用于單端光學(xué)測(cè)試儀器的陣列連接器測(cè)試線束的制作方法
【專利摘要】用于測(cè)試光纖系統(tǒng)的系統(tǒng)，裝置和方法，提供近端和遠(yuǎn)端線束從而將光纖系統(tǒng)中的光纖組環(huán)接在一起。近端線束具有連接到測(cè)試器的接口。然后測(cè)試器實(shí)現(xiàn)整個(gè)光纖組上的測(cè)試，通過兩條線束產(chǎn)生一個(gè)橫穿網(wǎng)絡(luò)內(nèi)整個(gè)光纖組或光纖子組的單個(gè)光學(xué)路徑的配置環(huán)接在一起，這樣發(fā)射測(cè)試信號(hào)在整個(gè)環(huán)接光纖組內(nèi)傳播，提供光纖的測(cè)量結(jié)果。
【專利說明】用于單端光學(xué)測(cè)試儀器的陣列連接器測(cè)試線束

【背景技術(shù)】
[0001]本發(fā)明涉及光學(xué)測(cè)試儀器，更具體的涉及用于單端光學(xué)測(cè)試儀器的陣列連接器測(cè)試線束。
[0002]陣列連接器，例如MPO/MTP?:連接器(ΜΡ0為多光纖推進(jìn)型連接器的工業(yè)簡(jiǎn)稱，MTPS:為MPO連接器的商標(biāo))，包括多條排列成陣列的光纖。最常見的為IX 12，但是2X12和其他配置是可用的。然而，測(cè)試儀器設(shè)計(jì)為與單光纖連接器相接。這些單光纖連接器有時(shí)候匯聚在一個(gè)雙工鏈路中并且一些測(cè)試儀器設(shè)計(jì)為與這些相接。沒有測(cè)試儀器配置為與陣列連接器相接。
[0003]為了彌補(bǔ)與陣列連接器相接的該缺失，現(xiàn)有技術(shù)要求一個(gè)定制線束，其將陣列連接器接口斷點(diǎn)為單工連接器，如附圖1所示。然后可以將測(cè)試器連接到第一單工連接器和第一待測(cè)光纖。然后必須斷開測(cè)試器，接著連接到下一個(gè)以及后續(xù)的連接器從而測(cè)試陣列中的下一個(gè)以及后續(xù)光纖。理想情況下，斷點(diǎn)線束中光纖的長(zhǎng)度足夠長(zhǎng)從而抑制測(cè)試器的死區(qū)效應(yīng)(激勵(lì)信號(hào)被測(cè)試器探測(cè)出來后反射過快地返回的長(zhǎng)度)。
[0004]線束包括發(fā)射纜端和尾纜端線束12，14，分別連接到陣列連接器16，16’，陣列連接器與待測(cè)光纖網(wǎng)絡(luò)18相接。需要注意的是，光纖網(wǎng)絡(luò)包括多條光纖，其中每條光纖對(duì)應(yīng)陣列連接器的一個(gè)連接件。近端線束12具有多條發(fā)射纜連接光纖20，20’，20”等，具有接口連接器22，22’等，適于與測(cè)試儀器24相接。尾纜斷點(diǎn)線束14具有相應(yīng)的一組斷點(diǎn)光纖26，26’等，具有連接器28，28’等，用于與測(cè)試儀器連接。
[0005]附圖2表示根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)進(jìn)行測(cè)試涉及的測(cè)試步驟。為了完成光纖鏈路的測(cè)試，在步驟I，選定光纖組中的第一光纖，并且該光纖的發(fā)射纜斷點(diǎn)連接器20(例如)連接到測(cè)試儀器上，尾纜斷點(diǎn)連接器26連接到光纖的遠(yuǎn)端，并且執(zhí)行測(cè)試步驟。接下來，將測(cè)試儀器連接到一個(gè)不同的發(fā)射纜斷點(diǎn)光纖20’，并且將尾纜斷點(diǎn)連接器26’連接到光纖的遠(yuǎn)端(步驟2)，并且執(zhí)行測(cè)試步驟。連接后續(xù)發(fā)射纜斷點(diǎn)光纖20”，20”’，26”，26”’等并且執(zhí)行測(cè)試，直到整個(gè)光纖組(或者期望的子組)被測(cè)試。
