專利名稱:錯誤指示器,數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器和其中的發(fā)光器的指示方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種錯誤指示器,用于在數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器接通電源時,通過在外面閃爍的發(fā)光器指示操作錯誤(初始檢查錯誤),所述操作錯誤是通過進行操作檢查(初始錯誤檢查)檢測到的操作錯誤。此外,本發(fā)明涉及具有環(huán)路測試功能作為維護功能的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器,還涉及一種利用發(fā)光器的指示方法。
有一種信息設(shè)備,其中裝有CPU(中央處理單元),序列發(fā)生器和類似的裝置,這種信息設(shè)備進行自檢,以便檢測在內(nèi)部電路中是否發(fā)生操作錯誤,并當發(fā)生操作錯誤時,對其進行顯示。因而,作為外部顯示,有一種具體方法是在信息設(shè)備內(nèi)設(shè)置顯示裝置并使用之,還有另一種具體方法是在信息設(shè)備內(nèi)不設(shè)置顯示裝置,而用發(fā)光器(LED(發(fā)光二極管),燈之類)作為專用器件進行上述顯示,其中發(fā)光器也可用作其它的指示器。
然而,當按后一種方法使用發(fā)光器時,存在下述問題。即在信息設(shè)備中的錯誤檢測項包括不同的種類,因此,當指示發(fā)生操作錯誤時,只簡單地使發(fā)光器發(fā)光或閃爍不可能識別發(fā)生的操作錯誤的種類。此外,當設(shè)置和錯誤檢測項相同數(shù)量的發(fā)光器時,可以識別發(fā)生的操作錯誤的種類,然而,當設(shè)置多個發(fā)光器時,元件數(shù)量大大增加,使得硬件體積比整個信息設(shè)備還要大。
在這方面,也可以按照操作錯誤的種類改變發(fā)光器的閃爍周期,使用戶通過發(fā)光器得知發(fā)生的操作錯誤的種類。然而,在這種情況下,用戶區(qū)別閃爍周期并得知操作錯誤的種類是非常困難的,除非用戶有一個參考工具例如跑表或在操作方面有經(jīng)驗。
現(xiàn)在,數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(modem)把從數(shù)字終端設(shè)備(DTE)輸出的數(shù)字數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成模擬信號,并通過通信線路把模擬信號發(fā)送到接收數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器,再把從發(fā)送數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器發(fā)送的模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字數(shù)據(jù),然后把數(shù)字數(shù)據(jù)輸入到DTE。
一般地說,這種數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器具有環(huán)路測試功能,用于檢測在其內(nèi)部數(shù)據(jù)傳輸路徑與/或到接收數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的數(shù)據(jù)傳輸路徑中是否有故障。這一環(huán)路測試功能在發(fā)送數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的數(shù)據(jù)路徑和/或接收數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的數(shù)據(jù)路徑中建立一個環(huán)路,從和發(fā)送數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器和/或接收數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器相連的檢測器發(fā)送測試圖形,比較通過環(huán)路返回的測試圖形和原來的測試圖形,當兩個圖形不同時,則斷定在從檢測器到環(huán)路的數(shù)據(jù)傳輸數(shù)據(jù)路徑中有故障。
本地環(huán)路測試是在本地站的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器中建立一個環(huán)路,從和本地站相連的檢測器發(fā)送一個測試圖形,不用說,通過在本地站的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器輸入的啟動指令信號(觸發(fā)信號)啟動。在另一方面,遠程環(huán)路測試是在一個站的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器中建立環(huán)路,從和其它站相連的檢測器發(fā)送測試圖形,通過在所述一個站的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器中輸入啟動指令信號(觸發(fā)信號)并通過從所述一個站向其它站發(fā)送測試指令啟動,或通過在其它站的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器中輸入啟動指令信號(觸發(fā)信號)并通過從其它站向所述一個站發(fā)送測試指令啟動。
這樣,在許多情況下,數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器具有發(fā)光器(LED發(fā)光二極管)當它發(fā)光時則表示在進行環(huán)路測試。當進行遠程環(huán)路測試時,在發(fā)送(本地)站的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的發(fā)光器和在接收(其它)站的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的發(fā)光器都發(fā)光,表示其中在進行環(huán)路測試。
這樣,根據(jù)發(fā)光器的發(fā)光狀態(tài),便可以知道當前正進行環(huán)路測試,然而,不可能知道觸發(fā)信號是通過哪一個數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器被輸入從而啟動遠程環(huán)路測試的。
本發(fā)明便是為了解決上述問題而提出的,因此,其目的在于提供一種錯誤指示器,其中用一個發(fā)光器便可以指示發(fā)生操作錯誤,因而,通過使發(fā)光器以用戶不用標準工具便可識別閃爍周期的方式閃爍,從而識別多種操作錯誤。
此外,本發(fā)明是為了解決上述問題而提出的,因此,其目的在于,提供一種數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器和其中的發(fā)光器的顯示方法,其中根據(jù)來自本地站或來自其它站中的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的觸發(fā)信號,一個發(fā)光器便可以指示是否在進行遠程環(huán)路測試。
本發(fā)明的每一方面都是為了解決上述問題而提出的。
這樣,本發(fā)明的第一方面是提供一種指示信息設(shè)備的操作錯誤的錯誤指示器。它包括設(shè)置在信息設(shè)備上的發(fā)光器,操作狀態(tài)監(jiān)視裝置,用于監(jiān)視信息設(shè)備中的每一部分的操作狀態(tài),并檢測是否發(fā)生操作錯誤以及發(fā)生了哪一種操作錯誤,處于第一狀態(tài)和第二狀態(tài)之一的操作部件,以及閃爍控制部分,它當操作狀態(tài)監(jiān)視裝置檢測到操作錯誤時啟動,并且如果操作部件處于第一狀態(tài),則使發(fā)光器以預(yù)定的標準周期閃爍,或者如果操作部件處于第二狀態(tài)時,則以預(yù)先對應(yīng)于操作狀態(tài)監(jiān)視裝置檢測到的操作錯誤的種類的閃爍周期閃爍。
按這樣構(gòu)成的錯誤指示器,可以使操作狀態(tài)監(jiān)視裝置監(jiān)視信息設(shè)備中的每個部分的操作狀態(tài),檢測是否發(fā)生操作錯誤。當操作狀態(tài)監(jiān)視裝置檢測到發(fā)生任何操作錯誤時,閃爍控制部分使發(fā)光器按照操作部件的狀態(tài)閃爍。具體地說,閃爍控制部分當操作部件處于第一狀態(tài)時使發(fā)光器以標準周期閃爍。在另一方面,當操作部件處于第二狀態(tài)時,閃爍控制部分使發(fā)光器以預(yù)先對應(yīng)于操作狀態(tài)監(jiān)視裝置檢測到的操作錯誤的種類的閃爍周期閃爍。結(jié)果,用戶可以比較操作部件處于第一狀態(tài)情況下的閃爍周期(標準周期)和在操作部件處于第二狀態(tài)時閃爍周期,并且根據(jù)后者是否大于前者,用戶可以得知檢測到的操作錯誤的種類。
這一發(fā)光器可以是燈或發(fā)光二極管。
操作部件可以是在第一狀態(tài)和第二狀態(tài)下都穩(wěn)定的雙位開關(guān),或者是通常處于第一狀態(tài),只有被操作時才處于第二狀態(tài)的開關(guān)。這一開關(guān)可以是按鈕,滑動開關(guān)或杠桿。
預(yù)先對應(yīng)于操作錯誤的種類的閃爍周期的組合可以包括兩種或三種周期,其中一種周期比標準周期短,一種周期等于標準周期,一種周期比標準周期長。操作錯誤的種類和閃爍周期之間的對應(yīng)關(guān)系可以這樣設(shè)置,使得不能被用戶改變,或者可以由用戶改變。
本發(fā)明的第二方面的特征在于,操作部件通常處于第一狀態(tài),只有當所述操作部件被操作時,才成為第二狀態(tài)。
本發(fā)明的第三方面包括一個表,其中每一類操作錯誤對應(yīng)于除第一方面之外的任何一個閃爍周期,其特征在于,當操作部件處于第二狀態(tài)時,控制部分從表中讀出對應(yīng)于由操作監(jiān)視裝置檢測的操作錯誤種類的閃爍周期。
本發(fā)明第四方面的特征在于,對應(yīng)于在第一方面中操作錯誤種類的閃爍周期包括一個比標準周期短的周期或另一個比標準周期長的周期。本發(fā)明的第五方面是一種和另一個數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器進行遠程環(huán)路測試的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器。這種數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器包括發(fā)光器,輸入部分,用于當進行操作時輸入進行遠程環(huán)路測試所需的指令信號,發(fā)送部分,用于在通過輸入部分輸入指令信號時,向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器發(fā)送進行遠程環(huán)路測試所需的指令信息,接收部分,用于接收由其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的發(fā)送部分發(fā)送的指令信息,環(huán)路測試執(zhí)行部分,用于當通過輸入部分輸入指令信號時并且當接收部分接收指令信息時,和其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器進行遠程環(huán)路測試,以及發(fā)光器控制部分,用于當通過輸入部分輸入指令信號時使發(fā)光器發(fā)光,并且當接收部分接收指令信息時使發(fā)光器閃爍。
