專利名稱：通信設(shè)備和天線的測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及通信領(lǐng)域，尤其涉及一種通信設(shè)備和天線的測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
為了實(shí)現(xiàn)終端與外界的無線通信，很多終端都具有內(nèi)置的天線，用于實(shí)現(xiàn)信號(hào) 的收發(fā)。在常用的天線中，平面倒F天線(Planar Inverted-F Antenna Inverted,簡稱為 PIFA)(也可稱為倒F天線)具有體積小及結(jié)構(gòu)簡單等優(yōu)勢(shì)，因此得到了廣泛的應(yīng)用，例 如，倒F天線常常被用作便攜終端(例如，手機(jī)、筆記本電腦等)的收發(fā)天線。隨著便攜終端等通訊產(chǎn)品生產(chǎn)線自動(dòng)化程度的日益提高，便攜終端在產(chǎn)線上的 自測(cè)試的重要性也越來越大。終端產(chǎn)品的自測(cè)試能夠在不利用任何外部儀器設(shè)備的情況 下，使終端產(chǎn)品自身完成測(cè)試，通過進(jìn)行自測(cè)試，能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)由產(chǎn)品內(nèi)部電子器件貼 裝、組裝不當(dāng)造成的問題，管理人員能夠根據(jù)自測(cè)試的結(jié)果，在產(chǎn)品上市前對(duì)出現(xiàn)問題 的產(chǎn)品進(jìn)行調(diào)整和修復(fù)，從而有效降低電子產(chǎn)品的返修率，提高生產(chǎn)自動(dòng)化程度及生產(chǎn) 效率，并且能夠降低生產(chǎn)測(cè)試成本，目前，在一些終端制造商的生產(chǎn)線上，終端產(chǎn)品的 自測(cè)已經(jīng)能覆蓋終端內(nèi)部90 %以上的器件管腳。對(duì)于倒F天線，該天線的內(nèi)部具有接地點(diǎn)或接地管腳等，為了保證倒F天線能夠 正常工作，就需要保證終端的射頻部分能夠與天線端口正常連接，并且需要保證天線內(nèi) 的接地點(diǎn)和接地管腳能夠正常接地。對(duì)于如何對(duì)終端中的倒F天線進(jìn)行自測(cè)試，目前已 經(jīng)有人提出，在終端內(nèi)設(shè)置耦合器，用于對(duì)天線進(jìn)行測(cè)量，并設(shè)置專門的檢測(cè)裝置來對(duì) 耦合器的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行判斷，從而完成對(duì)天線的自測(cè)試。并且，為了基于耦合器進(jìn)行天 線的自測(cè)試，還需要設(shè)置模/數(shù)轉(zhuǎn)換裝置、以及數(shù)/模轉(zhuǎn)換裝置等多個(gè)功能模塊，因此， 這種測(cè)試方式不僅成本很高，而且會(huì)增加終端改造的復(fù)雜度。類似地，對(duì)于其他具有接地點(diǎn)和接地管腳的天線自測(cè)試，同樣沒有簡單而又有 效的解決方案。針對(duì)相關(guān)技術(shù)中具有接地點(diǎn)的天線進(jìn)行自測(cè)試的成本和復(fù)雜度高的問題，目前 尚未提出有效的解決方案。