[0006]接下來，測(cè)試儀器移到光纖網(wǎng)絡(luò)的遠(yuǎn)端，尾纜和發(fā)射纜斷點(diǎn)光纖連接器移動(dòng)到光纖的相對(duì)端，其中尾纜斷點(diǎn)光纖26連接到遠(yuǎn)端，并且發(fā)射端斷點(diǎn)光纖20連接到近端(以前是遠(yuǎn)端)，于是啟動(dòng)測(cè)試順序(步驟3)。一旦該測(cè)試完成，測(cè)試儀器連接到不同的發(fā)射纜斷點(diǎn)光纖20’和尾纜斷點(diǎn)光纖26’上(步驟4)，并且執(zhí)行測(cè)試步驟。連接后續(xù)尾纜/發(fā)射纜斷點(diǎn)光纖20”/26”，20”’ /26”’等并且執(zhí)行測(cè)試，直到整個(gè)光纖組(或者期望子組)再次被測(cè)試。
[0007]上述步驟實(shí)現(xiàn)光纖網(wǎng)絡(luò)的全雙向測(cè)試，但是需要對(duì)測(cè)試順序和步驟進(jìn)行小心監(jiān)控從而保證所有的光纖都進(jìn)行了適當(dāng)測(cè)試。并且，測(cè)試步驟(包括需要將測(cè)試儀器移動(dòng)到網(wǎng)絡(luò)的相對(duì)端)可能是耗時(shí)的。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]根據(jù)本發(fā)明，光學(xué)線束系統(tǒng)提供了近端和遠(yuǎn)端線束，將光纖組環(huán)接在一起。近端線束具有連接到測(cè)試器上的接口。然后測(cè)試器實(shí)現(xiàn)整個(gè)光纖組的測(cè)試，光纖組采用兩條線束產(chǎn)生橫穿網(wǎng)絡(luò)內(nèi)整個(gè)光纖組或子組的單個(gè)光學(xué)路徑的配置環(huán)接在一起，從而發(fā)射測(cè)試信號(hào)在整個(gè)環(huán)接光纖組內(nèi)傳播，軟件分析識(shí)別線束并去除它們，這樣剖析出待測(cè)光纖并且獨(dú)立地進(jìn)行分析和顯示，提供了光纖的測(cè)量結(jié)果。
[0009]相應(yīng)地，本發(fā)明的一個(gè)目的在于提供一種用于測(cè)試光纖系統(tǒng)的改進(jìn)的系統(tǒng)、方法和裝置。
[0010]本發(fā)明另一個(gè)目的在于提供一種在應(yīng)用陣列連接器的測(cè)試光纖系統(tǒng)中使用的改進(jìn)的測(cè)試線束系統(tǒng)。
[0011]本發(fā)明的另一個(gè)目的在于提供一種測(cè)試與陣列連接器相接的光纖系統(tǒng)的改進(jìn)方法。
[0012]本發(fā)明的主題特別指出并在該說明書的結(jié)論部分明確地要求保護(hù)。然而，組織方式和操作方法以及其他優(yōu)勢(shì)和目的，可以參考如下描述，并且與附圖結(jié)合考慮得到更好的理解，其中相同的附圖標(biāo)記表示相同的元件。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0013]附圖1是根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的一種使用陣列連接器的光纖系統(tǒng)測(cè)試配置的示意圖；
[0014]附圖2說明根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)，對(duì)應(yīng)用陣列連接器的光纖網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行測(cè)試的方法；
[0015]附圖3是根據(jù)本公開的應(yīng)用陣列連接器測(cè)試線束的光纖系統(tǒng)的測(cè)試配置的示意圖；以及
[0016]附圖4說明根據(jù)本公開的測(cè)試方法。

【具體實(shí)施方式】
[0017]根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的系統(tǒng)包括近端和遠(yuǎn)端線束，其中兩條線束為由此連接的光纖提供環(huán)路連接，從而提供了然后可以測(cè)試的單個(gè)光學(xué)路徑。近端連接器提供兩條抽頭連接光纖，用于將單個(gè)光學(xué)路徑的相應(yīng)端連接到測(cè)試儀器上，允許光纖網(wǎng)絡(luò)的雙向測(cè)試。
