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一種提高圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍的電路及其控制方法

文檔序號(hào):7806960閱讀:257來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:一種提高圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍的電路及其控制方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及數(shù)?;旌霞呻娐吩O(shè)計(jì)領(lǐng)域,特別涉及一種提高圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍的電路及其控制方法,可應(yīng)用到時(shí)間延時(shí)積分(Time Delay Integration, TDI)型CMOS圖像傳感器中。
背景技術(shù)
時(shí)間延時(shí)積分技術(shù)是一種能夠增加線陣圖像傳感器靈敏度的技術(shù),它以其特殊的掃描方式,通過(guò)對(duì)同一目標(biāo)進(jìn)行多次曝光,實(shí)現(xiàn)很高的靈敏度和信噪比,特別適用于低照度和運(yùn)動(dòng)物體的拍攝場(chǎng)合。TDI的基本原理是指對(duì)同一個(gè)移動(dòng)中的物體,進(jìn)行多次曝光(積分)并將其積累。由于感光器積累多次的入射光,圖像信號(hào)及整體亮度相應(yīng)地大幅提升。發(fā)明人在實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的過(guò)程中,發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在以下缺點(diǎn)和不足現(xiàn)有技術(shù)中CMOS圖像傳感器的動(dòng)態(tài)范圍較小,限制了應(yīng)用范圍。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種提高圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍的電路及其控制方法,本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了擴(kuò)大CMOS圖像傳感器的動(dòng)態(tài)范圍,擴(kuò)大了 CMOS圖像傳感器的應(yīng)用范圍,詳見下文描述一種提高圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍的電路,所述電路包括像素積分電路、比較器、累加器、存儲(chǔ)器、第一開關(guān)和第二開關(guān);所述像素積分電路的輸出端分別與所述第一開關(guān)的一端、所述第二開關(guān)的一端相連;所述第一開關(guān)的另一端分別與所述比較器的輸入端、所述累加器的輸入端相連;所述第二開關(guān)的另一端分別與所述比較器的輸入端、所述累加器的輸入端相連;所述比較器的另一輸入端接參考電壓;所述比較器的輸出端和所述存儲(chǔ)器的輸入端相連;所述存儲(chǔ)器的輸出端和所述像素積分電路相連。所述像素積分電路包括第一積分電容、第二積分電容、第三積分電容、第一積分電容開關(guān)、第二積分電容開關(guān)、第三積分電容開關(guān)、二極管、第一 MOS管、第二 MOS管、第三 MOS管、第四MOS管和第五MOS管,所述二極管的陽(yáng)極接地,所述二極管的陰極和所述第一 MOS管的漏極相連,所述第一 MOS管的源極分別與所述第一積分電容開關(guān)的一端、所述第二積分電容開關(guān)的一端、 所述第三積分電容開關(guān)的一端、所述第二MOS管的漏極和所述第三MOS管的柵極相連;所述第一積分電容開關(guān)的另一端和所述第一積分電容的一端相連,所述第一積分電容的另一端接地;所述第二積分電容開關(guān)的另一端和所述第二積分電容的一端相連,所述第二積分電容的另一端接地;所述第三積分電容開關(guān)的另一端和所述第三積分電容的一端相連,所述第三積分電容的另一端接地;所述第二 MOS管的源極和所述第三MOS管的源極相連;所述第三MOS管的漏極和所述第四MOS管的源極相連;所述第四MOS管的漏極和所述第五MOS 管的源極相連輸出積分電壓;所述第五MOS管的漏極接地,所述第五MOS管的柵極接偏置電壓。