發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)相關(guān)技術(shù)中具有接地點(diǎn)的天線進(jìn)行自測(cè)試的成本和復(fù)雜度高的問題，本發(fā) 明提出一種通信設(shè)備和天線的測(cè)試裝置，能夠有效節(jié)省成本并降低設(shè)備的復(fù)雜度。本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種通信設(shè)備，所述通信設(shè)備能夠?qū)ζ渖显O(shè)置 的天線進(jìn)行自測(cè)試，其中，所述天線具有至少一個(gè)接地點(diǎn)，所述通信設(shè)備包括射頻匹配 電路、天線端口、所述天線，所述射頻匹配電路經(jīng)由所述天線端口與所述天線連接，并 且，所述通信設(shè)備還包括第一阻隔部件、第二阻隔部件、檢測(cè)端口、以及參考電平提供模塊，其中，所述第一阻隔部件設(shè)置于所述射頻匹配電路與所述天線端口之間，用于阻 隔直流電流進(jìn)入所述射頻匹配電路；所述第二阻隔部件為交流電阻隔部件，其一端連接 至所述檢測(cè)端口，另一端連接至所述第一阻隔部件與所述天線端口之間的射頻線；所述 參考電平模塊連接至所述檢測(cè)端口與所述第二阻隔部件之間；所述檢測(cè)端口用于進(jìn)行電 平檢測(cè)，并在檢測(cè)的電平為零電平的情況下確定所述天線連接正常。其中，所述第一阻隔部件可以為電容?？蛇x地，所述第二阻隔部件可以為電阻或電感。另外，一方面，所述檢測(cè)端口被配置為上拉狀態(tài)?；蛘?，另一方面，該通信設(shè)備可以進(jìn)一步包括電平上拉部件，其中，所述電平 上拉部件的一端連接至所述參考電平提供模塊，另一端連接至所述檢測(cè)端口與所述第二 阻隔部件之間。優(yōu)選地，所述電平上拉部件為上拉電阻。另外，所述檢測(cè)端口為數(shù)字端口，并且，用于在檢測(cè)的電平為1的情況下，確 定所述天線連接不正常。另外，所述天線連接正常是指所述射頻線與所述天線端口連接正常、所述天 線端口與所述天線連接正常、并且所述天線內(nèi)的接地點(diǎn)正常接地。根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種天線的測(cè)試裝置，用于實(shí)現(xiàn)終端對(duì)具有至 少一個(gè)接地點(diǎn)的天線進(jìn)行自測(cè)試，其中，所述終端包括射頻匹配電路、天線端口以及所 述天線，所述射頻匹配電路經(jīng)由所述天線端口與所述天線連接，其中，所述測(cè)試裝置包 括第一阻隔部件、第二阻隔部件、檢測(cè)端口、以及參考電平提供模塊，具體地，所述第 一阻隔部件設(shè)置于所述射頻匹配電路與所述天線端口之間，用于阻隔直流電流進(jìn)入所述 射頻匹配電路；所述第二阻隔部件為交流電阻隔部件，其一端連接至所述檢測(cè)端口，另 一端連接至所述第一阻隔部件與所述天線端口之間的射頻線；所述檢測(cè)端口用于進(jìn)行電 平檢測(cè)，并在檢測(cè)的電平為低電平的情況下確定所述天線連接正常。一方面，所述檢測(cè)端口可以被配置為上拉狀態(tài)。另一方面，該裝置可以進(jìn)一步包括電平上拉部件，其中，所述電平上拉部件的 一端連接至所述參考電平提供模塊，另一端連接至所述檢測(cè)端口與所述第二阻隔部件之 間。本發(fā)明通過電容實(shí)現(xiàn)測(cè)試過程中射頻電路的隔離、并通過電阻或電感實(shí)現(xiàn)天線 正常工作狀態(tài)時(shí)檢測(cè)端口的隔離，能夠避免測(cè)試過程和天線的正常工作彼此相互影響， 并且能夠通過檢測(cè)端口實(shí)現(xiàn)電壓的檢測(cè)，從而準(zhǔn)確判斷出天線是否正常連接，避免采用 復(fù)雜、昂貴的部件，能夠有效節(jié)省成本并降低設(shè)備的復(fù)雜度。


圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的通信設(shè)備的結(jié)構(gòu)框圖；圖2是圖1所示的通信設(shè)備的具體結(jié)構(gòu)實(shí)例的框圖；圖3是根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的通信設(shè)備的結(jié)構(gòu)框圖；圖4是圖3所示的通信設(shè)備的具體結(jié)構(gòu)實(shí)例的框圖；圖5是圖4所示的通信設(shè)備中天線端口連接出現(xiàn)異常的示意圖6是圖 4所示的通信設(shè)備中天線內(nèi)的接地點(diǎn)連接出現(xiàn)異常的示意圖；圖7是在TD-SCDMA/EDGE終端中采用本發(fā)明的測(cè)試方案后終端的結(jié)構(gòu)框圖。
具體實(shí)施例方式針對(duì)相關(guān)技術(shù)中無法通過簡單而又有效的方案對(duì)具有接地點(diǎn)的天線進(jìn)行測(cè)試的 問題，本發(fā)明考慮到，如果這種具有接地點(diǎn)的天線連接異常(不論是天線與通信設(shè)備射 頻部分的連接異常還是天線內(nèi)部出現(xiàn)接地異常)，就會(huì)使天線側(cè)處于懸空(斷路)的狀 態(tài)，因此，本申請(qǐng)針對(duì)這一特性對(duì)天線的連接進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明能夠通過簡單的電平判 斷得知天線是否正常連接，不僅判斷的準(zhǔn)確性高，而且能夠避免采用高成本的部件和復(fù) 雜的電路。下面將結(jié)合附圖，詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施例。根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，提供了一種通信設(shè)備，該通信設(shè)備能夠?qū)ζ渖显O(shè)置 的具有至少一個(gè)接地點(diǎn)的天線進(jìn)行自測(cè)試。如圖1所示，在通信設(shè)備中通常包括射頻模塊1，射頻匹配電路2、天線端口 4 以及天線5，射頻匹配電路1經(jīng)由天線端口 4與天線5連接，其中，由于天線和通信設(shè)備 的構(gòu)造對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員是公知的，所以出于清楚的目的，圖1中僅示出天線5具有一 個(gè)接地點(diǎn)，但是并未示出接地點(diǎn)與天線內(nèi)的其他部件應(yīng)當(dāng)如何連接以及通信設(shè)備的其他 結(jié)構(gòu)組成。為了實(shí)現(xiàn)對(duì)天線的自測(cè)試，根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的通信設(shè)備還包括第一阻隔部 件3、第二阻隔部件6、參考電平提供模塊7、以及檢測(cè)端口 8。具體地，第一阻隔部件3設(shè)置于射頻匹配電路2與天線端口 4之間(可以設(shè)置在 射頻通路靠近天線端口的位置)，用于阻隔直流電流進(jìn)入射頻匹配電路2;第二阻隔部件 6為交流電阻隔部件(第二阻隔部件也可稱為射頻信號(hào)阻隔部件)，其一端連接至檢測(cè)端 口 8，另一端連接至第一阻隔部件3與天線端口 4之間的射頻線；參考電平模塊7連接至 檢測(cè)端口8與第二阻隔部件6之間；檢測(cè)端口8用于進(jìn)行電平檢測(cè)，并在檢測(cè)的電平為零 電平的情況下確定天線連接正常。其中，天線連接正常是指射頻線與天線端口 4連接正常、天線端口 4與所述天 線5連接正常、并且所述天線5內(nèi)的接地點(diǎn)正常接地。如圖1所示，如果天線端口 4與射頻匹配電路2之間連接的射頻線正常連接、天 線端口4與天線內(nèi)的電路(例如，天線內(nèi)的饋電電路)的連接正常、并且天線5內(nèi)的接地 點(diǎn)正常接地，則第二阻隔部件6就相當(dāng)于經(jīng)由天線5接地，此時(shí)，檢測(cè)端口 8相當(dāng)于通過 第二阻隔部件6和天線5中的接地點(diǎn)實(shí)現(xiàn)下拉，此時(shí)端口讀入的狀態(tài)為0，S卩，檢測(cè)端口 8檢測(cè)的電平將為低電平(零電平)。