[0018]光纖線束使得單光纖測(cè)試儀器(例如0TDR)與陣列連接器相接并且一次測(cè)試連接器鏈路中的所有光纖，無需移動(dòng)或者重新定位單接口。還提供了一種與更普遍的雙工鏈路相接的方法。雙工鏈路接口還通過允許雙向平均無需將測(cè)試器運(yùn)送到鏈路的相對(duì)端而減少了測(cè)試時(shí)間。由于測(cè)試時(shí)間減少帶來的人力節(jié)省的可能增幅是很可觀的。
[0019]系統(tǒng)包括兩條光學(xué)線束，參見附圖3。第一近端線束30在近端連接到陣列連接器上，第二遠(yuǎn)端線束32在遠(yuǎn)端連接到陣列連接器上。近端線束包含一條引入光纖34，將測(cè)試儀器24 (包括實(shí)現(xiàn)測(cè)試的硬件，包括隨機(jī)存取存儲(chǔ)器，只讀存儲(chǔ)器，一個(gè)或多個(gè)處理器，光學(xué)信號(hào)發(fā)生器和接收設(shè)備，用戶接口，計(jì)算機(jī)/通信接口等)連接到陣列中的第一光纖。其還包括回路光纖，將光纖2連接到3，4連接到5，6連接到7等，繼續(xù)這種模式直到最后一條光纖。假定陣列具有偶數(shù)條光纖，最后一條光纖沒有回路，但是一定長(zhǎng)度的光纖用作尾纜36。遠(yuǎn)端線束32包含回路光纖，將光纖I連接到2，3到4，5到6等，繼續(xù)這種模式直到最后一條光纖。兩條線束中每一條光纖都應(yīng)當(dāng)足夠長(zhǎng)從而抑制測(cè)試器的死區(qū)，允許測(cè)量每一條光纖的連接器接口。
[0020]使用中，典型的單端測(cè)試儀器會(huì)將光學(xué)脈沖在其測(cè)試端口發(fā)出，進(jìn)入引入光纖。脈沖沿光纖I行進(jìn)，回送到光纖2，回送到光纖3，繼續(xù)直到達(dá)到尾纜的端部。所有事件和光纖的反向散射和反射以相反方向回傳到測(cè)試器的測(cè)試端口。由此在單個(gè)測(cè)試實(shí)例中測(cè)試了陣列中的所有光纖。
[0021]在該系統(tǒng)的特定實(shí)施例中，軟件包括在測(cè)試器中和/或用于分析測(cè)量數(shù)據(jù)的計(jì)算機(jī)軟件應(yīng)用，從而將待測(cè)光纖與在測(cè)試線束中的光纖分開。因此，進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量分析并且利用簡(jiǎn)單示例性的圖表，以簡(jiǎn)化待測(cè)光纖的視覺表示。
[0022]近端和遠(yuǎn)端線束內(nèi)的回路可采用這種方式構(gòu)建從而使得每一個(gè)可獨(dú)特識(shí)別。這可在待測(cè)光纖包含損傷從而沒有獨(dú)特識(shí)別回路幫助無法或者很難進(jìn)行分析的情況下有助于軟件分析。使得回路可獨(dú)特識(shí)別的方法可以采用很多不同的形式。一種形式可以是使得每一條回路的長(zhǎng)度不同。另一種形式是在回路的獨(dú)特位置增加事件，例如非反射性損失。另一種形式是在回路中增加多個(gè)事件和獨(dú)特位置。多個(gè)事件可作為二進(jìn)制碼使用從而獨(dú)特識(shí)別每一條回路?；蛘呱鲜鎏峒暗倪@些形式以及其他許多沒有提到的方式的任何組合都可以使用。
[0023]獨(dú)特識(shí)別允許對(duì)回路光纖進(jìn)行虛擬減法從而使軟件或者用戶可以測(cè)量光纖特征。還允許極性測(cè)試。
[0024]可以將線束裝入一個(gè)穩(wěn)固的易于使用的機(jī)械包裝中，從而保護(hù)所有的回路光纖并且提供鎧裝電纜來保護(hù)與連接器相接的光纖。
[0025]注意的是，除了其他多光纖連接器系統(tǒng)外，該系統(tǒng)和方法還可以用于配置為雙工光纖鏈路的單光纖連接器。目前大多數(shù)光纖鏈路都配置為具有單光纖連接器的雙工鏈路。通過允許雙向測(cè)試和平均而無需將測(cè)試器物理移動(dòng)到光纖的相對(duì)端，該系統(tǒng)和方法允許測(cè)試時(shí)間的極大改善。如圖4所示，根據(jù)本公開的陣列連接器測(cè)試線束，測(cè)試方法如下。首先，近端線束30連接到光纖網(wǎng)絡(luò)的一端，而遠(yuǎn)端線束32連接在相對(duì)側(cè)，從而形成穿過光纖的回路。接下來，將測(cè)試儀器連接到引入光纖34，并且執(zhí)行測(cè)試。對(duì)于雙向測(cè)試，接下來將測(cè)試儀器連接到尾纜36 (或者如果光纖數(shù)量為奇數(shù)，那么連接到環(huán)路中的最后一條光纖)并進(jìn)一步執(zhí)行測(cè)試。
