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設(shè)備測(cè)試方法及裝置與流程

文檔序號(hào):11064732閱讀:2536來(lái)源:國(guó)知局
設(shè)備測(cè)試方法及裝置與制造工藝
本發(fā)明涉及通信領(lǐng)域,尤其是涉及一種設(shè)備測(cè)試方法及裝置。
背景技術(shù)
:隨著自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)的蓬勃發(fā)展,自動(dòng)化測(cè)試工具已經(jīng)深入到路由器或交換機(jī)的測(cè)試中,業(yè)界普遍采用的自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程一般如圖1(圖1是根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的自動(dòng)化測(cè)試實(shí)現(xiàn)過(guò)程示意圖)所示,主要包括以下幾個(gè)步驟:(1)通過(guò)TCL(ToolCommandLanguage,工具命令語(yǔ)言)腳本建立測(cè)試腳本庫(kù);(2)按照測(cè)試規(guī)范要求搭建一個(gè)統(tǒng)一的物理測(cè)試拓?fù)洌?3)讀取測(cè)試腳本并解析其所依賴的邏輯拓?fù)?,將邏輯拓?fù)溆成涞轿锢硗負(fù)渖希瑘?zhí)行測(cè)試腳本定義的操作;(圖1中的通用功能指的是向測(cè)試腳本提供所需要的各種基礎(chǔ)能力,如設(shè)備接入控制、測(cè)試數(shù)據(jù)獲取等);(4)系統(tǒng)順序執(zhí)行完所有定義的測(cè)試腳本,輸出測(cè)試結(jié)果。這種自動(dòng)化測(cè)試方法的特點(diǎn)在于:對(duì)于同一個(gè)被測(cè)對(duì)象(被測(cè)設(shè)備),整套測(cè)試腳本共用一個(gè)測(cè)試拓?fù)?,測(cè)試腳本1啟動(dòng),開始進(jìn)行邏輯-物理拓?fù)溆成?,測(cè)試執(zhí)行,等待測(cè)試腳本1執(zhí)行完成后再進(jìn)行下一個(gè)測(cè)試腳本2的邏輯-物理拓?fù)溆成?、測(cè)試執(zhí)行,邏輯清晰簡(jiǎn)明,其屬于單拓?fù)鋯芜M(jìn)程的測(cè)試方法。但是,當(dāng)被測(cè)設(shè)備是路由器或交換機(jī)這類網(wǎng)絡(luò)設(shè)備時(shí),這種單拓?fù)鋯芜M(jìn)程的自動(dòng)化測(cè)試方法體現(xiàn)出以下缺陷:(1)測(cè)試過(guò)程中當(dāng)前測(cè)試腳本獨(dú)占被測(cè)設(shè)備,因此這種測(cè)試方法會(huì)造成測(cè)試資源和時(shí)間的浪費(fèi);(2)由于路由器或交換機(jī)需要支持多拓?fù)涠鄥f(xié)議工作,測(cè)試腳本的并行和疊加執(zhí)行才容易發(fā)現(xiàn)測(cè)試問題,因此這種測(cè)試方式不容發(fā)現(xiàn)測(cè)試問題;(3)整個(gè)單進(jìn)程測(cè)試過(guò)程中,被測(cè)設(shè)備的異常狀態(tài)(如部分板卡、端口異?;蛑貑?沒有被監(jiān)控,而這些異常是會(huì)直接影響測(cè)試結(jié)果的。因此,如何提供一種可以對(duì)路由器或交換機(jī)等網(wǎng)絡(luò)設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試技 術(shù)方案,從而達(dá)到提高測(cè)試效率、節(jié)省測(cè)試資源、易于發(fā)現(xiàn)測(cè)試問題以及保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性的目的,成為亟待解決的問題。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:本發(fā)明的主要目的在于提供一種相較于傳統(tǒng)的單進(jìn)程自動(dòng)化設(shè)備測(cè)試方法,可以提高測(cè)試效率、節(jié)省測(cè)試成本且更容易從測(cè)試結(jié)果中發(fā)現(xiàn)設(shè)備問題的測(cè)試方案。為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明提供了一種設(shè)備測(cè)試方法,包括:獲取當(dāng)前需要進(jìn)行測(cè)試的被測(cè)設(shè)備的測(cè)試拓?fù)?,其中,所述測(cè)試拓?fù)浒ǘ鄠€(gè)相互獨(dú)立的測(cè)試子拓?fù)?;根?jù)所述多個(gè)測(cè)試子拓?fù)鋵?duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行并行測(cè)試,得到測(cè)試結(jié)果。