專利名稱：一種圖文數(shù)據(jù)的切割電路的制作方法
技術領域：
本實用新型屬于數(shù)字電視接收機領域，涉及一種圖文數(shù)據(jù)的切割電路。
背景技術：
傳統(tǒng)的電視接收機接收到的信號中包含有CVBS信號(Composite Videoand Blanking Signal)。CVBS信號包含視頻(VIDEO)信號和 VBI (VerticalBlanking Interval, 場消隱)信號。CVBS信號經(jīng)過一 VBI數(shù)據(jù)切割電路后得到的信號只含有VBI信號，而不含 有視頻信號。公開號為S62-84687的日本專利文獻中披露了一種常用的VBI數(shù)據(jù)切割電路 (如圖1所示)。從圖1中可以看出，提取周期檢測單元140檢測VBI數(shù)據(jù)的提取周期，并 發(fā)送給數(shù)據(jù)切割單元130。最小值檢測單元100檢測CRI (Clock Run In)幅度的最小值并 發(fā)送給切割電平計算單元120。最大值檢測單元110檢測CRI (ClockRim In)幅度的最大值 并發(fā)送給切割電平計算單元120。切割電平計算單元120計算上述最大值和最小值的平均 值，并將該平均值作為切割電平發(fā)送給數(shù)據(jù)切割單元130。數(shù)據(jù)切割單元130基于提取周 期，將VBI信號轉變成用“0”和“ 1，，表示的信號。圖2為傳統(tǒng)的VBI數(shù)據(jù)切割電路提取VBI數(shù)據(jù)的示意圖。圖1中所示的最小值檢 測單元100和最大值檢測單元110分別檢測到CRI幅度的最小值210和最大值200。經(jīng)切 割電平計算單元120計算得到切割電平230。數(shù)據(jù)切割單元130根據(jù)該切割電平230得到 VBI數(shù)據(jù)220。該VBI數(shù)據(jù)220包括FC (Framing Code，幀同步)和DATA(數(shù)據(jù)段)。綜上所述可知，傳統(tǒng)的數(shù)據(jù)切割電路只用了一個切割電平來提取VBI數(shù)據(jù)。由于 信道噪聲的干擾，接收到的VBI信號會產(chǎn)生一定的形變。當CRI波形不規(guī)則時，根據(jù)該切 割電平獲得的VBI數(shù)據(jù)就不準確了。VBI數(shù)據(jù)有多種，包括CLOSED CAPTION(閉合字幕)、 V-CHIP (violence chip)和TELETEXT數(shù)據(jù)(圖文數(shù)據(jù))。對于圖文數(shù)據(jù)，如果用傳統(tǒng)的VBI 數(shù)據(jù)切割電路來提取圖文數(shù)據(jù)，其結果將更加不準確。

實用新型內容本實用新型所要解決的技術問題是如何對圖文數(shù)據(jù)進行有效的切割，降低誤判的 概率，提高切割的正確率。為了解決上述技術問題，本實用新型提供一種圖文數(shù)據(jù)的切割電路，其特征在于， 該切割電路包括采樣單元(300)，以固定頻率對所述圖文數(shù)據(jù)進行采樣，用η'個采樣點表 示一個所述圖文數(shù)據(jù)，其中η'為整數(shù)；中值提取單元(310)，提取所述η'個采樣點中的中 值采樣點；比較器一(330)，比較所述中值采樣點和高門限；比較器二(340)，比較所述中值 采樣點和低門限；差值計算單元(320)，計算當前有效采樣點與前一有效采樣點的差值；比 較器三(350)，比較所述差值和差值門限；輸出單元(360)，根據(jù)所述比較器一(330)、所述 比較器二 C340)和所述比較器三(350)的比較結果輸出比特數(shù)據(jù)流?？蛇x的，η' = [η]或[n]+l，n = fl/f2，其中fl為CVBS信號中VIDEO信號的采樣 頻率，fl為所述采樣單元(300)的采樣頻率。可以用平均η個采樣點描述一個圖文數(shù)據(jù)。[0008]可選的，所述切割電路還包括提供所述高門限的高門限單元。所述高門限設定為 CVBS信號中VIDEO信號的白電平的60%到72%?？蛇x的，所述切割電路還包括提供所述低門限的低門限單元。所述低門限設定為 CVBS信號中VIDEO信號的黑電平上下2%的范圍?？蛇x的，所述切割電路還包括提供所述差值門限的差值門限單元。