一種解決各個平臺手機校準問題的方法及設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及通信技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種解決各個平臺手機校準問題的方法及設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)在市面上不同的廠商的手機，在出廠前都要進行校準，然而每個手機芯片廠商提供的校準工具各不相同，對于手機研發(fā)人員來說，沒有一個完整的工具用于分析各個平臺手機校準失敗的問題。
[0003]當今市場上存在著許多的手機方案芯片支持廠商，比如高通、MTK、展訊、Intel等等。對于校準來說，每個廠商校準的過程算法不一樣，校準工具也是不一樣，但是有一個共同點，手機射頻校準的原理相同，校準的事項相同。因此目前急需一種能夠解決各個平臺手機校準的方法或設(shè)備。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]鑒于上述問題，本申請記載了一種解決各個平臺手機校準問題的方法及設(shè)備，所述方法包括步驟:
[0005]對于任意一個校準項目，所述手機或測試儀發(fā)送所述校準項目所對應的數(shù)據(jù)信息并獲取相應的返回數(shù)據(jù)；
[0006]根據(jù)所述數(shù)據(jù)信息和所述返回數(shù)據(jù)判斷所述手機在所述校準項目下是否校準成功；
[0007]如果校準失敗，獲取校準失敗文件，并將所述校準失敗文件轉(zhuǎn)換成文本格式；
[0008]根據(jù)所述文本格式的所述校準失敗文件，在歷史數(shù)據(jù)表中查找導致校準失敗的原因；
[0009]如果校準成功，結(jié)束。
[0010]較佳的，所述校準失敗文件所轉(zhuǎn)換的文本格式都相同。
[0011]較佳的，根據(jù)所述數(shù)據(jù)信息和所述返回數(shù)據(jù)判斷所述手機在所述校準項目下是否校準成功的過程包括步驟:
[0012]讀取所述數(shù)據(jù)信息和所述返回數(shù)據(jù)；
[0013]分析所述數(shù)據(jù)信息和所述返回數(shù)據(jù)對應的所述校準項目；
[0014]參考所述校準項目下的發(fā)射機參數(shù)或接收機參數(shù)，判斷在所述校準項目下是否校準成功。
[0015]較佳的，通過查表的方式在所述歷史數(shù)據(jù)表中查找導致校準失敗的原因。
[0016]較佳的，所述歷史數(shù)據(jù)表中存儲有不同所述發(fā)射機參數(shù)或所述接收機參數(shù)所對應的校準失敗原因。
[0017]本發(fā)明還提供了一種解決各個平臺手機校準問題的設(shè)備，所述設(shè)備包括:
[0018]返回數(shù)據(jù)獲取模塊，用以發(fā)送校準項目所對應的數(shù)據(jù)信息并獲取相應的返回數(shù)據(jù)；
[0019]校準判斷模塊，與所述返回數(shù)據(jù)獲取模塊相連，用以根據(jù)所述數(shù)據(jù)信息和所述返回數(shù)據(jù)判斷所述手機在所述校準項目下是否校準成功；
[0020]轉(zhuǎn)換模塊，與所述校準判斷模塊相連，用以獲取校準失敗文件并將所述校準失敗文件轉(zhuǎn)換成文本格式；
[0021]查找模塊，與所述轉(zhuǎn)換模塊相連，用以所述文本格式的所述校準失敗文件，在歷史數(shù)據(jù)表中查找導致校準失敗的原因。
[0022]較佳的，所述校準判斷模塊包括:
[0023]讀取單元，與所述返回數(shù)據(jù)獲取模塊相連，用以讀取所述數(shù)據(jù)信息和所述返回數(shù)據(jù)；
[0024]分析單元，與所述讀取單元相連，用以分析所述數(shù)據(jù)信息和所述返回數(shù)據(jù)對應的所述校準項目；
[0025]判斷單元，與所述分析單元相連，用以根據(jù)所述校準項目下的發(fā)射機參數(shù)或接收機參數(shù)，判斷在所述校準項目下是否校準成功。