優(yōu)選地,根據(jù)所述多個(gè)測(cè)試子拓?fù)鋵?duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行并行測(cè)試包括:將每個(gè)所述測(cè)試子拓?fù)涞臏y(cè)試腳本集合發(fā)送給測(cè)試設(shè)備;指示所述測(cè)試設(shè)備使用所有的所述測(cè)試腳本集合對(duì)所述待測(cè)設(shè)備進(jìn)行所述并行測(cè)試。優(yōu)選地,所述方法還包括:在所述并行測(cè)試開始后,每間隔預(yù)定時(shí)長(zhǎng),對(duì)所述被測(cè)設(shè)備的設(shè)備狀態(tài)進(jìn)行查詢,并保存查詢到的設(shè)備狀態(tài)。優(yōu)選地,所述設(shè)備狀態(tài)包括:所述被測(cè)設(shè)備的所有端口和/或板卡的工作狀態(tài)。優(yōu)選地,所述被測(cè)設(shè)備為一個(gè)或多個(gè)支持多拓?fù)浜投鄥f(xié)議的設(shè)備。優(yōu)選地,所述支持多拓?fù)浜投鄥f(xié)議的設(shè)備包括:路由器或交換機(jī)。本發(fā)明還提供了一種設(shè)備測(cè)試裝置,包括:獲取模塊,用于獲取當(dāng)前需要進(jìn)行測(cè)試的被測(cè)設(shè)備的測(cè)試拓?fù)?,其中,所述測(cè)試拓?fù)浒ǘ鄠€(gè)相互獨(dú)立的測(cè)試子拓?fù)洌粶y(cè)試模塊,用于根據(jù)所述多個(gè)測(cè)試子拓?fù)鋵?duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行并行測(cè)試,得到測(cè)試結(jié)果。優(yōu)選地,所述測(cè)試模塊包括:發(fā)送單元,用于將每個(gè)所述測(cè)試子拓?fù)涞臏y(cè)試腳本集合發(fā)送給測(cè)試設(shè)備;指示測(cè)試單元,用于指示所述測(cè)試設(shè)備使用所有的所述測(cè)試腳本集合對(duì)所述待測(cè)設(shè)備進(jìn)行所述并行測(cè)試。優(yōu)選地,所述裝置還包括:查詢保存模塊,用于在所述并行測(cè)試開始后,每間隔預(yù)定時(shí)長(zhǎng),對(duì)所述被測(cè)設(shè)備的設(shè)備狀態(tài)進(jìn)行查詢,并保存查詢到的設(shè)備 狀態(tài)。優(yōu)選地,所述設(shè)備狀態(tài)包括:所述被測(cè)設(shè)備的所有端口和/或板卡的工作狀態(tài)。優(yōu)選地,所述被測(cè)設(shè)備為一個(gè)或多個(gè)支持多拓?fù)浜投鄥f(xié)議的設(shè)備。優(yōu)選地,所述支持多拓?fù)浜投鄥f(xié)議的設(shè)備包括:路由器或交換機(jī)。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明所述的設(shè)備測(cè)試方法及裝置,可以根據(jù)預(yù)先為被測(cè)設(shè)備設(shè)定的多個(gè)相互獨(dú)立的測(cè)試子拓?fù)渫瑫r(shí)對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行并行測(cè)試,尤其更適用于支持多拓?fù)涠鄥f(xié)議的路由器或交換機(jī)等設(shè)備,有利于發(fā)現(xiàn)這些設(shè)備的問題,相比于傳統(tǒng)的單進(jìn)程測(cè)試方式,達(dá)到了提高測(cè)試效率、節(jié)約測(cè)試成本的效果。附圖說(shuō)明圖1是根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的自動(dòng)化測(cè)試實(shí)現(xiàn)示意圖;圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的設(shè)備測(cè)試方法流程圖;圖3是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的自動(dòng)化并行測(cè)試架構(gòu)的示意圖;圖4是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的設(shè)備網(wǎng)絡(luò)管理類測(cè)試的拓?fù)涫疽鈭D;圖5A是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的測(cè)試子拓?fù)?