按照這種結(jié)構(gòu),按照外部操作,通過輸入部分輸入進行遠程環(huán)路測試所需的指令信號。當按這種方式通過輸入部分輸入指令信號時,發(fā)送部分向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器發(fā)送進行遠程環(huán)路測試所需的指令信息,環(huán)路測試執(zhí)行部分和其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器進行遠程環(huán)路測試,并且發(fā)光器控制部分使發(fā)光器發(fā)光。接收部分從其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器接收進行遠程環(huán)路測試所需的指令信息。當接收部分接收指令信息時,環(huán)路測試執(zhí)行部分和其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器進行遠程環(huán)路測試,并且發(fā)光器控制部分使發(fā)光器閃爍。這樣,根據(jù)發(fā)光器的發(fā)光/閃爍,用戶可以容易地確定在站間由本站中的環(huán)路測試執(zhí)行部分進行的環(huán)路測試是通過在本站中的輸入部分輸入的指令信號引起的,還是由通過其它站中的輸入部分輸入的指令信號引起的。
輸入部分可以是具有數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的機械開關(guān),或可以是接收來自和數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器相連的數(shù)字終端的指令的一種軟件功能。此外,當使用機械開關(guān)作為輸入部分時,可以按照環(huán)路測試的種類設(shè)置多個開關(guān)。
本發(fā)明的第六方面的特征在于輸入部分是當被操作時產(chǎn)生指令信號的一種開關(guān)。
本發(fā)明的第七方面的特征在于,在第五方面中的發(fā)光器控制部分具有一個存儲區(qū),其中可以重寫地寫入發(fā)光器的閃爍周期,當接收部分接收指令信息時,按照在存儲區(qū)中寫入的閃爍周期使發(fā)光器閃爍。
本發(fā)明的第八方面是一種數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器,它選擇地和另一個數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器進行遠程環(huán)路測試和本地環(huán)路測試。這種數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器包括發(fā)光器,輸入部分,用于當被操作時輸入進行遠程環(huán)路測試所需的指令信號和進行本地環(huán)路測試所需的其它指令信號,發(fā)送部分,發(fā)送部分,用于在通過輸入部分輸入進行遠程環(huán)路測試所需的指令信號時,向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器發(fā)送進行遠程環(huán)路測試所需的指令信息,接收部分,用于接收由其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的發(fā)送部分發(fā)送的指令信息,遠程環(huán)路測試執(zhí)行部分,用于當通過輸入部分輸入進行遠程環(huán)路測試所需的指令信號時并且當接收部分接收指令信息時,和其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器進行遠程環(huán)路測試,本地環(huán)路測試執(zhí)行部分,用于當通過輸入部分輸入進行本地環(huán)路測試所需的指令信號時進行本地環(huán)路測試,以及發(fā)光器控制部分,用于當通過輸入部分輸入進行本地環(huán)路測試所需的指令信號時使發(fā)光器發(fā)光,并且當接收部分接收指令信息時使發(fā)光器閃爍。
按照第八方面,進行遠程環(huán)路測試所需的指令信號和進行本地環(huán)路測試所需的指令信號按照外部操作通過輸入部分輸入。當進行本地環(huán)路測試所需的指令信號通過輸入部分輸入時,本地環(huán)路測試執(zhí)行部分執(zhí)行本地環(huán)路測試,并且發(fā)光器控制部分使發(fā)光器發(fā)光。當進行遠程環(huán)路測試所需的指令信號通過輸入部分輸入時,發(fā)送部分向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器發(fā)送進行遠程環(huán)路測試所需的指令信號,遠程環(huán)路測試執(zhí)行部分和其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器執(zhí)行遠程環(huán)路測試,并且發(fā)光器控制部分使發(fā)光器發(fā)光。接收部分接收來自其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的進行遠程環(huán)路測試所需的指令信息。當這接收部分接收指令信息時,遠程環(huán)路測試執(zhí)行部分和其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器執(zhí)行遠程環(huán)路測試,并且發(fā)光器控制部分使發(fā)光器閃爍。這樣,根據(jù)發(fā)光器的發(fā)光/閃爍,用戶可以容易地確定由本站的環(huán)回處理執(zhí)行部分進行的環(huán)回處理為本地環(huán)路測試,通過本站中的輸入部分輸入的指令信號引起的遠程環(huán)路測試或通過其它站中的輸入部分輸入的指令信號引起的遠程環(huán)路測試。
本發(fā)明的第九方面是一種指示方法,其中使用數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器中的發(fā)光器,所述數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器具有環(huán)路測試執(zhí)行部分,用于和其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器執(zhí)行遠程環(huán)路測試。該方法包括當輸入進行遠程環(huán)路測試所需的指令信號時,向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器發(fā)送進行遠程環(huán)路測試所需的指令信息的步驟,以及當輸入指令信號時,使發(fā)光器發(fā)光,或當從其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器接收到指令信息時,使發(fā)光器閃爍的步驟。
按照第九方面,根據(jù)發(fā)光器的發(fā)光/閃爍,用戶可以容易地確定由本站中的環(huán)回處理執(zhí)行部分執(zhí)行的遠程環(huán)回處理是由通過本站中的輸入部分輸入的指令信號引起的還是由通過其它站中的輸入部分輸入的指令信號引起的。
通過結(jié)合附圖進行的下述討論,可以更加清楚地看出本發(fā)明的其它目的和優(yōu)點,其中圖1是本發(fā)明的原理圖;圖2是用于說明本發(fā)明的第一實施例的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的硬件結(jié)構(gòu)的方塊圖;圖3是在圖2的ROM4中存儲的固件結(jié)構(gòu)圖;圖4是說明由讀圖3中的初始錯誤檢測模塊的MPU2執(zhí)行的初始錯誤檢測處理的流程圖;圖5是說明由讀圖3中的示錯LED發(fā)光模塊的MPU2執(zhí)行的示錯LED發(fā)光處理的流程圖;圖6是初始錯誤ID的結(jié)構(gòu)圖;圖7是用于說明本發(fā)明的第二實施例的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的硬件結(jié)構(gòu)的方塊圖;圖8是說明按照本發(fā)明第二實施例的示錯LED發(fā)光處理的流程圖;圖9是在圖7中的E2ROM13中存儲的LED閃爍間隔表的結(jié)構(gòu)圖;圖10是本發(fā)明的另一個原理圖;圖11是用于說明本發(fā)明的第三實施例的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的硬件結(jié)構(gòu)的方塊圖;圖12是在圖11的ROM4a中存儲的固件結(jié)構(gòu)圖;圖13是一個流程圖,用于說明由讀前面板模塊的MPU2執(zhí)行的前面板處理和由讀圖12中的每個環(huán)路測試執(zhí)行處理模塊的MPU2執(zhí)行的每個環(huán)路測試處理;
圖14是說明由讀圖12中的中斷處理模塊的MPU2執(zhí)行的中斷處理的流程圖;圖15是說明由讀圖12中的指令接收處理模塊的MPU2執(zhí)行的指令接收處理的流程圖;圖16是一個本地數(shù)字環(huán)路測試的例圖;圖17是一個模擬環(huán)路測試的例圖;圖18是一個本地模擬環(huán)路測試的例圖;圖19是一個數(shù)字環(huán)路測試的例圖;圖20是一個遠方數(shù)字環(huán)路測試的例圖;圖21是一個遠方模擬環(huán)路測試的例圖;圖22是用于說明本發(fā)明的第四實施例的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的硬件結(jié)構(gòu)的方塊圖;圖23是說明按照本發(fā)明第四實施例中的前面板處理和每個環(huán)路測試的流程圖;圖24是在圖22中的E2ROM13a中存儲的LED閃爍間隔表的結(jié)構(gòu)圖;以及圖25是說明按照本發(fā)明的第四實施例中的指令接收處理的流程圖。
本發(fā)明的最佳方面和實施例將參照
如下。
將對給出的實施例進行說明,其中錯誤指示器被集成在按照本發(fā)明的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器中。
《第一原理》如圖1所示,本發(fā)明的第一原理是一個指示信息設(shè)備中操作錯誤的錯誤指示器。它包括設(shè)置在信息設(shè)備103上的發(fā)光器,操作狀態(tài)監(jiān)視裝置100,用于監(jiān)視在信息設(shè)備的每一部分中的操作狀態(tài)并檢測是否發(fā)生操作錯誤,以及發(fā)生的操作錯誤的種類,處于第一狀態(tài)和第二狀態(tài)之一的操作部件102,以及閃爍控制部分101,它在由操作狀態(tài)監(jiān)視裝置檢測操作錯誤時啟動,如果操作部件處于第一狀態(tài),則以預(yù)定的標準周期使發(fā)光器閃爍,或者如果操作部件處于第二狀態(tài)時,則以預(yù)先對應(yīng)于操作狀態(tài)監(jiān)視裝置檢測到的操作錯誤的種類的閃爍周期閃爍。
按這樣構(gòu)成的錯誤指示器,可以使操作狀態(tài)監(jiān)視裝置100監(jiān)視信息設(shè)備中的每個部分的操作狀態(tài),檢測是否發(fā)生操作錯誤,并當檢測到任何操作錯誤時檢測操作錯誤的種類。當操作狀態(tài)監(jiān)視裝置100檢測到發(fā)生任何操作錯誤時,閃爍控制部分101使發(fā)光器103按照操作部件的狀態(tài)閃爍。具體地說,閃爍控制部分101當操作部件處于第一狀態(tài)時,使發(fā)光器以標準周期閃爍。在另一方面,當操作部件102處于第二狀態(tài)時,閃爍控制部分101使發(fā)光器103以預(yù)先對應(yīng)于操作狀態(tài)監(jiān)視裝置100檢測到的操作錯誤的種類的閃爍周期閃爍。結(jié)果,用戶可以比較操作部件102處于第一狀態(tài)情況下的閃爍周期(標準周期)和在操作部件102處于第二狀態(tài)時閃爍周期,并且根據(jù)后者是否大于前者,用戶可以得知檢測到的操作錯誤的種類。
