專利名稱：測(cè)試控制方法、裝置和系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明實(shí)施例涉及通信技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種測(cè)試控制方法、裝置和系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在科研及生產(chǎn)中，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(vector network analyzer，簡(jiǎn)稱VNA)廣泛應(yīng)用于各種射頻及微波器件和組件，如濾波器、放大器、混頻器等器件的功能特性測(cè)量與分析。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀自身的技術(shù)指標(biāo)，如頻率范圍、測(cè)量動(dòng)態(tài)、分辨率等參數(shù)指標(biāo)，直接影響測(cè)試精度和測(cè)試效率，其中測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍是衡量VNA性能的重要指標(biāo)之一。測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍即為測(cè)量信號(hào)輸出功率與測(cè)量接收靈敏度的差值；其中，測(cè)試接收靈敏度為負(fù)值，其絕對(duì)值越大，則表示接收靈敏度越高。現(xiàn)有技術(shù)通常采用外置功放、外置低噪聲放大器或矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀內(nèi)接收機(jī)耦合器直通的方法，來(lái)擴(kuò)展VNA的測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍。外置功放的方法，是通過(guò)放大VNA的輸出信號(hào)來(lái)提高測(cè)量信號(hào)輸出功率，從而擴(kuò)展VNA 的測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍；外置低噪聲放大器的方法，是通過(guò)放大VNA的輸入信號(hào)來(lái)提高測(cè)量接收靈敏度，從而擴(kuò)展VNA的測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍；矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀內(nèi)接收機(jī)耦合器直通的方法，是通過(guò)直傳不經(jīng)衰減的接收信號(hào)來(lái)提高測(cè)量接收靈敏度，從而擴(kuò)展VNA的測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍。發(fā)明人在實(shí)踐現(xiàn)有技術(shù)的過(guò)程中發(fā)現(xiàn)上述現(xiàn)有技術(shù)在擴(kuò)展VNA測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍的同時(shí)，不能測(cè)試被測(cè)試件(Device Under Test，簡(jiǎn)稱DUT)端口特性的部分參數(shù)，如現(xiàn)有技術(shù)測(cè)試過(guò)程中有用信號(hào)和噪聲信號(hào)均被等比例放大，故不能測(cè)試濾波器通帶頻段的輸出端口駐波特性等參數(shù)；如需測(cè)試這些參數(shù)，通常需要將被測(cè)試件從當(dāng)前測(cè)試系統(tǒng)拿到另一套測(cè)試系統(tǒng)，或?qū)?dāng)前測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)外部跳線手動(dòng)切換到另一套測(cè)試系統(tǒng)，因此測(cè)量效率較低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種測(cè)試控制方法、裝置和系統(tǒng)，用以提高測(cè)試效率。本發(fā)明一方面提供了一種測(cè)試控制方法，包括獲取在測(cè)試儀表和被測(cè)試件之間傳輸?shù)男盘?hào)的當(dāng)前狀態(tài)信息；所述當(dāng)前狀態(tài)信息包括以下之一或任意組合所述信號(hào)的功率，所述信號(hào)的頻率，所述信號(hào)的相位；判斷所述當(dāng)前狀態(tài)信息是否滿足預(yù)設(shè)的門(mén)限條件；在所述當(dāng)前狀態(tài)信息滿足所述門(mén)限條件時(shí)，對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號(hào)；否則，直接輸出所述信號(hào)。本發(fā)明另一方面還提供了一種測(cè)試控制裝置，包括檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊，用于獲取在測(cè)試儀表和被測(cè)試件之間傳輸?shù)男盘?hào)的當(dāng)前狀態(tài)信息，并判斷所述當(dāng)前狀態(tài)信息是否滿足預(yù)設(shè)的門(mén)限條件；所述當(dāng)前狀態(tài)信息包括以下之一或任意組合所述信號(hào)的功率，所述信號(hào)的頻率，所述信號(hào)的相位；信號(hào)處理模塊，用于在所述當(dāng)前狀態(tài)信息滿足所述門(mén)限條件時(shí)，對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號(hào)；否則，直接輸出所述信號(hào)。本發(fā)明另一方面還提供了一種測(cè)試儀表，包括所述測(cè)試儀表的主體，還包括上述測(cè)試控制裝置，與所述測(cè)試儀表的主體連接。本發(fā)明另一方面還提供了一種測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)用于對(duì)被測(cè)試件進(jìn)行測(cè)試，該系統(tǒng)包括測(cè)試儀表和上述測(cè)試控制裝置；所述測(cè)試控制裝置外置于所述測(cè)試儀表，且連接在所述測(cè)試儀表和所述被測(cè)試件之間；或者，所述測(cè)試控制裝置內(nèi)置在所述測(cè)試儀表中，與所述測(cè)試儀表的主體連接，且所述測(cè)試儀表的主體通過(guò)所述測(cè)試控制裝置與所述被測(cè)試件連接。本發(fā)明各個(gè)方面提供的測(cè)試控制方法、裝置和系統(tǒng)，通過(guò)獲取在測(cè)試儀表和被測(cè)試件之間傳輸?shù)漠?dāng)前狀態(tài)信息，并將該信息與預(yù)設(shè)的門(mén)限條件進(jìn)行比較，自動(dòng)完成對(duì)信號(hào)是否進(jìn)行增益處理的選通控制，以滿足測(cè)試儀表對(duì)被測(cè)試件的端口特性和傳輸特性測(cè)試的需要，選通控制過(guò)程不需要在不同測(cè)試系統(tǒng)間切換或人工干預(yù)，在檢測(cè)過(guò)程中無(wú)需增加新的測(cè)量工序，降低操作復(fù)雜度和成本，從而提高了測(cè)試的效率。


為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1為本發(fā)明實(shí)施例一提供的測(cè)試控制方法的流程圖；圖2為本發(fā)明實(shí)施例二提供的測(cè)試控制裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本發(fā)明實(shí)施例三提供的測(cè)試控制裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖如為本發(fā)明實(shí)施例四提供的測(cè)試控制裝置的原理框圖；圖4b為圖如的等效測(cè)試框圖示例一；圖如為圖如的等效測(cè)試框圖示例二 ；圖5為本發(fā)明實(shí)施例五提供的測(cè)試控制裝置的原理框圖；圖6為本發(fā)明實(shí)施例六提供的測(cè)試控制裝置的原理框圖；圖7為本發(fā)明實(shí)施例七提供的測(cè)試控制裝置的原理框圖；圖8為本發(fā)明實(shí)施例八提供的測(cè)試儀表的結(jié)構(gòu)示意圖；圖9為本發(fā)明實(shí)施例九提供的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖10為本發(fā)明實(shí)施例十提供的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有付出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。本發(fā)明以下實(shí)施例的序號(hào)僅僅為了描述，不代表實(shí)施例的優(yōu)劣。圖1為本發(fā)明實(shí)施例一提供的測(cè)試控制方法的流程圖。如圖1所示，本實(shí)施例提供的測(cè)試控制方法包括
步驟11 獲取在測(cè)試儀表和被測(cè)試件之間傳輸?shù)男盘?hào)的當(dāng)前狀態(tài)信息；所述當(dāng)前狀態(tài)信息包括以下之一或任意組合所述信號(hào)的功率，所述信號(hào)的頻率，所述信號(hào)的相位。本發(fā)明實(shí)施例所述的測(cè)試儀表可包括矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號(hào)發(fā)生器、功率計(jì)、噪聲測(cè)試儀、信號(hào)分析儀等，其中，信號(hào)分析儀可具體為完成時(shí)域、頻域、碼域至少其中之一信號(hào)分析的儀表。完成時(shí)域信號(hào)分析的儀表也稱為示波器；完成頻域信號(hào)分析的儀表也稱為頻譜儀，完成頻域和碼域信號(hào)分析的儀表也稱為矢量頻譜分析儀。被測(cè)試件可包括 濾波器、放大器、混頻器等。所述信號(hào)為在測(cè)試儀表和被測(cè)試件之間傳輸?shù)男盘?hào)，可具體為測(cè)試儀表的輸入或輸出信號(hào)，或被測(cè)試件的輸入或輸出信號(hào)。信號(hào)可包括但不限于幾HZ 300GHZ范圍內(nèi)的模擬信號(hào)，如射頻信號(hào)、微波信號(hào)等。步驟12 判斷所述當(dāng)前狀態(tài)信息是否滿足預(yù)設(shè)的門(mén)限條件。步驟13 在所述當(dāng)前狀態(tài)信息滿足所述門(mén)限條件時(shí)，對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行增益處理， 并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號(hào)；否則，直接輸出所述信號(hào)。在所述信號(hào)的當(dāng)前狀態(tài)信息滿足所述門(mén)限條件時(shí)，可輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)，根據(jù)所述第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號(hào)；否則，輸出第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，根據(jù)所述第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)直接輸出所述信號(hào)。