相反，如果天線端口 4與射頻匹配電路2之間連接的射頻線非正常連接(即，斷 路)、或者天線端口 4與天線內(nèi)的電路(例如，天線內(nèi)的饋電電路)的連接正常(例如， 斷路)、或者天線5內(nèi)的接地點(diǎn)正常接地(未正常接地)，則第二阻隔部件6就相當(dāng)于被斷 路，此時(shí)，檢測(cè)端口 8檢測(cè)電平為高電平，從而通過簡單的電平判斷就能夠確定天線是 否連接正常，并且，本發(fā)明的檢測(cè)方案不需要對(duì)通信設(shè)備增加耦合器等高成本的部件， 不僅能夠節(jié)省成本，而且能夠減小對(duì)通信設(shè)備的改造，降低實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜度。在上述通信設(shè)備中，第一阻隔部件3可以是任何能夠阻隔直流的器件，并且需要保證隔直的同時(shí)不影響射頻阻抗匹配，例如，第一阻隔部件3可以是電容，可選地， 對(duì)于常用的500MHz至3GHz的通信系統(tǒng)，該電容的電容值可以是20pF至80pF。
第二阻隔部件(射頻信號(hào)阻隔部件)6可以是任何能夠有效阻隔交流電流的部 件，例如，可以是電阻或電感。優(yōu)選地，如果采用電感，則該電感的感值應(yīng)當(dāng)足夠大， 以保證不影響射頻匹配，例如，針對(duì)工作于500MHz至3GHz的通信系統(tǒng)，優(yōu)選的電感值 可以大于50nH;而考慮到實(shí)現(xiàn)的成本，第二阻隔部件6還可以采用電阻。不論連接高 值電阻或電感，其目的是在通信設(shè)備的射頻電路工作時(shí)，保證整個(gè)器件的射頻阻抗足夠 大，基本相當(dāng)于開路，從而避免對(duì)射頻匹配的影響，而在工作于低頻數(shù)字信號(hào)時(shí)，第二 阻隔部件6能夠正常傳導(dǎo)電壓信號(hào)。另外，檢測(cè)端口 8可以是數(shù)字端口，并且，在檢測(cè)端口 8檢測(cè)的電平為1的情況 下，檢測(cè)端口就可以確定天線5連接不正常。為了保證電平能夠被明確地表示出來，可以將檢測(cè)端口被配置為上拉狀態(tài)(例 如，配置為弱上拉狀態(tài)，可通過端口內(nèi)部的上拉電阻實(shí)現(xiàn))，相應(yīng)地，第二阻隔部件可以 是高阻值電阻，阻值可以選擇20ΚΩ至60ΚΩ或其他值，具體的電阻值選擇可以根據(jù)檢 測(cè)端口內(nèi)部弱上拉電阻阻值而定。例如，如圖2所示，第一阻隔部件通過電容Cl實(shí)現(xiàn)，第二阻隔部件通過Rl實(shí) 現(xiàn)，檢測(cè)端口通過數(shù)字端口實(shí)現(xiàn)。為了實(shí)現(xiàn)電平的準(zhǔn)確檢測(cè)，除了將檢測(cè)端口配置為上拉以外，還可以在通信設(shè) 備中單獨(dú)設(shè)置電平上拉部件。如圖3所示，該通信設(shè)備包括射頻模塊1、射頻匹配電路 2、天線端口 4以及天線5，射頻匹配電路經(jīng)由天線端口與天線連接。與前述實(shí)施例的通 信設(shè)備不同，根據(jù)本實(shí)施例的通信設(shè)備除了包括第一阻隔部件3、第二阻隔部件6、參考 電平提供模塊7、以及檢測(cè)端口 8之外，還包括電平上拉部件9，并且檢測(cè)端口 8被配置 為懸空狀態(tài)(非上拉狀態(tài))。這樣，即使檢測(cè)端口不能夠被配置為上拉狀態(tài)，也能夠通過電平上拉部件實(shí)現(xiàn) 電平的準(zhǔn)確表示，避免誤操作。