〖第一實施例〗(數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的硬件結(jié)構(gòu))圖2是按照第一實施例的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A1的電路結(jié)構(gòu)方塊圖和與外部設(shè)備的連接狀態(tài)。如圖2所示,數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A1通過串聯(lián)電纜S和多個數(shù)字終端設(shè)備(DTE)相連,并通過線路m和模擬網(wǎng)絡(luò)N相連。數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A1把從每個DTE輸出的數(shù)字數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成模擬信號,然后,通過模擬網(wǎng)絡(luò)N向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器B發(fā)送模擬信號。數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A1把從其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器B通過模擬網(wǎng)絡(luò)N接收到的模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號,然后向一個編址的DET輸出數(shù)字信號。
這種數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器具有分別和幾個DTE相連的幾個端口(A端口10a,B端口10b),相應(yīng)地和端口10a,10b相連的幾個驅(qū)動器/接收器9a,9b,和MPX6相連的調(diào)制解調(diào)部分7,和調(diào)制解調(diào)部分7相連的模擬線路接口8,和模擬線路接口8相連的電路連接器11以及硬件設(shè)置端子1,MPU(微處理器單元)2,RAM(隨機存取存儲器)3,ROM(只讀存儲器)4,和操作顯示部分5,它們通過總線12和MPX6以及調(diào)制解調(diào)部分7相連。
每個端口(A端口10a,B端口10b)是一個連接器,用來連接DTE的串聯(lián)電纜S和其相連。
每個驅(qū)動器/接收器9a,9b是接口單元,用于在每個端口(A端口10a,B端口10b)和MPX6之間發(fā)送/接收數(shù)據(jù),同時按照在連接側(cè)的接口(例如V.35和X.21)在邏輯上和電氣上協(xié)調(diào)數(shù)據(jù)格式。
MPX6控制每個驅(qū)動器/接收器9a,9b。MPX6把從每個驅(qū)動器/接收器9a,9b接收到的串行數(shù)字信號的速度轉(zhuǎn)換成相應(yīng)于由MPU2設(shè)置的通信速度的速度,并向調(diào)制解調(diào)部分7發(fā)送轉(zhuǎn)換的串行數(shù)字信號,并向相應(yīng)的驅(qū)動器/接收器9a,9b發(fā)送從調(diào)制解調(diào)部分7接收的串行數(shù)字信號。MPX6還通過總線12向MPU2發(fā)送通過調(diào)制解調(diào)部分7接收的,由其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器發(fā)出的且對MPU2尋址的指令。MPX6還向調(diào)制解調(diào)部分7發(fā)送從MPU2接收的且對其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器B尋址的指令。
調(diào)制解調(diào)部分7根據(jù)從MPX6接收的串行數(shù)字信號進行頻率調(diào)制和相位調(diào)制,并向模擬線路接口8發(fā)送通過調(diào)制而獲得的模擬信號。調(diào)制解調(diào)部分7還根據(jù)從模擬線路接口8接收的模擬信號進行解調(diào)(循環(huán)檢測),并向MPX6發(fā)送通過解調(diào)而獲得的串行數(shù)字信號。
模擬線路接口8和用于接收來自調(diào)制解調(diào)部分7的模擬信號的信號線以及用于通過和電路連接器11相連的信號線向調(diào)制解調(diào)部分7發(fā)送模擬信號的信號線相連,并且獨立地控制模擬信號的上行和下行(從調(diào)制解調(diào)部分7向電路連接器11發(fā)送的模擬信號和從電路連接器11向調(diào)制解調(diào)部分7發(fā)送的模擬信號)。
硬件設(shè)置端子1包括多個開關(guān),用于設(shè)置整個數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A1的操作狀態(tài)。
操作顯示部分5具有7個LED501-507和安裝在數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的框架表面上的7個開關(guān)511-517。操作顯示部分5根據(jù)來自MPU2的指令通過使每個LED501-507發(fā)光(閃爍),顯示各種信息,并根據(jù)每個開關(guān)511-517的操作狀態(tài)向MPU2輸入各種信息。
每個LED501-507顯示的信息如下。即,LED501作為用作操作錯誤指示的發(fā)光器,當發(fā)光時表示由MPU2執(zhí)行初始檢查,閃爍時表示操作錯誤(初始檢查錯誤)發(fā)生(以后LED501被稱為“示錯LED”)。附帶說明,當對數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器加上電源時,通過進行初始錯誤檢測檢測操作錯誤。此外,LED502發(fā)光時表示數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A1被設(shè)置為自動接收的。LTD503閃爍時表示數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A1向DTE發(fā)送數(shù)據(jù)。LED504閃爍時表示DTE向數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A1發(fā)送數(shù)據(jù)。LED505閃爍時表示數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A1處于通信狀態(tài)。LED506發(fā)光時表示電路被連接。LED507閃爍時表示DTE已經(jīng)準備開始通信。
開關(guān)511作為操作部件當示錯LED閃爍時由用戶操作,并根據(jù)發(fā)生的錯誤的種類向MPU2輸入用于改變示錯LED的閃爍周期的指令(以后開關(guān)511被稱為“錯誤檢查鍵”)。其它的開關(guān)512-517當由用戶操作時,向MPU2輸入進行相應(yīng)的環(huán)路測試的各個指令。
ROM4用于存儲由MPU2執(zhí)行的固件。下面對固件進行詳細說明。
MPU2是一個用于控制整個數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A1的處理器,并根據(jù)由固件設(shè)置端子的設(shè)置,控制MPX6和調(diào)制解調(diào)部分7中的操作。MPU2,當由未示出的電源單元加上主電源時,進行數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A1的每個部分中的操作檢查(初始錯誤檢查)。MPU2,當由MPX6通知來自其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器B的指令時,通過中斷處理把指令寫入RAM3中并在預(yù)定的定時,執(zhí)行相應(yīng)于該指令的處理。MPU2,當在操作顯示部分5中的每個開關(guān)511-517被操作時,按照操作工作。MPU2指令操作顯示部分5,使每個LED501-507根據(jù)數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A1中的操作發(fā)光。下面說明由MPU2使用的RAM中的工作區(qū)。
(固件的結(jié)構(gòu))下面說明在ROM4中存儲的固件的基本結(jié)構(gòu)。如圖3所示,ROM4中的固件包括幾個模塊(初始錯誤檢查模塊41,硬件設(shè)置模塊43,前面板監(jiān)視模塊44,接收指令處理模塊45,以及示錯LED模塊42)。
初始錯誤檢查模塊41作為操作狀態(tài)監(jiān)視部分由接通數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A1中的主電源啟動,并檢查數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A1中每個部分的操作狀態(tài)。初始錯誤檢查模塊41,當任何操作錯誤發(fā)生時,調(diào)用示錯LED模塊42,當沒有發(fā)生操作錯誤時,則使處理返回硬件設(shè)置模塊43。由初始錯誤檢查模塊41檢查的項目是(1)在RAM3,ROM4,和MPX6中的操作錯誤檢查,(2)由MPX6進行的B端口控制檢查(關(guān)于在MPX6中進行的B端口10b的控制的檢查),以及(3)由MPX6進行的A端口控制檢查(關(guān)于在MPX6中進行的A端口10a的控制的檢查)。當初始錯誤檢查模塊41調(diào)用示錯LED發(fā)光模塊42時,初始錯誤檢查模塊41,為了通知示錯LED發(fā)光模塊42操作錯誤的種類,把圖6所示的參數(shù)(初始錯誤ID)寫入RAM3中。在這些參數(shù)中,加權(quán)“01”的位表示在ROM3,ROM4,和MPX6中的一個中發(fā)生的錯誤是(=1)否(=0)是操作錯誤。加權(quán)“02”的位表示發(fā)生的錯誤是(=1)否(=0)是MPX6的B端口控制錯誤。加權(quán)“03”的位表示發(fā)生的錯誤是(=1)否(=0)是MPX6的A端口控制錯誤。
示錯LED發(fā)光模塊42作為閃爍控制部分,當從初始錯誤檢查模塊41中讀出時,首先使示錯LED501以標準周期(500×2ms)閃爍,并且當錯誤檢測鍵511接通時,使示錯LED501以相應(yīng)于寫入RAM3中的參數(shù)(圖6)所示的錯誤種類的周期閃爍(在RAM3,ROM4,和MPX6中的操作錯誤的情況下200×2ms,在MPX6的B端口控制錯誤的情況下500×2ms,在MPX6的A端口控制錯誤的情況下800×2ms)。
硬件設(shè)置模塊43監(jiān)視硬件設(shè)置端子1的設(shè)置狀態(tài),并指令MPX6和調(diào)制解調(diào)部分7按照設(shè)置狀態(tài)改變操作狀態(tài)。當在硬件設(shè)置模塊43中完成所需的指令時,處理在前面板監(jiān)視模塊44中開始。
前面板監(jiān)視模塊44監(jiān)視操作顯示部分5中的每個開關(guān)512-517的操作狀態(tài),并當任何一個開關(guān)接通時,按照開關(guān)512-517中接通的一個開關(guān)進行環(huán)路測試。當在前面板監(jiān)視模塊44中完成所需的環(huán)路測試時,處理在接收指令處理模塊45中開始。
接收指令處理模塊45監(jiān)視由其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器B通知的指令是否由MPX6寫入RAM3中,并當任何指令被寫入RAM3中時,進行相應(yīng)于該指令的處理。當所需的處理在接收指令處理模塊45中完成時,處理在硬件設(shè)置模塊43中開始。
