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測試交換機轉發(fā)性能的網(wǎng)絡配置方法及測試方法與流程

文檔序號:12134013閱讀:1093來源:國知局
測試交換機轉發(fā)性能的網(wǎng)絡配置方法及測試方法與流程

本發(fā)明涉及一種網(wǎng)絡通信領域,尤其是涉及一種測試交換機轉發(fā)性能的網(wǎng)絡配置方法及測試方法。



背景技術:

在交換機性能測試中,通常通過Snake驗證環(huán)境對交換機的轉發(fā)性能進行測試,如圖1所示,實現(xiàn)表示物理連線,虛線表示數(shù)據(jù)流向,所述Snake驗證環(huán)境是指網(wǎng)絡測試儀的第一測試端口與交換機的第一個端口通過網(wǎng)線相連接,第二個測試端口與交換機的最后一個端口通過網(wǎng)線相連接,交換機的其余端口兩兩配對,通過網(wǎng)線進行連接;進一步地,配置Snake驗證環(huán)境的轉發(fā)規(guī)則使數(shù)據(jù)報文從網(wǎng)絡測試儀的第一個測試端口流入交換機,蛇形的從交換機的第一個端口流經(jīng)至交換機的最后一個端口,最終從最后一個端口中轉發(fā)至從網(wǎng)絡測試儀;同時,為了達到交換機滿負荷運行的要求,需要在網(wǎng)絡測試儀的兩個測試端口都要有數(shù)據(jù)報文進入交換機中,即網(wǎng)絡測試儀的第二個測試端口同樣發(fā)送報文,從交換機的最后一個端口最終流入交換機的第一個端口中,Snake驗證環(huán)境使交換機處于滿負荷的測試環(huán)境。

以一臺具有48個端口的光交換機設備為例,要實現(xiàn)如上的測試環(huán)境,至少需要48個光模塊,以及25根互聯(lián)使用的光纖,顯而易見的是,搭建上述測試環(huán)境工作量較大,并且對介質(zhì)要求較高。



技術實現(xiàn)要素:

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術的缺陷,提供一種測試交換機轉發(fā)性能的網(wǎng)絡配置方法及測試方法,僅使用網(wǎng)絡測試儀中的一個測試端口完成對交換機轉發(fā)性能的測試。

為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提出如下技術方案:一種測試交換機轉發(fā)性能的網(wǎng)絡配置方法,包括如下步驟:

步驟1,網(wǎng)絡測試儀僅使用一個測試端口與交換機的第一個端口通過網(wǎng)線相連接;

步驟2,配置交換機的Serdes芯片模塊,使交換機的端口實現(xiàn)報文環(huán)回;

步驟3,配置交換機端口轉發(fā)規(guī)則,使數(shù)據(jù)報文從交換機的第一個端口依次流向交換機的最后一個端口,并由最后一個端口的數(shù)據(jù)報文流向第一個端口。

優(yōu)選地,所述交換機中的每個端口都有一次數(shù)據(jù)報文的流入和一次數(shù)據(jù)報文的流出。

優(yōu)選地,所述交換機的第一個端口不需要實現(xiàn)報文環(huán)回。

優(yōu)選地,用于具有n個端口的交換機,其中,n為整數(shù)。

優(yōu)選地,所述交換機中數(shù)據(jù)報文的流量為單向。

一種測試交換機轉發(fā)性能的測試方法,采用上述所述的方法配置的網(wǎng)絡,測試方法包括如下步驟:

步驟1,網(wǎng)絡測試儀發(fā)送數(shù)據(jù)報文進入交換機的第一個端口,第一個端口將數(shù)據(jù)報文直接轉發(fā)至交換機的第二個端口中;

步驟2,交換機的第二個端口將數(shù)據(jù)報文環(huán)回至本端口后,將數(shù)據(jù)報文轉發(fā)至交換機的第三個端口中;

步驟3,依次類推,交換機的最后一個端口將數(shù)據(jù)報文環(huán)回至本端口后,所述數(shù)據(jù)報文被轉發(fā)至交換機的第一個端口中,并由交換機的第一個端口流出至網(wǎng)絡測試儀中。

優(yōu)選地,用于具有n個端口的交換機,其中,n為整數(shù)。

優(yōu)選地,所述交換機中的每個端口都有一次數(shù)據(jù)報文的流入和一次數(shù)據(jù)報文的流出。

優(yōu)選地,所述交換機的第一個端口不需要實現(xiàn)報文環(huán)回。

優(yōu)選地,所述交換機中數(shù)據(jù)報文的流量為單向。

本發(fā)明的有益效果是:

本發(fā)明通過Serdes芯片模塊實現(xiàn)交換機端口報文環(huán)回,達到交換機滿負載的狀態(tài),以進行轉發(fā)性能測試,并且僅使用網(wǎng)絡測試儀中的一個測試端口完成對交換機轉發(fā)性能的測試,擺脫接口和連接介質(zhì)的資源要求,減少成本,以及減少測試的復雜程度。

附圖說明

圖1是現(xiàn)有技術測試方法示意圖;

圖2是交換機數(shù)據(jù)報文處理過程示意圖;

圖3是本發(fā)明的測試方法示意圖。

具體實施方式

下面將結合本發(fā)明的附圖,對本發(fā)明實施例的技術方案進行清楚、完整的描述。

結合圖2所示,本發(fā)明所揭示的測試交換機轉發(fā)性能的網(wǎng)絡配置方法以及測試方法,本實施例中,以具有6個網(wǎng)絡端口的交換機的測試為例,進行詳細的說明。

如圖2所示,所述交換機包括交換芯片模塊,Serdes芯片模塊,以及Mac模塊,各模塊之間相互通信,其中,Mac模塊是以太網(wǎng)中用于接收和發(fā)送報文的模塊,Serdes(Serializer-deserializer,串行器和解串器)。

具體的,對入方向的報文處理過程如下:Mac模塊將接收到來自網(wǎng)絡端口的數(shù)據(jù)報文處理后發(fā)送至Serdes芯片模塊中,所述數(shù)據(jù)報文在Serdes芯片模塊中進行解碼,并發(fā)送至交換芯片模塊中,所述交換芯片對數(shù)據(jù)報文進行轉發(fā)。

對出方向的報文處理過程如下:交換芯片模塊將收到的數(shù)據(jù)報文發(fā)送至Serdes芯片模塊中進行編碼,進一步發(fā)送至Mac模塊中,Mac模塊將數(shù)據(jù)報文從相應的端口轉發(fā)出去。

本發(fā)明中,通過配置Serdes芯片模塊,使發(fā)送至Serdes芯片模塊中的數(shù)據(jù)報文環(huán)回至Serdes芯片模塊中,所述Serdes芯片模塊將數(shù)據(jù)報文發(fā)送至交換芯片模塊中,交換芯片模塊將數(shù)據(jù)報文轉發(fā)至相應的網(wǎng)絡端口。

測試交換機轉發(fā)性能,首先對交換機和網(wǎng)絡測試儀配置網(wǎng)絡測試環(huán)境,網(wǎng)絡測試儀的測試端口與交換機的網(wǎng)絡端口相連接,所述網(wǎng)絡測試儀通過發(fā)送和接收測試的數(shù)據(jù)報文,進一步判斷交換機的轉發(fā)性能,本發(fā)明中,所述網(wǎng)絡測試儀僅使用一個測試端口,能夠?qū)粨Q機的數(shù)個端口進行轉發(fā)性能的測試,網(wǎng)絡配置方法包括如下步驟:

步驟1,網(wǎng)絡測試儀僅使用一個測試端口與交換機的第一個端口通過網(wǎng)線相連接;

步驟2,配置交換機的Serdes芯片模塊,使交換機的端口實現(xiàn)報文環(huán)回;

步驟3,配置交換機端口轉發(fā)規(guī)則,使數(shù)據(jù)報文從交換機的第一個端口依次流向交換機的最后一個端口,并由最后一個端口的數(shù)據(jù)報文流向第一個端口。

具體的,如圖3所示,圖中實現(xiàn)表示物理連線,虛線表示數(shù)據(jù)報文的流向,網(wǎng)絡測試儀的測試端口與交換機的第一個端口,即端口1,其他端口依次類推,通過網(wǎng)線相連接,同時配置交換機的Serdes芯片模塊,使交換機的端口能夠?qū)崿F(xiàn)報文環(huán)回,即流經(jīng)端口2的數(shù)據(jù)報文在Serdes芯片模塊作用下,能夠環(huán)回至端口2,所述交換機的端口3、端口4、端口5,以及端口6同樣能夠?qū)?shù)據(jù)報文環(huán)回至自身端口中,本實施例中,交換機上與網(wǎng)絡測試儀通過物理連線連接的端口不需要實現(xiàn)報文環(huán)回,即交換機的第一個端口(端口1)不需要實現(xiàn)報文環(huán)回。