具體地，第一阻隔部件3設(shè)置于射頻匹配電路2與天線端口 4之間，用于阻隔直 流電流進(jìn)入射頻匹配電路2;第二阻隔部件6為交流電阻隔部件，其一端連接至檢測(cè)端口 8，另一端連接至第一阻隔部件3與天線端口 4之間的射頻線；電平上拉部件9的一端連 接至參考電平提供模塊7，另一端連接至檢測(cè)端口 8與第二阻隔部件6之間；檢測(cè)端口 8 用于進(jìn)行電平檢測(cè)，并在檢測(cè)的電平為低電平的情況下確定天線連接正常。同樣地，第一阻隔部件3可以是電容。第二阻隔部件6可以是電阻或電感，電 感值可以大于50nH(也可以取其他值)，如果采用電阻，則電阻值可以為大于20ΚΩ至 60ΚΩ,也可以選擇其他的電阻值，本文不再一一列舉。另外，檢測(cè)端口為數(shù)字端口，并且，用于在檢測(cè)的電平為1的情況下，確定天 線連接不正常。此外，上述電平上拉部件可以是上拉電阻，可選地，該電阻的阻值可以大于 300ΚΩ。例如，如圖4所示，第一阻隔部件通過電容Cl實(shí)現(xiàn)，第二阻隔部件通過Rl實(shí) 現(xiàn)，檢測(cè)端口通過數(shù)字端口實(shí)現(xiàn)，電平上拉部件通過R2實(shí)現(xiàn)。
具體地，根據(jù)本實(shí)施例的通信設(shè)備的檢測(cè)原理與之前實(shí)施例的檢測(cè)原理相同， 下面將以圖4所示的情況為例進(jìn)行說明。當(dāng)進(jìn)行天線連接自檢測(cè)時(shí)，通過數(shù)字端口的讀功能讀入與電阻Rl相連的端口的 狀態(tài)，只有當(dāng)天線端口及接地點(diǎn)都處于正確連接時(shí)，數(shù)字端口才會(huì)相當(dāng)于通過電阻Rl和 天線接地點(diǎn)實(shí)現(xiàn)下拉，此時(shí)數(shù)字端口讀入的狀態(tài)為0，表示天線連接正常，如圖4所示。 而當(dāng)天線端口與天線饋電電路非正常斷開(如圖5所示)或者天線接地點(diǎn)未實(shí)現(xiàn) 接地時(shí)(如圖6所示)，因?yàn)樯漕l線的一端為天線開路(沒有通過天線接地)，另一端為 隔直電容，此時(shí)，射頻線的兩端都是直流開路的狀態(tài)，Rl相當(dāng)于懸空，此時(shí)由于內(nèi)部或 外部弱上拉，所以數(shù)字端口讀入的狀態(tài)為1，表示天線連接異常。當(dāng)天線處于正常的收發(fā)狀態(tài)時(shí)，與射頻線相連的高阻值電阻Rl相當(dāng)于一端接 地，對(duì)射頻線形成并聯(lián)電阻，由于Rl的阻值相當(dāng)高，對(duì)射頻電路匹配的影響可忽略。同 樣，合理取值的串聯(lián)隔直電容對(duì)于射頻信號(hào)相當(dāng)于直連，也不會(huì)影響射頻電路及射頻性 能。通過上述通信設(shè)備，能夠在不影響正常射頻工作和天線性能的基礎(chǔ)上，通過簡 單和低成本的部件對(duì)天線是否正常連接進(jìn)行測(cè)試，能夠有效降低成本和實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜度。以對(duì)TD-SCDMA/EDGE雙模手機(jī)中的倒F天線實(shí)現(xiàn)自檢測(cè)為例描述本發(fā)明在 終端中實(shí)現(xiàn)倒F天線檢測(cè)的方案，如圖7所示，在該終端中，包括TD-SCDMA/EDGE 射頻前端模塊(也可簡稱為TD/EDGE射頻前端模塊，相當(dāng)于上述射頻模塊)，終端基帶 硬件提供一個(gè)帶弱上拉的GPIO通用數(shù)字端口(相當(dāng)于上述檢測(cè)端口)，此端口可配置讀 寫狀態(tài)，在處于讀狀態(tài)時(shí)，內(nèi)部設(shè)為470ΚΩ的弱上拉(由于GPIO端口本身可以配置為 弱上拉狀態(tài)，因此圖7所示的終端不必額外設(shè)置電平上拉部件)，此GPIO端口經(jīng)過一個(gè) 60ΚΩ的高阻值電阻(相當(dāng)于上述的第二阻隔部件)與天線端口前的射頻線相連，優(yōu)選 地，該電阻應(yīng)當(dāng)盡量靠近射頻線。