所述差值門限 取值范圍為小于或等于所述高門限與所述低門限差值的一半?？蛇x的，所述輸出單元(360)根據(jù)所述比較器一(330)、所述比較器二(340)和所 述比較器三(350)的比較結果輸出比特數(shù)據(jù)流，結果如下當所述中值采樣點的數(shù)值大于 或等于所述高門限的時候，所述輸出單元(360)輸出“1”；當所述中值采樣點的數(shù)值小于 或等于所述低門限的時候，所述輸出單元(360)輸出“0”；當所述當前有效采樣點與所述 前一有效采樣點的差值大于所述差值門限的時候，所述輸出單元(360)輸出前一輸出數(shù)據(jù) 的反；當所述當前有效采樣點與所述前一有效采樣點的差值小于或等于所述差值門限的時 候，所述輸出單元(360)輸出前一輸出數(shù)據(jù)。本實用新型提供的圖文數(shù)據(jù)的切割電路，有效地切割了圖文數(shù)據(jù)，降低了誤判的 概率，提高了切割的正確率。
圖1為傳統(tǒng)的VBI數(shù)據(jù)切割電路結構框圖。圖2為用傳統(tǒng)的VBI數(shù)據(jù)切割電路提取VBI數(shù)據(jù)的示意圖。圖3為本實用新型提供的一種圖文數(shù)據(jù)切割電路的結構框圖。圖4為用本實用新型提供的圖文數(shù)據(jù)切割電路切割圖文數(shù)據(jù)的第一示意圖。圖5為用本實用新型提供的圖文數(shù)據(jù)切割電路切割圖文數(shù)據(jù)的第二示意圖。
具體實施方式
為使本實用新型的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，
以下結合附圖對本實用新型 作進一步的詳細描述。在電視接收機中，CVBS信號(Composite Video and Blanking Signal)經(jīng)采樣和 AD轉換后，濾除視頻(VIDEO)信號，得到VBI (Vertical Blankinghterval，場消隱)信號。 作為VBI信號的一種，圖文數(shù)據(jù)(TELETEXT)對于切割的準確率要求更高。本實用新型所提 供的切割電路可用于圖文數(shù)據(jù)的切割，并能夠降低誤判的概率，提高切割的正確率。圖3是本實用新型提供的一種圖文數(shù)據(jù)切割電路的結構框圖。從圖3中可以看出， VBI信號(優(yōu)選為圖文數(shù)據(jù))由CVBS信號經(jīng)過采樣并去除VIDEO信號的來。通常，CVBS信 號中VIDEO信號的采樣頻率fl為27M。下面以圖文數(shù)據(jù)為例詳細說明本實用新型的具體實 施方式。采樣單元300以固定的頻率f2對圖文數(shù)據(jù)進行采樣。因此，可以平均用η個采樣 點來描述一個圖文數(shù)據(jù)，其中η = fl/f2。具體來說，通常圖文數(shù)據(jù)的采樣頻率f2為CVBS 信號行頻fh的444倍。以27M時鐘進行采樣pal制信號(行頻為15. 625khz)，則每行采 樣點大約為27000000/15625 = 17 個。所以平均描述一個圖文數(shù)據(jù)用的采樣點個數(shù)為 1728/444 = 3. 89個。平均用η個采樣點來描述一個圖文數(shù)據(jù)是一個從整體上統(tǒng)籌平均的 概念。當η為小數(shù)時，表示一個圖文數(shù)據(jù)用η'個采樣點(η‘ = [η]或[η]+1)，但從整體 上看，對于一系列的圖文數(shù)據(jù)，用[η]個采樣點和[η]+1個采樣點的組合表示。例如η =3.5，那么表示一個圖文數(shù)據(jù)可以用3或4個采樣點。但從整體上看，第一個圖文數(shù)據(jù)用3 個采樣點表示，第二個圖文數(shù)據(jù)用4個采樣點表示，第一個圖文數(shù)據(jù)用3個采樣點表示，以 此類推。那么平均來看，就是用3. 5個采樣點描述一個圖文數(shù)據(jù)。采樣點數(shù)據(jù)表示圖文信 號的幅度。同樣的推理方法可以算出以其他采樣率下平均η個采樣點描述一個圖文信號。 可以用公式n = fl/f2 = fl/(fh*m)計算得出。其中m為圖文數(shù)據(jù)的采樣頻率f2為CVBS 信號行頻fh的倍數(shù)，m的優(yōu)選值為444。中值提取單元310將表示一個圖文數(shù)據(jù)的η'個采樣點進行比較(n' = [η]或 [η]+1)，取出大小為中間值的采樣點(以下簡稱為中值采樣點)。