[0026]該測(cè)試更詳細(xì)的解釋如下:首先，近端發(fā)射纜端線束30和遠(yuǎn)端尾纜端回路線束32共同使用來互相間獨(dú)特地識(shí)別，沒有待測(cè)光纖識(shí)別回路光纖長(zhǎng)度和回路中的任何事件。如果MPO連接器采用這種方式被極化使得他們無法物理配對(duì)，那么這一步驟可以使用跨接電纜將回路線束的兩端配對(duì)在一起。該跨接電纜中的每個(gè)光纖需要適當(dāng)選擇，非常接近長(zhǎng)度彼此相同(0.5米內(nèi))。對(duì)于雙工光纖實(shí)施例，近端線束可以實(shí)施為斷開兩條光纖成為發(fā)射纜和尾纜。
[0027]接下來，可以使用現(xiàn)有的分析軟件來識(shí)別整個(gè)長(zhǎng)度上的事件。期望每一個(gè)回路段至少具有超過測(cè)試器死區(qū)的最小長(zhǎng)度。跨線電纜可比該長(zhǎng)度短，優(yōu)選這樣可以將這些段與回路光纖區(qū)分開。可替換地，跨線電纜比最長(zhǎng)的回路段長(zhǎng)。如果每一條回路段的長(zhǎng)度是唯一的，并且沒有內(nèi)部事件，那么比最小長(zhǎng)度要長(zhǎng)的所有段的中值長(zhǎng)度能夠提供典型的回路段長(zhǎng)度估計(jì)。建立的段數(shù)量應(yīng)當(dāng)接近總長(zhǎng)(減去任何跨線電纜以及減去第一發(fā)射段)除以中值長(zhǎng)度。或者數(shù)量可以是用戶提供的數(shù)值。如果最長(zhǎng)的回路長(zhǎng)度的建立小于最短回路的兩倍，這樣有助于識(shí)別至今參考步驟中連接丟失的情況。
[0028]如果每一條回路中具有非反射事件，獨(dú)特的位置和/或損失，并且事件任一側(cè)的光纖段都長(zhǎng)于測(cè)試器死區(qū)所需的最小長(zhǎng)度，那么中值長(zhǎng)度的兩倍應(yīng)當(dāng)表示典型的回路長(zhǎng)度。甚至可通過機(jī)械彎曲光纖調(diào)整每一個(gè)回路段的損失。與實(shí)時(shí)跟蹤相結(jié)合，損失的調(diào)整可視性地表示回路光纖在整個(gè)光纖范圍內(nèi)的位置，從而有助于修正交叉連接問題。然而，這樣會(huì)影響多模式光纖的發(fā)射條件。
[0029]如果使用二進(jìn)制編碼格式，其中提供分隔事件從而產(chǎn)生事件的二進(jìn)制識(shí)別碼，那么通過由至少和最小長(zhǎng)度一樣長(zhǎng)的段包圍的一系列相對(duì)緊密的間隔事件可以識(shí)別每個(gè)回路段?？梢允褂闷渌嵌M(jìn)制編碼。
[0030]其他可替換地，用戶還可以手動(dòng)輸入每個(gè)回路的長(zhǎng)度。
[0031]另一種方法是在制造過程中標(biāo)定回路線束并且將該長(zhǎng)度和識(shí)別事件信息提供給線束，在儀器連接或者設(shè)置查詢時(shí)，可以手動(dòng)或者將線束提供的信息編碼到儀器而輸入到儀器中。
[0032]另外，可以制作所有的回路線束從而使得每個(gè)回路光纖的長(zhǎng)度公差小于每個(gè)回路長(zhǎng)度之間的差值，并且將該信息記錄在測(cè)試器中，這樣每個(gè)回路的長(zhǎng)度必須與窄范圍相匹配從而有助于識(shí)別每個(gè)獨(dú)特的回路段。對(duì)于每個(gè)事件，算法可以檢查如下事件是否匹配公差內(nèi)期望的模式。由于近端線束的任一端都可以連接，所以可以檢查模式的正向和反向。
[0033]測(cè)試操作繼續(xù)如下:
[0034]MPO和雙工帶電纜的待測(cè)光纜應(yīng)當(dāng)在每段上測(cè)量大致相同的長(zhǎng)度。該信息可以有助于識(shí)別段，盡管這不是絕對(duì)必需的條件。
[0035]現(xiàn)有的分析軟件可以用于識(shí)別整個(gè)長(zhǎng)度上的事件。