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一種提高圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍的控制方法,所述方法包括以下步驟
(1)在第一個(gè)積分周期閉合所述第一積分電容開關(guān),判斷在第一采樣點(diǎn)時(shí)刻所述像素積分電路輸出的積分電壓是否大于參考電壓,且在第二采樣點(diǎn)時(shí)刻積分電壓是否大于所述參考電壓,如果是,執(zhí)行步驟O);如果否,執(zhí)行步驟(3);
(2)所述第一積分電容不變,同時(shí)斷開所述第一開關(guān),閉合所述第二開關(guān),在下一個(gè)積分周期開始,所述像素積分電路開始像素重新復(fù)位,經(jīng)積分后所述累加器對(duì)電學(xué)信號(hào)進(jìn)行讀出和累加;
(3)在第一個(gè)積分周期,判斷第一采樣點(diǎn)時(shí)刻所述像素積分電路輸出的積分電壓是否大于所述參考電壓,且在第二采樣點(diǎn)時(shí)刻積分電壓是否小于所述參考電壓,如果是,執(zhí)行步驟⑷;如果否,執(zhí)行步驟(5);
(4)斷開所述第一積分電容開關(guān),閉合所述第二積分電容開關(guān),同時(shí)斷開所述第一開關(guān),閉合所述第二開關(guān),下個(gè)積分周期開始像素重新復(fù)位,經(jīng)積分后所述累加器對(duì)電學(xué)信號(hào)進(jìn)行讀出和累加;
(5)在第一個(gè)積分周期,判斷第一采樣點(diǎn)時(shí)刻所述像素積分電路輸出的積分電壓是否小于所述參考電壓,如果是,執(zhí)行步驟(6);如果否,執(zhí)行步驟(7)
(6)斷開所述第一積分電容開關(guān),閉合所述第三積分電容開關(guān),同時(shí)斷開所述第一開關(guān),閉合所述第二開關(guān),下個(gè)積分周期開始像素重新復(fù)位,經(jīng)積分后所述累加器對(duì)電學(xué)信號(hào)進(jìn)行讀出和累加,執(zhí)行步驟(7);
(7)流程結(jié)束。
所述方法還包括
在第一采樣點(diǎn)時(shí)刻所述像素積分電路輸出的積分電壓小于所述參考電壓時(shí),所述比較器在第一采樣點(diǎn)時(shí)刻發(fā)生翻轉(zhuǎn),所述存儲(chǔ)器記為11 ;
在第一采樣點(diǎn)時(shí)刻所述像素積分電路輸出的積分電壓大于所述參考電壓、且第二采樣點(diǎn)時(shí)刻所述像素積分電路輸出的積分電壓小于所述參考電壓時(shí),所述比較器在第二采樣點(diǎn)時(shí)刻發(fā)生翻轉(zhuǎn),所述存儲(chǔ)器記為01 ;
在第一采樣點(diǎn)時(shí)刻所述像素積分電路輸出的積分電壓大于所述參考電壓、且第二采樣點(diǎn)時(shí)刻所述像素積分電路輸出的積分電壓大于所述參考電壓時(shí),所述比較器不翻轉(zhuǎn), 所述存儲(chǔ)器記為00。
所述方法還包括
當(dāng)所述存儲(chǔ)器記為11時(shí),積分電容調(diào)整為所述第三積分電容;當(dāng)所述存儲(chǔ)器記為 01時(shí),積分電容調(diào)整為所述第二積分電容;當(dāng)所述存儲(chǔ)器記為00時(shí),所述第一積分電容保持不變。
本發(fā)明提供的技術(shù)方案的有益效果是
本發(fā)明提供了一種提高圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍的電路及其控制方法,本發(fā)明在TDI 的多個(gè)積分周期中,利用第一個(gè)積分周期,對(duì)輸入的光信號(hào)強(qiáng)度進(jìn)行判斷,并根據(jù)光強(qiáng)范圍調(diào)整積分電容,選擇合適的積分電容,對(duì)第2個(gè) η個(gè)積分周期讀出的信號(hào)進(jìn)行累加,這樣可有效擴(kuò)大CMOS圖像傳感器的動(dòng)態(tài)范圍,擴(kuò)大了 CMOS圖像傳感器的應(yīng)用范圍。


