專利名稱：一種觸控按鍵的電路布局及其探測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電路布局，更具體地說(shuō)，涉及一種觸控按鍵觸控按鍵的電路布局及其探測(cè)方法。
背景技術(shù)：
觸控按鍵通常應(yīng)用于電子裝置(例如手機(jī)或?qū)χv機(jī)等)的輸入設(shè)備，供使用者輸入資訊或控制裝置功能等。然而觸控按鍵常會(huì)因受到電磁波干擾(Electromagneticlnterference, EMI)例如射頻干擾(Radio Frequency Interference,RFI)而產(chǎn)生錯(cuò)誤響應(yīng)。進(jìn)一步地說(shuō)，由于觸控按鍵在印刷電路板(PrintedCircuit Board, PCB)走線，同時(shí)具有天線功能，因而容易引入相鄰電子裝置所發(fā)射的射頻干擾信號(hào)。此外，射頻干擾信號(hào)與一般觸控按鍵的觸控信號(hào)經(jīng)后端電路轉(zhuǎn)換后的頻率相似。因此，電子裝置內(nèi)的控制芯片會(huì)因受導(dǎo)入的射頻干擾信號(hào)而誤判有按鍵被觸控，產(chǎn)生錯(cuò)誤響應(yīng)進(jìn)而造成使用者在使用上的困擾。一般傳統(tǒng)解決射頻訊號(hào)干擾的手法為透過(guò)軟件方法。例如，對(duì)射頻干擾信號(hào)的特征進(jìn)行分析并移除，以確切取得觸控按鍵的偵測(cè)信號(hào)。當(dāng)觸控按鍵的按壓感應(yīng)時(shí)間少于預(yù)設(shè)時(shí)間時(shí)，則判定為射頻干擾信號(hào)，但這類方法可能無(wú)法完全將所有射頻干擾信號(hào)去除。舉例來(lái)說(shuō)，使用者按鍵速度可能與脈沖干擾(impulse noise)信號(hào)特征相似，因此排除脈沖干擾同時(shí)也會(huì)影響使用者的操作。除此之外，若通過(guò)硬件設(shè)計(jì)來(lái)改良射頻干擾則有可能增加硬件所占的體積，進(jìn)而增加電子裝置的制作與設(shè)計(jì)成本，降低電子裝置的經(jīng)濟(jì)效益。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是，提供一種觸控按鍵的電路布局及其探測(cè)方法，用來(lái)解決觸控按鍵收到電磁波的干擾發(fā)生錯(cuò)誤響應(yīng)的問(wèn)題。解決使用者因?yàn)橛|控按鍵的錯(cuò)誤響應(yīng)而引起的困擾和損失。本發(fā)明上述技術(shù)問(wèn)題這樣解決，提供一種觸控按鍵的電路布局，用以強(qiáng)化偵測(cè)與辨別無(wú)線干擾信號(hào)的能力，進(jìn)而避免觸控按鍵因?yàn)槭艿綗o(wú)線干擾信號(hào)而造成錯(cuò)誤響應(yīng)。電路布局包括電容式按鍵，對(duì)應(yīng)于觸控按鍵；電容式按鍵傳輸線，電性連接電容式按鍵與偵測(cè)模組；耦合天線，電性連接偵測(cè)模組，且絕緣于電容式按鍵和電容式按鍵傳輸線；其中偵測(cè)模組供偵測(cè)接收耦合天線的耦合天線信號(hào)和電容式按鍵的電容式按鍵信號(hào)，并對(duì)信號(hào)進(jìn)行運(yùn)算。經(jīng)運(yùn)算后判斷觸控按鍵是否有受到無(wú)線干擾信號(hào)干擾以及是否被有效觸控。其中，耦合天線為耦合傳輸線，且圍繞電容式按鍵。本發(fā)明的另一種觸控按鍵的電路布局包括復(fù)數(shù)個(gè)電容式按鍵,對(duì)應(yīng)于復(fù)數(shù)個(gè)觸控按鍵；復(fù)數(shù)條電容式按鍵傳輸線，電性連接復(fù)數(shù)個(gè)電容式按鍵與偵測(cè)模組；耦合天線，電性連接偵測(cè)模組，且絕緣于復(fù)數(shù)個(gè)電容式按鍵和復(fù)數(shù)條電容式按鍵傳輸線；其中偵測(cè)模組供偵測(cè)接收耦合天線的耦合天線信號(hào)和復(fù)數(shù)個(gè)電容式按鍵的復(fù)數(shù)個(gè)電容式按鍵信號(hào)，并對(duì)信號(hào)進(jìn)行運(yùn)算。經(jīng)運(yùn)算后判斷復(fù)數(shù)個(gè)觸控按鍵的至少其中之一是否有受到無(wú)線干擾信號(hào)干擾以及是否被有效觸控。本發(fā)明還提供一種觸控按鍵的偵測(cè)方法，適用于上述的觸控按鍵的電路布局以偵測(cè)觸控按鍵是否有被無(wú)線信號(hào)干擾及是否被有效觸控。所述偵測(cè)方法包括以下的步驟偵測(cè)模組偵測(cè)并接收耦合天線的耦合天線信號(hào)與電容式按鍵的電容式按鍵信號(hào)。其次，比較所接收的耦合天線信號(hào)與耦合天線參考信號(hào)(即未被無(wú)線信號(hào)干擾及未被觸摸時(shí)耦合天線的環(huán)境信號(hào))，獲得耦合天線信號(hào)變動(dòng)率，以及比較所接收的電容式按鍵信號(hào)與電容式按鍵參考信號(hào)(即未被無(wú)線信號(hào)干擾及未被觸摸時(shí)電容式觸控按鍵的環(huán)境信號(hào))，獲得電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率，進(jìn)而分別依據(jù)所獲得的耦合天線信號(hào)變動(dòng)率、電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率來(lái)判斷對(duì)應(yīng)的觸控按鍵是否有受到無(wú)線干擾信號(hào)干擾及是否被有效觸控。本發(fā)明所提供的觸控按鍵的電路布局以及偵測(cè)方法帶來(lái)以下的有益效果可藉由改變電路布局方式，強(qiáng)化偵測(cè)與辨別無(wú)線干擾信號(hào)的能力，進(jìn)而避免電子裝置的觸控按鍵因受到無(wú)線干擾信號(hào)而造成觸控按鍵錯(cuò)誤響應(yīng)從而提高了電子裝置的可靠性，避免了因?yàn)榘存I錯(cuò)誤響應(yīng)給使用者帶來(lái)的困擾和損失。