其中，第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)表示需要進(jìn)行增益處理，第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)表示不需要進(jìn)行增益處理。可選的，上述技術(shù)方案中，步驟12中所述預(yù)設(shè)的門(mén)限條件與步驟11中獲取的所述信號(hào)的當(dāng)前狀態(tài)信息相對(duì)應(yīng)。例如所述信號(hào)的當(dāng)前狀態(tài)信息可包括以下之一或任意組合所述信號(hào)的功率，所述信號(hào)的頻率，所述信號(hào)的相位。 所述預(yù)設(shè)的門(mén)限條件相應(yīng)包括以下之一或任意組合第一門(mén)限條件，第二門(mén)限條件，第三門(mén)限條件。其中，第一門(mén)限條件為所述信號(hào)的功率小于所述預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值，第二門(mén)限條件為所述信號(hào)的頻率位于所述預(yù)設(shè)的頻段，第三門(mén)限條件為所述信號(hào)的相位位于所述預(yù)設(shè)的相位范圍。所述增益處理可包括功率放大處理、或低噪聲放大處理。如果所述信號(hào)滿足上述預(yù)設(shè)的門(mén)限條件，則對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行功率放大處理，提高其測(cè)量信號(hào)輸出功率，從而擴(kuò)展測(cè)試儀表的測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍；或者，對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行低噪聲放大處理，提高其測(cè)量信號(hào)接收靈敏度，從而擴(kuò)展測(cè)試儀表的測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍。如果所述信號(hào)不滿足上述預(yù)設(shè)的門(mén)限條件，則對(duì)所述信號(hào)不進(jìn)行增益處理，而直接輸出未經(jīng)功率放大或低噪聲放大處理的所述信號(hào)，以便測(cè)試儀表可以測(cè)試在擴(kuò)展其測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍后不能測(cè)試的部分參數(shù)，如濾波器通帶頻段內(nèi)輸出端口的駐波特性等參數(shù)。 或者，所述預(yù)設(shè)的門(mén)限條件包括以下之一或任意組合第二門(mén)限條件，第三門(mén)限條件，第四門(mén)限條件；其中，第二門(mén)限條件為所述信號(hào)的頻率位于所述預(yù)設(shè)的頻段，第三門(mén)限條件為所述信號(hào)的相位位于所述預(yù)設(shè)的相位范圍，第四門(mén)限條件為所述信號(hào)的功率大于或等于所述預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值。所述增益處理可包括信號(hào)衰減處理。如果所述信號(hào)滿足上述預(yù)設(shè)的門(mén)限條件，則對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行信號(hào)衰減處理，以擴(kuò)展測(cè)試儀表的動(dòng)態(tài)測(cè)試范圍。具體應(yīng)用場(chǎng)景舉例說(shuō)明如下被測(cè)試件的輸出信號(hào)存在放大增益，如被測(cè)試件在某個(gè)頻率范圍，如第一頻率范圍對(duì)測(cè)試儀表輸出的信號(hào)有放大增益，則被測(cè)試件輸出的放大信號(hào)也會(huì)影響測(cè)試儀表的接收動(dòng)態(tài)。例如當(dāng)測(cè)試儀表向被測(cè)試件輸入第一頻段范圍的第一信號(hào)時(shí)，被測(cè)試件對(duì)第一信號(hào)進(jìn)行放大輸出放大后的第一信號(hào)，測(cè)試儀表的接收機(jī)接收到該第一信號(hào)后可能飽和。因此，需要在第一頻率范圍內(nèi)對(duì)被測(cè)試件輸出的放大信號(hào)進(jìn)行信號(hào)衰減處理，以避免在第一頻率范圍內(nèi)測(cè)試儀表內(nèi)的接收機(jī)飽和，從而擴(kuò)展了測(cè)試儀表在整個(gè)測(cè)試頻率范圍內(nèi)的測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍?；蛘撸鲱A(yù)設(shè)的門(mén)限條件包括以下之一或任意組合第四門(mén)限條件，第五門(mén)限條件，第六門(mén)限條件；其中，第四門(mén)限條件為所述信號(hào)的功率大于或等于所述預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值，第五門(mén)限條件為所述信號(hào)的頻率超出所述預(yù)設(shè)的頻段，第六門(mén)限條件為所述信號(hào)的相位超出所述預(yù)設(shè)的相位范圍。所述增益處理包括信號(hào)衰減處理。如果所述信號(hào)滿足上述預(yù)設(shè)的門(mén)限條件，則不對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行信號(hào)衰減處理，以提高其測(cè)量信號(hào)接收靈敏度， 從而擴(kuò)展測(cè)試儀表的測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍。如果所述信號(hào)不滿足上述預(yù)設(shè)的門(mén)限條件，則對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行信號(hào)衰減處理，輸出經(jīng)衰減處理的所述信號(hào)，以便測(cè)試儀表可以測(cè)試在擴(kuò)展其測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍后不能測(cè)試的部分參數(shù)，如濾波器通帶頻段內(nèi)輸出端口的駐波特性等參數(shù)。由此可見(jiàn)，本實(shí)施例提供的測(cè)試控制方法，通過(guò)獲取在測(cè)試儀表和被測(cè)試件之間傳輸?shù)漠?dāng)前狀態(tài)信息，并將該信息與預(yù)設(shè)的門(mén)限條件進(jìn)行比較，自動(dòng)完成對(duì)信號(hào)是否進(jìn)行增益處理的選通控制，以滿足測(cè)試儀表對(duì)被測(cè)試件的端口特性和傳輸特性測(cè)試的需要，選通控制過(guò)程不需要在不同測(cè)試系統(tǒng)間切換或人工干預(yù)，在檢測(cè)過(guò)程中無(wú)需增加新的測(cè)量工序，降低操作復(fù)雜度和成本，從而提高了測(cè)試的效率。圖2為本發(fā)明實(shí)施例二提供的測(cè)試控制裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示，本實(shí)施例提供的測(cè)試控制裝置包括檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊21和信號(hào)處理模塊22。檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊21用于獲取在測(cè)試儀表和被測(cè)試件之間傳輸?shù)男盘?hào)的當(dāng)前狀態(tài)信息，并判斷所述當(dāng)前狀態(tài)信息是否滿足預(yù)設(shè)的門(mén)限條件；所述當(dāng)前狀態(tài)信息包括以下之一或任意組合所述信號(hào)的功率，所述信號(hào)的頻率，所述信號(hào)的相位。信號(hào)處理模塊22用于在所述當(dāng)前狀態(tài)信息滿足所述門(mén)限條件時(shí)，對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號(hào)；否則，直接輸出所述信號(hào)。本實(shí)施例提供的測(cè)試控制裝置，通過(guò)獲取在測(cè)試儀表和被測(cè)試件之間傳輸?shù)男盘?hào)的當(dāng)前狀態(tài)信息，并將該信息與預(yù)設(shè)的門(mén)限條件進(jìn)行比較，自動(dòng)完成對(duì)信號(hào)是否進(jìn)行增益處理的選通控制，以滿足測(cè)試儀表對(duì)被測(cè)試件的端口特性和傳輸特性測(cè)試的需要，選通控制過(guò)程不需要在不同測(cè)試系統(tǒng)間切換或人工干預(yù)，因此提高了測(cè)試的效率。圖3為本發(fā)明實(shí)施例三提供的測(cè)試控制裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖3所示的測(cè)試控制裝置31包括檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311和信號(hào)處理模塊312。檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311用于獲取在測(cè)試儀表32和被測(cè)試件33之間傳輸?shù)男盘?hào)的當(dāng)前狀態(tài)信息，并判斷所述當(dāng)前狀態(tài)信息是否滿足預(yù)設(shè)的門(mén)限條件，根據(jù)判斷結(jié)果輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)或第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，其中第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)表示需要進(jìn)行增益處理，第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)表示不需要進(jìn)行增益處理。所述信號(hào)為在射頻儀和被測(cè)試件之間傳輸?shù)男盘?hào)，可具體為測(cè)試儀表的輸入或輸出信號(hào)，或被測(cè)試件的輸入或輸出信號(hào)。所述信號(hào)的當(dāng)前狀態(tài)信息包括以下之一或任意組合所述信號(hào)的功率，所述信號(hào)的頻率，所述信號(hào)的相位。信號(hào)處理模塊312可進(jìn)一步包括選通單元3121、增益處理單元3122和直通單元 3123。選通單元3121可用于接收檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311輸出的驅(qū)動(dòng)信號(hào)，并根據(jù)接收到的驅(qū)動(dòng)信號(hào)選通增益處理單元3122或直通單元3123，以便在測(cè)試儀表32和被測(cè)試件33之間