(初始錯誤檢測模塊的處理)下面參照圖4說明在讀初始錯誤檢測模塊41的MPU2中進行的初始錯誤檢查處理。
在啟動之后的開始步S01,MPU2使測試LED501發(fā)光。
在下一步S02,MPU2按上述項目進行錯誤檢查。
在下一步S03,MPU2根據(jù)在S02進行的錯誤檢查結(jié)果確定和所述項目相應(yīng)的硬件是在正常操作還是發(fā)生了操作錯誤。當確定硬件操作正常時,則處理在步S04開始。
在步S04,確定所有項目的錯誤檢查是否完成。當對所有項目的錯誤檢查沒有完成時,處理返回步S02。
在步S02和步S04之間的循環(huán)處理被重復(fù)之后,當在步S04確定所有項目的錯誤檢查完成之后,處理在步S05開始。在步S05,MPU2熄滅示錯LED501。然后,MPU2開始硬件設(shè)置模塊中的處理。
在另一方面,在步S02和步S04之間的循環(huán)處理中,當在步S03確定發(fā)生操作錯誤時,MPU2則把處理前進到步S06。在步S06,MPU2把一個參數(shù)(初始錯誤ID)寫入相應(yīng)于發(fā)生的操作錯誤的種類的位中,然后,調(diào)用示錯LED發(fā)光模塊42。
(示錯LED發(fā)光模塊的處理)下面參照圖5說明由讀示錯LED發(fā)光模塊42的MPU2進行的示錯LED發(fā)光處理在啟動之后的開始步S11,MPU2熄滅測試LED501。
在下一步S12,MPU2檢查錯誤檢查鍵511是否接通。當錯誤檢查鍵511接通時(即第一狀態(tài)),MPU2在步S13等待500ms。
經(jīng)過500ms之后,在步S14,MPU2使LED501發(fā)光。
在下一步S15,MPU2等待500ms。經(jīng)過500ms之后,MPU2使處理返回步S11,并熄滅測試LED501。
在另一方面,當確定錯誤檢查鍵接通時(即第二狀態(tài)),在步S16,MPU2檢查在參數(shù)(初始錯誤ID)中加權(quán)“01”的位是否被設(shè)置為“1”。當加權(quán)“01”的位被設(shè)置為“1”時,即當操作錯誤發(fā)生在RAM3,ROM4,或MPX6中時,在步S22,MPU2等待200ms。
在經(jīng)過200ms之后進行的步S23,MPU2使LED501發(fā)光。
在下一步S24,MPU2等待200ms。經(jīng)過200ms之后,MPU2使處理返回步S11,并熄滅測試LED501。
在另一方面,當在步S16未確定在參數(shù)(初始錯誤ID)中加權(quán)“01”的位被設(shè)置為“1”時,MPU2在步S17則檢查在參數(shù)(初始錯誤ID)中加權(quán)“02”的位是否被設(shè)置為“1”。當加權(quán)“02”的位被設(shè)置為“1”時,即當發(fā)生MPX6的B端口控制錯誤時,時,在步S13,MPU2等待500ms。
在經(jīng)過500ms之后進行的步S13,MPU2使測試LED501發(fā)光。
在下一步S15,MPU2等待500ms。經(jīng)過500ms之后,MPU2使處理返回步S11,并熄滅測試LED501。
在另一方面,當在步S17未確定在參數(shù)(初始錯誤ID)中加權(quán)“02”的位被設(shè)置為“1”時,MPU2在步S118則檢查在參數(shù)(初始錯誤ID)中加權(quán)“04”的位是否被設(shè)置為“1”。當加權(quán)“04”的位被設(shè)置為“1”時,即當發(fā)生MPX6的A端口控制錯誤時,時,在步S19,MPU2等待800ms。
在經(jīng)過800ms之后進行的步S20,MPU2使測試LED501發(fā)光。
在下一步S21,MPU2等待800ms。經(jīng)過800ms之后,MPU2使處理返回步S11,并熄滅測試LED501。
此外,當在步S17未確定在參數(shù)(初始錯誤ID)中加權(quán)“04”的位被設(shè)置為“1”時,MPU2則使處理前進到S13。
當數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A1的主電源切斷時,MPU2重復(fù)上述處理。
(第一實施例的操作)在第一實施例中,在接通數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A1的電源之后MPU2立即通過初始錯誤檢查模塊41進行每一項的初始檢查。當進行初始檢查時,MPU2使示錯LED501保持發(fā)光。
作為這初始錯誤檢查的結(jié)果,當檢測到操作錯誤發(fā)生時,通過示錯LED發(fā)光模塊42,MPU2使示錯LED501以標準周期(500×2ms)保持閃爍(S11,S13-S15)。
當示錯LED501以標準周期(500×2ms)保持閃爍時,用戶接通錯誤檢測鍵511,MPU2按照寫入RAM3中的參數(shù)(初始錯誤ID)所示的錯誤項的種類改變示錯LED501的閃爍周期。具體地說,當操作錯誤發(fā)生在RAM3,ROM4,和/或MPX6中時,示錯LED501以比標準周期(500×2ms)短的周期(200×2ms)閃爍(S22-S24,S11),當發(fā)生MPX6的A端口控制錯誤時,示錯LED501以比標準周期(500×2ms)長的周期(800×2ms)閃爍(S19-S21,S11),當發(fā)生MPX6的B端口控制錯誤時,示錯LED501等于標準周期(500×2ms)的周期閃爍(S13-S15,S11)。當用戶切斷錯誤檢測鍵511時,MPU2使示錯LED501的閃爍周期回到標準周期(500×2ms)。
這樣,只通過比較錯誤檢測鍵511接通前后的閃爍周期,用戶便可以識別檢測到的操作錯誤項。即當在錯誤檢查鍵511接通之后的LED501的閃爍周期比在錯誤檢查鍵511接通之前的LED501的閃爍周期短時,便可以知道操作錯誤發(fā)生在RAM3,ROM4,和/或MPX6中。當在錯誤檢查鍵511接通之后的LED501的閃爍周期比在錯誤檢查鍵511接通之前的LED501的閃爍周期長時,便可以知道發(fā)生了MPX6的A端口控制錯誤。當在錯誤檢查鍵511接通之后的LED501的閃爍周期等于在錯誤檢查鍵511接通之前的LED501的閃爍周期長時,便可以知道發(fā)生了MPX6的B端口控制錯誤。
按這種方式,雖然在個人之間對每個周期的“長”或“短”的感覺不同,但是,通過比較每個周期和標準周期,可以把個人當中的感覺標準化。結(jié)果,雖然用戶不使用專用的參考,例如跑表,但是通過識別一個示錯LED501閃爍周期的長度,用戶便可以識別所發(fā)生的操作錯誤的種類。
(第二實施例)本發(fā)明的第二實施例和第一實施例的不同之處在于,用戶可以按照其感覺自由地設(shè)置相應(yīng)于檢測到的操作錯誤項的閃爍周期。
(數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的硬件結(jié)構(gòu))圖7是第二實施例的并且和外部設(shè)備連接的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A2的電路結(jié)構(gòu)方塊圖。如圖7所示,第二實施例的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A2和第一實施例的區(qū)別只在于E2ROM13被連接在總線12上。
圖9表示由用戶制作并被寫入E2ROM13中的LED發(fā)光間隔表的結(jié)構(gòu)。如圖9所示,LED發(fā)光間隔表被這樣構(gòu)成,使得用戶可以寫入閃爍間隔(閃爍周期),以便使它們和分別相應(yīng)于包括在參數(shù)(初始錯誤ID)中的位的錯誤ID(01-FF)以及相應(yīng)于參考值的錯誤ID(00)相匹配。根據(jù)來自DTE的指令,MPU2在LED發(fā)光間隔表中寫入并更新閃爍間隔(閃爍周期)。
第二實施例的其它部分和第一實施例的相同,因此,省略其說明。
(錯誤ID發(fā)光模塊的處理)下面,參照圖8說明由讀錯誤ID發(fā)光模塊42的MPU2執(zhí)行的錯誤ID發(fā)光處理。
在啟動之后的開始步S31,MPU2熄滅測試LED501。
在下一步S32,MPU2檢查錯誤檢查鍵511是否接通。當錯誤檢查鍵511接通時(即第一狀態(tài)),MPU2在步S33從LED間隔表中讀出相應(yīng)于錯誤ID(00)的閃爍間隔,然后,等待讀出閃爍間隔(參考間隔)。
在參考間隔之后執(zhí)行的步S34,MPU2使測試LED501發(fā)光。
在下一步S35,MPU2等待參考間隔。在參考間隔之后,MPU2使處理返回步S31,并熄滅測試LED501。
在另一方面,當在步S32確定錯誤檢查鍵接通時(即第二狀態(tài)),在步S36,MPU2從LED閃爍間隔表中讀出相應(yīng)于在參數(shù)(初始錯誤ID)中被置為“1”的位的錯誤ID。
在下一步S37,MPU2等待在步S36的從LED閃爍間隔表中讀出的閃爍間隔。
在閃爍間隔之后進行的步S38,MPU2使LED501發(fā)光。
在下一步S39,MPU2等待在步S36的從LED閃爍間隔表中讀出的閃爍間隔在閃爍間隔之后,MPU2使處理返回步S31,并熄滅測試LED501。
第二實施例的其它固件模塊和第一實施例的相同,因此,省略其說明。
(第二實施例的操作)在第二實施例中,在接通數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A2的電源之后,MPU2立即通過初始錯誤檢查模塊41進行每一項的初始檢查。當進行初始檢查時,MPU2使示錯LED501保持發(fā)光。
作為這初始錯誤檢查的結(jié)果,當檢測到操作錯誤發(fā)生時,通過示錯LED發(fā)光模塊42,MPU2使示錯LED501以由示錯LED發(fā)光模塊42從LED閃爍間隔表中讀出的標準周期保持閃爍(S31,S33-S35)。
當示錯LED501以標準周期保持閃爍時,用戶接通錯誤檢測鍵511,MPU2使示錯LED501按照在RAM3中寫入的參數(shù)(初始錯誤ID)中設(shè)置為“1”的位以相應(yīng)于該位的錯誤ID的被寫入LED閃爍表中的閃爍間隔閃爍(S36-S39,S31)。
按照第二實施例,除進行第一實施例的操作之外,用戶可以自由地按照其個人的感覺設(shè)置參考閃爍間隔和其它閃爍間隔。
《第二原理》如圖10所示,本發(fā)明的第二原理是一種和其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器600進行遠程環(huán)路測試的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器600。這種數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器600包括發(fā)光器606,輸入部分601,用于按照外部操作輸入進行遠程環(huán)路測試所需的指令信號,發(fā)送部分602,用于當通過輸入部分601輸入指令信號時,向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器發(fā)送進行遠程環(huán)路測試所需的指令信息,接收部分603,用于接收從其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器600的發(fā)送部分602發(fā)送的指令信息,環(huán)路測試執(zhí)行部分604,用于當通過輸入部分601輸入指令信號時,并且當監(jiān)視部分603接收指令信息時,和其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器600進行遠程環(huán)路測試,以及發(fā)光控制部分605,用于當通過輸入部分601輸入指令信號時使發(fā)光器發(fā)光,當接收部分603接收指令信息時使發(fā)光器閃爍。