圖1為本發(fā)明觸控按鍵的電路布局的電路圖的第一實(shí)施例；其中各組件標(biāo)號(hào)為觸控按鍵的電路布局1、電容式按鍵11、電容式按鍵傳輸線13、耦合天線15、電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131、耦合天線信號(hào)0)即_516 151、偵測(cè)模組2、手3。圖2為本發(fā)明觸控按鍵的電路布局的電路圖的第二實(shí)施例；其中各組件標(biāo)號(hào)為觸控按鍵的電路布局4、電容式按鍵41a、41b、41n、電容式按鍵傳輸線43a、43b、43n、耦合天線45、電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 431a、431b、431n、耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 451、偵測(cè)模組2、手 3。圖3為本發(fā)明觸控按 鍵的電路布局的電路圖的第三實(shí)施例；其中各組件標(biāo)號(hào)為觸控按鍵的電路布局5、電容式按鍵51a、51b、51n、電容式按鍵傳輸線53a、53b、53n、耦合天線 55a、55b、55n、電容式按鍵信號(hào) CAP_SIG531a、531b、531n、耦合天線信號(hào) C0UP_SIG 551a、551b、551n、偵測(cè)模組2、手3。圖4為本發(fā)明觸控按鍵的電路布局的電路圖的第四實(shí)施例；其中各組件標(biāo)號(hào)為觸控按鍵的電路布局6、電容式按鍵61、電容式按鍵傳輸線63、耦合天線65、電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 631、耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 651、偵測(cè)模組2、手3。圖5為本發(fā)明偵測(cè)模組第一實(shí)施例的功能方塊圖；其中各組件標(biāo)號(hào)為偵測(cè)模組2、多工單元21、振蕩單元23、數(shù)位漣波計(jì)數(shù)單元25、信號(hào)處理單元26、電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 212. . . 21η、耦合天線信號(hào) C0UP_SIG 211。圖6為本發(fā)明偵測(cè)模組第二實(shí)施例的功能方塊圖；其中各組件標(biāo)號(hào)為偵測(cè)模組7、多工單元71、振蕩單元73a、73b、數(shù)位漣波計(jì)數(shù)單元75a、75b、緩沖單元77、信號(hào)處理單元79、電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 711. . . 71η、耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 731a。圖7為本發(fā)明實(shí)施例提供的觸控按鍵偵測(cè)方法流程圖；其中S10-S100為步驟標(biāo)號(hào)。
具體實(shí)施例方式為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用于解析本發(fā)明。并不用于限定本發(fā)明。如圖1所示。圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的觸控按鍵的電路布局的電路圖。觸控按鍵的電路布局I包括電容式按鍵11、電容式按鍵傳輸線13與耦合天線15。電容式按鍵11對(duì)應(yīng)于一觸控按鍵(未繪示于圖1)。耦合天線15在本實(shí)施例中以耦合傳輸線實(shí)現(xiàn)。電容式按鍵傳輸線13電性連接電容式按鍵11。耦合天線15圍繞電容式按鍵11周圍，并相鄰于電容式按鍵傳輸線13，耦合天線15與電容式按鍵11以及電容式按鍵傳輸線13彼此電性絕緣。此外，電容式按鍵傳輸線13與耦合天線15分別電性連接至偵測(cè)模組2。偵測(cè)模組2可根據(jù)電容式按鍵傳輸線13與耦合天線15所輸入的偵測(cè)信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的觸控按鍵是否被有效觸控。圍在電容式按鍵11外圍的耦合天線15，其電路面積遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于電容式按鍵11的面積，因此一般在無(wú)任何無(wú)線干擾信號(hào)時(shí)，當(dāng)有手指3按壓觸控按鍵，與其對(duì)應(yīng)的電容式按鍵11所產(chǎn)生的電容值變化，將會(huì)遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于耦合天線15所感應(yīng)的電容值變化，根據(jù)這個(gè)特性判定觸控按鍵為正常被按壓的現(xiàn)象。進(jìn)一步地說(shuō)，電容式按鍵11經(jīng)由電容式按鍵傳輸線13將具有對(duì)應(yīng)于電容式按鍵11的電容值變化的電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131傳輸至偵測(cè)模組2，以作為按鍵觸控偵測(cè)的對(duì)比信號(hào)。此外，耦合天線15用以傳送因無(wú)線干擾信號(hào)耦合所產(chǎn)生的耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151至偵測(cè)模組2以作為無(wú)線干擾信號(hào)偵測(cè)的對(duì)比信號(hào)。