專利名稱:高溫測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種監(jiān)控系統(tǒng)及方法,特別涉及一種對(duì)電路板的高溫測(cè)試進(jìn)行監(jiān)控的 監(jiān)控系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù):
目前,針對(duì)電路板(如電腦主機(jī)板)進(jìn)行高溫測(cè)試時(shí),是將待測(cè)電路板放置于一燒 機(jī)室中,然后將待測(cè)電路板在燒機(jī)室內(nèi)開機(jī)上電,再通過(guò)鼠標(biāo)、鍵盤、顯示器連接到待測(cè)電 路板上觀察待測(cè)電路板是否可以正常工作。但是,此種監(jiān)控方法需要測(cè)試人員攜帶鼠標(biāo)、鍵盤、顯示器等監(jiān)控設(shè)備一臺(tái)一臺(tái)去 查看處在燒機(jī)室內(nèi)的待測(cè)電路板,因此效率低、勞動(dòng)強(qiáng)度大、投入人力多。并且,所述燒機(jī)室 內(nèi)的溫度高達(dá)45度以上,長(zhǎng)時(shí)間作業(yè)有害人體的健康。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述內(nèi)容,有必要提供一種可對(duì)電路板高溫測(cè)試進(jìn)行高效、方便的監(jiān)控系統(tǒng) 及方法。一種高溫測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng),包括一燒機(jī)室及若干設(shè)置于所述燒機(jī)室內(nèi)的待測(cè)電路 板,所述高溫測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng)還包括一監(jiān)控主機(jī)及一連接所述監(jiān)控主機(jī)與所述待測(cè)電路板的 網(wǎng)絡(luò)交換機(jī),所述監(jiān)控主機(jī)用于對(duì)所述待測(cè)電路板進(jìn)行IP地址分配,并在所述待測(cè)電路板 分配到IP地址后接收所述待測(cè)電路板的MAC地址信息,所述待測(cè)電路板的MAC地址信息與 所述待測(cè)電路板的測(cè)試號(hào)碼一一對(duì)應(yīng),所述監(jiān)控主機(jī)通過(guò)所述待測(cè)電路板的MAC地址信息 使所述待測(cè)電路板進(jìn)行IP地址與所述待測(cè)電路板的測(cè)試號(hào)碼一一對(duì)應(yīng),以使所述監(jiān)控主 機(jī)可根據(jù)分配到所述待測(cè)電路板的IP地址上是否存在硬件來(lái)判斷所述待測(cè)電路板是否測(cè) 試通過(guò),并將測(cè)試結(jié)果通過(guò)一顯示界面進(jìn)行顯示。一種高溫測(cè)試監(jiān)控方法,用于對(duì)若干設(shè)置于燒機(jī)室內(nèi)的待測(cè)電路板進(jìn)行監(jiān)控,包 括以下步驟控制所述待測(cè)電路板上電開機(jī);通過(guò)一監(jiān)控主機(jī)對(duì)所述待測(cè)電路板進(jìn)行IP地址分配;通過(guò)所述監(jiān)控主機(jī)接收所述待測(cè)電路板的MAC地址信息;根據(jù)接收到的待測(cè)電路板的MAC地址信息及預(yù)先設(shè)定的與所述待測(cè)電路板的MAC 地址信息一一對(duì)應(yīng)的測(cè)試號(hào)碼確定所述測(cè)試號(hào)碼與所述待測(cè)電路板的IP地址的對(duì)應(yīng)關(guān) 系;及根據(jù)分配到所述待測(cè)電路板的IP地址上是否存在硬件判斷所述待測(cè)電路板是否 測(cè)試通過(guò),并將測(cè)試結(jié)果通過(guò)一顯示界面進(jìn)行顯示。上述高溫測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng)及方法通過(guò)所述監(jiān)控主機(jī)對(duì)所述待測(cè)電路板進(jìn)行IP地址 分配,然后再根據(jù)待測(cè)電路板的MAC地址信息與待測(cè)電路板的測(cè)試號(hào)碼的關(guān)系即可確定所 述待測(cè)電路板的IP地址與測(cè)試號(hào)碼的的關(guān)系,所述監(jiān)控主機(jī)根據(jù)對(duì)應(yīng)IP地址的硬件是否存在即可判斷所述待測(cè)電路板是否測(cè)試通過(guò),然后再將測(cè)試結(jié)果通過(guò)一顯示界面進(jìn)行顯 示,十分方便,不需要測(cè)試人員攜帶鼠標(biāo)、鍵盤、顯示器等監(jiān)控設(shè)備一臺(tái)一臺(tái)去查看處在燒 機(jī)室內(nèi)的待測(cè)電路板,效率高且可節(jié)省人力。