按照這種結(jié)構(gòu),用于執(zhí)行遠程環(huán)路測試的指令信號通過輸入部分按照外部操作被輸入。當用這種方法通過輸入部分601輸入指令信號時,發(fā)送部分602向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器600發(fā)送進行遠程環(huán)路測試所需的指令信息,環(huán)路測試執(zhí)行部分604和其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器600進行環(huán)路測試,并且發(fā)光器控制部分605使發(fā)光器606發(fā)光。接收部分603接收來自其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器600的進行遠程環(huán)路測試所需的指令信息。當接收部分603接收指令信息時,環(huán)路測試執(zhí)行部分604和其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器600執(zhí)行遠程環(huán)路測試,并且發(fā)光器控制部分605使發(fā)光器606閃爍。這樣,根據(jù)發(fā)光器606發(fā)光/閃爍,用戶可以容易地確定在本站中由環(huán)回處理執(zhí)行部分604執(zhí)行的站間的環(huán)回處理是通過在本站中的輸入部分601輸入的指令信號引起的還是通過其它站中的輸入部分601輸入的指令信號引起的。
《第三實施例》(數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的硬件結(jié)構(gòu))圖11是第三實施例的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A3的電路結(jié)構(gòu)方塊圖,其中具有和外部設(shè)備的連接。如圖11所示,數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A3通過串聯(lián)電纜S和多個數(shù)字終端設(shè)備(DTE)相連,并通過線路m和模擬網(wǎng)絡(luò)N相連。數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(本站)A3把從每個DTE輸出的數(shù)字數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成模擬信號,然后,通過模擬網(wǎng)絡(luò)N向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B發(fā)送模擬信號。數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A3還把從其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器B通過模擬網(wǎng)絡(luò)N接收到的模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號,然后向一個編址的DET輸出數(shù)字信號。此外,數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(本站)A3的結(jié)構(gòu)和其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B的結(jié)構(gòu)相同。因而,只給出數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(本站)A3的說明。
第三實施例的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(本站)A3和第一實施例的不同之處在于,在MPU2中提供有串行緩沖器(SBUF)2a。
只對和第一實施例不同的部分進行說明,省略其相同的部分的說明。
每個端口(A端口10a,B端口10b)是一個連接器,用來連接DTE的串聯(lián)電纜S分別和其相連。此外,在進行環(huán)路測試時,串聯(lián)電纜S的一端和檢測器相連而不和DTE相連。這一檢測器是一個檢測裝置,它向數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(本站)A3發(fā)送預(yù)定的測試圖形,并接收通過在數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(本站)A3中或在數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B中形成的環(huán)路返回的測試圖形,然后比較發(fā)送的測試圖形和收到的測試圖形,并且當兩者不同時,則確定在端口(A端口10a,B端口10b)和環(huán)路之間的數(shù)據(jù)傳輸路徑中存在故障。
MPX6分別控制每個驅(qū)動器/接收器9a,9b。MPX6還把從每個驅(qū)動器/接收器9a,9b接收到的串行數(shù)字信號(包括測試圖形)轉(zhuǎn)換成相應(yīng)于由MPU2設(shè)置的通信速度的速度,并向調(diào)制解調(diào)部分7發(fā)送轉(zhuǎn)換的串行數(shù)字信號,并向相應(yīng)的驅(qū)動器/接收器9a,9b發(fā)送從調(diào)制解調(diào)部分7接收的串行數(shù)字信號(包括測試圖形)。MPX6還通過總線12通知MPU2通過調(diào)制解調(diào)部分7接收的,由其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器B對MPU2發(fā)出的指令(包括測試指令和測試結(jié)束指令)。MPX6還向調(diào)制解調(diào)部分7發(fā)送從MPU2接收的且對其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器B尋址的另一個指令(測試指令或測試結(jié)束指令)。MPX6代替DTE按照自測試指令發(fā)出來自MPU2的測試圖形,如后所述;并向調(diào)制解調(diào)部分7發(fā)送測試圖形,接收由調(diào)制解調(diào)部分7返回的由自身發(fā)出的測試圖形。然后,MPX6確定發(fā)送的測試圖形和接收的是否一致,并把確定結(jié)果通知MPU2。
LED501作為發(fā)光器表示環(huán)路測試的執(zhí)行狀態(tài)。當它發(fā)光時表示環(huán)路測試通過來自本站的觸發(fā)進行。當它閃爍時表示環(huán)路測試通過來自其它站的觸發(fā)進行(以后,LED501被稱為“測試LED”)。其它LED502-507表示和第一實施例相同的數(shù)據(jù)。
開關(guān)511-517向MPU2輸入如下的觸發(fā)信號。
即,當用戶操作測試開關(guān)512時,向MPU2輸入進行本地數(shù)字環(huán)路測試觸發(fā)信號(用于執(zhí)行本地環(huán)路測試的指令信號)。如圖16所示,本地數(shù)字環(huán)路測試是這樣一種測試,其中在MPX6和數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(本站)A3中的調(diào)制解調(diào)部分7之間形成一個環(huán)路并通過該環(huán)路向檢測器返回由檢測器輸入的測試圖形。
當用戶操作測試開關(guān)513時,向MPU2輸入執(zhí)行模擬環(huán)路測試的觸發(fā)信號(執(zhí)行遠程環(huán)路測試的指令信號)。如圖17所示,這種模擬環(huán)路測試是這樣一種測試,其中向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B發(fā)送測試指令(用于進行遠程環(huán)路測試的指令信息),在MPX6和數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(本站)A3之間形成一個環(huán)路,并且從其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B發(fā)送的測試圖形通過這一環(huán)路返回其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B。
當用戶操作測試開關(guān)514時,向MPU2輸入執(zhí)行本地模擬環(huán)路測試的觸發(fā)信號(執(zhí)行本地環(huán)路測試的指令信號)。如圖18所示,這種本地模擬環(huán)路測試是這樣一種測試,其中在數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(本站)A3中的調(diào)制解調(diào)部分7和模擬接口8之間形成一個環(huán)路,并且從檢測器輸入的測試圖形通過這一環(huán)路返回檢測器。
當用戶操作測試開關(guān)515時,向MPU2輸入執(zhí)行數(shù)字環(huán)路測試的觸發(fā)信號(執(zhí)行遠程環(huán)路測試的指令信號)。如圖19所示,這種數(shù)字環(huán)路測試是這樣一種測試,其中向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B發(fā)送測試指令(用于進行遠程環(huán)路測試的指令信息),在數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(本站)A3中的調(diào)制解調(diào)部分7和模擬接口8之間形成一個環(huán)路,并且從其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B發(fā)送的測試圖形通過這一環(huán)路返回其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B。
當用戶操作測試開關(guān)516時,向MPU2輸入執(zhí)行遠方數(shù)字環(huán)路測試的觸發(fā)信號(執(zhí)行遠程環(huán)路測試的指令信號)。如圖20所示,這種遠方數(shù)字環(huán)路測試是這樣一種測試,其中向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B發(fā)送測試指令(用于進行遠程環(huán)路測試的指令信息),向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B發(fā)送由和數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(本站)A3相連的DTE發(fā)出的測試圖形,并且從其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B返回的測試圖形被引入DET。
當用戶操作測試開關(guān)517時,向MPU2輸入執(zhí)行遠方模擬環(huán)路測試的觸發(fā)信號(執(zhí)行遠程環(huán)路測試的指令信號)。如圖21所示,這種遠方模擬環(huán)路測試是這樣一種測試,其中向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B發(fā)送測試指令(用于進行遠程環(huán)路測試的指令信息),向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B發(fā)送由和數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(本站)A3相連的DTE發(fā)出的測試圖形,并且從其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B返回的測試圖形被引入DET。