偵測(cè)模組2比較上述電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131和耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151的頻率變化，判斷所接收的電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131是否為無(wú)線干擾信號(hào)(例如，射頻干擾信號(hào))以及對(duì)應(yīng)的觸控按鍵是否受到無(wú)線干擾信號(hào)干擾以及是否被有效觸控。此外，電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131的頻率變化可對(duì)應(yīng)于電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131的振幅變化。舉例來(lái)說(shuō)，當(dāng)電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131的振幅變化越大，其頻率變化越大。反之，若電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131的振幅變化越小，其頻率變化相對(duì)地降低。同樣地，耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151的頻率變化則會(huì)依據(jù)耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151振幅變化大小而改變。值得一提的是，雖然電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131與耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151的頻率變化大小與頻帶可藉由電路設(shè)計(jì)(例如，振蕩電路)而調(diào)整，然而，通過(guò)本實(shí)施例，偵測(cè)模組2依然可以依據(jù)電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131與耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151來(lái)判斷觸控按鍵是否被按壓，避免因無(wú)線干擾信號(hào)所造成的錯(cuò)誤響應(yīng)。觸控按鍵信號(hào)偵測(cè)模式為將電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131與耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151的頻率變化轉(zhuǎn)換成計(jì)數(shù)變化值，以便通過(guò)后端處理器(例如微控制器，Microcontroller)進(jìn)行分析判斷。舉例來(lái)說(shuō)，偵測(cè)模組2會(huì)將電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131與耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151的頻率變化分別轉(zhuǎn)換成對(duì)應(yīng)的計(jì)數(shù)變化值，并通過(guò)比較分析對(duì)應(yīng)的計(jì)數(shù)變化值，判斷對(duì)應(yīng)的觸控按鍵是否被有效觸控。值得一提的是，電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131與耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151的頻率轉(zhuǎn)換方式將在其他實(shí)施例來(lái)加以敘述，故在此不加贅述。
當(dāng)有手指3按壓觸控按鍵時(shí)，電容式按鍵11隨即產(chǎn)生電容值變化(如電容值上升)，而耦合天線15同時(shí)也會(huì)因環(huán)境之間的信號(hào)耦合而產(chǎn)生變化。換言之，偵測(cè)模組2會(huì)依據(jù)電容式按鍵傳輸線13與耦合天線15上的電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131與耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151而分別產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的計(jì)數(shù)變化值。具體地說(shuō)，在正常的情況下，若觸控按鍵被按壓，則偵測(cè)模組2依據(jù)電容式按鍵傳輸線13上的電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131而產(chǎn)生的計(jì)數(shù)變化值較大。例如，電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131的計(jì)數(shù)變化值與電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIG的計(jì)數(shù)變化值(即電容式按鍵參考信號(hào)計(jì)數(shù)值)之間的變動(dòng)比值(即電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CR)會(huì)大于預(yù)設(shè)電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_CAP。如上述所述，耦合天線15因觸控面積較小，因此在觸控按鍵被按壓時(shí)，偵測(cè)模組2依據(jù)耦合天線15的耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151所產(chǎn)生的計(jì)數(shù)變化值相對(duì)較小。