射頻線的一端連接天線端口，另一端接一個(gè)30pF隔 直電容(相當(dāng)于上述第一阻隔部件)，與射頻匹配電路隔離。該終端還可以包括射頻匹 配電路，且該射頻匹配電路中進(jìn)一步包括電容C2和接地的電感Hl，C2的電容值可以為 56pF, Hl的電感值可以為47nH。當(dāng)終端處于收發(fā)工作狀態(tài)時(shí)，GPIO端口設(shè)置為低電平輸出狀態(tài)，此時(shí)，射頻線 上的并聯(lián)60ΚΩ高阻和串聯(lián)30pF電容不對(duì)射頻匹配產(chǎn)生影響，射頻電路和天線正常工作。當(dāng)終端處于倒F天線的自檢測(cè)狀態(tài)時(shí)，射頻電路不工作，可以將GPIO端口設(shè)置 為弱上拉輸入，讀取端口的狀態(tài)。如果倒F天線端口和接地點(diǎn)都正常連接，則GPIO端 口將通過天線接地點(diǎn)下拉，讀到的端口狀態(tài)為O ；如果倒F天線端口沒有連接或接地點(diǎn)未 接地，GPIO端口懸空且內(nèi)部弱上拉，讀到的端口狀態(tài)為1，這樣，就通過終端的自檢測(cè) 實(shí)現(xiàn)了天線連接狀態(tài)的判斷。綜上所述，借助于本發(fā)明的上述技術(shù)方案，通過電容實(shí)現(xiàn)測(cè)試過程中射頻電路 的隔離、并通過電阻或電感實(shí)現(xiàn)天線正常工作狀態(tài)時(shí)檢測(cè)端口的隔離，能夠避免測(cè)試過 程和天線的正常工作彼此相互影響，并且能夠通過檢測(cè)端口實(shí)現(xiàn)電壓的檢測(cè)，從而準(zhǔn)確 判斷出天線是否正常連接，避免采用復(fù)雜、昂貴的部件，能夠有效節(jié)省成本并降低通信 設(shè)備的復(fù)雜度。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的 精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍 之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種通信設(shè)備，所述通信設(shè)備能夠?qū)ζ渖显O(shè)置的天線進(jìn)行自測(cè)試，其中，所述天 線具有至少一個(gè)接地點(diǎn)，所述通信設(shè)備包括射頻匹配電路、天線端口、所述天線，所述 射頻匹配電路經(jīng)由所述天線端口與所述天線連接，其特征在于，所述通信設(shè)備還包括第 一阻隔部件、第二阻隔部件、檢測(cè)端口、以及參考電平提供模塊，其中，所述第一阻隔部件設(shè)置于所述射頻匹配電路與所述天線端口之間，用于阻隔直流電 流進(jìn)入所述射頻匹配電路；所述第二阻隔部件為交流電阻隔部件，其一端連接至所述檢測(cè)端口，另一端連接至 所述第一阻隔部件與所述天線端口之間的射頻線；所述參考電平模塊連接至所述檢測(cè)端口與所述第二阻隔部件之間； 所述檢測(cè)端口用于進(jìn)行電平檢測(cè)，并在檢測(cè)的電平為零電平的情況下確定所述天線 連接正常。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的通信設(shè)備，其特征在于，所述第一阻隔部件為電容。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的通信設(shè)備，其特征在于，所述第二阻隔部件為電阻或電感。