進一步地,配置交換機的端口轉發(fā)規(guī)則,使數(shù)據(jù)報文從交換機的第一個端口依次流向最后一個端口,且最后一個端口的數(shù)據(jù)報文流向交換機的第一個端口,本實施例中,采用端口直連的方式進行數(shù)據(jù)報文的轉發(fā),其中,配置交換機的端口1與端口2直連,配置命令為port1 port-cross-connect port2,使端口1的數(shù)據(jù)報文直接轉發(fā)至端口2;配置交換機的端口2與端口3直連,配置命令為port2 port-cross-connect port3,使端口2的數(shù)據(jù)報文直接轉發(fā)至端口3;依次類推,配置交換機的端口5與端口6直連,配置命令為port5 port-cross-connect port6,使端口5的數(shù)據(jù)報文直接轉發(fā)至端口6,同時,配置交換機的端口6與端口1直連,配置命令為port6 port-cross-connect port1,使端口6的報文直接轉發(fā)至端口1中。

對網(wǎng)絡測試儀及交換機進行配置網(wǎng)絡測試環(huán)境后,具體的數(shù)據(jù)報文的處理流程如下:

網(wǎng)絡測試儀通過網(wǎng)線發(fā)送一個數(shù)據(jù)報文至交換機的端口1,端口1接收并處理所述數(shù)據(jù)報文,將數(shù)據(jù)報文通過直連的方式直接轉發(fā)至端口2中,端口2將接收到的數(shù)據(jù)報文發(fā)送至Serdes芯片模塊中進行環(huán)回處理,所述數(shù)據(jù)報文被環(huán)回至端口2中,端口2接收并處理數(shù)據(jù)報文同時通過端口直連的方式將數(shù)據(jù)報文直接轉發(fā)至端口3中;端口3將接收到的數(shù)據(jù)報文發(fā)送至Serdes芯片模塊中進行環(huán)回處理,所述數(shù)據(jù)報文被環(huán)回至端口3中,端口3接收并處理數(shù)據(jù)報文同時通過端口直連的方式將數(shù)據(jù)報文直接轉發(fā)至端口4中;端口4將接收到的數(shù)據(jù)報文發(fā)送至Serdes芯片模塊中進行環(huán)回處理,所述數(shù)據(jù)報文環(huán)被回至端口4中,端口4接收并處理數(shù)據(jù)報文同時通過端口直連的方式將數(shù)據(jù)報文直接轉發(fā)至端口5中;端口5將接收到的數(shù)據(jù)報文發(fā)送至Serdes芯片模塊中進行環(huán)回處理,所述數(shù)據(jù)報文被環(huán)回至端口5中,端口5接收并處理數(shù)據(jù)報文同時通過端口直連的方式將數(shù)據(jù)報文直接轉發(fā)至端口6中;端口6將接收到的數(shù)據(jù)報文發(fā)送至Serdes芯片模塊中進行環(huán)回處理,所述數(shù)據(jù)報文被環(huán)回至端口6中,端口6接收并處理數(shù)據(jù)報文同時通過端口直連的方式將數(shù)據(jù)報文轉發(fā)至端口1中;端口1將接收到的數(shù)據(jù)報文通過網(wǎng)線發(fā)送至網(wǎng)絡測試儀中,所述網(wǎng)絡測試儀根據(jù)接收到的數(shù)據(jù)報文進一步判斷交換機的轉發(fā)性能。

通過上述方法配置網(wǎng)絡測試儀和交換機,網(wǎng)絡測試儀能夠僅使用一個測試端口,對交換機的數(shù)個端口進行轉發(fā)性能的測試,并且每個交換機端口都有一次數(shù)據(jù)報文的流入和一次數(shù)據(jù)報文的流出,本實施例中,所述數(shù)據(jù)報文的流入是指數(shù)據(jù)報文從端口的接收方向流入,數(shù)據(jù)報文的流出是指前一個端口接收到的報文轉發(fā)至本端口后,從本端口流出至下一個端口,從而使交換機處于滿負載的狀態(tài),如交換機的端口2,流入端口2的數(shù)據(jù)報文為端口2接收方向接收到的數(shù)據(jù)報文,流出端口2的數(shù)據(jù)報文為端口1接收到的報文轉發(fā)至端口2后,從端口2流出至端口3的數(shù)據(jù)報文;另外,交換機中數(shù)據(jù)報文的流向是單向的,數(shù)據(jù)報文的流向是從交換機的第一端口依次流向交換機的最后一個端口。

本實施例中,被測交換機采用6個端口,當然,對于具有n個端口的交換機來說,同樣可以采用上述的方法進行網(wǎng)絡配置,因此,上述方法可以用于具有n個端口的交換機,其中n為整數(shù)。

一種測試交換機轉發(fā)性能的測試方法,采用上述方法配置的網(wǎng)絡,包括如下步驟:

步驟1,網(wǎng)絡測試儀發(fā)送數(shù)據(jù)報文進入交換機的第一個端口,第一個端口將數(shù)據(jù)報文直接轉發(fā)至交換機的第二個端口中;

