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改善在光網(wǎng)絡(luò)測試儀器中的光源的穩(wěn)定性的制作方法

文檔序號:8433477閱讀:694來源:國知局
改善在光網(wǎng)絡(luò)測試儀器中的光源的穩(wěn)定性的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明的實施例設(shè)及光纖收發(fā)器,并且特別地設(shè)及改善在光網(wǎng)絡(luò)測試儀器中的光 源的穩(wěn)定性。
【背景技術(shù)】
[0002] 數(shù)字技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)提供了對海量信息的電子訪問。對信息的增加的訪問推動了 對快速獲得并且處理信息的增加的期望。該期望繼而施加了針對較快和較高能力的電子信 息處理裝置(計算機)W及鏈接處理裝置的傳輸網(wǎng)絡(luò)和系統(tǒng)(即,電話線、有線電視(CATV)系 統(tǒng)、局域網(wǎng)、廣域網(wǎng)和城域網(wǎng)(LAN、WAN、和MAN))的不斷增加的要求。響應于該些要求,現(xiàn)在 使用的許多傳輸系統(tǒng)已經(jīng)從電子網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)換到光網(wǎng)絡(luò)或者將要從電子網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)換為光網(wǎng)絡(luò)。光 傳輸系統(tǒng)提供了比電子系統(tǒng)大得多的信息傳輸帶寬。光傳輸系統(tǒng)采用W光纖線纜形式的光 纖。由于光纖經(jīng)受意外,并且可W在它們的性能上變得惡化,所W能夠測試通信介質(zhì)和系統(tǒng) 二者W確保故障被迅速檢測、被有效定位、并且被快速修理已經(jīng)變得越來越重要。
[0003]可能必須安裝和/或服務光纖網(wǎng)絡(luò)W能夠測量在光網(wǎng)絡(luò)之內(nèi)的插入損耗。在光網(wǎng) 絡(luò)之內(nèi)的插入損耗應當被確定為在可接受的界限之內(nèi),W便檢驗在鄰接的光纖之間的適當 的物理接觸并且維持系統(tǒng)的損耗預算。當前,確定插入損耗的一種指定的方式是使用手持 式光網(wǎng)絡(luò)測試儀器,其測量通過光纖段的插入損耗,所述光纖段可W包括在鄰接的光纖之 間的一個或多個接合點。該樣的光網(wǎng)絡(luò)測試儀器通常包括一個或多個光源。針對在網(wǎng)絡(luò)測 試儀器中的光源的一個考慮是性能。性能問題可W包括在各種條件下的激光穩(wěn)定性。
[0004]為了改善損耗測試的準確性,期望改善在光網(wǎng)絡(luò)測試裝置中的光源的穩(wěn)定性。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]圖示的實施例的目的和優(yōu)點將被記載在W下描述中,并且將根據(jù)W下描述變得顯 然。將通過在書面說明書及其權(quán)利要求書中特別指出的W及來自附圖的設(shè)備、系統(tǒng)和方法 來實現(xiàn)和獲得圖示的實施例的附加優(yōu)點。
[0006] 根據(jù)圖示的實施例的目的,在一個方面,提供了一種用于改善在光網(wǎng)絡(luò)測試儀器 中的光源的穩(wěn)定性的方法。執(zhí)行所述光源的溫度掃描測試。周期性地測量所述光源的光輸 出功率?;跍y量的光輸出功率生成溫度校正值。通過應用溫度校正值調(diào)整光源的輸出功 率,W獲得光源的基本上恒定的光輸出功率。