下面參照附圖結(jié)合具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的描述。圖1為本發(fā)明高溫測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng)較佳實(shí)施方式的框圖。圖2為本發(fā)明高溫測(cè)試監(jiān)控方法較佳實(shí)施方式的流程圖。圖3為本發(fā)明高溫測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng)較佳實(shí)施方式中監(jiān)控主機(jī)的顯示界面示意圖。
具體實(shí)施例方式請(qǐng)參照?qǐng)D1,本發(fā)明高溫測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng)的較佳實(shí)施方式包括一管控系統(tǒng)10、一監(jiān) 控主機(jī)20 (如電腦主機(jī))、一網(wǎng)絡(luò)交換機(jī)30、一燒機(jī)室40及若干設(shè)置于所述燒機(jī)室40內(nèi)部 的待測(cè)電路板50 (如電腦主機(jī)板)。所述監(jiān)控主機(jī)20通過(guò)所述網(wǎng)絡(luò)交換機(jī)30與所述燒機(jī) 室40內(nèi)的待測(cè)電路板50相連,以進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控。所述監(jiān)控主機(jī)20還連接至所述管控系統(tǒng) 10,以將監(jiān)控結(jié)果傳輸給所述管控系統(tǒng)10進(jìn)行后續(xù)管控作業(yè)。所述管控系統(tǒng)10為一個(gè)對(duì)所述待測(cè)電路板50的整個(gè)制造、測(cè)試、出貨等一系列流 程進(jìn)行管控的系統(tǒng)(該系統(tǒng)還可同時(shí)對(duì)其它產(chǎn)品的各個(gè)流程進(jìn)行全程管控)。例如,所述管 控系統(tǒng)10可以是現(xiàn)場(chǎng)資訊管控(shop floor control, SFC)系統(tǒng),其是利用條形碼序號(hào)來(lái) 管控每一產(chǎn)品的制造、測(cè)試等流程,同時(shí)該系統(tǒng)實(shí)時(shí)地儲(chǔ)存生產(chǎn)、測(cè)試等數(shù)據(jù),作為追蹤管 理之用。本實(shí)施方式中,所述監(jiān)控主機(jī)20將監(jiān)控結(jié)果傳輸給所述管控系統(tǒng)10后,所述管控 系統(tǒng)10即可根據(jù)監(jiān)控結(jié)果進(jìn)行后續(xù)管控作業(yè),例如判斷測(cè)試失敗的待測(cè)電路板50的測(cè)試 失敗原因是什么等,由于所述管控系統(tǒng)10進(jìn)行的后續(xù)管控作業(yè)為現(xiàn)有技術(shù)且與本發(fā)明監(jiān) 控目的關(guān)聯(lián)不大,故此處不具體說(shuō)明。在其他實(shí)施方式中,也可根據(jù)需要不連接所述管控系 統(tǒng)10,僅使用所述監(jiān)控主機(jī)20對(duì)待測(cè)電路板50進(jìn)行監(jiān)控即可。所述監(jiān)控主機(jī)20用于對(duì)所述若干待測(cè)電路板50進(jìn)行IP地址分配,并在所述 若干待測(cè)電路板50分配到IP地址后接收所述若干待測(cè)電路板50的MAC (Media Access Control,介質(zhì)訪問(wèn)控制)地址信息。所述MAC地址信息是燒錄在待測(cè)電路板50的網(wǎng)卡里 的,也叫硬件地址,是識(shí)別局域網(wǎng)節(jié)點(diǎn)的標(biāo)識(shí),它一般是全球唯一的。所述監(jiān)控主機(jī)20還用 于將接收到的所述若干待測(cè)電路板50的MAC地址信息傳輸給所述管控系統(tǒng)10并接收所述 管控系統(tǒng)10傳輸過(guò)來(lái)的與所述MAC地址信息一一對(duì)應(yīng)的測(cè)試號(hào)碼(或稱機(jī)臺(tái)號(hào)),又由于 MAC地址信息與IP地址一一對(duì)應(yīng),故測(cè)試號(hào)碼與IP地址也是一一對(duì)應(yīng)的,即得出了測(cè)試號(hào) 碼與IP地址的對(duì)應(yīng)關(guān)系。