8形成信號(hào)的傳輸回路。具體的，選通單元3121可用于接收檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311輸出的第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)和第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)；且在接收到第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)時(shí)選通增益處理單元3122，在接收到第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)時(shí)選通直通單元3123。增益處理單元3122可用于對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號(hào)。直通單元3123可用于提供所述信號(hào)傳輸?shù)闹眰魍罚粚?duì)所述信號(hào)進(jìn)行增益處理，而是直接輸出所述信號(hào)。(1)上述技術(shù)方案中，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311獲取的所述信號(hào)的當(dāng)前狀態(tài)信息可包括以下之一所述信號(hào)的功率，所述信號(hào)的頻率，所述信號(hào)的相位。相應(yīng)的，預(yù)設(shè)的門(mén)限條件可具體為第一門(mén)限條件或第四門(mén)限條件；第一門(mén)限條件為所述信號(hào)的功率小于所述預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值；第四門(mén)限條件為所述信號(hào)的功率大于或等于所述預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值。該情形下，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311檢測(cè)信號(hào)的功率，并將該功率與功率門(mén)限值進(jìn)行比較，如果所述信號(hào)的功率滿足第一門(mén)限條件或第四門(mén)限條件，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)選通單元3121選通增益處理單元3122。如果所述信號(hào)的功率不滿足第一門(mén)限條件或第四門(mén)限條件，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311輸出第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)選通單元3121選通直通單元3123。或者，預(yù)設(shè)的門(mén)限條件可具體為第二門(mén)限條件或第五門(mén)限條件第二門(mén)限條件為 所述信號(hào)的頻率位于所述預(yù)設(shè)的頻段；第五門(mén)限條件為所述信號(hào)的頻率超出所述預(yù)設(shè)的頻段。該情形下，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311檢測(cè)信號(hào)的頻率，并將該頻率與預(yù)設(shè)的頻段進(jìn)行比較，如果信號(hào)的頻率滿足第二門(mén)限條件或第五門(mén)限條件，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)選通單元3121選通增益處理單元3122。如果信號(hào)的頻率不滿足第二門(mén)限條件或第五門(mén)限條件，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311輸出第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)選通單元3121選通直通單元3123?；蛘?，預(yù)設(shè)的門(mén)限條件可具體為第三門(mén)限條件或第六門(mén)限條件第三門(mén)限條件為 所述信號(hào)的相位位于所述預(yù)設(shè)的相位范圍；第六門(mén)限條件為所述信號(hào)的相位超出所述預(yù)設(shè)的相位范圍。該情形下，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311檢測(cè)信號(hào)的相位，并將該相位與預(yù)設(shè)的相位范圍進(jìn)行比較，如果信號(hào)的相位滿足第三門(mén)限條件或第六門(mén)限條件，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311 輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)選通單元3121選通增益處理單元3122。如果信號(hào)的相位不滿足第三門(mén)限條件或第六門(mén)限條件，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311輸出第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)選通單元 3121選通直通單元3123。對(duì)應(yīng)上述第一門(mén)限條件、第二門(mén)限條件或第三門(mén)限條件的應(yīng)用情形下，增益處理單元3122可具體為功率放大單元，通過(guò)對(duì)信號(hào)進(jìn)行功率放大處理來(lái)提高測(cè)量信號(hào)輸出功率，從而擴(kuò)展測(cè)試儀表的測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍；或者，增益處理單元3122可具體為低噪聲放大單元，通過(guò)對(duì)信號(hào)進(jìn)行低噪聲放大處理來(lái)提高測(cè)量接收靈敏度，從而擴(kuò)展測(cè)試儀表的測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍。直通單元3123不對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行功率放大或低噪聲放大處理，而是提供所述信號(hào)的直傳通道，直接輸出所述信號(hào)，以滿足測(cè)試儀表在原測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)對(duì)被測(cè)試件的部分端口特性參數(shù)的測(cè)試需要，如滿足測(cè)試儀表對(duì)濾波器通帶頻段內(nèi)輸出端口的駐波特性等參數(shù)的測(cè)試需要。對(duì)應(yīng)上述第二門(mén)限條件、第三門(mén)限條件或第四門(mén)限條件的應(yīng)用情形下，增益處理
9單元3122可具體為信號(hào)衰減單元，該信號(hào)衰減單元可具體為衰減器；通過(guò)對(duì)信號(hào)進(jìn)行信號(hào)衰減處理，避免測(cè)試儀表內(nèi)的接收機(jī)飽和，以擴(kuò)展測(cè)試儀表的動(dòng)態(tài)測(cè)試范圍。直通單元 3123不對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行信號(hào)衰減處理，而是提供所述信號(hào)的直傳通道，直接輸出所述信號(hào)， 以滿足測(cè)試儀表在原測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)對(duì)被測(cè)試件的部分端口特性參數(shù)的測(cè)試需要，如滿足測(cè)試儀表對(duì)濾波器通帶頻段內(nèi)輸出端口的駐波特性等參數(shù)的測(cè)試需要。對(duì)應(yīng)上述第四門(mén)限條件、第五門(mén)限條件或第六門(mén)限條件的應(yīng)用情形下，增益處理單元3122可具體為信號(hào)衰減單元，該信號(hào)衰減單元可具體為接收耦合器，通過(guò)對(duì)信號(hào)進(jìn)行衰減處理，以滿足測(cè)試儀表在原測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)對(duì)被測(cè)試件的端口特性和傳輸特性的測(cè)試需要。直通單元3123不對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行信號(hào)衰減處理，而是提供所述信號(hào)的直傳通道，直接輸出所述信號(hào)，以擴(kuò)展測(cè)試儀表的測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍。(2)上述技術(shù)方案中，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311獲取的所述信號(hào)的當(dāng)前狀態(tài)信息也可包括以下任意組合所述信號(hào)的功率，所述信號(hào)的頻率，所述信號(hào)的相位。相應(yīng)的，預(yù)設(shè)的門(mén)限條件也可具體為以下條件的任意組合第一門(mén)限條件，第二門(mén)限條件，第三門(mén)限條件；該情形下，增益處理單元3122可具體為功率放大單元或低噪聲放大單元。不妨以檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311檢測(cè)信號(hào)的功率以及信號(hào)的頻率為例，進(jìn)行說(shuō)明檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311檢測(cè)信號(hào)的頻率以及信號(hào)的功率，將檢測(cè)到的信號(hào)的頻率與預(yù)設(shè)的頻段進(jìn)行比較、并將檢測(cè)到的信號(hào)的功率與預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值進(jìn)行比較。如果檢測(cè)到的信號(hào)的頻率位于預(yù)設(shè)的頻段(即所述信號(hào)的頻率滿足第二門(mén)限條件)、且檢測(cè)到的信號(hào)的功率小于預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值(即所述信號(hào)的功率滿足第一門(mén)限條件)，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)選通單元3121選通增益處理單元3122 ；否則，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311輸出第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)選通單元3121選通直通單元3123?；蛘撸A(yù)設(shè)的門(mén)限條件也可相應(yīng)為以下條件的任意組合第二門(mén)限條件，第三門(mén)限條件，第四門(mén)限條件；該情形下，增益處理單元3122可具體為信號(hào)衰減單元；該信號(hào)衰減單元可具體為衰減器。不妨以檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311檢測(cè)信號(hào)的功率以及信號(hào)的頻率為例， 進(jìn)行說(shuō)明。檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311檢測(cè)信號(hào)的頻率以及信號(hào)的功率，將檢測(cè)到的信號(hào)的頻率與預(yù)設(shè)的頻段進(jìn)行比較、并將檢測(cè)到的信號(hào)的功率與預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值進(jìn)行比較。如果檢測(cè)到的信號(hào)的頻率位于預(yù)設(shè)的頻段(即所述信號(hào)的頻率滿足第二門(mén)限條件)、且檢測(cè)到的信號(hào)的功率大于或等于預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值(即所述信號(hào)的功率滿足第四門(mén)限條件)，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)選通單元3121選通增益處理單元3122 ；否則， 檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311輸出第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)選通單元3121選通直通單元3123。