的示意圖;圖5B是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的測(cè)試子拓?fù)?的示意圖;圖5C是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的測(cè)試子拓?fù)?的示意圖;圖6是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的設(shè)備測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)框圖;以及圖7是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的設(shè)備測(cè)試裝置的示意圖。具體實(shí)施方式下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明的一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。本發(fā)明實(shí)施例提供了一種設(shè)備測(cè)試方法。圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的設(shè)備測(cè)試方法流程圖,如圖2所示,該流程包括以下步驟(步驟S202-步驟S204):步驟S202、獲取當(dāng)前需要進(jìn)行測(cè)試的被測(cè)設(shè)備的測(cè)試拓?fù)?,其中,所述測(cè)試拓?fù)浒ǘ鄠€(gè)相互獨(dú)立的測(cè)試子拓?fù)?;步驟S204、根據(jù)所述多個(gè)測(cè)試子拓?fù)鋵?duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行并行測(cè)試,得到測(cè)試結(jié)果。通過(guò)上述步驟,可以使用預(yù)先為被測(cè)設(shè)備設(shè)定的多個(gè)測(cè)試子拓?fù)鋵?duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行并行測(cè)試,由于多個(gè)測(cè)試子拓?fù)渲g是相互獨(dú)立的,并不會(huì)對(duì)多個(gè)測(cè)試子拓?fù)涞臏y(cè)試子結(jié)果產(chǎn)生干擾,匯總這些測(cè)試子結(jié)果既可以得到對(duì)應(yīng)于被測(cè)設(shè)備的最終測(cè)試結(jié)果。在本發(fā)明實(shí)施例中,步驟S204可以通過(guò)采用這樣的實(shí)現(xiàn)方式:將每個(gè)所述測(cè)試子拓?fù)涞臏y(cè)試腳本集合發(fā)送給測(cè)試設(shè)備,再指示所述測(cè)試設(shè)備使用所有的所述測(cè)試腳本集合對(duì)所述待測(cè)設(shè)備進(jìn)行所述并行測(cè)試。在本發(fā)明實(shí)施例中,在所述并行測(cè)試開始后,每間隔預(yù)定時(shí)長(zhǎng),還可以對(duì)所述被測(cè)設(shè)備的設(shè)備狀態(tài)進(jìn)行查詢,并保存查詢到的設(shè)備狀態(tài)。這樣做的好處是:定時(shí)查詢得到的查詢結(jié)果(即設(shè)備狀態(tài))可以作為最終測(cè)試結(jié)果的參考因素,有利于對(duì)被測(cè)設(shè)備的測(cè)試狀態(tài)進(jìn)行整體分析。其中,所述設(shè)備狀態(tài)可以包括:所述被測(cè)設(shè)備的所有端口和/或板卡的工作狀態(tài)。在實(shí)際應(yīng)用中,端口可以是業(yè)務(wù)端口,專門的測(cè)試端口等,設(shè)備狀態(tài)可以是正常狀態(tài),也可以是異常狀態(tài),例如,異常狀態(tài)可以是部分板塊或端口發(fā)生異常或重啟時(shí)的狀態(tài)。傳統(tǒng)的單進(jìn)程設(shè)備自動(dòng)化測(cè)試方法是沒有對(duì)設(shè)備狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)控的,而設(shè)備發(fā)生異常時(shí)的狀態(tài)是會(huì)直接影響測(cè)試結(jié)果的,因此,有必須對(duì)設(shè)備進(jìn)行監(jiān)控,以發(fā)現(xiàn)異常狀態(tài)。需要說(shuō)明的是,在本發(fā)明實(shí)施例中,所述被測(cè)設(shè)備可以為一個(gè)或多個(gè)支持多拓?fù)浜投鄥f(xié)議的設(shè)備。但并不排除其他任何可以使用本發(fā)明實(shí)施例提供的設(shè)備測(cè)試方法的被測(cè)設(shè)備。