步驟2,交換機的第二個端口將數(shù)據(jù)報文環(huán)回至本端口后,將數(shù)據(jù)報文轉發(fā)至交換機的第三個端口中;

步驟3,依次類推,交換機的最后一個端口將數(shù)據(jù)報文環(huán)回至本端口后,所述數(shù)據(jù)報文被轉發(fā)至交換機的第一個端口中,并由交換機的第一個端口流出至網(wǎng)絡測試儀中。

具體的,網(wǎng)絡測試儀通過網(wǎng)線發(fā)送一個數(shù)據(jù)報文至交換機的端口1,端口1接收并處理所述數(shù)據(jù)報文,將數(shù)據(jù)報文通過直連的方式直接轉發(fā)至端口2中,端口2將接收到的數(shù)據(jù)報文發(fā)送至Serdes芯片模塊中進行環(huán)回處理,所述數(shù)據(jù)報文環(huán)回至端口2中,端口2接收并處理數(shù)據(jù)報文同時將數(shù)據(jù)報文轉發(fā)至端口3中;端口3將接收到的數(shù)據(jù)報文發(fā)送至Serdes芯片模塊中進行環(huán)回處理,所述數(shù)據(jù)報文環(huán)回至端口3中,端口3接收并處理數(shù)據(jù)報文同時將數(shù)據(jù)報文轉發(fā)至端口4中;端口4將接收到的數(shù)據(jù)報文發(fā)送至Serdes芯片模塊中進行環(huán)回處理,所述數(shù)據(jù)報文環(huán)回至端口4中,端口4接收并處理數(shù)據(jù)報文同時將數(shù)據(jù)報文轉發(fā)至端口5中;端口5將接收到的數(shù)據(jù)報文發(fā)送至Serdes芯片模塊中進行環(huán)回處理,所述數(shù)據(jù)報文環(huán)回至端口5中,端口5接收并處理數(shù)據(jù)報文同時將數(shù)據(jù)報文轉發(fā)至端口6中;端口6將接收到的數(shù)據(jù)報文發(fā)送至Serdes芯片模塊中進行環(huán)回處理,所述數(shù)據(jù)報文環(huán)回至端口6中,端口6接收并處理數(shù)據(jù)報文同時將數(shù)據(jù)報文轉發(fā)至端口1中;端口1將接收到的數(shù)據(jù)報文同過網(wǎng)線發(fā)送至網(wǎng)絡測試儀中,所述網(wǎng)絡測試儀根據(jù)接收到的數(shù)據(jù)報文進一步判斷交換機的轉發(fā)性能。

所述交換機的端口2、端口3、端口4、端口5,以及端口6通過配置交換機中的Serdes芯片模塊實現(xiàn)報文的環(huán)回,其中,端口1不進行數(shù)據(jù)報文的環(huán)回。

通過上述方法測試交換機,每個交換機端口都有一次數(shù)據(jù)報文的流入和一次數(shù)據(jù)報文的流出,本實施例中,所述數(shù)據(jù)報文的流入是指數(shù)據(jù)報文從端口的接收方向流入,數(shù)據(jù)報文的流出是指前一個端口接收到的報文轉發(fā)至本端口后,從本端口流出至下一個端口,從而使交換機處于滿負載的狀態(tài),如交換機的端口3,流入端口3的數(shù)據(jù)報文為端口3接收方向接收到的數(shù)據(jù)報文,流出端口3的數(shù)據(jù)報文為端口2接收到的報文轉發(fā)至端口3后,從端口3流出至端口4的數(shù)據(jù)報文;另外,交換機中數(shù)據(jù)報文的流向是單向的,數(shù)據(jù)報文的流向是從交換機的第一端口依次流向交換機的最后一個端口。

本實施例中,被測交換機采用6個端口,當然,對于具有n個端口的交換機來說,同樣可以采用上述的方法進行交換機的轉發(fā)性能的測試,因此,上述方法可以用于具有n個端口的交換機,其中n為整數(shù)。

本發(fā)明通過Serdes芯片模塊實現(xiàn)交換機端口報文環(huán)回,達到交換機滿負載的狀態(tài),以進行轉發(fā)性能測試,并且僅使用網(wǎng)絡測試儀中的一個測試端口完成對交換機轉發(fā)性能的測試,擺脫接口和連接介質(zhì)的資源要求,減少成本,以及減少測試的復雜程度。

本發(fā)明的技術內(nèi)容及技術特征已揭示如上,然而熟悉本領域的技術人員仍可能基于本發(fā)明的教示及揭示而作種種不背離本發(fā)明精神的替換及修飾,因此,本發(fā)明保護范圍應不限于實施例所揭示的內(nèi)容,而應包括各種不背離本發(fā)明的替換及修飾,并為本專利申請權利要求所涵蓋。

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