圖1為本發(fā)明提供的一種提高圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍的電路的電路示意圖;圖2為本發(fā)明提供的像素積分電路的電路示意圖;圖3為本發(fā)明提供的積分信號(hào)的輸出示意圖;圖4為本發(fā)明提供的一種提高圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍的控制方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施方式作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。為了擴(kuò)大CMOS圖像傳感器的動(dòng)態(tài)范圍,擴(kuò)大CMOS圖像傳感器的應(yīng)用范圍,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種提高圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍的電路及其控制方法,詳見下文描述參見圖1和圖2,一種提高圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍的電路,該電路包括像素積分電路、比較器、累加器、存儲(chǔ)器、第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2 ;像素積分電路的輸出端分別與第一開關(guān)Sl的一端、第二開關(guān)S2的一端相連;第一開關(guān)Sl的另一端分別與比較器的輸入端、累加器的輸入端相連;第二開關(guān)S2的另一端分別與比較器的輸入端、累加器的輸入端相連;比較器的另一輸入端接參考電壓;比較器的輸出端和存儲(chǔ)器的輸入端相連;存儲(chǔ)器的輸出端和像素積分電路相連。其中,像素積分電路包括第一積分電容Cl、第二積分電容C2、第三積分電容C3、 第一積分電容開關(guān)&1、第二積分電容開關(guān)&2、第三積分電容開關(guān)&3、二極管D、第一 MOS 管TX、第二 MOS管Ml、第三MOS管M2、第四MOS管M3和第五MOS管M4,二極管D的陽(yáng)極接地,二極管D的陰極和第一 MOS管TX的漏極相連,第一 MOS管 TX的源極分別與第一積分電容開關(guān)Scl的一端、第二積分電容開關(guān)Sc2的一端、第三積分電容開關(guān)Sc3的一端、第二 MOS管Ml的漏極和第三MOS管M2的柵極相連;第一積分電容開關(guān) Scl的另一端和第一積分電容Cl的一端相連,第一積分電容Cl的另一端接地;第二積分電容開關(guān)Sc2的另一端和第二積分電容C2的一端相連,第二積分電容C2的另一端接地;第三積分電容開關(guān)的另一端和第三積分電容C3的一端相連,第三積分電容C3的另一端接地;第二 MOS管Ml的源極和第三MOS管M2的源極相連;第三MOS管M2的漏極和第四MOS 管M3的源極相連;第四MOS管M3的漏極和第五MOS管M4的源極相連輸出積分電壓 ’第五 MOS管M4的漏極接地,第五MOS管M4的柵極接偏置電壓。下面結(jié)合圖2和圖3,詳細(xì)介紹一種提高圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍的控制方法,參見圖 4,該方法包括以下步驟101 在第一個(gè)積分周期閉合第一積分電容開關(guān)&1,判斷在第一采樣點(diǎn)時(shí)刻TI像素積分電路輸出的積分電壓是否大于參考電壓Vref,且在第二采樣點(diǎn)時(shí)刻T2積分電壓是否大于參考電壓Vref,如果是,執(zhí)行步驟102 ;如果否,執(zhí)行步驟103 ;其中,本發(fā)明實(shí)施例以第二采樣點(diǎn)時(shí)刻T2 = Tint/2,第一采樣點(diǎn)時(shí)刻TI = Tint/ΙΟ為例進(jìn)行說(shuō)明,具體實(shí)現(xiàn)時(shí),根據(jù)實(shí)際應(yīng)用中需要的圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍,對(duì)相應(yīng)的采樣點(diǎn)進(jìn)行調(diào)整,本發(fā)明實(shí)施例對(duì)此不做限制。其中,本發(fā)明實(shí)施例以第一積分電容Cl = C、第二積分電容C2 = 5C和第三積分電容C3 = 25C為例進(jìn)行說(shuō)明,具體實(shí)現(xiàn)時(shí),根據(jù)實(shí)際應(yīng)用中需要的圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍,對(duì)相應(yīng)的積分電容的值進(jìn)行調(diào)整,本發(fā)明實(shí)施例對(duì)此不做限制。