較佳地,所述支持多拓?fù)浜投鄥f(xié)議的設(shè)備可以包括:路由器或交換機(jī)。路由器或交換機(jī)都是具有多個(gè)端口的設(shè)備,本身也是工作在多拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)中,并支持多協(xié)議,但是在實(shí)際應(yīng)用中,并不局限于該兩種設(shè)備。為便于理解上述設(shè)備測(cè)試方法,以下結(jié)合附圖和優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行更加詳細(xì) 的描述。為了執(zhí)行上述實(shí)施例提供的設(shè)備測(cè)試方法,需要在實(shí)施設(shè)備測(cè)試方法前搭建一個(gè)自動(dòng)化并行測(cè)試架構(gòu),請(qǐng)參考圖3(圖3是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的自動(dòng)化并行測(cè)試架構(gòu)的示意圖),如圖3所示,該自動(dòng)化并行測(cè)試架構(gòu)包括測(cè)試拓?fù)浼?由多個(gè)測(cè)試拓?fù)渥蛹瘶?gòu)成,均為邏輯拓?fù)?,與測(cè)試拓?fù)渥蛹哂杏成潢P(guān)系的測(cè)試腳本子集,定時(shí)查看被測(cè)設(shè)備狀態(tài)腳本,以及多進(jìn)程測(cè)試策略模塊(可以是軟件功能型模塊,也可以是集成了軟件功能的硬件)。該自動(dòng)化并行測(cè)試架構(gòu)的搭建過(guò)程包括如下步驟:(1)通過(guò)TCL腳本建立測(cè)試腳本庫(kù);(2)通過(guò)對(duì)測(cè)試規(guī)范進(jìn)行分析整理,得到測(cè)試拓?fù)浼?,該測(cè)試拓?fù)浼菍?duì)測(cè)試用例拓?fù)溥M(jìn)行分類總結(jié)出的典型測(cè)試拓?fù)涞募希鄬?duì)現(xiàn)有測(cè)試系統(tǒng)中大而全的一個(gè)完整測(cè)試拓?fù)?,該測(cè)試拓?fù)浼现械拿總€(gè)測(cè)試子拓?fù)湎鄬?duì)簡(jiǎn)單、獨(dú)立、容易單獨(dú)滿足測(cè)試規(guī)范。例如,如圖4所示(圖4是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的設(shè)備網(wǎng)絡(luò)管理類測(cè)試的拓?fù)涫疽鈭D,其中DUT即為被測(cè)設(shè)備),在對(duì)設(shè)備進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)管理類測(cè)試時(shí),并不需要測(cè)試儀表端口和被測(cè)設(shè)備業(yè)務(wù)接口的組網(wǎng)拓?fù)?,只需要能遠(yuǎn)程訪問到被測(cè)設(shè)備。(3)依據(jù)測(cè)試拓?fù)浼械臏y(cè)試子拓?fù)?,?duì)腳本庫(kù)劃分滿足各自測(cè)試子拓?fù)涞臏y(cè)試腳本子集,當(dāng)然測(cè)試腳本屬于同一個(gè)測(cè)試腳本子集必須滿足同一個(gè)測(cè)試子拓?fù)涞挠成?,多進(jìn)程并行測(cè)試時(shí)理論上會(huì)影響各自測(cè)試結(jié)果的測(cè)試腳本(例如,路由下發(fā)速度測(cè)試和LSP(LayeredServiceProvider,分層服務(wù)提供程序)下發(fā)速度測(cè)試,都對(duì)被測(cè)設(shè)備的CPU具有較大需求),因此應(yīng)盡量合并測(cè)試拓?fù)洌詫?duì)放在同一個(gè)測(cè)試腳本子集中進(jìn)行串行測(cè)試;對(duì)于路由器交換機(jī)這類網(wǎng)絡(luò)設(shè)備來(lái)說(shuō),不同測(cè)試子拓?fù)湎碌臏y(cè)試?yán)?例如各種協(xié)議、捆綁、鏡像等功能)基本同時(shí)進(jìn)行是不應(yīng)該互相影響的,如果從最終測(cè)試結(jié)果發(fā)現(xiàn)存在影響,則恰恰是被測(cè)設(shè)備在測(cè)試中應(yīng)該發(fā)現(xiàn)的問題。(4)根據(jù)被測(cè)設(shè)備上已有的物理業(yè)務(wù)端口搭建測(cè)試環(huán)境(即物理拓?fù)?,并將各個(gè)測(cè)試子拓?fù)漭斎攵噙M(jìn)程測(cè)試策略模塊。