其中,所述若干待測(cè)電路板50的MAC地址與其測(cè)試號(hào)碼一一對(duì) 應(yīng)的關(guān)系是事先設(shè)置好的,可根據(jù)需要調(diào)整。所述監(jiān)控主機(jī)20根據(jù)分配到所述若干待測(cè)電 路板50的IP地址上是否存在硬件即可判斷所述若干待測(cè)電路板50是否測(cè)試通過(guò),并將測(cè) 試結(jié)果通過(guò)一顯示界面60進(jìn)行顯示。具體地,當(dāng)所述待測(cè)電路板50測(cè)試通過(guò)時(shí),表明所述 待測(cè)電路板50未死機(jī)或未斷電,所述監(jiān)控主機(jī)20將仍然能與所述測(cè)試通過(guò)的待測(cè)電路板 50進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)通訊,此時(shí)監(jiān)控主機(jī)20判斷出與其對(duì)應(yīng)的IP地址的硬件存在;反之,當(dāng)所述待 測(cè)電路板50測(cè)試未通過(guò)時(shí),表明所述待測(cè)電路板50死機(jī)或斷電,所述監(jiān)控主機(jī)20將不能與所述測(cè)試未通過(guò)的待測(cè)電路板50進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)通訊,此時(shí)監(jiān)控主機(jī)20判斷出與其對(duì)應(yīng)的IP 地址的硬件不存在。測(cè)試完畢后,所述監(jiān)控主機(jī)20將測(cè)試結(jié)果傳輸給所述管控系統(tǒng)10以 進(jìn)行后續(xù)管控作業(yè),然后控制所述若干待測(cè)電路板50關(guān)機(jī)。其中,若刪除所述管控系統(tǒng)10 的話,在所述管控系統(tǒng)10中進(jìn)行的除后續(xù)管控作業(yè)以外的工作均由所述監(jiān)控主機(jī)20來(lái)完 成,這里不再贅述。所述網(wǎng)絡(luò)交換機(jī)30用于將所述監(jiān)控主機(jī)20與所述燒機(jī)室40內(nèi)的所述若干待測(cè) 電路板50相連,以實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)通信。所述燒機(jī)室40為一個(gè)高溫室,用于將若干待測(cè)電路板50放置于其內(nèi)部,以便進(jìn)行 高溫測(cè)試。請(qǐng)參照?qǐng)D2及圖3,本發(fā)明高溫測(cè)試監(jiān)控方法的較佳實(shí)施方式包括以下步驟。Si,控制所述若干待測(cè)電路板50上電開機(jī)。例如,可在所述燒機(jī)室40內(nèi)設(shè)置可與 所述待測(cè)電路板50的電源連接器相連的電源供應(yīng)器(未示出),將所述待測(cè)電路板50的電 源連接器與所述電源供應(yīng)器相連后,啟動(dòng)所述電源供應(yīng)器的開關(guān)(該開關(guān)可設(shè)置于所述燒 機(jī)室40機(jī)殼上,也可設(shè)置于所述監(jiān)控主機(jī)20的機(jī)殼上,或其他容易操作的地方)即完成了 控制所述電路板50上電開機(jī)的步驟。S2,所述監(jiān)控主機(jī)20對(duì)所述若干待測(cè)電路板50進(jìn)行IP地址分配。由于所述若干 待測(cè)電路板50上電開機(jī)后即自動(dòng)通過(guò)所述網(wǎng)絡(luò)交換機(jī)30與所述監(jiān)控主機(jī)20實(shí)現(xiàn)了網(wǎng)絡(luò) 通信,此時(shí)所述監(jiān)控主機(jī)20自動(dòng)對(duì)連接在其上的所述若干待測(cè)電路板50進(jìn)行IP地址分 配,所述IP地址分配可以是任意的也可以是按順序的。S3,所述監(jiān)控主機(jī)20接收所述若干待測(cè)電路板50的MAC地址信息。S4,所述監(jiān)控主機(jī)20將接收到的所述若干待測(cè)電路板50的MAC地址信息傳輸給 所述管控系統(tǒng)10。S5,所述管控系統(tǒng)10根據(jù)接收到的所述若干待測(cè)電路板50的MAC地址信息傳輸 對(duì)應(yīng)所述若干待測(cè)電路板50的測(cè)試號(hào)碼給所述監(jiān)控主機(jī)20。