上述測試開關(guān)512-517相當于輸入部分,用于按照外部操作,輸入進行遠程環(huán)路測試所需的指令信號和進行本地環(huán)路測試所需的指令信號。詳細地說,測試開關(guān)513,515-517相當于用于按照外部操作輸入進行遠程環(huán)路測試所需的指令信號的輸入部分。
在執(zhí)行上述各種環(huán)路測試的同時,由用戶操作檢查開關(guān)511,向MPU2輸入改變對于本測試正在執(zhí)行的環(huán)路測試的觸發(fā)信號。被輸入這一觸發(fā)信號的MPU2將上述的本測試通知MPX6。
MPU2具有串行緩沖器2a(SBUF)。它被用于向MPU2的指令輸入和從MPU2的指令發(fā)送。當向MPU2輸入指令時,指令被寫入MPU2的串行緩沖器2a(SBUF)中,當從MPU2發(fā)送指令時,指令被寫入MPU2的串行緩沖器2a(SBUF)中。
(固件結(jié)構(gòu))下面說明ROM4中存儲的固件結(jié)構(gòu)的概況。如圖12所示,在ROM4中存儲的固件具有幾個模塊(初始錯誤檢查模塊41,硬件設(shè)置模塊43,前面板處理模塊44,指令接收處理模塊45,各種環(huán)路測試執(zhí)行模塊47和中斷處理模塊42)。
中斷處理模塊42作為接收部分當由MPX6在MPU2的串行緩沖器(SBUF)2a中寫入指令(測試指令和測試結(jié)束指令)時啟動,并把寫入串行緩沖器(SBUF)2a中的指令復(fù)制在RAM3中。
在另一方面,初始錯誤檢查模塊41由接通數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A3中的主電源啟動,并檢查數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A3中的每個部分。然后,初始錯誤檢查模塊41,只有當沒有操作錯誤發(fā)生時,使處理前進到硬件設(shè)置模塊43。
硬件設(shè)置模塊監(jiān)視硬件設(shè)置端子1的設(shè)置狀態(tài),并指令MPX6和調(diào)制解調(diào)部分7按照設(shè)置狀態(tài)改變操作狀態(tài)。硬件設(shè)置模塊43,當完成所需的指令時,使處理前進到前面板監(jiān)視模塊44。
前面板處理模塊44作為發(fā)光控制部分監(jiān)視各個測試開關(guān)512-517的操作狀態(tài),并當任何一個開關(guān)接通時,使測試LED501發(fā)光,并通過調(diào)用和開關(guān)512-517中接通的一個測試開關(guān)相應(yīng)的環(huán)路測試執(zhí)行模塊46設(shè)置測試狀態(tài)。當接通的測試開關(guān)512-517斷開時,釋放相應(yīng)于測試開關(guān)512-517中斷開的測試開關(guān)的環(huán)路測試執(zhí)行模塊。與此同時,當除去本地數(shù)字環(huán)路測試和本地模擬環(huán)路測試之外的環(huán)路測試被執(zhí)行時,向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B發(fā)送測試結(jié)束指令。然后,在測試LED501熄滅時,處理前進到指令接收處理模塊45。
環(huán)路測試執(zhí)行模塊46作為發(fā)送部分和環(huán)路測試執(zhí)行部分具有以下6個模塊。
第一模塊作為本地環(huán)路測試執(zhí)行部分,當測試開關(guān)512接通時(觸發(fā))被調(diào)用,并在本站中的MPX6和調(diào)制解調(diào)部分7之間形成環(huán)路。
第二模塊作為遠程環(huán)路測試執(zhí)行模塊,當測試開關(guān)513接通時(觸發(fā))被調(diào)用,然后向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B發(fā)送模擬環(huán)路測試的測試指令,并在本站中的MPX6和調(diào)制解調(diào)部分7之間形成環(huán)路。
第三模塊作為本地站環(huán)路測試執(zhí)行模塊,當測試開關(guān)514接通時(觸發(fā))被調(diào)用,并在本站中的調(diào)制解調(diào)部分7和模擬線路接口8之間形成環(huán)路。
第四模塊作為遠方站環(huán)路測試執(zhí)行模塊,當測試開關(guān)515接通時(觸發(fā))被調(diào)用,然后向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B發(fā)送數(shù)字環(huán)路測試的測試指令,并在本站中的調(diào)制解調(diào)部分7和模擬線路接口8之間形成環(huán)路。
第五模塊作為遠程環(huán)路測試執(zhí)行模塊,當測試開關(guān)516接通時(觸發(fā))被調(diào)用,并向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B發(fā)送遠方數(shù)字環(huán)路測試的測試指令。
第六模塊作為遠程環(huán)路測試執(zhí)行模塊,當測試開關(guān)517接通時(觸發(fā))被調(diào)用,并向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B發(fā)送遠程環(huán)路測試的測試指令。
附帶說明,第一模塊,第三模塊,第五模塊和第六模塊,當測試開關(guān)511接通時(觸發(fā))向MPX6發(fā)出本測試指令。
指令接收處理模塊45作為發(fā)光控制部分監(jiān)視由中斷處理模塊42寫入的指令是否在RAM3中。當RAM3中有其它站發(fā)出的測試指令時,相應(yīng)于該測試指令的指令執(zhí)行模塊47被調(diào)用。與此同時,指令接收處理模塊45使測試LED501閃爍。當RAM3中有由其它站發(fā)出的測試結(jié)束指令(結(jié)束環(huán)路測試的指令)時,指令接收處理模塊45則釋放相應(yīng)于該測試結(jié)束指令的指令執(zhí)行模塊47,并使測試LED501熄滅,然后,使處理前進到硬件設(shè)置模塊43。
指令執(zhí)行模塊47作為環(huán)路測試執(zhí)行部分包括以下4個模塊。
第一模塊作為遠程環(huán)路測試執(zhí)行部分,當接收到來自其它站的模擬環(huán)路測試的測試指令時被調(diào)用。
第二模塊作為遠程環(huán)路測試執(zhí)行部分,當接收到來自其它站的數(shù)字環(huán)路測試的測試指令時被調(diào)用。
第三模塊作為遠程環(huán)路測試執(zhí)行部分,當接收到來自其它站的遠方數(shù)字環(huán)路測試的測試指令時被調(diào)用,并在調(diào)制解調(diào)部分7和MPX6之間形成環(huán)路。
第四模塊作為遠程環(huán)路測試執(zhí)行部分,當接收到來自其它站的遠方模擬環(huán)路測試的測試指令時被調(diào)用,并在本站中的調(diào)制解調(diào)部分7和模擬線路接口8之間形成環(huán)路。
此外,指令處理模塊47的第一模塊和第二模塊,當在本站中的操作顯示部分5的檢測開關(guān)511接通(被觸發(fā))時,向MPX6發(fā)出自測試指令。
(前面板處理模塊和環(huán)路測試執(zhí)行模塊的處理)下面參照圖13說明由讀前面板處理模塊44的MPU2執(zhí)行的前面板處理。
在啟動之后的開始步S101,MPU2檢查執(zhí)行哪個環(huán)路測試(即哪個環(huán)路測試執(zhí)行模塊46啟動)。當沒有執(zhí)行環(huán)路測試時,MPU2時處理前進到步S102。
在步S102,MPU2檢查哪個測試開關(guān)512-517接通。當沒有測試開關(guān)接通時,MPU2結(jié)束前面板處理并使處理返回指令接收處理模塊45。
在另一方面,當測試開關(guān)512-517之一接通時,在步S103,MPU2使測試LED501(相應(yīng)于發(fā)光器控制部分)發(fā)光。
步S104和步S106之間的處理是相應(yīng)于開關(guān)512-517接通時由環(huán)路測試執(zhí)行模塊46執(zhí)行的環(huán)路測試處理。
在步S104,MPU2檢查是否本地數(shù)字環(huán)路測試和本地模擬環(huán)路測試之一在被執(zhí)行(即是否測試開關(guān)512和514之一接通)。當本地數(shù)字環(huán)路測試或本地模擬環(huán)路測試被執(zhí)行時(即測試開關(guān)512和514之一接通),MPU2直接使處理前進到步S106。在另一方面,當在執(zhí)行除去本地數(shù)字環(huán)路測試的本地模擬環(huán)路測試之外的環(huán)路測試(即當開關(guān)513,515-517之一接通)時,MPU2向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B發(fā)出測試指令,指示開始相應(yīng)于開關(guān)513,515-517中接通的一個的環(huán)路測試(相應(yīng)于發(fā)送部分)。然后,MPU2使處理前進到步S106。
在步S106,MPU2啟動環(huán)路測試執(zhí)行模塊47并把數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A3轉(zhuǎn)換到相應(yīng)于接通的測試開關(guān)512-517的環(huán)路測試的執(zhí)行狀態(tài)。換句話說,當測試開關(guān)512接通時,在MPX6和調(diào)制解調(diào)部分7之間形成環(huán)路。當測試開關(guān)513接通時,在MPX6和調(diào)制解調(diào)部分7之間形成環(huán)路。當測試開關(guān)514接通時,在調(diào)制解調(diào)部分7和模擬線路接口8之間形成環(huán)路。當測試開關(guān)515接通時,在調(diào)制解調(diào)部分7和模擬線路接口8之間形成環(huán)路。此外,當開關(guān)512,514,516和517以及檢查開關(guān)511接通時,向MPX6發(fā)出自測試指令。然后,MPU2返回前面板處理(S101)。
在另一方面,當在步S101確定有一個環(huán)路測試在執(zhí)行時,MPU2則等待相應(yīng)于在執(zhí)行的環(huán)路測試的開關(guān)512-517斷開。
當相應(yīng)于在執(zhí)行的環(huán)路測試的開關(guān)512-517斷開時,MPU2則解除環(huán)路測試處理模塊46的操作,并把數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A3轉(zhuǎn)換到環(huán)路測試的非執(zhí)行狀態(tài)。
在下一步S109,MPU2檢查在步S108其狀態(tài)被轉(zhuǎn)換的環(huán)路測試是否是本地數(shù)字環(huán)路測試和本地模擬環(huán)路測試之一。當本地數(shù)字環(huán)路測試或本地模擬環(huán)路測試被執(zhí)行時,MPU2使處理直接前進到步S111。當除去本地數(shù)字環(huán)路測試和本地模擬環(huán)路測試之外的環(huán)路測試被執(zhí)行時,MPU2在步S110向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B發(fā)送測試結(jié)束指令。然后,直接前進到S111。
在步S111,MPU2結(jié)束前面板處理,并使處理前進到指令接收模塊。
(由中斷處理模塊進行的處理)下面參照圖14說明由已經(jīng)讀過中斷處理模塊42的MPU2執(zhí)行的中斷處理。如上所述,當把指令(測試指令或測試結(jié)束指令)寫入MPU22中的串行緩沖器(SBUF)2a中時,中斷處理由中斷啟動。
