技術(shù)編號(hào):8178637
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。技術(shù)領(lǐng)域本實(shí)用新型涉及一種電子元件的測(cè)試模組,特別涉及一種可提供晶片等電子元件進(jìn)行良品率及速率檢測(cè)的電子元件的測(cè)試模組。背景技術(shù)現(xiàn)今晶片等電子元件于封裝或組成完成后,必須透過(guò)一種晶片檢測(cè)機(jī)進(jìn)行品質(zhì)測(cè)試,以淘汰除有瑕疵或速率等功效不彰的晶片等電子元件;習(xí)知的電子元件的測(cè)試模組,通常包括一測(cè)試機(jī)板,于板面選定處設(shè)有可插接的電連接器,如電腦主機(jī)板上的各式電連接器,藉此可提供固裝于電路板的晶片以該電路板與電連接器插接,俾進(jìn)行其晶片等電子元件測(cè)試工作。但習(xí)知的測(cè)試機(jī)板藉其電連接器提供具有晶片等電子元件的電路板插接形態(tài),因其電...
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