[0007] 在另一方面中,提供了一種用于改善在光網(wǎng)絡(luò)測試儀器中光源的穩(wěn)定性的計算機 程序產(chǎn)品。所述計算機程序產(chǎn)品包括一個或多個計算機可讀存儲設(shè)備W及存儲于該一個或 多個計算機可讀存儲設(shè)備中的至少一個上的多個程序指令。所述多個程序指令包括執(zhí)行光 源的溫度掃描測試的程序指令。所述多個程序指令還包括周期性地測量光源的光輸出功率 的程序指令。所述多個程序指令還包括基于測量的光源的光輸出功率來生成溫度校正值的 程序指令。所述多個程序指令還包括通過應用溫度校正值來調(diào)整光源的輸出功率,W獲得 光源的基本上恒定的光輸出功率的程序指令。
【附圖說明】
[000引所附附錄和/或附圖圖示了根據(jù)本公開的各種非限制性的、示例的、發(fā)明性的方 面: 圖1是圖示了根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的測試裝置的圖示; 圖2是根據(jù)本發(fā)明的說明性實施例的網(wǎng)絡(luò)測試儀器的框圖; 圖3是示出了在跟蹤誤差值與溫度之間的關(guān)系的曲線圖; 圖4是根據(jù)本發(fā)明的說明性實施例的、圖2的跟蹤誤差調(diào)整程序的操作步驟的流程圖?!揪唧w實施方式】
[0009] 現(xiàn)在參考附圖更全面地描述本發(fā)明,其中示出本發(fā)明的圖示的實施例,其中相同 的參考標號標識相同的元件。如由本領(lǐng)域技術(shù)人員理解的那樣,本發(fā)明不W任何方式受限 于圖示的實施例,因為下文描述的圖示的實施例僅是本發(fā)明的示例,可W各種形式實現(xiàn)本 發(fā)明。因此,應理解本文公開的任何結(jié)構(gòu)性和功能性細節(jié)均不應被解釋為限制,而僅應被解 釋為權(quán)利要求書的基礎(chǔ)并且被解釋為針對教導本領(lǐng)域技術(shù)人員來多樣地采用本發(fā)明的代 表。更進一步地,本文使用的術(shù)語和短語不意圖限制,而是提供本發(fā)明的可理解的描述。
[0010] 除非另有限定,否則本文使用的所有技術(shù)和科學術(shù)語具有與本發(fā)明所屬的領(lǐng)域中 的技術(shù)人員共識的相同含義。雖然與本文描述的類似或等同的任何方法和材料也可W被用 于實行或測試本發(fā)明,但是現(xiàn)在描述示例性方法和材料。本文提及的所有出版物被通過引 用公開和描述與其有關(guān)引用所述出版物的方法和/或材料而并入本文。提供本文討論的出 版物單獨是出于它們的公開在本申請的申請日之前。本文中的任何內(nèi)容都不應被解釋為承 認本發(fā)明不具有依靠在先發(fā)明而比該些公開內(nèi)容要早的日期。進一步地,提供的公開日期 可能不同于實際的公開日期,其需要被獨立地確認。
[0011] 必須注意,如本文和在所附權(quán)利要求書中使用的那樣,除非上下文清晰地另行指 出,否則單數(shù)形式"一"、"一個"和"該"包括多個引用項。因此,例如,對"一個激勵"的引用 包括多個該樣的激勵,并且對"該信號"的引用包括對一個或多個信號W及本領(lǐng)域技術(shù)人員 已知的其等同物的引用,等等。
[0012] 應理解,如下文討論的那樣,本發(fā)明的實施例優(yōu)選地是駐留在具有用于使能在具 有計算機處理器的機器上的執(zhí)行的控制邏輯的計算機可用介質(zhì)上的軟件算法、程序或代 碼。所述機器通常包括被配置成提供來自計算機算法或程序的執(zhí)行的輸出的存儲器存儲。
[0013] 如本文使用的那樣,術(shù)語"軟件"意圖與可W在主機計算機的處理器中的任何代碼 或程序同義,無論實施是在硬件、固件中還是作為在光盤、存儲器存儲設(shè)備或者用于從遠程 機器下載而可獲得的軟件計算機產(chǎn)品。本文描述的實施例包括該樣的軟件,W實施下文描 述的等式、關(guān)系和算法。本領(lǐng)域技術(shù)人員將基于下文描述的實施例理解本發(fā)明的進一步的 特征和優(yōu)點。相應地,除如所附權(quán)利要求書指示的W外,本發(fā)明不限于特別地示出和描述的 內(nèi)容。