或者，預(yù)設(shè)的門(mén)限條件也可相應(yīng)為以下條件的任意組合第四門(mén)限條件，第五門(mén)限條件，第六門(mén)限條件；該情形下，增益處理單元3122可具體為信號(hào)衰減單元；該信號(hào)衰減單元可具體為接收耦合器。不妨以檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311檢測(cè)信號(hào)的功率以及信號(hào)的頻率為例，進(jìn)行說(shuō)明。檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311檢測(cè)信號(hào)的頻率以及信號(hào)的功率，將檢測(cè)到的信號(hào)的頻率與預(yù)設(shè)的頻段進(jìn)行比較、并將檢測(cè)到的信號(hào)的功率與預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值進(jìn)行比較。如果檢測(cè)到的信號(hào)的頻率超出預(yù)設(shè)的頻段(即所述信號(hào)的頻率滿足第五門(mén)限條件)、且檢測(cè)到的信號(hào)的功率大于或等于預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值(即所述信號(hào)的功率滿足第四門(mén)限條件)， 檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)選通單元3121選通增益處理單元3122 ；否則，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊311輸出第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)選通單元3121選通直通單元3123。
由此可見(jiàn)，本實(shí)施例提供的測(cè)試控制裝置中，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊通過(guò)獲取在測(cè)試儀表和被測(cè)試件之間傳輸?shù)男盘?hào)的當(dāng)前狀態(tài)信息，并將該信息與預(yù)設(shè)的門(mén)限條件進(jìn)行比較， 根據(jù)比較結(jié)果輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)或第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，分別驅(qū)動(dòng)選通單元選通增益處理單元或直通單元，以自動(dòng)完成對(duì)信號(hào)是否進(jìn)行增益處理的選通控制。本實(shí)施例提供的測(cè)試控制裝置，可滿足測(cè)試儀表對(duì)被測(cè)試件的端口特性和傳輸特性測(cè)試的需要，選通控制過(guò)程不需要在不同測(cè)試系統(tǒng)間切換或人工干預(yù)，在檢測(cè)過(guò)程中無(wú)需增加新的測(cè)量工序，降低操作復(fù)雜度和成本，從而提高了測(cè)試的效率。本發(fā)明實(shí)施例所述的測(cè)試儀表可包括矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號(hào)發(fā)生器、功率計(jì)、噪聲測(cè)試儀和信號(hào)分析儀等，其中，信號(hào)分析儀可具體為完成時(shí)域、頻域、碼域至少其中之一信號(hào)分析的儀表。完成時(shí)域信號(hào)分析的儀表也稱為示波器；完成頻域信號(hào)分析的儀表也稱為頻譜儀，完成頻域和碼域信號(hào)分析的儀表也稱為矢量頻譜分析儀。被測(cè)試件可包括濾波器、放大器、混頻器等。所述信號(hào)為在測(cè)試儀表和被測(cè)試件之間傳輸?shù)男盘?hào)，可具體為測(cè)試儀表的輸入或輸出信號(hào)，或被測(cè)試件的輸入或輸出信號(hào)。信號(hào)可包括但不限于幾 HZ 300GHZ范圍內(nèi)的模擬信號(hào)。本實(shí)施例提供的測(cè)試控制裝置包括的各模塊的功能，可基于軟件編程的方式實(shí)現(xiàn)，也可采用搭建硬件電路的方式實(shí)現(xiàn)，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單且成本低。下面不妨以測(cè)試儀表為VNA為例，并結(jié)合圖4a-圖7，詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例提供的測(cè)試控制的硬件實(shí)現(xiàn)和方法機(jī)理。圖如為本發(fā)明實(shí)施例四提供的測(cè)試控制裝置的原理框圖。如圖如所示的測(cè)試控制裝置中，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊可包括射頻檢波器(RF DeteCtor)41、第一定向耦合器42和第二定向耦合器43。第一定向耦合器42和第二定向耦合器43中，每個(gè)定向耦合器分別有兩個(gè)直通端以及兩個(gè)耦合端，兩個(gè)直通端作為信號(hào)的輸入端和輸出端，耦合端用于輸出信號(hào)。射頻檢波器(RF DeteCtor)41有兩個(gè)輸入端和一個(gè)輸出端，用于檢測(cè)第一定向耦合器42或第二定向耦合器43輸出的信號(hào)的功率，且在所述信號(hào)的功率小于所述預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值(即信號(hào)的功率滿足第一門(mén)限條件)時(shí)，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)；否則，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)。檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊還可包括第一負(fù)載44和第二負(fù)載45。選通單元可包括第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2。增益處理單元為低噪聲放大單元，可具體為L(zhǎng)NA (低噪聲放大器，Low Noise Amplifier) 46，用于對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行低噪聲放大處理，并輸出經(jīng)所述低噪聲放大處理的所述信號(hào)。直通單元具體為直傳通道47。如圖如所示，VNA的一個(gè)輸入輸出端，S卩Pl端連接有DUT;第一定向耦合器42的兩個(gè)直通端分別連接DUT和第一開(kāi)關(guān)Si，一個(gè)耦合端連接射頻檢波器41的一個(gè)輸入端，另一個(gè)耦合端連接第一負(fù)載44 ；第二定向耦合器43的兩個(gè)直通端分別連接VNA的P2端和第二開(kāi)關(guān)S2，一個(gè)耦合端連接射頻檢波器41的另一個(gè)輸入端，另一個(gè)耦合端連接第二負(fù)載45 ； 射頻檢波器41的輸出端連接第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2。第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2分別以可選通的方式，連接在LNA46和直傳通道47的兩端，且第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2在射頻檢波器41的驅(qū)動(dòng)控制下同步動(dòng)作，如在射頻檢波器41輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)時(shí)，第一開(kāi)關(guān) Sl和第二開(kāi)關(guān)S2同步選通LNA46而斷開(kāi)直傳通道47，在射頻檢波器41輸出第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)時(shí)，第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2同步選通直傳通道47而斷開(kāi)LNA46。
采用VNA可以完成對(duì)DUT的端口特性和傳輸特性測(cè)試，如P4和P3之間的插損、P3 和P4端口駐波、P3到P4端口的阻帶抑制度等。依據(jù)VNA的儀器特性，VNA的Pl端口和P2 端口的功能完全相同；在實(shí)際測(cè)試過(guò)程中，每個(gè)端口具體作為信號(hào)的輸入端還是輸出端，可根據(jù)實(shí)際測(cè)試內(nèi)容的需要預(yù)先設(shè)置。例如當(dāng)測(cè)試DUT的P4端到P3端的插損時(shí)，Pl端為信號(hào)的輸出端，P2端為信號(hào)的輸入端；當(dāng)測(cè)試DUT的P3端到P4端的阻帶抑制度時(shí)，P2端為信號(hào)的輸出端，Pl端為信號(hào)的輸入端；當(dāng)測(cè)試DUT的P4的駐波特性時(shí)，Pl端即做信號(hào)的輸出端也為信號(hào)的輸入端；當(dāng)測(cè)試DUT的P3端的駐波特性時(shí)，P2端即做信號(hào)的輸出端也做信號(hào)的輸入端；等等。在具體的測(cè)試過(guò)程中，信號(hào)的選取(即耦合)以及增加測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)試控制裝置中的信號(hào)處理模塊的所接端口，與具體所需測(cè)試的特性相關(guān)，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以進(jìn)行相應(yīng)的選擇。下面以VNA測(cè)試濾波器為例，說(shuō)明圖如所示的測(cè)試控制裝置的原理。通常，在VNA對(duì)濾波器的性能測(cè)試時(shí)，對(duì)于濾波器通帶(Pass Band)和阻帶 (Reject Band)關(guān)注的特性參數(shù)不同，如在濾波器通帶內(nèi)關(guān)注濾波器的端口特性，如濾波器通帶的插損和端口駐波特性等，在濾波器阻帶關(guān)注濾波器的傳輸特性，如濾波器阻帶抑制度。不妨以VNA的Pl端作輸出端而P2端作輸入端的情形為例，說(shuō)明VNA測(cè)試濾波器的性能參數(shù)過(guò)程中，測(cè)試控制裝置的工作機(jī)理。當(dāng)VNA掃描到濾波器阻帶時(shí)，由于VNA通過(guò)Pl端輸出的信號(hào)難以通過(guò)濾波器阻帶，此時(shí)，射頻檢波器41檢測(cè)到的信號(hào)的功率很小，如小于預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值，則輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)，用以驅(qū)動(dòng)第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2同步選通LNA46，由LNA46對(duì)信號(hào)進(jìn)行低噪聲放大處理，這樣，VNA通過(guò)P2端接收到的信號(hào)為經(jīng)低噪聲放大處理后的信號(hào)，提高VNA測(cè)量接收靈敏度，從而擴(kuò)展VNA的測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍；其VNA等效測(cè)試框圖如圖4b所示。