在啟動之后的開始步S112,MPU2讀寫入串行緩沖器(SBUF)2a中的指令(相當于發(fā)送部分)。
在下一步S113,MPU2把在步S112讀出的指令(測試指令或測試結(jié)束指令)寫入RAM3中。此后,MPU2結(jié)束這一中斷處理并重新啟動中斷之前被執(zhí)行的處理。
(由指令接收處理模塊進行的處理)下面參照圖15說明由已經(jīng)讀過指令接收處理模塊45的MPU2執(zhí)行的指令接收處理。
在啟動之后的開始步S201,MPU2檢查在RAM3中是否寫有任何測試指令。當寫有任何測試指令時,在步S202,MPU2使測試LED501閃爍(相當于發(fā)光器控制部分)。在下一步S203,MPU2調(diào)用相應(yīng)于在RAM3中寫入的測試指令的指令執(zhí)行模塊47,并把數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A3轉(zhuǎn)換到相應(yīng)的環(huán)路測試的執(zhí)行狀態(tài)。然后,MPU2結(jié)束這一指令接收處理,并使處理前進到硬件設(shè)置模塊。
在另一方面,當在步S201確定沒有測試指令被寫入RAM3中時,MPU2則檢查是否測試結(jié)束指令被寫入RAM3中,當該指令被寫入時,在步S205,MPU2使測試LED501熄滅。在下一步S206,MPU2解除測試指令執(zhí)行模塊47的操作,并把數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器轉(zhuǎn)換到環(huán)路測試的非執(zhí)行狀態(tài)。然后,MPU2結(jié)束這一指令接收處理回到硬件設(shè)置模塊。
當在步S204確定在RAM3中沒有寫入測試結(jié)束指令時,MPU2結(jié)束這一指令接收處理回到硬件設(shè)置模塊。
(第三實施例的操作)按照第三實施例,當數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A3的任何測試開關(guān)512-517接通時,不管環(huán)路測試的種類,數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A3中的MPU2使測試LED501接通(S103)。
當任何測試開關(guān)513,515-517接通時,數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A3中的MPU2向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器B發(fā)出測試指令(S105)。
接著,數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A3中的MPU2被轉(zhuǎn)換到相應(yīng)于接通的開關(guān)512-517的環(huán)路測試的執(zhí)行狀態(tài)(步S106)。
在另一方面,當數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A3中的MPU2接收到測試指令時,則使測試LED501閃爍(S202),并把數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A3轉(zhuǎn)換到相應(yīng)于接收的測試指令的環(huán)路測試的非執(zhí)行狀態(tài)(S203)。
此后,當數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A3中的測試開關(guān)512-517斷開時,MPU2使數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A3轉(zhuǎn)換到環(huán)路測試的非執(zhí)行狀態(tài)(步S108)。
當執(zhí)行的環(huán)路測試不是本地模擬環(huán)路測試或本地數(shù)字環(huán)路測試時,在數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A3中的MPU2向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器B發(fā)出測試結(jié)束指令(S101)。
然后,數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A3中的MPU2使測試LED501熄滅(S111)。
以這種方式,當通過本站中的觸發(fā)執(zhí)行環(huán)路測試時,不管環(huán)路測試的種類,測試LED501發(fā)光。這樣,用戶便能容易地知道環(huán)路測試是通過本站的觸發(fā)而執(zhí)行的。在另一方面,當環(huán)路測試通過其它站的觸發(fā)而執(zhí)行時,測試LED501閃爍。這樣,用戶便能容易地知道環(huán)路測試是通過其它站的觸發(fā)而執(zhí)行的。
《第四實施例》和上述的第三實施例相比,本發(fā)明的第四實施例的特征在于,用戶可以按照其個人感覺自由地設(shè)置指示通過來自其它站的觸發(fā)而執(zhí)行的遠程環(huán)路測試的測試LED501的閃爍周期。
(數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的硬件結(jié)構(gòu))圖22是表示按照第四實施例數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A4中的電路結(jié)構(gòu)和與外部設(shè)備連接狀態(tài)的方塊圖。如圖22所示,第四實施例的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A4除去和總線12連接有E2ROM13之外,和第三實施例相同。
圖24表示由用戶制作并被寫入E2ROM13中的LED發(fā)光間隔表(存儲區(qū))的結(jié)構(gòu)。如圖24所示,在LED發(fā)光間隔表中,閃爍間隔分別對應(yīng)于指示在本站觸發(fā)的ID“00”和指示由其它站觸發(fā)的“01”。在該表中,“0(連續(xù)地發(fā)光)”被設(shè)置為對應(yīng)于ID“01”的閃爍間隔,從而使該間隔不必重寫,并且所需的閃爍間隔由用戶作為對應(yīng)于ID“01”的閃爍間隔(閃爍周期)寫入。根據(jù)來自DTE的指令,由MPU2把閃爍間隔(閃爍周期)寫入閃爍間隔表中,并進行更新。
第四實施例的其它結(jié)構(gòu)和第三實施例的相同,因此,省略其說明。
(由前面板處理模塊和環(huán)路測試執(zhí)行模塊進行的處理)下面參照圖23說明由讀前面板處理模塊44的MPU2執(zhí)行的前面板處理。
在啟動之后的開始步S301,MPU2檢查當前是否正在執(zhí)行任何環(huán)路測試(即是否任何環(huán)路測試執(zhí)行模塊46啟動)。當沒有環(huán)路測試正在執(zhí)行時,MPU2使處理前進到步S302。
在步S302,MPU2檢查是否任何測試開關(guān)512-517接通。當測試開關(guān)512-517沒有接通時,MPU2結(jié)束這一前面板處理,使程序返回指令接收處理模塊45。
在另一方面,當測試開關(guān)512-517之一接通時,在步S303,MPU2從LED閃爍間隔表中讀出相應(yīng)于ID“00”的閃爍間隔“0”。
在下一步S304,MPU2按照在步S303讀出的閃爍間隔“0”使測試LED501發(fā)光(相當于發(fā)光器控制部分)。
在步S305和S307之間的處理是由環(huán)路測試執(zhí)行模塊46執(zhí)行的相應(yīng)于開關(guān)512-517中接通的一個的環(huán)路測試處理。
在步S305,MPU2檢查是否本地數(shù)字環(huán)路測試或本地模擬環(huán)路測試在被執(zhí)行(即是否測試開關(guān)512或514接通)。當本地數(shù)字環(huán)路測試或本地模擬環(huán)路測試被執(zhí)行時(即測試開關(guān)512或514接通),MPU2使處理前進到步S307。在另一方面,當在執(zhí)行除去本地數(shù)字環(huán)路測試和本地模擬環(huán)路測試之外的環(huán)路測試(即當開關(guān)513,515-517之一接通)時,MPU2向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B發(fā)出測試指令,指示開始相應(yīng)于開關(guān)513,515-517中接通的一個的環(huán)路測試(相應(yīng)于發(fā)送部分)。然后,MPU2使處理前進到步S307。
在步S307,MPU2把數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A4轉(zhuǎn)換到相應(yīng)于接通的測試開關(guān)512-517的環(huán)路測試的執(zhí)行狀態(tài)。即,當測試開關(guān)512接通時,在MPX6和調(diào)制解調(diào)部分7之間形成環(huán)路。當測試開關(guān)513接通時,在MPX6和調(diào)制解調(diào)部分7之間形成環(huán)路。當測試開關(guān)514接通時,在調(diào)制解調(diào)部分7和模擬線路接口8之間形成環(huán)路。當測試開關(guān)515接通時,在調(diào)制解調(diào)部分7和模擬線路接口8之間形成環(huán)路。此外,當開關(guān)512,514,516和517以及檢查開關(guān)511接通時,向MPX6發(fā)出自測試指令。然后,MPU2返回前面板處理(S301)。
在另一方面,當在步S301確定有一個環(huán)路測試在執(zhí)行時,MPU2則等待相應(yīng)于在執(zhí)行的環(huán)路測試的開關(guān)512-517被斷開。
當相應(yīng)于在執(zhí)行的環(huán)路測試的開關(guān)512-517斷開時,MPU2則解除環(huán)路測試處理模塊46的操作,并把數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A4轉(zhuǎn)換到環(huán)路測試的非執(zhí)行狀態(tài)。
在下一步S310,MPU2檢查在步S309其狀態(tài)被轉(zhuǎn)換的環(huán)路測試是否是本地數(shù)字環(huán)路測試或本地模擬環(huán)路測試。當本地數(shù)字環(huán)路測試或本地模擬環(huán)路測試被執(zhí)行時,MPU2使處理直接前進到步S312。在另一方面,當除去本地數(shù)字環(huán)路測試和本地模擬環(huán)路測試之外的環(huán)路測試被執(zhí)行時,MPU2在步S311向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器(其它站)B發(fā)送測試結(jié)束指令。然后,使處理前進到S312。
在步S312,MPU2結(jié)束前面板處理,并使處理前進到指令接收處理模塊。
(由指令接收處理模塊進行的處理)下面參照圖25說明由已經(jīng)讀過指令接收處理模塊45的MPU2執(zhí)行的指令接收處理。
在啟動之后的開始步S401,MPU2檢查在RAM3中是否寫有任何測試指令。當在RAM3中寫有任何測試指令時,在步S402,MPU2從LED閃爍間隔表中讀出相應(yīng)于ID“01”的閃爍間隔。
在步S403,MPU2使測試LED501按照在步S402讀出的閃爍間隔閃爍(相當于發(fā)光器控制部分)。