例如，將η'個采樣點按 數(shù)值大小進行排列。當η'為奇數(shù)時，具有中間值的采樣點為大小排序為第(n' +1)/2個 采樣點；當η'為偶數(shù)時，具有中間值的采樣點大小排序為為第η' /2或(n' /2+1)個采 樣點。例如有5個采樣點(n' = 5)，值分別為1、13、14、14、14，那么中值采樣點的值為14。 在例如有4個采樣點(n' =4)，值分別為3、4、5、2，那么中值采樣點的值為2或3。比較器一 330將中值提取單元310所獲得的中值采樣點的數(shù)值與高門限進行比 較。該高門限由一個高門限單元(圖3中未畫出，優(yōu)選為寄存器)設定。優(yōu)選的，該高門限 設定為CVBS信號中VIDEO信號的白電平的66% (上下6%的偏差)。比較器二 340將中值提取單元310所獲得的中值采樣點的數(shù)值與低門限進行比 較。該低門限由一個低門限單元(圖3中未畫出，優(yōu)選為寄存器)設定。該低門限要小于 高門限。優(yōu)選的，該低門限設定為CVBS信號中VIDEO信號的黑電平(上下2%的偏差)。差值計算單元320計算當前有效采樣點的數(shù)值與前一有效采樣點的數(shù)值之差。這 里所說的有效采樣點，指的是表示一個圖文數(shù)據(jù)的η'個采樣點中由使能信號選定的采樣 點。有效采樣點可取η'個采樣點中位置為第1到第η'個采樣點中任意一個。η'為奇數(shù) 時，優(yōu)選的采樣點取位置為[n' /2]+1 ；η'為偶數(shù)時，優(yōu)選的采樣點取位置為[n' /2]。對 于不同圖文數(shù)據(jù)的有效采樣點，其在η個采樣點中的位置是相同的。舉例來說，3個采樣點 表示一個圖文數(shù)據(jù)，那么某一個圖文數(shù)據(jù)的有效采樣點可以是第1個采樣點，可以是第2個 采樣點，也可以是第3個采樣點。但是所有的圖文數(shù)據(jù)的有效采樣點必須位置相同，也就是 說要么都是位置為第1個采樣點，要么都是位置為第2個采樣點，要么都是位置為第3個。比較器三350將差值計算單元320所得到的差值與差值門限進行比較。該差值門 限由一個差值門限單元(圖3中未畫出，優(yōu)選為寄存器)設定。該差值門限應小于高低門 限之差。優(yōu)選的，該差值門限取值范圍為小于等于高低門限差值的一半。輸出單元360根據(jù)比較器一 330、比較器二 340和比較器三350的比較結果輸出比 特數(shù)據(jù)流。如果比較器一 330的比較結果為1，即中值采樣點的數(shù)值大于或等于高門限的時 候，輸出單元360輸出“1”;如果比較器二 340的比較結果為0，即中值采樣點的數(shù)值小于或 等于低門限的時候，輸出單元360輸出“0”。如果中值采樣點的數(shù)值小于高門限且大于低 門限的時候，輸出單元360的輸出結果還要由比較器三350來決定。如果比較器三350的 比較結果為1，即當前有效采樣點與前一有效采樣點的差值大于差值門限的時候，輸出單元 360輸出前一輸出數(shù)據(jù)的反；如果比較器三350的比較結果為0，即當前有效采樣點與前一 有效采樣點的差值小于或等于差值門限的時候，輸出單元360輸出前一輸出數(shù)據(jù)。另外， 中值采樣點的數(shù)值不可能既大于高門限又小于低門限。作為另一個實施例，可以用圖3中的比較器一 330和比較器二 340的比較結果來控制差值計算單元320和/或比較器三350的工作狀態(tài)。也就是說當比較器一 330的比較 結果為“1”或者比較器二 ；340的比較結果為“0”時，差值計算單元320和/或比較器三350 不工作。此時輸出單元360只要根據(jù)比較器一 330和比較器二 340的比較結果來輸出數(shù)據(jù) 比特流。圖4是用本實用新型提供的圖文數(shù)據(jù)切割電路切割圖文數(shù)據(jù)的示意圖。圖4中的 切割電平為CRI振幅最大值和最小值的一半。從圖中可以看出，如果用傳統(tǒng)的切割電路，圖 中的A、B、C三點分別被判斷為1、0、0。而是用本實用新型提供的圖文數(shù)據(jù)切割電路，C點 的值減去B點的值大于差值門限(高低門限差值的一半)，所以C點的輸出與B點相反，于 是圖中的A、B、C三點分別被判斷為1、0、1。