一種智能變電站光功率測試用多路分光轉(zhuǎn)接器的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種智能變電站光功率測試裝置，具體地說是一種智能變電站光功率測試用多路分光轉(zhuǎn)接器，屬于光纖通訊技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]智能變電站與常規(guī)變電站相比在結(jié)構(gòu)上有很大變化，智能變電站包括變電站層設備、間隔層設備、過程層設備、站控層網(wǎng)絡和過程層網(wǎng)絡。智能變電站過程層與間隔層之間由數(shù)字通信代替?zhèn)鹘y(tǒng)變電站二次回路電氣連接線，過程層、間隔層和站控層之間通信及層間通信大都改為光纖通信，因此光纖通信接口眾多，廣泛分布于電子式互感器、智能終端、合并單元、光交換機和分布式保護等智能電子設備上。在傳統(tǒng)變電站，二次回路的檢測，一般用萬用表測量二次電纜回路的電壓電流；而在智能變電站，由于二次回路以光纖連線的方式實現(xiàn)，因此進行二次回路的檢測是需要采用光功率計來測量二次光纖回路的光功率和光損耗。
[0003]在智能變電站驗收和消缺中，需對大量的光纖接口進行光功率測試，由于被測試設備光纖接口存在多種連接形式，目前光功率計的光纖接口只有一種形式，而智能變電站的光纖接口多種多樣，例如LC、ST、FC等，并且每種類型的接口又有多種形式，這就給光功率的測試帶來很大不便。
[0004]常規(guī)測試方法是采用一臺光功率計+多種不同接口類型的尾纖實現(xiàn)對具備不同光纖接口設備或光纖鏈路的光功率損耗特性進行測量。但是常規(guī)測試方法存在以下缺陷:
[0005]1、采用不同光纖接口形式的尾纖對各種智能設備進行光功率測試，由于不同尾纖的自身光功率損耗不同，將導致測試結(jié)果存在不同的誤差，這樣最終可能造成同一個智能變電站的測試結(jié)果在對比分析方面存在誤差，甚至產(chǎn)生錯誤結(jié)果。
[0006]2、采用不同光纖接口形式的尾纖對各種智能設備進行光功率測試，導致工作中頻繁更換光功率計與光纖接頭間的連接尾纖，降低了工作效率。
[0007]3、采用更換連接尾纖進行光功率測試，測試工作人員需要隨身攜帶至少3根光纖、3只光纖存放袋、7個光纖衛(wèi)生護套、并且需要3人一組進行測試(一人測試、一人記錄、一人攜帶尾纖等材料)，增加了測試人員及其工作量，并且需要反復插拔光功率計端的光纖接口，嚴重影響光功率的使用壽命。
[0008]4、檢修人員隨身攜帶多根尾纖，導致尾纖存放散亂，普遍存在彎折現(xiàn)象，增加損耗，影響光功率測試的精度，降低測量結(jié)果的可比較性。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]針對上述不足，本發(fā)明提供了一種智能變電站光功率測試用多路分光轉(zhuǎn)接器，其能夠提高對智能變電站所有設備不同光纖接口的測試效率。
[0010]本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:一種智能變電站光功率測試用多路分光轉(zhuǎn)接器，其特征是，包括殼體、分光轉(zhuǎn)接電路板、輸入接口、輸出接口、輸入光纖和輸出光纖，所述分光轉(zhuǎn)接電路板設置在殼體內(nèi)，所述殼體上設置有若干進線孔，所述輸入光纖的一端穿過進線孔與分光轉(zhuǎn)接電路板連接，輸入光纖的另一端與輸入接口連接，所述輸出光纖的一端穿過進線孔與分光轉(zhuǎn)接電路板連接，輸出光纖的另一端與輸出接口連接；所述輸入接口包括多個具有不同類型接口的輸入接口，多個具有不同類型接口的輸入接口分別通過輸入光纖與分光轉(zhuǎn)接電路板連接。
[0011 ] 優(yōu)選地，所述殼體的進線孔設置有防水塞頭。
[0012]優(yōu)選地，所述分光轉(zhuǎn)接電路板包括光電轉(zhuǎn)換模塊、電信號調(diào)理模塊、電光轉(zhuǎn)換模塊和電源模塊，所述光電轉(zhuǎn)換模塊的輸入端與輸入接口連接，光電轉(zhuǎn)換模塊的輸出端與電信號調(diào)理模塊的輸入端連接，所述電信號調(diào)理模塊的輸出端與電光轉(zhuǎn)換模塊的輸入端連接，所述電光轉(zhuǎn)換模塊的輸出端與輸出接口連接；所述光電轉(zhuǎn)換模塊接收光信號并將光信號轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘柊l(fā)送給電信號調(diào)理模塊，所述電信號調(diào)理模塊將接收到光信號強度的電信號進行等電平輸出給電光轉(zhuǎn)換模塊，所述電光轉(zhuǎn)換模塊根據(jù)經(jīng)調(diào)理后的電信號等比例轉(zhuǎn)換為光信號輸出，形成單一輸入光強度信號的等強度光信號輸出；所述電源模塊用以為光電轉(zhuǎn)換模塊、電信號調(diào)理模塊和電光轉(zhuǎn)換模塊提供工作電壓。