在下一步S404,MPU2調(diào)用相應(yīng)于在RAM3中寫入的測試指令的指令執(zhí)行模塊47,并把數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A4轉(zhuǎn)換到相應(yīng)的環(huán)路測試的執(zhí)行狀態(tài)。然后,MPU2結(jié)束這一指令接收處理,并使處理前進到硬件設(shè)置模塊。
在另一方面,當在步S401確定沒有測試指令被寫入RAM3中時,MPU2則檢查是否測試結(jié)束指令被寫入RAM3中,當該指令被寫入時,在步S406,MPU2使測試LED501熄滅。在下一步S407,MPU2解除測試指令執(zhí)行模塊47的操作,并把數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A4轉(zhuǎn)換到環(huán)路測試的非執(zhí)行狀態(tài)。然后,MPU2結(jié)束這一指令接收處理回到硬件設(shè)置模塊。
在另一方面,當在步S405確定在RAM3中沒有寫入測試結(jié)束指令時,MPU2則直接結(jié)束這一指令接收處理回到硬件設(shè)置模塊。
在第四實施例中,其它固件模塊和第三實施例的相同,因此,省略其說明。
(第四實施例的操作)按照第四實施例,當數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A4的任何測試開關(guān)512-517接通時,在數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A中的MPU2從LED閃爍間隔表中讀出相應(yīng)于1D“00”的閃爍間隔“0”(S303),并使測試LED501發(fā)光(S204)。
當任何測試開關(guān)513,515-517接通時,數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A中的MPU2向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器B發(fā)出測試指令(S306)。
接著,MPU2把數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器A轉(zhuǎn)換到相應(yīng)于接通的開關(guān)512-517的環(huán)路測試的執(zhí)行狀態(tài)(步S307)。
在另一方面,當其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器B中的MPU2接收到測試指令時,則從LED閃爍間隔表中讀出相應(yīng)于ID“01”的閃爍間隔,并使測試LED501閃爍(S403),并把其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器B轉(zhuǎn)換到相應(yīng)于接收的測試指令的環(huán)路測試的執(zhí)行狀態(tài)(S404)。
按照第四實施例,除去上述第三實施例的操作之外,還可以使用戶按照其個人感覺自由地設(shè)置表示該環(huán)路測試是根據(jù)來自其它站的觸發(fā)而執(zhí)行的測試LED501的閃爍間隔。
按照上述結(jié)構(gòu)的本發(fā)明的錯誤指示器,可以使發(fā)光器以這樣的方式閃爍,使得用戶不用專用參考工具便能識別閃爍周期。這樣,發(fā)光器可以指示發(fā)生的多個操作錯誤,以便對其進行識別。
此外,按照數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器和數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器中發(fā)光器的顯示方法,一個發(fā)光器便可以指示遠程環(huán)路測試是根據(jù)來自本地數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的觸發(fā)進行的,還是根據(jù)來自其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的觸發(fā)進行的。
上面對本發(fā)明進行了說明,顯然,本發(fā)明可以以各種方式改變。這些變化不能認為是脫離了本發(fā)明的范圍和構(gòu)思,并且所有這些改型對本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說顯然都被包括在所附權(quán)利要求的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1 一種用于指示信息設(shè)備的操作錯誤的錯誤指示器,包括設(shè)置在信息設(shè)備上的發(fā)光器;操作狀態(tài)監(jiān)視裝置,用于監(jiān)視信息設(shè)備中每個部分的操作狀態(tài),并檢測是否發(fā)生了操作錯誤,以及所發(fā)生的操作錯誤的種類;處于第一狀態(tài)和第二狀態(tài)之一的操作部件;以及閃爍控制部分,它當由所述操作狀態(tài)監(jiān)視裝置檢測到操作錯誤時啟動,并且如果所述操作部件處于第一狀態(tài),則使所述發(fā)光器以預(yù)定的標準周期閃爍,或者,如果所述操作部件處于第二狀態(tài),則使所述發(fā)光器以預(yù)先對應(yīng)于由所述操作狀態(tài)監(jiān)視裝置檢測的操作錯誤的種類的周期閃爍。
2 如權(quán)利要求1所述的錯誤指示器,其中所述操作部件通常處于第一狀態(tài),只有當所述操作部件被操作時,才成為第二狀態(tài)。
3 如權(quán)利要求1所述的錯誤指示器,還包括一個表,其中每一類操作錯誤對應(yīng)于任何的閃爍周期;以及其中所述閃爍控制部分,當所述操作部件處于第二狀態(tài)時,從所述表中讀出相應(yīng)于由所述操作狀態(tài)監(jiān)視裝置檢測到的操作錯誤的種類的閃爍周期
4 如權(quán)利要求1所述的錯誤指示器,其中對應(yīng)于操作錯誤種類的閃爍周期包括比所述標準周期短的一種周期和比所述標準周期長的另一種周期。
5 一種和其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器執(zhí)行遠程環(huán)路測試的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器,包括發(fā)光器;輸入部分,當被操作時通過它輸入用于進行遠程環(huán)路測試的指令信號;發(fā)送部分,當所述指令信號通過所述輸入部分輸入時,向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器發(fā)送用于進行遠程環(huán)路測試的指令信息;接收部分,用于接收由其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的發(fā)送部分發(fā)送的指令信息;環(huán)路測試執(zhí)行部分,用于當指令信號通過所述輸入部分輸入時且當所述接收部分接收指令信息時,和其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器執(zhí)行遠程環(huán)路測試;以及發(fā)光器控制部分,用于當指令信號通過所述輸入部分輸入時,使發(fā)光器發(fā)光,當接收部分接收到指令信息時,使發(fā)光器閃爍。
6 如權(quán)利要求5所述的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器,其中所述輸入部分是一種當被操作時產(chǎn)生指令信號的開關(guān)。
7 如權(quán)利要求5所述的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器,其中所述發(fā)光器控制部分具有一個存儲區(qū),在所述存儲區(qū)內(nèi)可重寫地寫有閃爍周期,并且當接收部分接收指令信息時,使所述發(fā)光器按照在存儲區(qū)內(nèi)寫有的閃爍周期閃爍。
8 一種和其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器執(zhí)行遠程環(huán)路測試和本地環(huán)路測試的數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器,包括發(fā)光器;輸入部分,當被操作時通過它輸入用于進行遠程環(huán)路測試的指令信號和進行本地環(huán)路測試的另一個指令信號;發(fā)送部分,當用于執(zhí)行遠程環(huán)路測試的所述指令信號通過所述輸入部分輸入時,向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器發(fā)送用于進行環(huán)路測試的指令信息;接收部分,用于接收由其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的發(fā)送部分發(fā)送的指令信息;遠程環(huán)路測試執(zhí)行部分,用于當執(zhí)行遠程環(huán)路測試所需的指令信號通過所述輸入部分輸入時且當所述接收部分接收指令信息時,和其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器執(zhí)行遠程環(huán)路測試;本地環(huán)路測試執(zhí)行部分,用于當進行本地環(huán)路測試所需的指令信號通過所述輸入部分輸入時,執(zhí)行本地環(huán)路測試;以及發(fā)光器控制部分,用于當執(zhí)行遠程環(huán)路測試所需的指令信號或用于執(zhí)行本地環(huán)路測試的另一指令信號通過所述輸入部分輸入時,使發(fā)光器發(fā)光,并當接收部分接收到指令信息時,使發(fā)光器閃爍。
9 一種利用數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器中的發(fā)光器的指示方法,所述數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器具有和其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器執(zhí)行遠程環(huán)路測試的環(huán)路測試執(zhí)行部分,包括當輸入進行遠程環(huán)路測試所需的指令信號時,向其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器發(fā)送進行遠程環(huán)路測試所需的指令信息的步驟,以及當輸入指令信號時,使發(fā)光器發(fā)光,或當從其它數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器接收到指令信息時,使發(fā)光器閃爍的步驟。
全文摘要
一種利用發(fā)光器指示多種錯誤的錯誤指示器。MPU檢查數(shù)據(jù)調(diào)制解調(diào)器的每一部分,如有錯誤,使LED以標準周期閃爍。在閃爍中用戶按錯誤檢查鍵時,MPU依測到的錯誤改變LED的閃爍周期。此外,在調(diào)制解調(diào)器中的發(fā)光器指示遠程環(huán)路測試是由本站或由其它站的觸發(fā)而執(zhí)行的。當任何開關(guān)接通時,MPU使測試LED亮并使調(diào)制解調(diào)器轉(zhuǎn)換為執(zhí)行狀態(tài)。除本地數(shù)字/模擬環(huán)路測試外的任何測試開關(guān)接通時,MPU向其它調(diào)制解調(diào)器發(fā)送測試指令,使測試LED閃爍,并被轉(zhuǎn)換為執(zhí)行狀態(tài)。
文檔編號H04L1/24GK1192087SQ9712152
公開日1998年9月2日 申請日期1997年10月23日 優(yōu)先權(quán)日1997年2月28日
發(fā)明者佐佐木純子, 田中弘 申請人:富士通株式會社