參見圖3,以4級(jí)TDI為例,假設(shè)信號(hào)經(jīng)4級(jí)累加的幅度為Vrst,在每個(gè)積分時(shí)間內(nèi)信號(hào)幅度若超過(guò)Vrst/4,則經(jīng)4級(jí)累加后,信號(hào)幅度超過(guò)Vrst,信號(hào)發(fā)生了飽和。為此, 為了防止信號(hào)飽和,在每次積分時(shí)間內(nèi)要避免信號(hào)幅度超過(guò)Vrst/4。為了擴(kuò)大圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍,本發(fā)明實(shí)施例擬將第一個(gè)積分周期作為光信號(hào)判斷周期,在第一個(gè)積分周期內(nèi)設(shè)置2個(gè)采樣點(diǎn)。第一積分電容開關(guān)Scl關(guān)閉,積分電容為第一積分電容Cl,Cl =C0
102 第一積分電容Cl不變,同時(shí)斷開第一開關(guān)Si,閉合第二開關(guān)S2,在下一個(gè)積分周期開始,像素積分電路開始像素重新復(fù)位,經(jīng)積分后累加器對(duì)電學(xué)信號(hào)進(jìn)行讀出和累加;
103 在第一個(gè)積分周期,判斷第一采樣點(diǎn)時(shí)刻TI像素積分電路輸出的積分電壓是否大于參考電壓Vref,且在第二采樣點(diǎn)時(shí)刻T2積分電壓是否小于參考電壓Vref,如果是,執(zhí)行步驟104 ;如果否,執(zhí)行步驟105 ;
104 斷開第一積分電容開關(guān)Scl,閉合第二積分電容開關(guān)Sc2,同時(shí)斷開第一開關(guān) Si,閉合第二開關(guān)S2,下個(gè)積分周期開始像素重新復(fù)位,經(jīng)積分后累加器對(duì)電學(xué)信號(hào)進(jìn)行讀出和累加;
參見圖3,若在第一采樣點(diǎn)時(shí)刻 Tl, Vsig > 7/8Vrst (Vref = 3. 5,Vrst = 4),在第二采樣點(diǎn)時(shí)刻12,¥5^<7/8^卩光電流積分曲線在1^2 1^3區(qū)間,為了使輸出信號(hào)不飽和,在后面的積分周期內(nèi)將第一積分電容開關(guān)Scl斷開,第二積分電容開關(guān)Sc2閉合,積分電容為第二積分電容C2,C2 = 5C,積分曲線斜率絕對(duì)值減小5倍,以L2曲線為例,通過(guò)將積分電容變化為5C,光電流積分曲線從L2變化到虛線L2’(L2’與L3重合)。
105 在第一個(gè)積分周期,判斷第一采樣點(diǎn)時(shí)刻TI像素積分電路輸出的積分電壓是否小于參考電壓Vref,如果是,執(zhí)行步驟106 ;如果否,執(zhí)行步驟107
106 斷開第一積分電容開關(guān)Scl,閉合第三積分電容開關(guān)Sc3,同時(shí)斷開第一開關(guān) Si,閉合第二開關(guān)S2,下個(gè)積分周期開始像素重新復(fù)位,經(jīng)積分后累加器對(duì)電學(xué)信號(hào)進(jìn)行讀出和累加,執(zhí)行步驟107;
參見圖3,若在第一采樣點(diǎn)時(shí)刻Tl,Vsig <7/8V t,則在后面的積分周期內(nèi)斷開第一積分電容開關(guān)&1,閉合第三積分電容開關(guān)&3,積分電容為第三積分電容C3,C3 = 25C, 積分曲線斜率絕對(duì)值減小25倍,這樣可保證初始光電流積分曲線在Ll L2區(qū)間的信號(hào), 經(jīng)4次累加的輸出信號(hào)不飽和。以Ll曲線為例,通過(guò)將積分電容變化為25C,光電流積分曲線從Ll變化到虛線Li,(Li,與L2,、L3重合)。
107 流程結(jié)束。
進(jìn)一步地,為了后續(xù)的信號(hào)處理,可用2位數(shù)字信號(hào)記錄光電流的范圍,本發(fā)明實(shí)施例還包括
在第一采樣點(diǎn)時(shí)刻TI像素積分電路輸出的積分電壓小于參考電壓Vref時(shí),比較器在第一采樣點(diǎn)時(shí)刻TI發(fā)生翻轉(zhuǎn),此時(shí)光電流為大電流,存儲(chǔ)器記為11 ;
在第一采樣點(diǎn)時(shí)刻TI像素積分電路輸出的積分電壓大于參考電壓Vref、第二采樣點(diǎn)時(shí)刻TI像素積分電路輸出的積分電壓小于參考電壓Vref時(shí),比較器在第二采樣點(diǎn)時(shí)刻T2發(fā)生翻轉(zhuǎn),此時(shí)光電流為中等大小電流,存儲(chǔ)器記為01 ;