當(dāng)VNA掃描到濾波器通帶時(shí)，由于VNA通過(guò)Pl端輸出的信號(hào)可通過(guò)濾波器通帶， 此時(shí)，射頻檢波器41檢測(cè)到的信號(hào)的功率較大，如大于或等于預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值，則輸出第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，用以驅(qū)動(dòng)第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2同步選通直傳通道47 ；其VNA等效測(cè)試框圖如圖如所示；這樣，VNA通過(guò)P2端接收到的信號(hào)為未經(jīng)低噪聲放大處理后的信號(hào)。可見(jiàn)，采用如圖如所示的測(cè)試控制裝置，可在VNA掃描到濾波器阻帶和通帶時(shí)，射頻檢波器41根據(jù)檢測(cè)到信號(hào)的功率和預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值，驅(qū)動(dòng)第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2 自動(dòng)完成LNA46和直傳通道47之間的切換。在VNA掃描到濾波器阻帶時(shí)，由于通過(guò)濾波器的信號(hào)功率很小，射頻檢波器41驅(qū)動(dòng)第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2切換連接到LNA46，對(duì)小信號(hào)進(jìn)行低噪聲放大處理，提高VNA 測(cè)量接收靈敏度，使得VNA能夠提供更高的測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍。在VNA掃描到濾波器通帶時(shí)，通過(guò)濾波器的信號(hào)功率較大，如果此時(shí)還采用LAN46 對(duì)信號(hào)進(jìn)行低噪聲放大，則由于有用信號(hào)和無(wú)用信號(hào)被等比例放大，因此，會(huì)導(dǎo)致濾波器通帶內(nèi)輸出端口的駐波特性無(wú)法測(cè)試。此時(shí)，射頻檢波器41驅(qū)動(dòng)第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2 切換連接到直傳通道47，直傳通道47不對(duì)信號(hào)進(jìn)行低噪聲放大處理，以滿足VNA測(cè)試濾波器通帶內(nèi)輸出端口的駐波特性的測(cè)試需要。通過(guò)上述分析可知，本實(shí)施例提供的測(cè)試控制裝置，可在VNA掃描到濾波器阻帶和通帶時(shí)，射頻檢波器41根據(jù)檢測(cè)到信號(hào)的功率和預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值，驅(qū)動(dòng)第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2自動(dòng)完成LNA46和直傳通道47之間的切換，無(wú)需降低VNA的測(cè)試速度，即不需要降低VNA內(nèi)接收機(jī)的中頻帶寬，且切換控制過(guò)程無(wú)需人工干預(yù)；此外，VNA在測(cè)試控制裝置的輔助下，可完成濾波器通帶的全部指標(biāo)測(cè)試，VNA系統(tǒng)提供了更強(qiáng)的檢測(cè)控制能力，并且在測(cè)試濾波器阻帶特性時(shí)，系統(tǒng)擴(kuò)展了測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍，提升了測(cè)試精度，因而提高了 VNA 的測(cè)試效率。圖5為本發(fā)明實(shí)施例五提供的測(cè)試控制裝置的原理框圖。如圖5所示的測(cè)試控制裝置中，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊可包括射頻檢波器51和定向耦合器52。定向耦合器52有兩個(gè)直通端和兩個(gè)耦合端，其中，兩個(gè)直通端分別連接DUT的P3 端和VNA的P2端，一個(gè)耦合端Cl與射頻檢波器的一個(gè)輸入端連接，且另一個(gè)耦合端C2與射頻檢波器51的另一個(gè)輸入端連接。射頻檢波器51的輸出端連接第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2。第一開(kāi)關(guān)Sl的一端和第二開(kāi)關(guān)S2的一端分別以可選通的方式，連接在功率放大單元53和直傳通道M的兩端， 且第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2在射頻檢波器51的驅(qū)動(dòng)控制下同步動(dòng)作，如在射頻檢波器51 輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)時(shí)，第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2同步選通功率放大單元53而斷開(kāi)直傳通道M，在射頻檢波器51輸出第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)時(shí)，第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2同步選通直傳通道M而斷開(kāi)功率放大單元53。第一開(kāi)關(guān)Sl的另一端與VNA的Pl端連接，第二開(kāi)關(guān)S2的另一端與DUT連接。本實(shí)施例中，功率放大單元53可包括AMP (功率放大器)531，用于對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行功率放大處理?？蛇x的，功率放大單元還可包括限幅器(Limitr)532，以免AMP531輸出功率過(guò)高而損壞VNA，提高了 VNA操作的安全性。本實(shí)施例提供的測(cè)試控制裝置中，當(dāng)DUT的P3端有信號(hào)輸出時(shí)，定向耦合器52的耦合端，即Cl端輸出信號(hào)到射頻檢波器51 ；當(dāng)VNA的P2端有信號(hào)輸出時(shí)，定向耦合器52的耦合端，即C2端輸出信號(hào)到射頻檢波器51。如果射頻檢波器51檢測(cè)信號(hào)的功率，在信號(hào)的功率小于預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值(即信號(hào)的功率滿足第一門(mén)限條件)時(shí)，射頻檢波器51輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)，用于驅(qū)動(dòng)第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2切換連接到功率放大單元53，對(duì)VNA的 Pl端輸出的信號(hào)進(jìn)行功率放大處理。由于信號(hào)經(jīng)過(guò)AMP531放大處理后提高了測(cè)量信號(hào)輸出功率，因而提高了 VNA的測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍。如果射頻檢波器51檢測(cè)到信號(hào)的功率大于或等于預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值時(shí)，射頻檢波器51輸出第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，用于驅(qū)動(dòng)第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2切換連接到直傳通道M。直傳通道M不對(duì)信號(hào)進(jìn)行功率放大放大處理，以滿足VNA 測(cè)試DUT的部分端口輸出特性，如濾波器通帶內(nèi)輸出端口的駐波特性的測(cè)試需要。本實(shí)施例提供的測(cè)試控制裝置，射頻檢波器通過(guò)檢測(cè)DUT的P3端或VNA的P2端的輸出功率，控制第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2的自動(dòng)切換，并達(dá)到圖如對(duì)應(yīng)實(shí)施例相似的技術(shù)效果，在此不再贅述；此外，通過(guò)在功率放大單元中引入限幅器，還有利于提高VNA操作的安全性。可選的，圖如和圖5對(duì)應(yīng)實(shí)施例中增益處理單元還可為信號(hào)衰減單元，用于對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行信號(hào)衰減處理，并輸出經(jīng)所述信號(hào)衰減處理的所述信號(hào)。該信號(hào)衰減單元可具體為衰減器或接收耦合器。該情形下，射頻檢波器，用于檢測(cè)第一定向耦合器或第二定向耦合器輸出的所述信號(hào)的功率，且在所述信號(hào)的功率大于或等于所述預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值(即信號(hào)的功率滿足第四門(mén)限條件)時(shí)，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)；否則，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)。選通單元根據(jù)接收到的第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)和第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)， 分別選通信號(hào)衰減單元或直通單元。如果信號(hào)衰減單元具體為接收耦合器，則該情形提供的測(cè)試控制裝置可與測(cè)試儀表，如VNA的主體連接，具體的，測(cè)試控制裝置和VNA內(nèi)的接收機(jī)連接，測(cè)試控制裝置中的接收耦合器可以相當(dāng)于VNA內(nèi)原有的接收耦合器進(jìn)行工作；此時(shí)內(nèi)置有測(cè)試控制裝置的VNA，不需要人工干預(yù)即可實(shí)現(xiàn)的測(cè)試控制，從而提高VNA的測(cè)試效率。圖6為本發(fā)明實(shí)施例六提供的測(cè)試控制裝置的原理框圖。如圖6所示的測(cè)試控制裝置中，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊可包括射頻檢波器61、BPF(帶通濾波器，Band Pass Filter)62、 第一定向耦合器63和第二定向耦合器64。檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊還可包括第一負(fù)載65和第二負(fù)載66。第一定向耦合器63有兩個(gè)直通端和兩個(gè)耦合端，其中，兩個(gè)直通端分別連接VNA 的Pl端和DUT的P4端，一個(gè)耦合端與BPF62的輸入端連接，另一耦合端與第一負(fù)載65連接；第二定向耦合器64也有兩個(gè)直通端和兩個(gè)耦合端，其中，兩個(gè)直通端分別連接 VNA的P2端和第二開(kāi)關(guān)S2，一個(gè)耦合端與第二負(fù)載66連接，另一個(gè)耦合端與射頻檢波器61 的一個(gè)輸入端連接。射頻檢波器61的另一個(gè)輸入端與BPF62的輸出端連接，且射頻檢波器61的輸出端分別與第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2連接。