此時(shí),所述監(jiān)控主機(jī)20即可 將所述測(cè)試號(hào)碼與所述若干待測(cè)電路板50的IP地址一一對(duì)應(yīng)。S6,所述監(jiān)控主機(jī)20根據(jù)分配到所述若干待測(cè)電路板50的IP地址上是否存在硬 件來(lái)判斷所述若干待測(cè)電路板50是否測(cè)試通過(guò),并將測(cè)試結(jié)果通過(guò)一顯示界面60進(jìn)行顯 示。本實(shí)施方式中,所述顯示界面60包括若干對(duì)應(yīng)所述若干待測(cè)電路板50的方框,當(dāng)監(jiān)控 主機(jī)20監(jiān)測(cè)到某一待測(cè)電路板50對(duì)應(yīng)的IP地址上不存在硬件時(shí),即表明所述待測(cè)電路板 50未測(cè)試通過(guò)時(shí),如測(cè)試號(hào)碼為2的待測(cè)電路板50未測(cè)試通過(guò)時(shí),對(duì)應(yīng)的方框2顯示為斜 線標(biāo)記;當(dāng)監(jiān)控主機(jī)20監(jiān)測(cè)到某一待測(cè)電路板50對(duì)應(yīng)的IP地址上存在硬件時(shí),即表明所 述待測(cè)電路板50測(cè)試通過(guò)時(shí),如測(cè)試號(hào)碼為3的待測(cè)電路板50測(cè)試通過(guò)時(shí),對(duì)應(yīng)的方框3 顯示為空白標(biāo)記,也可根據(jù)需要設(shè)計(jì)成其他標(biāo)記。S7,所述監(jiān)控主機(jī)20將測(cè)試結(jié)果傳輸給所述管控系統(tǒng)10以進(jìn)行后續(xù)管控作業(yè)。S8,所述監(jiān)控主機(jī)20控制所述若干待測(cè)電路板50關(guān)機(jī)。本發(fā)明高溫測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng)及方法通過(guò)所述監(jiān)控主機(jī)20與所述若干待測(cè)電路板50 網(wǎng)絡(luò)相連,所述監(jiān)控主機(jī)20根據(jù)所述若干待測(cè)電路板50對(duì)應(yīng)的IP地址上是否存在硬件連 接即可快速判斷出所述若干待測(cè)電路板50中的哪些通過(guò)測(cè)試,十分方便、快捷,大大提高 了效率,減少了人力。
權(quán)利要求
一種高溫測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng),包括一燒機(jī)室及若干設(shè)置于所述燒機(jī)室內(nèi)的待測(cè)電路板,其特征在于所述高溫測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng)還包括一監(jiān)控主機(jī)及一連接所述監(jiān)控主機(jī)與所述待測(cè)電路板的網(wǎng)絡(luò)交換機(jī),所述監(jiān)控主機(jī)用于對(duì)所述待測(cè)電路板進(jìn)行IP地址分配,并在所述待測(cè)電路板分配到IP地址后接收所述待測(cè)電路板的MAC地址信息,所述待測(cè)電路板的MAC地址信息與所述待測(cè)電路板的測(cè)試號(hào)碼一一對(duì)應(yīng),所述監(jiān)控主機(jī)通過(guò)所述待測(cè)電路板的MAC地址信息使所述待測(cè)電路板進(jìn)行IP地址與所述待測(cè)電路板的測(cè)試號(hào)碼一一對(duì)應(yīng),以使所述監(jiān)控主機(jī)可根據(jù)分配到所述待測(cè)電路板的IP地址上是否存在硬件來(lái)判斷所述待測(cè)電路板是否測(cè)試通過(guò),并將測(cè)試結(jié)果通過(guò)一顯示界面進(jìn)行顯示。
2.如權(quán)利要求1所述的高溫測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng),其特征在于所述高溫測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng)還包 括一與所述監(jiān)控主機(jī)相連的管控系統(tǒng),所述待測(cè)電路板的MAC地址信息與所述待測(cè)電路板 的測(cè)試號(hào)碼一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系的建立是在所述管控系統(tǒng)中完成的。
