專利名稱：一種63路e1同時(shí)測(cè)量的ptn測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于通信測(cè)量領(lǐng)域，可同時(shí)測(cè)試PTN設(shè)備63路El的誤碼、環(huán)路時(shí)延、倒換時(shí)延等。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的SDH測(cè)試儀只能同時(shí)測(cè)試一路El的誤碼、環(huán)路時(shí)延、倒換時(shí)延，這在PTN分組交換網(wǎng)測(cè)試中存在極大的缺陷。分組交換中，STM-I的63個(gè)El信號(hào)通過(guò)IP包傳送，而IP包可能通過(guò)不同的路徑傳送，也可能出現(xiàn)丟包、失序等現(xiàn)象，這樣，在IP包重組為63路El信號(hào)時(shí)，會(huì)出現(xiàn)I路或數(shù)路El信號(hào)受損傷的情況，而這種現(xiàn)象，用傳統(tǒng)的只能同時(shí)測(cè)試I路El的SDH測(cè)試儀，是很難監(jiān)測(cè)到的。傳統(tǒng)的SDH測(cè)試儀無(wú)法同時(shí)測(cè)試63個(gè)E1，不可能確定信號(hào)經(jīng)過(guò)PTN網(wǎng)絡(luò)傳送后是否出現(xiàn)上述問(wèn)題，而本發(fā)明恰好彌補(bǔ)了傳統(tǒng)的SDH測(cè)試儀測(cè)試PTN網(wǎng)絡(luò)所存在的缺陷，同時(shí)，極大的提高了測(cè)試效率。 因此，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實(shí)用新型提供一種操作簡(jiǎn)易快捷，能同時(shí)測(cè)試63路El的誤碼率、環(huán)路時(shí)延和保護(hù)倒換時(shí)延等問(wèn)題且提高測(cè)試效率的63路El同時(shí)測(cè)量的PTN測(cè)試儀。

實(shí)用新型內(nèi)容針對(duì)以上現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是，提供一種操作簡(jiǎn)易快捷，能同時(shí)測(cè)試63路El的誤碼率、環(huán)路時(shí)延和保護(hù)倒換時(shí)延等問(wèn)題且提高測(cè)試效率的63路El同時(shí)測(cè)量的PTN測(cè)試儀。為解決以上技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型的技術(shù)方案是一種63路El同時(shí)測(cè)量的PTN測(cè)試儀，由El功能模塊、SDH功能模塊、時(shí)延電路及各種測(cè)試接口如PDH接口、SDH接口組成，關(guān)鍵是還包括FPGA處理器、CPU處理器、人機(jī)交互界面和電源控制管理電路；測(cè)試信號(hào)通過(guò)對(duì)應(yīng)的測(cè)試接口連接到相應(yīng)的功能模塊，在FPGA控制器和CPU處理器的控制下，完成各種測(cè)試項(xiàng)目；通過(guò)人機(jī)交互界面下達(dá)指令，能輕易實(shí)現(xiàn)El測(cè)試、SDH測(cè)試保護(hù)63路El同時(shí)測(cè)試等功能；其中El模塊用于PDH測(cè)試，SDH模塊用于SDH測(cè)試。本實(shí)用新型的有益效果新產(chǎn)品與傳統(tǒng)產(chǎn)品相比，彌補(bǔ)了傳統(tǒng)SDH測(cè)試儀測(cè)試PTN網(wǎng)絡(luò)所存在的缺陷，可以實(shí)現(xiàn)一機(jī)多功能、多用途，能對(duì)PTN網(wǎng)絡(luò)多種信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，節(jié)約了成本、資源和空間。PTN測(cè)試儀使用大尺寸觸摸液晶屏，非常友好的人機(jī)交互界面，操作簡(jiǎn)易快捷，能輕松解決PTN網(wǎng)絡(luò)中同時(shí)測(cè)試63路El的誤碼率、環(huán)路時(shí)延和保護(hù)倒換時(shí)延等問(wèn)題，彌補(bǔ)了傳統(tǒng)SDH測(cè)試儀表的不足且提高了測(cè)試效率。

下面結(jié)合說(shuō)明書(shū)附圖對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步詳細(xì)的描述，其中圖I為本實(shí)用新型的電路原理圖。
具體實(shí)施方式
如圖I所示，一種63路El同時(shí)測(cè)量的PTN測(cè)試儀，由El功能模塊、SDH功能模塊、時(shí)延電路及各種測(cè)試接口如PDH接口、SDH接口組成，關(guān)鍵是還包括FPGA處理器、CPU處理器、人機(jī)交互界面如液晶顯示屏和電源控制管理電路；測(cè)試信號(hào)通過(guò)對(duì)應(yīng)的測(cè)試接口連接到相應(yīng)的功能模塊，在FPGA控制器和CPU處理器的控制下，完成各種測(cè)試項(xiàng)目；通過(guò)人機(jī)交互界面如液晶顯示屏下達(dá)指令，能輕易實(shí)現(xiàn)El測(cè)試、SDH測(cè)試保護(hù)63路El同時(shí)測(cè)試等功能；其中El模塊用于PDH測(cè)試，SDH模塊用于SDH測(cè)試。本產(chǎn)品使用市場(chǎng)上主流的集成IC和軟件平臺(tái)，運(yùn)行公司自主開(kāi)發(fā)的應(yīng)用程
權(quán)利要求1.一種63路El同時(shí)測(cè)量的PTN測(cè)試儀，由El功能模塊、SDH功能模塊、時(shí)延電路及各種測(cè)試接口如PDH接口、SDH接口組成，其特征是還包括FPGA處理器、CPU處理器、人機(jī)交互界面和電源控制管理電路；測(cè)試信號(hào)通過(guò)對(duì)應(yīng)的測(cè)試接口連接到相應(yīng)的功能模塊，在FPGA控制器和CPU處理器的控制下，完成各種測(cè)試項(xiàng)目；通過(guò)人機(jī)交互界面下達(dá)指令，能輕易實(shí)現(xiàn)El測(cè)試、SDH測(cè)試保護(hù)63路El同時(shí)測(cè)試等功能；其中El模塊用于PDH測(cè)試，SDH模塊用于SDH測(cè)試。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種63路E1同時(shí)測(cè)量的PTN測(cè)試儀，由E1功能模塊、SDH功能模塊、時(shí)延電路及各種測(cè)試接口如PDH接口、SDH接口組成，關(guān)鍵是還包括FPGA處理器、CPU處理器、人機(jī)交互界面和電源控制管理電路；測(cè)試信號(hào)通過(guò)對(duì)應(yīng)的測(cè)試接口連接到相應(yīng)的功能模塊，在FPGA控制器和CPU處理器的控制下，完成各種測(cè)試項(xiàng)目；通過(guò)人機(jī)交互界面下達(dá)指令，能輕易實(shí)現(xiàn)E1測(cè)試、SDH測(cè)試保護(hù)63路E1同時(shí)測(cè)試等功能。本實(shí)用新型操作簡(jiǎn)易快捷，能同時(shí)測(cè)試63路E1的誤碼率、環(huán)路時(shí)延和保護(hù)倒換時(shí)延等問(wèn)題且提高測(cè)試效率的63路E1同時(shí)測(cè)量的PTN測(cè)試儀。
文檔編號(hào)H04L12/26GK202551070SQ20112056961
公開(kāi)日2012年11月21日 申請(qǐng)日期2011年12月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月30日
發(fā)明者白巖 申請(qǐng)人:深圳市夏光通信測(cè)量技術(shù)有限公司