在第一采樣點(diǎn)時(shí)刻TI像素積分電路輸出的積分電壓大于參考電壓Vref、第二采樣點(diǎn)時(shí)刻T2像素積分電路輸出的積分電壓大于參考電壓Vref時(shí),比較器不翻轉(zhuǎn),此時(shí)光電流為小電流,存儲(chǔ)器記為00。進(jìn)一步地,本發(fā)明實(shí)施例還可以根據(jù)存儲(chǔ)器記錄的光電流的范圍(11-01-00),選擇對(duì)積分電容進(jìn)行調(diào)整具體為當(dāng)存儲(chǔ)器記為11時(shí),積分電容調(diào)整為第三積分電容C3 ;當(dāng)存儲(chǔ)器記為01時(shí),積分電容調(diào)整為第二積分電容C2 ;當(dāng)存儲(chǔ)器記為00時(shí),第一積分電容Cl保持不變。綜上所述,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種提高圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍的電路及其控制方法,本發(fā)明實(shí)施例在TDI的多個(gè)積分周期中,利用第一個(gè)積分周期,對(duì)輸入的光信號(hào)強(qiáng)度進(jìn)行判斷,并根據(jù)光強(qiáng)范圍調(diào)整積分電容,選擇合適的積分電容,對(duì)第2個(gè) η個(gè)積分周期讀出的信號(hào)進(jìn)行累加,這樣可有效擴(kuò)大CMOS圖像傳感器的動(dòng)態(tài)范圍,擴(kuò)大了 CMOS圖像傳感器的應(yīng)用范圍。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解附圖只是一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例的示意圖,上述本發(fā)明實(shí)施例序號(hào)僅僅為了描述,不代表實(shí)施例的優(yōu)劣。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種提高圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍的電路,其特征在于,所述電路包括像素積分電路、 比較器、累加器、存儲(chǔ)器、第一開關(guān)和第二開關(guān);所述像素積分電路的輸出端分別與所述第一開關(guān)的一端、所述第二開關(guān)的一端相連; 所述第一開關(guān)的另一端分別與所述比較器的輸入端、所述累加器的輸入端相連;所述第二開關(guān)的另一端分別與所述比較器的輸入端、所述累加器的輸入端相連;所述比較器的另一輸入端接參考電壓;所述比較器的輸出端和所述存儲(chǔ)器的輸入端相連;所述存儲(chǔ)器的輸出端和所述像素積分電路相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種提高圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍的電路,其特征在于,所述像素積分電路包括第一積分電容、第二積分電容、第三積分電容、第一積分電容開關(guān)、第二積分電容開關(guān)、第三積分電容開關(guān)、二極管、第一 MOS管、第二 MOS管、第三MOS管、第四MOS管和第五MOS管,所述二極管的陽(yáng)極接地,所述二極管的陰極和所述第一 MOS管的漏極相連,所述第一 MOS管的源極分別與所述第一積分電容開關(guān)的一端、所述第二積分電容開關(guān)的一端、所述第三積分電容開關(guān)的一端、所述第二MOS管的漏極和所述第三MOS管的柵極相連;所述第一積分電容開關(guān)的另一端和所述第一積分電容的一端相連,所述第一積分電容的另一端接地; 所述第二積分電容開關(guān)的另一端和所述第二積分電容的一端相連,所述第二積分電容的另一端接地;所述第三積分電容開關(guān)的另一端和所述第三積分電容的一端相連,所述第三積分電容的另一端接地;所述第二 MOS管的源極和所述第三MOS管的源極相連;所述第三MOS 管的漏極和所述第四MOS管的源極相連;所述第四MOS管的漏極和所述第五MOS管的源極相連輸出積分電壓;所述第五MOS管的漏極接地,所述第五MOS管的柵極接偏置電壓。