3.如權(quán)利要求2所述的高溫測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng),其特征在于所述管控系統(tǒng)為現(xiàn)場(chǎng)資訊管 控系統(tǒng)。
4.如權(quán)利要求1所述的高溫測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng),其特征在于所述監(jiān)控主機(jī)還用于在測(cè)試 完畢后控制所述待測(cè)電路板關(guān)機(jī)。
5.如權(quán)利要求1所述的高溫測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng),其特征在于所述監(jiān)控主機(jī)為一電腦主機(jī)。
6.一種高溫測(cè)試監(jiān)控方法,用于對(duì)若干設(shè)置于燒機(jī)室內(nèi)的待測(cè)電路板進(jìn)行監(jiān)控,包括 以下步驟控制所述待測(cè)電路板上電開機(jī);通過(guò)一監(jiān)控主機(jī)對(duì)所述待測(cè)電路板進(jìn)行IP地址分配;通過(guò)所述監(jiān)控主機(jī)接收所述待測(cè)電路板的MAC地址信息;根據(jù)接收到的待測(cè)電路板的MAC地址信息及預(yù)先設(shè)定的與所述待測(cè)電路板的MAC地址 信息一一對(duì)應(yīng)的測(cè)試號(hào)碼確定所述測(cè)試號(hào)碼與所述待測(cè)電路板的IP地址的對(duì)應(yīng)關(guān)系;及根據(jù)分配到所述待測(cè)電路板的IP地址上是否存在硬件判斷所述待測(cè)電路板是否測(cè)試 通過(guò),并將測(cè)試結(jié)果通過(guò)一顯示界面進(jìn)行顯示。
7.如權(quán)利要求6所述的高溫測(cè)試監(jiān)控方法,其特征在于還包括步驟通過(guò)所述監(jiān)控主 機(jī)控制所述待測(cè)電路板關(guān)機(jī)。
8.如權(quán)利要求6所述的高溫測(cè)試監(jiān)控方法,其特征在于所述待測(cè)電路板的MAC地址 信息與所述待測(cè)電路板的測(cè)試號(hào)碼一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系的建立在所述管控系統(tǒng)中完成的。
9.如權(quán)利要求8所述的高溫測(cè)試監(jiān)控方法,其特征在于所述管控系統(tǒng)為現(xiàn)場(chǎng)資訊管 控系統(tǒng)。
10.如權(quán)利要求6所述的高溫測(cè)試監(jiān)控方法,其特征在于所述監(jiān)控主機(jī)為一電腦主機(jī)。
全文摘要
一種高溫測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng),包括一燒機(jī)室、若干設(shè)置于燒機(jī)室內(nèi)的待測(cè)電路板、一監(jiān)控主機(jī)及一連接監(jiān)控主機(jī)與待測(cè)電路板的網(wǎng)絡(luò)交換機(jī),所述監(jiān)控主機(jī)用于對(duì)待測(cè)電路板進(jìn)行IP地址分配,并在待測(cè)電路板分配到IP地址后接收待測(cè)電路板的MAC地址信息,所述待測(cè)電路板的MAC地址信息與所述待測(cè)電路板的測(cè)試號(hào)碼一一對(duì)應(yīng),所述監(jiān)控主機(jī)通過(guò)待測(cè)電路板的MAC地址信息使待測(cè)電路板進(jìn)行IP地址與待測(cè)電路板的測(cè)試號(hào)碼一一對(duì)應(yīng),以使所述監(jiān)控主機(jī)可根據(jù)分配到所述待測(cè)電路板的IP地址上是否存在硬件來(lái)判斷所述待測(cè)電路板是否測(cè)試通過(guò),并將測(cè)試結(jié)果通過(guò)一顯示界面進(jìn)行顯示。所述監(jiān)控系統(tǒng)可方便對(duì)電路板高溫測(cè)試進(jìn)行監(jiān)控。
文檔編號(hào)H04L12/28GK101957606SQ200910304450
公開日2011年1月26日 申請(qǐng)日期2009年7月17日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月17日
發(fā)明者和小畦, 李勇 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司