[0036]整個(gè)長(zhǎng)度減去發(fā)射段，尾段以及回路段可以除以期望的MPO光纖的數(shù)量從而給出了待測(cè)光纖的典型長(zhǎng)度。
[0037]將發(fā)射段的事件定位后，然后加上待測(cè)光纖的典型長(zhǎng)度，然后測(cè)量公差范圍內(nèi)沿著被測(cè)信號(hào)在該位置的事件可以與每個(gè)期望的回路進(jìn)行比較(因?yàn)閷?duì)于某些光纖來說交叉連接是可能的)?？梢栽诿總€(gè)長(zhǎng)度上重復(fù)這種匹配。
[0038]在一個(gè)特定使用配置下，例如，使用不同的長(zhǎng)度幫助區(qū)分光纖，引入光纖34’可包括90米發(fā)射光纖，而尾纜36’可包括110米發(fā)射光纖。遠(yuǎn)端線束32’可包括90米光纖38和110米光纖40。
[0039]根據(jù)這里公開的內(nèi)容，提供改進(jìn)的方法，裝置和系統(tǒng)從而為光學(xué)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試提供陣列連接器線束。該系統(tǒng)，方法和裝置為多光纖網(wǎng)絡(luò)連接提供了更便捷，快速的測(cè)試。另外，允許極性測(cè)試和識(shí)別。
[0040]盡管本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例已經(jīng)示出并描述，對(duì)本領(lǐng)域技術(shù)人員來說很明顯可以在本發(fā)明更寬的范圍中不背離其的情況下作出變化和改動(dòng)。因此附加權(quán)利要求意欲覆蓋所有落入本發(fā)明真正精神和范圍內(nèi)的變化和改動(dòng)。
【權(quán)利要求】
1.一種用于光學(xué)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試的陣列連接器線束系統(tǒng)，包括: 近端線束，用于在待測(cè)光纖的第一端連接到待測(cè)光纖；以及 遠(yuǎn)端線束，用于在待測(cè)光纖的第二端連接到待測(cè)光纖， 其中，所述近端和遠(yuǎn)端線束協(xié)作連接所述待測(cè)光纖，從而形成端到端的單個(gè)光學(xué)路徑。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列連接器線束系統(tǒng)，其中，所述近端線束包括陣列連接器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列連接器線束系統(tǒng)，其中，所述近端線束包括MTP連接器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列連接器線束系統(tǒng)，其中，所述遠(yuǎn)端線束包括MPO連接器。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列連接器線束系統(tǒng)，其中，所述遠(yuǎn)端線束包括MTP連接器。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列連接器線束系統(tǒng)，其中，所述待測(cè)光纖包括多條光纖路徑并且所述近端線束包括回路接口從而將所述多條光纖互連。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列連接器線束系統(tǒng)，其中，所述待測(cè)光纖包括多條光纖路徑并且所述遠(yuǎn)端線束包括回路接口從而將所述多條光纖互連。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列連接器線束系統(tǒng)，其中，所述待測(cè)光纖包括多條光纖路徑并且所述近端和 遠(yuǎn)端線束中的至少一條包括回路接口從而將所述多條光纖互連，所述回路接口具有對(duì)于所述多條光纖的回路唯一的長(zhǎng)度。