3.一種用于權(quán)利要求2所述的一種提高圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍的電路的控制方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟(1)在第一個(gè)積分周期閉合所述第一積分電容開關(guān),判斷在第一采樣點(diǎn)時(shí)刻所述像素積分電路輸出的積分電壓是否大于參考電壓,且在第二采樣點(diǎn)時(shí)刻積分電壓是否大于所述參考電壓,如果是,執(zhí)行步驟(2);如果否,執(zhí)行步驟(3);(2)所述第一積分電容不變,同時(shí)斷開所述第一開關(guān),閉合所述第二開關(guān),在下一個(gè)積分周期開始,所述像素積分電路開始像素重新復(fù)位,經(jīng)積分后所述累加器對(duì)電學(xué)信號(hào)進(jìn)行讀出和累加;(3)在第一個(gè)積分周期,判斷第一采樣點(diǎn)時(shí)刻所述像素積分電路輸出的積分電壓是否大于所述參考電壓,且在第二采樣點(diǎn)時(shí)刻積分電壓是否小于所述參考電壓,如果是,執(zhí)行步驟⑷;如果否,執(zhí)行步驟(5);(4)斷開所述第一積分電容開關(guān),閉合所述第二積分電容開關(guān),同時(shí)斷開所述第一開關(guān),閉合所述第二開關(guān),下個(gè)積分周期開始像素重新復(fù)位,經(jīng)積分后所述累加器對(duì)電學(xué)信號(hào)進(jìn)行讀出和累加;(5)在第一個(gè)積分周期,判斷第一采樣點(diǎn)時(shí)刻所述像素積分電路輸出的積分電壓是否小于所述參考電壓,如果是,執(zhí)行步驟(6);如果否,執(zhí)行步驟(7)(6)斷開所述第一積分電容開關(guān),閉合所述第三積分電容開關(guān),同時(shí)斷開所述第一開關(guān),閉合所述第二開關(guān),下個(gè)積分周期開始像素重新復(fù)位,經(jīng)積分后所述累加器對(duì)電學(xué)信號(hào)進(jìn)行讀出和累加,執(zhí)行步驟(7);(7)流程結(jié)束。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的控制方法,其特征在于,所述方法還包括在第一采樣點(diǎn)時(shí)刻所述像素積分電路輸出的積分電壓小于所述參考電壓時(shí),所述比較器在第一采樣點(diǎn)時(shí)刻發(fā)生翻轉(zhuǎn),所述存儲(chǔ)器記為11 ;在第一采樣點(diǎn)時(shí)刻所述像素積分電路輸出的積分電壓大于所述參考電壓、且第二采樣點(diǎn)時(shí)刻所述像素積分電路輸出的積分電壓小于所述參考電壓時(shí),所述比較器在第二采樣點(diǎn)時(shí)刻發(fā)生翻轉(zhuǎn),所述存儲(chǔ)器記為01 ;在第一采樣點(diǎn)時(shí)刻所述像素積分電路輸出的積分電壓大于所述參考電壓、且第二采樣點(diǎn)時(shí)刻所述像素積分電路輸出的積分電壓大于所述參考電壓時(shí),所述比較器不翻轉(zhuǎn),所述存儲(chǔ)器記為00。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的控制方法,其特征在于,所述方法還包括當(dāng)所述存儲(chǔ)器記為11時(shí),積分電容調(diào)整為所述第三積分電容;當(dāng)所述存儲(chǔ)器記為01 時(shí),積分電容調(diào)整為所述第二積分電容;當(dāng)所述存儲(chǔ)器記為00時(shí),所述第一積分電容保持不變。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種提高圖像傳感器動(dòng)態(tài)范圍的電路及其控制方法,像素積分電路的輸出端分別與第一開關(guān)的一端、所述第二開關(guān)的一端相連;第一開關(guān)的另一端分別與比較器的輸入端、累加器的輸入端相連;第二開關(guān)的另一端分別與比較器的輸入端、累加器的輸入端相連;比較器的另一輸入端接參考電壓;比較器的輸出端和存儲(chǔ)器的輸入端相連;存儲(chǔ)器的輸出端和像素積分電路相連。本發(fā)明在TDI的多個(gè)積分周期中,利用第一個(gè)積分周期,對(duì)輸入的光信號(hào)強(qiáng)度進(jìn)行判斷,并根據(jù)光強(qiáng)范圍調(diào)整積分電容,選擇合適的積分電容,對(duì)第2個(gè)~n個(gè)積分周期讀出的信號(hào)進(jìn)行累加,這樣可有效擴(kuò)大CMOS圖像傳感器的動(dòng)態(tài)范圍,擴(kuò)大了CMOS圖像傳感器的應(yīng)用范圍。
文檔編號(hào)H04N5/355GK102523392SQ201110452179
公開日2012年6月27日 申請(qǐng)日期2011年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月29日
發(fā)明者史再峰, 徐江濤, 高靜 申請(qǐng)人:天津大學(xué)
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