至此,自動(dòng)化并行測(cè)試架構(gòu)的搭建過(guò)程完成,使用該自動(dòng)化并行測(cè)試架構(gòu)執(zhí)行上述設(shè)備測(cè)試方法的過(guò)程如下:多進(jìn)程測(cè)試策略模塊分析輸入的測(cè)試子拓?fù)?,啟?dòng)測(cè)試子拓?fù)溥M(jìn)程,進(jìn)行對(duì)應(yīng)測(cè)試用例的并行測(cè)試,每個(gè)測(cè)試子拓?fù)溥M(jìn)程讀取測(cè)試腳本并依次運(yùn)行測(cè)試腳本,并行執(zhí)行完所有測(cè)試腳本子集,由于各個(gè)測(cè)試子拓?fù)溥M(jìn)程之間是相互獨(dú)立的,各個(gè)測(cè)試結(jié)果(可以稱為測(cè)試子結(jié)果)之間互不影響,匯總這些測(cè)試子結(jié)果即得到被測(cè)設(shè)備的測(cè)試結(jié)果。當(dāng)然,還可以預(yù)先設(shè)定一個(gè)時(shí)長(zhǎng),并每間隔該時(shí)長(zhǎng),就可以定時(shí)查看被測(cè)設(shè)備的狀態(tài)(是一個(gè)單獨(dú)進(jìn)程腳本,時(shí)長(zhǎng)滿時(shí)運(yùn)行該單獨(dú)進(jìn)程腳本即可實(shí)現(xiàn)查詢功能),這樣一來(lái),就可以定時(shí)查詢并記錄設(shè)備狀態(tài)信息,供分析測(cè)試結(jié)果的時(shí)候作為參考因素。為便于進(jìn)一步理解,以交換機(jī)測(cè)試中的部分功能測(cè)試為例,描述該設(shè)備測(cè)試方法的實(shí)施過(guò)程,請(qǐng)參考表1:表1、交換機(jī)測(cè)試中的部分測(cè)試用例序號(hào)測(cè)試?yán)?STP2RSTP3VLAN接入4VLAN標(biāo)記幀5VLAN學(xué)習(xí)6VLAN過(guò)濾7VLAN隔離8VLAN交換9環(huán)路檢測(cè)10用戶密碼安全性對(duì)于某一個(gè)型號(hào)的交換機(jī)(被測(cè)設(shè)備),要完成以上測(cè)試用例,現(xiàn)有自動(dòng)化測(cè)試工具通常做法是:首先搭建一個(gè)大而全的測(cè)試拓?fù)?,如果?shí)際物理拓?fù)淠芡耆珴M足邏輯測(cè)試拓?fù)洌?0個(gè)測(cè)試腳本將會(huì)順序執(zhí)行至測(cè)試結(jié)束,而如果實(shí)際物理拓?fù)洳荒芡耆珴M足既定拓?fù)?例如,目前只有1臺(tái)被測(cè)設(shè)備DUT-1可用作功能測(cè)試),會(huì)導(dǎo)致整個(gè)自動(dòng)化測(cè)試無(wú)法進(jìn)行。而采用本發(fā)明實(shí)施例提供的設(shè)備測(cè)試方法(并行測(cè)試),由于測(cè)試拓?fù)浼?包括測(cè)試子拓?fù)?、測(cè)試子拓?fù)?、測(cè)試子拓?fù)?,請(qǐng)參考圖5A-圖5C)是預(yù)先根據(jù)測(cè)試規(guī)范的要求分析整理出來(lái)的,根據(jù)該三個(gè)測(cè)試子拓?fù)浒岩陨?0個(gè)測(cè)試腳本劃分成3個(gè)可以并行執(zhí)行的測(cè)試腳本子集如表2所示,可以看出在 不同子拓?fù)渲?,被測(cè)設(shè)備并行進(jìn)行3個(gè)子集測(cè)試?yán)碚撋鲜腔ゲ桓蓴_的。表2、自動(dòng)化并行測(cè)試的測(cè)試腳本子集如果當(dāng)前只有1臺(tái)該型號(hào)交換機(jī)DUT-1,就可以搭建滿足測(cè)試子拓?fù)?和測(cè)試子拓?fù)?的物理拓?fù)?,測(cè)試策略模塊將啟動(dòng)測(cè)試腳本子集1和測(cè)試腳本子集3并行測(cè)試,輸出7個(gè)測(cè)試結(jié)果;如果需要滿足所有測(cè)試子拓?fù)洌呗阅K將同時(shí)啟動(dòng)3個(gè)測(cè)試腳本子集進(jìn)行多進(jìn)程并行測(cè)試,輸出10個(gè)測(cè)試結(jié)果;并且,在測(cè)試過(guò)程進(jìn)行中或結(jié)束后,能夠通過(guò)測(cè)試腳本子集3中的定時(shí)查詢?cè)O(shè)備狀態(tài)進(jìn)程獲取設(shè)備測(cè)試狀態(tài)信息,以輔助判斷整臺(tái)設(shè)備的測(cè)試狀態(tài)。對(duì)應(yīng)于上述設(shè)備測(cè)試方法,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種設(shè)備測(cè)試裝置,用以實(shí)施上述設(shè)備測(cè)試方法。圖6是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的設(shè)備測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)框圖,如圖6所示,該裝置包括:獲取模塊10和測(cè)試模塊20。