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列連接器線束系統(tǒng)，其中，所述待測(cè)光纖包括多條光纖路徑并且所述近端和遠(yuǎn)端線束中的至少一條包括回路接口從而將所述多條光纖互連，所述回路接口在回路中的獨(dú)特位置具有非反射性損失元件。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列連接器線束系統(tǒng)，其中，所述待測(cè)光纖包括多條光纖路徑并且所述近端和遠(yuǎn)端線束中的至少一條包括回路接口從而將所述多條光纖互連，所述回路接口包括作為編碼使用的多個(gè)事件，從而獨(dú)特地識(shí)別每一條回路。
11.一種用于測(cè)試多光纖光學(xué)鏈路的方法，包括: 將所述多光纖鏈路中的多條獨(dú)立光纖互連，以形成單個(gè)光學(xué)路徑；并且 在所述單個(gè)光學(xué)路徑上實(shí)施測(cè)試。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中，所述互連包括在所述光纖鏈路的第一端提供第一回路連接器，并且在所述光纖鏈路的第二端提供相應(yīng)的第二回路連接器，所述第一和第二回路連接器協(xié)作將所述多光纖光學(xué)鏈路的每條獨(dú)立光纖互連從而形成穿過其中的單個(gè)光學(xué)路徑。
13.一種光纖光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，包括 測(cè)試儀器； 近端線束，用于在待測(cè)光纖的第一端連接到待測(cè)光纖；以及 遠(yuǎn)端線束，用于在待測(cè)光纖的第二端連接到待測(cè)光纖， 其中，所述近端和遠(yuǎn)端線束協(xié)作連接所述待測(cè)光纖從而形成端到端的單個(gè)光學(xué)路徑，從而與所述測(cè)試儀器連接，實(shí)現(xiàn)待測(cè)光纖的測(cè)試。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的光纖光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，其中，所述近端線束包括MPO連接器。
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的光纖光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，其中，所述近端線束包括MTP連接器。
16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的光纖光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，其中，所述遠(yuǎn)端線束包括MPO連接器。
17.根據(jù)權(quán)利要求13所述的光纖光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，其中，所述遠(yuǎn)端線束包括MTP連接器。
18.根據(jù)權(quán)利要求13所述的光纖光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，其中，所述待測(cè)光纖包括多條光纖路徑并且所述近端線束包括回路接口從而將所述多條光纖互連。
19.根據(jù)權(quán)利要求13所述的光纖光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，其中，所述待測(cè)光纖包括多條光纖路徑并且所述遠(yuǎn)端線束包括回路接口從而將所述多條光纖互連。
20.一種測(cè)試多光纖光學(xué)鏈路的方法，包括: 在多光纖光學(xué)鏈路的一端提供第一回路接口從而形成所述多光纖光學(xué)鏈路的多條獨(dú)立光纖之間的回路連接； 在多光纖光學(xué)鏈路的另一端提供第二回路接口，與所述第一回路接口一起將所述多光纖鏈路的多條獨(dú)立光纖互連，從而形成穿過所述多條獨(dú)立光纖的單個(gè)光學(xué)路徑，并且提供兩個(gè)尾連接，用于接入所述單個(gè)光學(xué)路徑的兩端，以及 在所述單個(gè)光學(xué)路徑上實(shí)施測(cè)試。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法,其中,所述多光纖光學(xué)長(zhǎng)度包括雙工光纖路徑。