第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2分別以可選通的方式，連接在LNA67和直傳通道68的兩端，且第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2在射頻檢波器61的驅(qū)動(dòng)控制下同步動(dòng)作，如在射頻檢波器61輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)時(shí)，第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2 同步選通LNA67而斷開(kāi)直傳通道68，在射頻檢波器61輸出第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)時(shí)，第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2同步選通直傳通道68而斷開(kāi)LNA67。在實(shí)際應(yīng)用中，VNA的Pl端輸出的信號(hào)經(jīng)第一定向耦合器63輸入到BPF62。BPF62 檢測(cè)該信號(hào)的頻率，如果信號(hào)的頻率位于BPF62的通帶頻段(即信號(hào)的頻率滿足第二門(mén)限條件，其中第二門(mén)限條件中的預(yù)設(shè)的頻段為BPF62的通帶頻段)，則BPF62向射頻檢波器61 輸出信號(hào)；否則，不向BPF62輸出信號(hào)。當(dāng)射頻檢波器61在檢測(cè)到BPF62有信號(hào)輸入時(shí)，可輸出第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，用以驅(qū)動(dòng)第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2同步選通直傳通道68，直傳通道 68不對(duì)信號(hào)進(jìn)行低噪聲放大處理，以滿足VNA測(cè)試端口特性的需要。當(dāng)射頻檢波器61在檢測(cè)到BPF62沒(méi)有信號(hào)輸入時(shí)，可輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)，用以驅(qū)動(dòng)第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2同步選通LNA67，LNA67對(duì)信號(hào)進(jìn)行低噪聲放大處理，以擴(kuò)展VNA的測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍。本實(shí)施例提供的測(cè)試控制裝置，可通過(guò)設(shè)置BPF62透?jìng)黝l率位于BPF通帶頻段的信號(hào)，并由射頻檢波器驅(qū)動(dòng)第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2切換到直傳通道68，以滿足對(duì)特定頻段的信號(hào)的測(cè)試需求，實(shí)現(xiàn)方式非常靈活；此外，對(duì)超出BPF62通帶頻段的信號(hào)，由射頻檢波器驅(qū)動(dòng)第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2切換到LNA67，以提高VNA測(cè)量接收靈敏度，從而擴(kuò)展 VNA測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍。由于第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2的切換控制是在射頻檢波器的驅(qū)動(dòng)控制下自動(dòng)完成，無(wú)需降低VNA的測(cè)試速度，即不需要降低VNA內(nèi)接收機(jī)的中頻帶寬，且切換控制過(guò)程無(wú)需人工干預(yù)，因而提高了 VNA的測(cè)試效率?？蛇x的，圖6對(duì)應(yīng)實(shí)施例中增益處理單元還可為信號(hào)衰減單元，用于對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行信號(hào)衰減處理，并輸出經(jīng)所述信號(hào)衰減處理的所述信號(hào)。
該信號(hào)衰減單元可具體為衰減器。該情形下，射頻檢波器在檢測(cè)到BPF有信號(hào)輸出(即信號(hào)的頻率滿足第二門(mén)限條件，其中第二門(mén)限條件中的預(yù)設(shè)的頻段為BPF的通帶頻段)時(shí)，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)；否則，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)。選通單元根據(jù)接收到的第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)和第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，分別選通衰減器或直通單元。或者，該信號(hào)衰減單元可具體為接收耦合器；該情形下，射頻檢波器在檢測(cè)到BPF 有信號(hào)輸出(即信號(hào)的頻率滿足第五門(mén)限條件，其中第五門(mén)限條件中的預(yù)設(shè)的頻段為BPF 的通帶頻段)時(shí)，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)；否則，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)。選通單元根據(jù)接收到的第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)和第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，分別接收耦合器或直通單元。該情形提供的測(cè)試控制裝置可與測(cè)試儀表，如VNA的主體連接，具體的，測(cè)試控制裝置和VNA的接收機(jī)連接，測(cè)試控制裝置中的接收耦合器可以相當(dāng)于VNA內(nèi)原有的接收耦合器進(jìn)行工作；此時(shí)內(nèi)置有測(cè)試控制裝置的VNA，不需要人工干預(yù)即可實(shí)現(xiàn)的測(cè)試控制， 從而提高VNA的測(cè)試效率。圖7為本發(fā)明實(shí)施例七提供的測(cè)試控制裝置的原理框圖。如圖7所示的測(cè)試控制裝置中，檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊可包括相位探測(cè)器71、第一定向耦合器73和第二定向耦合器74。 檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊還可包括第一負(fù)載75和第二負(fù)載76。相位探測(cè)器71可以為射頻相位探測(cè)器。第一定向耦合器73有兩個(gè)直通端和兩個(gè)耦合端，其中，兩個(gè)直通端分別連接VNA 的Pl端和DUT的P4端，一個(gè)耦合端與相位探測(cè)器71的一個(gè)輸入端連接，另一耦合端與第一負(fù)載75連接；第二定向耦合器74也有兩個(gè)直通端和兩個(gè)耦合端，其中，兩個(gè)直通端分別連接 VNA的P2端和第二開(kāi)關(guān)S2，一個(gè)耦合端與第二負(fù)載76連接，另一個(gè)耦合端與相位探測(cè)器71 的另一個(gè)輸入端連接。相位探測(cè)器71的輸出端分別與第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2連接。第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2分別以可選通的方式，連接在LNA77和直傳通道78的兩端，且第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2在相位探測(cè)器71的驅(qū)動(dòng)控制下同步動(dòng)作，如在相位探測(cè)器71輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)時(shí)，第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2同步選通LNA77而斷開(kāi)直傳通道78，在相位探測(cè)器71輸出第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)時(shí)，第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2同步選通直傳通道78而斷開(kāi)LNA77。在實(shí)際應(yīng)用中，VNA的Pl端輸出的信號(hào)經(jīng)第一定向耦合器73輸入到相位探測(cè)器 71。相位探測(cè)器71檢測(cè)該信號(hào)的相位，如果信號(hào)的相位位于相位探測(cè)器71允許通過(guò)的相位范圍(即信號(hào)的相位滿足第三門(mén)限條件，其中第三門(mén)限條件中的預(yù)設(shè)的相位范圍，為相位探測(cè)器允許通過(guò)的相位范圍)，則相位探測(cè)器71可輸出第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，用以驅(qū)動(dòng)第一開(kāi)關(guān) Sl和第二開(kāi)關(guān)S2同步選通直傳通道78，直傳通道78不對(duì)信號(hào)進(jìn)行低噪聲放大處理，以滿足VNA測(cè)試端口特性的需要。當(dāng)相位探測(cè)器71檢測(cè)到信號(hào)的相位，超出其允許通過(guò)的相位范圍，則可輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)，用以驅(qū)動(dòng)第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2同步選通LNA77，LNA77 對(duì)信號(hào)進(jìn)行低噪聲放大處理，以擴(kuò)展VNA的測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍。本實(shí)施例提供的測(cè)試控制裝置，可通過(guò)設(shè)置相位探測(cè)器檢測(cè)VNA的Pl端輸出的信號(hào)的相位，實(shí)現(xiàn)對(duì)第一開(kāi)關(guān)Sl和第二開(kāi)關(guān)S2的自動(dòng)切換控制，即可為相位超出相位探測(cè)器允許通過(guò)的相位范圍的信號(hào)，提供更高的VNA測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍，也可為相位位于相位探測(cè)器允許通過(guò)的相位范圍的信號(hào)，提供直傳通道，以滿足VNA的實(shí)際測(cè)試需求。整個(gè)切換過(guò)程在相位探測(cè)器的驅(qū)動(dòng)控制下自動(dòng)完成，無(wú)需降低VNA的測(cè)試速度，即不需要降低VNA內(nèi)接收機(jī)的中頻帶寬，且切換控制過(guò)程無(wú)需人工干預(yù)，因而提高了 VNA的測(cè)試效率?？蛇x的，圖7對(duì)應(yīng)實(shí)施例中增益處理單元還可為信號(hào)衰減單元，用于對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行信號(hào)衰減處理，并輸出經(jīng)所述信號(hào)衰減處理的所述信號(hào)。該信號(hào)衰減單元可具體為衰減器。