其中,獲取模塊10,用于獲取當(dāng)前需要進(jìn)行測(cè)試的被測(cè)設(shè)備的測(cè)試拓?fù)?,其中,所述測(cè)試拓?fù)浒ǘ鄠€(gè)相互獨(dú)立的測(cè)試子拓?fù)?;測(cè)試模塊20,連接至獲取模塊10用于根據(jù)所述多個(gè)測(cè)試子拓?fù)鋵?duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行并行測(cè)試,得到測(cè)試結(jié)果。在圖6所示的設(shè)備測(cè)試裝置的基礎(chǔ)上,本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例還提供了一種設(shè)備測(cè)試裝置,請(qǐng)參考圖7,圖7是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的設(shè)備測(cè)試裝置的示意圖,如圖7所示:所述測(cè)試模塊20可以進(jìn)一步包括:發(fā)送單元22,用于將每個(gè)所述測(cè)試子拓?fù)涞臏y(cè)試腳本集合發(fā)送給測(cè)試設(shè)備;指示測(cè)試單元24,用于指示所述測(cè)試設(shè)備使用所有的所述測(cè)試腳本集合對(duì)所述待測(cè)設(shè)備進(jìn)行所述并行測(cè)試。所述裝置還可以包括:查詢保存模塊30,用于在所述并行測(cè)試開始后, 每間隔預(yù)定時(shí)長(zhǎng),對(duì)所述被測(cè)設(shè)備的設(shè)備狀態(tài)進(jìn)行查詢,并保存查詢到的設(shè)備狀態(tài)。其中,所述設(shè)備狀態(tài)可以包括:所述被測(cè)設(shè)備的所有端口和/或板卡的工作狀態(tài)。在本發(fā)明實(shí)施例中,所述被測(cè)設(shè)備為一個(gè)或多個(gè)支持多拓?fù)浜投鄥f(xié)議的設(shè)備。較佳地,所述支持多拓?fù)浜投鄥f(xié)議的設(shè)備可以包括:路由器或交換機(jī)??梢钥闯?,相對(duì)于現(xiàn)有自動(dòng)化測(cè)試方法中對(duì)于同一個(gè)測(cè)試對(duì)象統(tǒng)一設(shè)定一個(gè)自動(dòng)化測(cè)試拓?fù)?環(huán)境)的做法,當(dāng)被測(cè)對(duì)象是路由器或交換機(jī)這類本身就工作在多拓?fù)湎碌木W(wǎng)絡(luò)設(shè)備時(shí),本發(fā)明實(shí)施例提供的這種將整個(gè)測(cè)試拓?fù)洳鸱殖啥鄠€(gè)相對(duì)獨(dú)立的測(cè)試子拓?fù)浼?,只要被測(cè)設(shè)備滿足其中一個(gè)子拓?fù)渚湍苓M(jìn)行相關(guān)模塊的測(cè)試方式,不會(huì)因?yàn)椴粷M足全部的既定拓?fù)涠鴮?dǎo)致所有自動(dòng)化測(cè)試腳本無(wú)法執(zhí)行。通過(guò)本發(fā)明實(shí)施例,對(duì)于被測(cè)設(shè)備是路由器或交換機(jī)等網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的情況,可以依據(jù)不同的測(cè)試子拓?fù)淠懿⑿羞\(yùn)行多個(gè)測(cè)試腳本子集,相對(duì)于傳統(tǒng)單拓?fù)鋯芜M(jìn)程的自動(dòng)化測(cè)試方式,多個(gè)測(cè)試腳本的并行執(zhí)行不僅能夠節(jié)省測(cè)試時(shí)間、提高測(cè)試效率,更能暴露被測(cè)設(shè)備在單拓?fù)鋯喂δ軠y(cè)試中未能發(fā)現(xiàn)的問題。而且,由于定時(shí)查詢被測(cè)設(shè)備狀態(tài)的腳本的增加設(shè)計(jì),可以保證全程記錄被測(cè)設(shè)備所有端口/板卡的工作狀態(tài),有利于對(duì)被測(cè)設(shè)備測(cè)試狀態(tài)的整體分析。以上所述是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,應(yīng)當(dāng)指出,對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō),在不脫離本發(fā)明所述原理的前提下,還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾,這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。當(dāng)前第1頁(yè)1 2 3 
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