技術(shù)編號(hào)：8254613
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。顆粒粒度測(cè)量需求廣泛存在于能源、化工、動(dòng)力、食品、制藥等領(lǐng)域，測(cè)量?jī)x器的標(biāo)定對(duì)儀器的正常使用和測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性具有十分重要的意義。目前顆粒粒度測(cè)量?jī)x器的標(biāo)定一般采用窄分布的標(biāo)準(zhǔn)顆粒樣品，即顆粒粒度分布比較集中，可近似視為單一粒徑的顆粒樣品，并使用氣體或液體作為分散介質(zhì)，當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)顆粒懸浮于或流過測(cè)量區(qū)域時(shí)采集相應(yīng)信號(hào)；隨著粒度測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的日益嚴(yán)格，對(duì)寬尺寸分布的顆粒粒度測(cè)量，即顆粒大小不集中在某一粒徑值附近而分布較寬的顆粒粒度測(cè)量提出了更高的要求。寬粒度分布顆粒...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。