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的通信設(shè)備，其特征在于，所述檢測(cè)端口被配置為上拉狀態(tài)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的通信設(shè)備，其特征在于，進(jìn)一步包括電平上拉部件，其中， 所述電平上拉部件的一端連接至所述參考電平提供模塊，另一端連接至所述檢測(cè)端口與 所述第二阻隔部件之間。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的通信設(shè)備，其特征在于，所述電平上拉部件為上拉電阻。
7.根據(jù)權(quán)利要求4至6中任一項(xiàng)所述的通信設(shè)備，其特征在于，所述檢測(cè)端口為數(shù)字 端口，并且，用于在檢測(cè)的電平為1的情況下，確定所述天線連接不正常。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的通信設(shè)備，其特征在于，所述天線連接正常是指所述射頻線與所述天線端口連接正常、所述天線端口與所述天線連接正常、并且所 述天線內(nèi)的接地點(diǎn)正常接地。
9.一種天線的測(cè)試裝置，用于實(shí)現(xiàn)終端對(duì)具有至少一個(gè)接地點(diǎn)的天線進(jìn)行自測(cè)試， 其中，所述終端包括射頻匹配電路、天線端口以及所述天線，所述射頻匹配電路經(jīng)由所 述天線端口與所述天線連接，其特征在于，所述測(cè)試裝置包括第一阻隔部件、第二阻隔 部件、檢測(cè)端口、以及參考電平提供模塊，其中，所述第一阻隔部件設(shè)置于所述射頻匹配電路與所述天線端口之間，用于阻隔直流電 流進(jìn)入所述射頻匹配電路；所述第二阻隔部件為交流電阻隔部件，其一端連接至所述檢測(cè)端口，另一端連接至 所述第一阻隔部件與所述天線端口之間的射頻線；所述檢測(cè)端口用于進(jìn)行電平檢測(cè)，并在檢測(cè)的電平為低電平的情況下確定所述天線 連接正常。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述檢測(cè)端口被配置為上拉狀態(tài)。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試裝置，其特征在于，進(jìn)一步包括電平上拉部件，其 中，所述電平上拉部件的一端連接至所述參考電平提供模塊，另一端連接至所述檢測(cè)端 口與所述第二阻隔部件之間。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種通信設(shè)備和天線的測(cè)試裝置，該通信設(shè)備包括射頻匹配電路、天線端口、天線、第一阻隔部件、第二阻隔部件、檢測(cè)端口、及參考電平提供模塊，其中，第一阻隔部件設(shè)置于射頻匹配電路與天線端口之間，用于阻隔直流電流進(jìn)入射頻匹配電路；第二阻隔部件為交流電阻隔部件，其一端連接至檢測(cè)端口，另一端連接至第一阻隔部件與天線端口之間的射頻線；參考電平模塊連接至檢測(cè)端口與第二阻隔部件之間；檢測(cè)端口用于進(jìn)行電平檢測(cè)，并在檢測(cè)的電平為零電平的情況下確定天線連接正常。本發(fā)明的裝置能夠在避免測(cè)試過程和天線的工作彼此影響的前提下，通過電壓的檢測(cè)準(zhǔn)確判斷出天線是否正常連接，節(jié)省成本并降低復(fù)雜度。
文檔編號(hào)H04B17/00GK102013927SQ20101054721
公開日2011年4月13日 申請(qǐng)日期2010年11月16日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月16日
發(fā)明者劉偉 申請(qǐng)人:意法·愛立信半導(dǎo)體(北京)有限公司