各個(gè)讀出模塊中的檢測(cè)元件讀出電信號(hào)的讀出電路、用于切換從讀出模塊中的檢測(cè)元件讀出至讀出電路的電信號(hào)的開(kāi)關(guān)電路26、和開(kāi)關(guān)控制電路27；該開(kāi)關(guān)控制電路27用于控制開(kāi)關(guān)電路26，以使從讀出模塊的公共讀出模塊中相應(yīng)的檢測(cè)元件分時(shí)地讀出電信號(hào)至讀出電路，以及使得以并行方式從至少兩個(gè)檢測(cè)元件讀出相應(yīng)的電信號(hào)至讀出電路，二者彼此在不同的讀出模塊中。
文檔編號(hào)A61B6/03GK1698542SQ20051008171
公開(kāi)日2005年11月23日 申請(qǐng)日期2005年5月11日 優(yōu)先權(quán)日2004年5月11日
發(fā)明者宮崎博明, 荒館博 申請(qǐng)人:株式會(huì)社東芝, 東芝醫(yī)療系統(tǒng)株式會(huì)社