[0014] 根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實施例的方法指向改善在光網(wǎng)絡(luò)測試儀器中的光源的穩(wěn)定性 的技術(shù)。根據(jù)本發(fā)明的實施例,網(wǎng)絡(luò)測試儀器的各種智能部件知道光源在其指定的操作環(huán) 境中如何表現(xiàn),并且相應地適應控制來維持在指定的操作條件下的穩(wěn)定和準確的操作特性 (諸如光輸出功率)。根據(jù)優(yōu)選實施例,光源的已知的表現(xiàn)和特性被存儲在光網(wǎng)絡(luò)測試儀器 的內(nèi)部存儲器中。有利地,光源的改善的穩(wěn)定性的可W通過減少光源的非確定性因素來改 善由網(wǎng)絡(luò)測試儀器執(zhí)行的插入損耗測試的準確性。
[0015] 如先前討論的那樣,在安裝、修理、移動/添加/更新等等之后測試光纖的損耗和/ 或長度是一般慣例。到目前為止,最常用的拓撲由被附接到單股光纖的單個光纖連接器組 成。通常在雙工拓撲中使用該些光纖,使得一個光纖在一個方向上傳輸網(wǎng)絡(luò)業(yè)務量并且其 他的光纖在相對的方向上傳輸。單獨的光纖經(jīng)常被捆扎到在線纜之內(nèi)的大的群組中,但是 然后在光纖的每個端處被單獨地端接至連接器。圖1圖示了應用于雙工光纖系統(tǒng)的該一般 慣例,其中主測試單元102在打開(break-out)處被連接到光纖并且遠程測試單元104在 線纜的遠端被連接到相應的光纖,并且通過利用兩個單元102和104來執(zhí)行測試。
[0016] 如在圖1中示出的那樣,示例性測試裝置采用兩個雙工測試參考軟線(TRC)106和 108。第一雙工軟線106由例如光纖106a和10化的兩股光纖組成。第二雙工軟線108也 由例如光纖108a和108b的兩股光纖組成。TRC106和108中的每一股與諸如SC、ST、LC 等等適合的光纖連接器接口端接。在圖示的裝置中,被測試的光纖鏈路包括一對光纖(光纖 110和112)。在一端110a處,第一光纖110經(jīng)由LC連接器114連接到主單元102,而第一 光纖110的相對端11化經(jīng)由LC連接器116連接到遠端單元104。類似地,在一端112a處 第二光纖112經(jīng)由LC連接器118連接到主單元102,而第二光纖112的相對端11化經(jīng)由 LC連接器120連接到遠端單元104。
[0017] 當主單元102和遠端單元104二者被連接到被測試的光纖鏈路(即,光纖110和 112)時,網(wǎng)絡(luò)測試儀器可W測量被測試的光纖鏈路的總插入損耗。在每個單元處的光源(在 圖2中示出)通過各個輸出端口放射選擇的波長的連續(xù)的波。在遠端上,功率計測量它們通 過輸入端口接收的光功率的級別并且將其與參考功率級別比較,W便計算光損耗的總量。 [001引圖2是根據(jù)本發(fā)明的說明性實施例的網(wǎng)絡(luò)測試儀器的主單元102的框圖。為了簡 單,此后該主單元102將被稱為"網(wǎng)絡(luò)測試儀器"。在優(yōu)選實施例中,網(wǎng)絡(luò)測試儀器102可 W包括至少一個光源204??蒞在本發(fā)明的各種實施例中被用作光源204的激光器包括但 不限于:發(fā)光二極管(LED)、光纖激光器、倍頻光纖激光器、二極管激光器、倍頻二極管激光 器或者它們的組合。在優(yōu)選實施例中,光源204是能夠進行連續(xù)波(CW)或調(diào)制的傳輸?shù)亩?極管激光器,其可W終止于網(wǎng)絡(luò)測試儀器102的輸出端口 206處。網(wǎng)絡(luò)測試儀器102的輸 入端口 208被用于測試儀器的功率計部分并且可W包括或者被連接到光功率計210。功率 計210將傳輸?shù)墓廪D(zhuǎn)換成電能,其被供應到運算放大器(未在圖2中示出)并然后被運算放 大器放大,所述運算放大器的增益可W變化,W檢測廣泛范圍的光功
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