傳統(tǒng)的切割電路對C點的判斷錯誤。圖5也是用本實用新型提供的圖文數(shù)據(jù)切割電路切割圖文數(shù)據(jù)的示意圖。圖5中 的切割電平為CRI振幅最大值和最小值的一半。從圖中可以看出，如果用傳統(tǒng)的切割電路， 圖中的D、E、F、G四點分別被判斷為0、0、0、0。而是用本實用新型提供的圖文數(shù)據(jù)切割電 路，圖中的D、E、F、G四點分別被判斷為1、1、1、1。因此，由圖4和圖5可以看出本實用新型提供的圖文數(shù)據(jù)的切割電路大大提高了 圖文數(shù)據(jù)切割的正確率。在不偏離本實用新型的精神和范圍的情況下還可以構成許多有很大差別的實施 例。應當理解，除了如所附的權利要求所限定的，本實用新型不限于在說明書中所述的具體 實施例。
權利要求1.一種圖文數(shù)據(jù)的切割電路，其特征在于，所述切割電路包括采樣單元(300)，以固定頻率對所述圖文數(shù)據(jù)進行采樣，用η'個采樣點表示一個所述 圖文數(shù)據(jù)，其中η'為整數(shù)；中值提取單元(310)，提取所述η'個采樣點中的中值采樣點；比較器一(330)，比較所述中值采樣點和高門限；比較器二(340)，比較所述中值采樣點和低門限；差值計算單元(320)，計算當前有效采樣點與前一有效采樣點的差值；比較器三(350)，比較所述差值和差值門限；輸出單元(360)，根據(jù)所述比較器一(330)、所述比較器二(340)和所述比較器三(350) 的比較結果輸出比特數(shù)據(jù)流。
2.如權利要求1所述的圖文數(shù)據(jù)的切割電路，其特征在于，η'= [η]或[η]+1，η = fl/f2，其中fl為CVBS信號中VIDEO信號的采樣頻率，fl為所述采樣單元(300)的采樣頻率。
3.如權利要求2所述的圖文數(shù)據(jù)的切割電路，其特征在于，平均用η個采樣點描述一個 圖文數(shù)據(jù)。
4.如權利要求1所述的圖文數(shù)據(jù)的切割電路，其特征在于，所述切割電路還包括提供 所述高門限的高門限單元。
5.如權利要求1或4所述的圖文數(shù)據(jù)的切割電路，其特征在于，所述高門限設定為 CVBS信號中VIDEO信號的白電平的60 %到72 %。
6.如權利要求1所述的圖文數(shù)據(jù)的切割電路，其特征在于，所述切割電路還包括提供 所述低門限的低門限單元。
7.如權利要求1或6所述的圖文數(shù)據(jù)的切割電路，其特征在于，所述低門限設定為 CVBS信號中VIDEO信號的黑電平上下2%的范圍。
8.如權利要求1所述的圖文數(shù)據(jù)的切割電路，其特征在于，所述切割電路還包括提供 所述差值門限的差值門限單元。
9.如權利要求1或8所述的圖文數(shù)據(jù)的切割電路，其特征在于，所述差值門限小于或等 于所述高門限與所述低門限差值的一半。
10.如權利要求1所述的圖文數(shù)據(jù)的切割電路，其特征在于，所述輸出單元(360)根據(jù) 所述比較器一(330)、所述比較器二 C340)和所述比較器三(350)的比較結果輸出比特數(shù)據(jù) 流，結果如下當所述中值采樣點的數(shù)值大于或等于所述高門限時，所述輸出單元(360)輸出“1”； 當所述中值采樣點的數(shù)值小于或等于所述低門限時，所述輸出單元(360)輸出“0”； 當所述當前有效采樣點與所述前一有效采樣點的差值大于所述差值門限的時候，所述 輸出單元(360)輸出前一輸出數(shù)據(jù)的反；當所述當前有效采樣點與所述前一有效采樣點的差值小于或等于所述差值門限時，所 述輸出單元(360)輸出前一輸出數(shù)據(jù)。
專利摘要本實用新型提供一種圖文數(shù)據(jù)的切割電路。該切割電路包括采樣單元(300)，中值提取單元(310)，比較器一(330)，比較器二(340)，差值計算單元(320)，比較器三(350)和輸出單元(360)。本實用新型提供的圖文數(shù)據(jù)的切割電路，有效地切割了圖文數(shù)據(jù)，降低了誤判的概率，提高了切割的正確率。
文檔編號H04N5/44GK201860395SQ201020164760
公開日2011年6月8日 申請日期2010年4月20日 優(yōu)先權日2010年4月20日
發(fā)明者呂超英 申請人:無錫華潤矽科微電子有限公司