[0013]優(yōu)選地，所述分光轉(zhuǎn)接電路板還包括保護電路，所述電源模塊通過保護電路與光電轉(zhuǎn)換模塊、電信號調(diào)理模塊和電光轉(zhuǎn)換模塊連接。
[0014]優(yōu)選地，所述保護電路由電阻R1、電阻R2、電阻R3、電阻R4、電阻R5、電阻R6、電阻R7、電阻R8、電阻R9、電阻R10、電阻Rl1、電容Cl、電容C2、電容C3、電容C4、電容C5、穩(wěn)壓二極管DZ1、穩(wěn)壓二極管DZ2、穩(wěn)壓二極管DZ3、穩(wěn)壓二極管DZ4、穩(wěn)壓二極管DZ5、三極管Q1、三極管Q2、三極管Q3、三極管Q4、晶體管Q5和二極管Dl組成；
[0015]其中，電阻R1、電阻R2、電阻R3、電阻R6、電阻R7和電阻R8的一端與電源電路的正極連接，所述電阻Rl的另一端與電阻R4的一端、電阻R5的一端、穩(wěn)壓二極管DZ2的負極和電容C2的一端連接，所述穩(wěn)壓二極管DZ2的正極與電容Cl的一端和三極管Q2的基極連接，所述電阻R2的另一端與電容Cl的另一端、三極管Q2的集電極和穩(wěn)壓二極管DZl的負極連接，所述電阻R3的另一端與電阻R4的另一端、三極管Ql的集電極和晶體管Q5的柵極連接，所述三極管Ql的基極與穩(wěn)壓二極管DZl的正極連接，所述三極管Ql的發(fā)射極與電容C2的另一端、電阻R5的另一端、三極管Q2的發(fā)射極、晶體管Q5的源極和電容C5的一端和電源電路輸入端負極連接并接地；所述電阻R6的另一端與電阻R9的一端、電阻RlO的一端、穩(wěn)壓二極管DZ4的負極和電容C4的一端連接，所述穩(wěn)壓二極管DZ4的正極與電容C3的一端和三極管Q4的基極連接，所述電阻R7的另一端與電容C3的另一端、三極管Q4的集電極、穩(wěn)壓二極管DZ3的負極和晶體管Q5的柵極連接，所述電阻R8的另一端與電阻R9的另一端、三極管Q3的集電極和穩(wěn)壓二極管DZ5的負極連接，所述三極管Q3的基極與穩(wěn)壓二極管DZ3的正極連接，所述三極管Q3的發(fā)射極與電容C4的另一端、電阻RlO的另一端、三極管Q4的發(fā)射極、穩(wěn)壓二極管DZ5的正極和電源電路輸入端負極連接并接地，所述電容C5的另一端與電阻Rll的一端和二極管Dl的負極連接，所述晶體管Q5的漏極與電阻Rll的另一端和二極管Dl的正極和電源電路輸出端負極連接。
[0016]優(yōu)選地，所述的三極管Ql、三極管Q2、三極管Q3和三極管Q4均采用NPN型三極管。
[0017]優(yōu)選地，所述晶體管Q5采用N型MOS晶體管。
[0018]優(yōu)選地，所述輸入接口至少包括LC型光纖接口、ST型光纖接口和FC型光纖接口。
[0019]優(yōu)選地，所述輸出接口為與光功率計相匹配的光纖接口。
[0020]優(yōu)選地，所述殼體包括由注塑塑料制成的盒體和盒蓋。
[0021]本發(fā)明具有以下突出的有益效果:
[0022]本發(fā)明利用分光轉(zhuǎn)接電路板將不同類型的光纖接口轉(zhuǎn)換為與光功率計相匹配的光纖接口，在進行光功率測試時，首先將該多路分光轉(zhuǎn)接器的輸出接口與光功率計連接，然后根據(jù)智能設備的光纖接口形式選擇該多路分光轉(zhuǎn)接器對應類型光纖接口的輸入接口與智能設備光纖接口連接，最后對智能設備進行光功率測試；當測試完畢后對其它類型光纖接口進行光功率測試，只需跟換對應類型的輸入接口即可，避免了常規(guī)測試方法中來回更換尾纖才能進行測試的麻煩，不僅提高了光功率測試的工作效率，而且還避免了由于不同尾纖的自身光功率損耗不同導致測試結(jié)果存在不同的誤差現(xiàn)象的出現(xiàn)，提高了同一個智能變電站的測試結(jié)果在對比分析方面的精確性。
[0023]利用該多路分光轉(zhuǎn)接器進行光功率測試，只需攜帶一個光轉(zhuǎn)接器和一個光功率計，便于檢修人員攜帶；避免了頻繁更換尾纖導致尾纖接頭或光功率計光纖接口的連接不良的現(xiàn)象發(fā)生，保證了光功率測試的準確性和結(jié)果的可比較性；減少了光功率計光纖接口的連接次數(shù)，提高了光功率計的