22.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，其中，所述測(cè)試包括標(biāo)定操作，所述標(biāo)定操作包括: 沒有待測(cè)光纖的情況下，將第一和第二回路接口連在一起從而識(shí)別回路光纖長(zhǎng)度以及用于獨(dú)特地識(shí)別每一條的回路內(nèi)的事件；并且 分析測(cè)試結(jié)果來 識(shí)別整個(gè)長(zhǎng)度上的事件。
23.根據(jù)權(quán)利要求22所述的方法，包括使用比最小長(zhǎng)度值長(zhǎng)的所有段的中值長(zhǎng)度，從而提供典型的回路段長(zhǎng)度估計(jì)。
24.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，包括為每一條回路提供唯一的非反射事件從而允許識(shí)別每一條單獨(dú)的待測(cè)回路。
25.根據(jù)權(quán)利要求24所述的方法，包括通過機(jī)械彎曲光纖來調(diào)整每一條回路段的損失值，從而提供回路光纖在整個(gè)光纖范圍內(nèi)的位置識(shí)別，有助于修正交叉連接問題。
26.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，其中，每個(gè)回路接口包括多條回路光纖，并且包含使用用戶提供的每個(gè)回路接口光纖長(zhǎng)度的值從而對(duì)其進(jìn)行獨(dú)特地識(shí)別。
27.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，其中，每個(gè)回路接口包括多條回路光纖，并且包含使用用戶提供的回路接口的每條回路光纖長(zhǎng)度的值。
28.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，其中，所述測(cè)試包括識(shí)別環(huán)接光纖段的整個(gè)長(zhǎng)度上的檢測(cè)事件。
29.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，其中，所述測(cè)試包括將長(zhǎng)度測(cè)量值除以光纖的數(shù)量從而給出待測(cè)光纖的典型長(zhǎng)度。
30.一種測(cè)試多光纖網(wǎng)絡(luò)的方法，包括: 提供多光纖網(wǎng)絡(luò)中至少2條光纖的回路從而產(chǎn)生環(huán)接測(cè)試光纖； 對(duì)環(huán)接測(cè)試產(chǎn)生測(cè)試激勵(lì)并且獲得基于此的響應(yīng)測(cè)量值；并且 對(duì)至少2條光纖中每一條確定測(cè)量事件。
31.根據(jù)權(quán)利要求30所述的方法，其中，所述確定測(cè)量事件包括使用所述至少2條光纖中每一條的期望光纖長(zhǎng)度，從而將測(cè)量事件與所述至少2條光纖中的每一條關(guān)聯(lián)起來。
32.根據(jù)權(quán)利要求31所述的方法，其中，期望光纖長(zhǎng)度是用戶提供的值。
33.根據(jù)權(quán)利要求31所述的方法，其中，期望光纖長(zhǎng)度基于總光纖長(zhǎng)度減去發(fā)射光纖長(zhǎng)度、尾光纖長(zhǎng)度以及回路段長(zhǎng)度且除以光纖數(shù)量來確定。
34.根據(jù)權(quán)利要求30所述的方法，包括使用長(zhǎng)度值確定獨(dú)立的測(cè)試事件屬于所述至少2條光纖中的哪一條 。
【文檔編號(hào)】H04B10/077GK104052543SQ201310251091
【公開日】2014年9月17日 申請(qǐng)日期:2013年5月8日 優(yōu)先權(quán)日:2012年5月8日
【發(fā)明者】C·施拉布, H·卡斯勒, J·D·謝爾 申請(qǐng)人:弗蘭克公司