[0026]上述技術(shù)方案具有如下優(yōu)點或有益效果:一種解決各個平臺手機校準問題的方法及設(shè)備，將平臺校準失敗的文件統(tǒng)一為文本格式，同時配置射頻校準中發(fā)射機參數(shù)和接收機參數(shù)，建立校準歷史數(shù)據(jù)表；讀取校準失敗文件，以查表的形式在數(shù)據(jù)表中找到可能導致校準失敗的原因。該方法解決了快速定位不同平臺手機校準的問題。
【附圖說明】
[0027]參考所附附圖，以更加充分的描述本發(fā)明的實施例。然而，所附附圖僅用于說明和闡述，并不構(gòu)成對本發(fā)明范圍的限制。
[0028]圖1為本發(fā)明一種解決各個平臺手機校準問題的方法的流程圖一；
[0029]圖2為本發(fā)明一種解決各個平臺手機校準問題的方法的流程圖二 ；
[0030]圖3為本發(fā)明一種解決各個平臺手機校準問題的方法的流程圖三；
[0031]圖4為本發(fā)明一種解決各個平臺手機校準問題的設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖一；
[0032]圖5為本發(fā)明一種解決各個平臺手機校準問題的設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖二。
【具體實施方式】
[0033]下面結(jié)合附圖和具體實施例對本發(fā)明解決各個平臺手機校準問題的方法及設(shè)備進行詳細說明。
[0034]實施例一
[0035]如圖1所示，一種解決各個平臺手機校準問題的方法，包括步驟:
[0036]在某一校準項目下，所述手機或測試儀發(fā)送該校準項目相對應的數(shù)據(jù)信息并獲取相對應的返回數(shù)據(jù)；
[0037]根據(jù)所述數(shù)據(jù)信息和所述返回數(shù)據(jù)判斷所述手機在該校準項目下是否校準成功；
[0038]如果校準失敗，將在該校準項目下校準失敗文件轉(zhuǎn)換成為文本格式；
[0039]根據(jù)所述文本格式的校準失敗文件在歷史數(shù)據(jù)表中查找導致校準失敗的原因；
[0040]執(zhí)行其它校準項目下的校準過程，直至所有校準項目都完成；
[0041]如果校準成功，則執(zhí)行其它校準項目下的校準過程，直至所有校準項目都完成。
[0042]具體來說，在生產(chǎn)過程中，手機的射頻校準要求對發(fā)射機(transmitter)、接收機(receiver)和VC0在全頻率和功率范圍內(nèi)進行校準。配備校準過程中最關(guān)鍵的從參數(shù)是發(fā)射機參數(shù)和接收機參數(shù)。不論手機采用哪種芯片，即不論手機在哪個平臺下，射頻校準都一定包括發(fā)射機和接收機的校準。在發(fā)射機的校準過程中，TX Linearizer primary FreqComp和HDET_VS_AGC是關(guān)鍵校準項目，而在接收機校準過程中，RX pathloss和LNA offsetFreq Comp也是關(guān)鍵校準項目。在校準過程中，根據(jù)這些校準項目的數(shù)據(jù)信息和返回數(shù)據(jù)，就能夠分析出校準的成功與否。
[0043]此外，當在某一校準項目下校準失敗后，將在該校準項目下校準失敗文件轉(zhuǎn)換成為文本格式。值得指出的是，不論手機處于何種平臺下，所述校準失敗文件所轉(zhuǎn)換的文本格式都相同。
[0044]如圖2所示，根據(jù)所述數(shù)據(jù)信息和所述返回數(shù)據(jù)判斷所述手機在該校準項目下是否校準成功的過程包括步驟:
[0045]讀取所述數(shù)據(jù)信息和所述返回數(shù)據(jù)；
[0046]分析所述數(shù)據(jù)信息和所述返回數(shù)據(jù)對應所述發(fā)射機或所述接收機中哪一個校準項目；
[0047]參考所述校準項目下所述發(fā)射機參數(shù)或所述接收機參數(shù)，判斷在所述校準項目下是否校準成功。
[0048]如圖3所示，根據(jù)所述文本格式的校準失敗文件在歷史數(shù)據(jù)表中查找導致校準失敗的原因的過程包括步驟:
[0049]查詢歷史數(shù)據(jù)表；