該情形下，相位探測(cè)器在檢測(cè)到信號(hào)的相位，位于自身允許通過(guò)的相位范圍(即信號(hào)的相位滿足第三門(mén)限條件，其中第三門(mén)限條件中的預(yù)設(shè)的相位范圍，為相位探測(cè)器允許通過(guò)的相位范圍)時(shí)，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)；否則，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)。選通單元根據(jù)接收到的第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)和第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，分別衰減器或直通單元。或者，該信號(hào)衰減單元可具體為接收耦合器。該情形下，相位探測(cè)器在檢測(cè)到信號(hào)的相位，位于自身允許通過(guò)的相位范圍(即信號(hào)的相位滿足第六門(mén)限條件，其中第六門(mén)限條件中的預(yù)設(shè)的相位范圍，為相位探測(cè)器允許通過(guò)的相位范圍)時(shí)，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)；否則，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)。選通單元根據(jù)接收到的第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)和第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，分別選通接收耦合器或直通單元。該情形提供的測(cè)試控制裝置可與測(cè)試儀表，如VNA的主體連接，具體的，測(cè)試控制裝置和VNA的接收機(jī)連接，測(cè)試控制裝置中的接收耦合器可以相當(dāng)于VNA內(nèi)原有的接收耦合器進(jìn)行工作；此時(shí)內(nèi)置有測(cè)試控制裝置的VNA，不需要人工干預(yù)即可實(shí)現(xiàn)的測(cè)試控制，從而提高VNA的測(cè)試效率。圖8為本發(fā)明實(shí)施例八提供的測(cè)試儀表的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖8所示的測(cè)試儀表包括測(cè)試儀表的主體81和測(cè)試控制裝置82 ；測(cè)試控制裝置82與測(cè)試儀表的主體81連接。 某些測(cè)試儀表，如VNA、信號(hào)源等測(cè)試儀表的主體的兩個(gè)輸入輸出端在連續(xù)脈沖下交替作為輸入端或輸出端，因此，為了方便測(cè)試，測(cè)試儀表的主體81的兩個(gè)輸入輸出端可分別連接一測(cè)試控制裝置82，作為測(cè)試儀表內(nèi)置測(cè)試控制裝置的一種可選的解決方案；其中，測(cè)試控制裝置82的具體結(jié)構(gòu)及其可達(dá)到的技術(shù)效果，可參見(jiàn)圖3-圖7對(duì)應(yīng)實(shí)施例的記載，在此不再贅述。如果測(cè)試控制裝置82中包括信號(hào)衰減單元、且信號(hào)衰減單元具體為接收耦合器時(shí)，測(cè)試儀表內(nèi)置測(cè)試控制裝置可采用另一種可選的解決方案，即測(cè)試控制裝置82可直接與測(cè)試儀表的主體81內(nèi)的接收機(jī)連接。此時(shí)，測(cè)試控制裝置中的接收耦合器可以相當(dāng)于測(cè)試儀表的主體81內(nèi)原有的接收耦合器進(jìn)行工作，在測(cè)試儀表內(nèi)部實(shí)現(xiàn)測(cè)試自動(dòng)控制，并且提高了測(cè)試儀表的集成度；相關(guān)描述可參見(jiàn)圖4a、圖5-圖7對(duì)應(yīng)實(shí)施例中，關(guān)于內(nèi)置有測(cè)試控制裝置的VNA的相應(yīng)記載，在此不再贅述。本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)用于對(duì)被測(cè)試件進(jìn)行測(cè)試，包括測(cè)試儀表、被測(cè)試件和測(cè)試控制裝置，測(cè)試儀表和被測(cè)試件通過(guò)測(cè)試控制裝置，形成測(cè)試的信號(hào)傳輸回路。其中，所述測(cè)試控制裝置可外置于所述測(cè)試儀表，且連接在所述測(cè)試儀表和所述被測(cè)試件之間；或者，所述測(cè)試控制裝置內(nèi)置在所述測(cè)試儀表中，與所述測(cè)試儀表的主體連接，且所述測(cè)試儀表的主體通過(guò)所述測(cè)試控制裝置與所述被測(cè)試件連接。下面結(jié)合圖9 和圖10，對(duì)測(cè)試控制裝置外置和內(nèi)置測(cè)試儀表情形，分別予以說(shuō)明。圖9為本發(fā)明實(shí)施例九提供的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖9所示，測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試儀表91、被測(cè)試件92和測(cè)試控制裝置93。測(cè)試儀表91和被測(cè)試件92分別與測(cè)試控制裝置93連接，且通過(guò)測(cè)試控制裝置93，在測(cè)試儀表91和被測(cè)試件92之間形成信號(hào)的傳輸回路。其中，測(cè)試控制裝置93的具體結(jié)構(gòu)及其可達(dá)到的技術(shù)效果，可參見(jiàn)圖3-圖7對(duì)
16應(yīng)實(shí)施例的記載，在此不再贅述。圖10為本發(fā)明實(shí)施例十提供的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖10所示，測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試儀表101和被測(cè)試件102。其中，測(cè)試儀表101包括測(cè)試儀表的主體1011、以及在測(cè)試儀表的主體1011的兩端分別設(shè)有一測(cè)試控制裝置1012。測(cè)試儀表的主體1011通過(guò)測(cè)試控制裝置1012與被測(cè)試件102連接，對(duì)被測(cè)試件102的端口特性和傳輸特性等參數(shù)進(jìn)行測(cè)試。其中，測(cè)試控制裝置1012的具體結(jié)構(gòu)及其可達(dá)到的技術(shù)效果，可參見(jiàn)圖3-圖7對(duì)應(yīng)實(shí)施例的記載，在此不再贅述。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解附圖只是一個(gè)實(shí)施例的示意圖，附圖中的模塊或流程并不一定是實(shí)施本發(fā)明所必須的。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)施例中的裝置中的模塊可以按照實(shí)施例描述分布于實(shí)施例的裝置中，也可以進(jìn)行相應(yīng)變化位于不同于本實(shí)施例的一個(gè)或多個(gè)裝置中。上述實(shí)施例的模塊可以合并為一個(gè)模塊，也可以進(jìn)一步拆分成多個(gè)子模塊。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述方法實(shí)施例的全部或部分步驟可以通過(guò)程序指令相關(guān)的硬件來(lái)完成，前述的程序可以存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時(shí)，執(zhí)行包括上述方法實(shí)施例的步驟；而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括R0M、RAM、磁碟或者光盤(pán)等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)。最后應(yīng)說(shuō)明的是以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對(duì)其限制；盡管參照前述實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解其依然可以對(duì)前述實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對(duì)其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替換； 而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明實(shí)施例技術(shù)方案的精神和范圍。
1權(quán)利要求
1.一種測(cè)試控制方法，其特征在于，包括獲取在測(cè)試儀表和被測(cè)試件之間傳輸?shù)男盘?hào)的當(dāng)前狀態(tài)信息；所述當(dāng)前狀態(tài)信息包括以下之一或任意組合所述信號(hào)的功率，所述信號(hào)的頻率，所述信號(hào)的相位； 判斷所述當(dāng)前狀態(tài)信息是否滿足預(yù)設(shè)的門(mén)限條件；在所述當(dāng)前狀態(tài)信息滿足所述門(mén)限條件時(shí)，對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號(hào)；否則，直接輸出所述信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述當(dāng)前狀態(tài)信息滿足所述門(mén)限條件時(shí)，對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號(hào)；否則，直接輸出所述信號(hào)，包括在所述當(dāng)前狀態(tài)信息滿足所述門(mén)限條件時(shí)，輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)，根據(jù)所述第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號(hào)；否則，輸出第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，根據(jù)所述第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)直接輸出所述信號(hào)；所述第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)表示需要進(jìn)行增益處理， 所述第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)表示不需要進(jìn)行增益處理。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)的門(mén)限條件包括以下之一或任意組合第一門(mén)限條件，第二門(mén)限條件，第三門(mén)限條件；所述增益處理包括功率放大處理或低噪聲放大處理；或者，所述預(yù)設(shè)的門(mén)限條件包括以下之一或任意組合第二門(mén)限條件，第三門(mén)限條件， 第四門(mén)限條件；所述增益處理包括信號(hào)衰減處理；或者，所述預(yù)設(shè)的門(mén)限條件包括以下之一或任意組合第四門(mén)限條件，第五門(mén)限條件， 第六門(mén)限條件；所述增益處理包括信號(hào)衰減處理；所述第一門(mén)限條件為所述信號(hào)的功率小于所述預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值；所述第二門(mén)限條件為所述信號(hào)的頻率位于所述預(yù)設(shè)的頻段；所述第三門(mén)限條件為所述信號(hào)的相位位于所述預(yù)設(shè)的相位范圍；所述第四門(mén)限條件為所述信號(hào)的功率大于或等于所述預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值；所述第五門(mén)限條件為所述信號(hào)的頻率超出所述預(yù)設(shè)的頻段；所述第六門(mén)限條件為所述信號(hào)的相位超出所述預(yù)設(shè)的相位范圍。
4.一種測(cè)試控制裝置，其特征在于，包括檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊，用于獲取在測(cè)試儀表和被測(cè)試件之間傳輸?shù)男盘?hào)的當(dāng)前狀態(tài)信息， 并判斷所述當(dāng)前狀態(tài)信息是否滿足預(yù)設(shè)的門(mén)限條件；所述當(dāng)前狀態(tài)信息包括以下之一或任意組合所述信號(hào)的功率，所述信號(hào)的頻率，所述信號(hào)的相位；信號(hào)處理模塊，用于在所述當(dāng)前狀態(tài)信息滿足所述門(mén)限條件時(shí)，對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號(hào)；否則，直接輸出所述信號(hào)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊，還用于根據(jù)判斷結(jié)果輸出第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)或第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)；所述第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)表示需要進(jìn)行增益處理，所述第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)表示不需要進(jìn)行增益處理； 所述信號(hào)處理模塊包括增益處理單元，用于對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號(hào)； 直通單元，用于提供所述信號(hào)傳輸?shù)闹眰魍?，直接輸出所述信?hào)； 選通單元，用于在接收到所述第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)時(shí)，選通所述增益處理單元；以及，在接收到所述第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)時(shí)，選通所述直通單元。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述預(yù)設(shè)的門(mén)限條件包括以下之一或任意組合第一門(mén)限條件，第二門(mén)限條件，第三門(mén)限條件；所述增益處理單元具體為功率放大處理單元，用于對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行功率放大處理，并輸出經(jīng)所述功率放大處理的所述信號(hào)；或者，所述所述增益處理單元具體為低噪聲放大處理單元，用于對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行低噪聲放大處理，并輸出經(jīng)所述低噪聲放大處理的所述信號(hào)；或者，所述預(yù)設(shè)的門(mén)限條件包括以下之一或任意組合第二門(mén)限條件，第三門(mén)限條件， 第四門(mén)限條件；所述增益處理單元具體為信號(hào)衰減處理單元，用于對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行信號(hào)衰減處理，并輸出經(jīng)所述信號(hào)衰減處理的所述信號(hào)；或者，所述預(yù)設(shè)的門(mén)限條件包括以下之一或任意組合第四門(mén)限條件，第五門(mén)限條件， 第六門(mén)限條件；所述增益處理單元具體為信號(hào)衰減處理單元，用于對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行信號(hào)衰減處理，并輸出經(jīng)所述信號(hào)衰減處理的所述信號(hào)；所述第一門(mén)限條件為所述信號(hào)的功率小于所述預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值；所述第二門(mén)限條件為所述信號(hào)的頻率位于所述預(yù)設(shè)的頻段；所述第三門(mén)限條件為所述信號(hào)的相位位于所述預(yù)設(shè)的相位范圍；所述第四門(mén)限條件為所述信號(hào)的功率大于或等于所述預(yù)設(shè)的功率門(mén)限值；所述第五門(mén)限條件為所述信號(hào)的頻率超出所述預(yù)設(shè)的頻段；所述第六門(mén)限條件為所述信號(hào)的相位超出所述預(yù)設(shè)的相位范圍。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述預(yù)設(shè)的門(mén)限條件具體為所述第一門(mén)限條件或所述第四門(mén)限條件；所述檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊包括定向耦合器和射頻檢波器；所述定向耦合器，包括兩個(gè)直通端，分別為所述信號(hào)的輸入端和輸出端；耦合端，輸出所述信號(hào)；所述射頻檢波器，用于檢測(cè)所述耦合端輸出的所述信號(hào)的功率，且在所述信號(hào)的功率滿足所述第一門(mén)限條件或所述第四門(mén)限條件時(shí)，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)； 否則，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述預(yù)設(shè)的門(mén)限條件具體為所述第二門(mén)限條件或所述第五門(mén)限條件，其中，所述預(yù)設(shè)的頻段為帶通濾波器的通帶頻段；所述檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊包括定向耦合器、帶通濾波器和射頻檢波器；所述定向耦合器，包括兩個(gè)直通端，分別為所述信號(hào)的輸入端和輸出端；耦合端，輸出所述信號(hào)；所述帶通濾波器，用于檢測(cè)所述耦合端輸出的所述信號(hào)的頻率，且在所述信號(hào)的頻率滿足所述第二門(mén)限條件或所述第五門(mén)限條件時(shí)，輸出所述信號(hào)；否則，不輸出所述信號(hào)；所述射頻檢波器，用于檢測(cè)所述帶通濾波器是否有所述信號(hào)的輸出，如果有，則向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)；否則，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)；或者，所述射頻檢波器，用于檢測(cè)所述帶通濾波器是否有所述信號(hào)的輸出，如果有，則向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)；否則，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述預(yù)設(shè)的門(mén)限條件具體為所述第三門(mén)限條件或所述第六門(mén)限條件，其中，所述預(yù)設(shè)的相位范圍為相位探測(cè)器允許探測(cè)的相位范圍；所述檢測(cè)和驅(qū)動(dòng)模塊包括定向耦合器和相位探測(cè)器；所述定向耦合器，包括兩個(gè)直通端，分別為所述信號(hào)的輸入端和輸出端；耦合端，輸出所述信號(hào)；所述相位探測(cè)器，用于檢測(cè)所述耦合端輸出的所述信號(hào)的相位，且在所述信號(hào)的相位滿足所述第三門(mén)限條件或所述第六門(mén)限條件時(shí)，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)， 否則，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)；或者，所述相位探測(cè)器，用于檢測(cè)所述耦合端輸出的所述信號(hào)的相位，且所述信號(hào)的相位滿足所述第三門(mén)限條件或所述第六門(mén)限條件時(shí)，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動(dòng)信號(hào)，否則，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動(dòng)信號(hào)。
10.根據(jù)權(quán)利要求4-9任一所述的裝置，其特征在于，所述測(cè)試儀表包括網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號(hào)發(fā)生器、功率計(jì)、噪聲測(cè)試儀或信號(hào)分析儀；所述信號(hào)分析儀具體為完成時(shí)域、頻域、碼域至少其中之一信號(hào)分析的儀表。
11.根據(jù)權(quán)利要求4-10任一所述的裝置，其特征在于，所述被測(cè)試件包括濾波器、放大器或混頻器。
12.根據(jù)權(quán)利要求4-11任一所述的裝置，其特征在于，所述信號(hào)具體為所述測(cè)試儀表的輸入或輸出信號(hào)，或所述被測(cè)試件的輸入或輸出信號(hào)。
13.—種測(cè)試儀表，包括所述測(cè)試儀表的主體，其特征在于，還包括測(cè)試控制裝置，與所述測(cè)試儀表的主體連接，為如權(quán)利要求4-12任一所述的裝置。
14.一種測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)用于對(duì)被測(cè)試件進(jìn)行測(cè)試，所述系統(tǒng)包括測(cè)試儀表和測(cè)試控制裝置；所述測(cè)試控制裝置為如權(quán)利要求4-9任一所述的裝置；所述測(cè)試控制裝置外置于所述測(cè)試儀表，且連接在所述測(cè)試儀表和所述被測(cè)試件之間；或者，所述測(cè)試控制裝置內(nèi)置在所述測(cè)試儀表中，與所述測(cè)試儀表的主體連接，且所述測(cè)試儀表的主體通過(guò)所述測(cè)試控制裝置與所述被測(cè)試件連接。
全文摘要
本發(fā)明實(shí)施例涉及一種測(cè)試控制方法、裝置和系統(tǒng)。其中一種方法包括獲取在測(cè)試儀表和被測(cè)試件之間傳輸?shù)男盘?hào)的當(dāng)前狀態(tài)信息；所述當(dāng)前狀態(tài)信息包括以下之一或任意組合所述信號(hào)的功率、頻率或相位；判斷所述當(dāng)前狀態(tài)信息是否滿足預(yù)設(shè)的門(mén)限條件；在所述當(dāng)前狀態(tài)信息滿足所述門(mén)限條件時(shí)，對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號(hào)；否則，直接輸出所述信號(hào)。本發(fā)明實(shí)施例提高了測(cè)試儀表的測(cè)試效率。
文檔編號(hào)H04B17/00GK102388552SQ201180001474
公開(kāi)日2012年3月21日 申請(qǐng)日期2011年6月15日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月15日
發(fā)明者張志偉, 王偉, 魏宏亮 申請(qǐng)人:華為技術(shù)有限公司