例如，耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151的計(jì)數(shù)變化值與耦合天線參考信號(hào)C0UP_REF_SIG的計(jì)數(shù)變化值(即耦合天線參考信號(hào)計(jì)數(shù)值)之間的變動(dòng)比值(即耦合天線信號(hào)變動(dòng)率C0UP_CR)小于預(yù)設(shè)耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_C0UP。詳細(xì)地說(shuō)，在正常觸控情況下且無(wú)任何無(wú)線干擾信號(hào)時(shí)，耦合天線信號(hào)C0UP_SIG151對(duì)應(yīng)所產(chǎn)生的計(jì)數(shù)變化與耦合天線參考信號(hào)C0UP_REF_SIG的計(jì)數(shù)變化值之間的變動(dòng)比值，即耦合天線信號(hào)變動(dòng)率C0UP_CR，應(yīng)小于預(yù)設(shè)耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_C0UP。同時(shí)，電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131對(duì)應(yīng)所產(chǎn)生的計(jì)數(shù)變化值與電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIG的計(jì)數(shù)變化值之間的變動(dòng)比值，即電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CR也會(huì)大于預(yù)設(shè)電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_CAP，偵測(cè)模組2通過(guò)比較可判定為正常觸模動(dòng)作。一般來(lái)說(shuō)，在電路布局I中當(dāng)有無(wú)線干擾信號(hào)時(shí)，電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131對(duì)應(yīng)所產(chǎn)生的計(jì)數(shù)變化值會(huì)與耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151對(duì)應(yīng)所產(chǎn)生的計(jì)數(shù)變化值近似。也就是說(shuō)，理論上電容式按鍵11與耦合天線15會(huì)同步產(chǎn)生等幅信號(hào)。偵測(cè)模組2故也可據(jù)此判定為無(wú)線干擾信號(hào)，而無(wú)須理會(huì)。與上述正常按壓偵測(cè)模式類似，無(wú)線干擾信號(hào)偵測(cè)也可藉由分別將耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151、電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131與各自預(yù)設(shè)的參考信號(hào)進(jìn)行比較運(yùn)算，以獲得對(duì)應(yīng)的變動(dòng)比值(即耦合天線信號(hào)變動(dòng)率C0UP_CR與電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CR)。隨后，依據(jù)所獲得的兩個(gè)變動(dòng)比值，判斷對(duì)應(yīng)觸控按鍵是否被觸控。舉例來(lái)說(shuō)，當(dāng)有無(wú)線干擾信號(hào)時(shí)，經(jīng)由演算后，獲得耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151對(duì)應(yīng)產(chǎn)生計(jì)數(shù)變化值與耦合天線參考信號(hào)計(jì)數(shù)值之間的變動(dòng)比值，即耦合天線信號(hào)變動(dòng)率C0UP_CR應(yīng)會(huì)大于預(yù)設(shè)耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_C0UP。詳細(xì)地說(shuō)，即便經(jīng)由演算后，電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131對(duì)應(yīng)所產(chǎn)生的計(jì)數(shù)變化值類似于正常觸控時(shí)的計(jì)數(shù)變化值(或電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131計(jì)數(shù)變化值與電容式按鍵參考信號(hào)計(jì)數(shù)值之間的變動(dòng)比值(電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CR)大于預(yù)設(shè)電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_CAP)，若對(duì)應(yīng)于耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151計(jì)數(shù)變化的變動(dòng)比值(耦合天線信號(hào)變動(dòng)率C0UP_CR)大于預(yù)設(shè)耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_C0UP，偵測(cè)模組2可藉此判斷觸控按壓應(yīng)并非是在正常情況下被按壓，且會(huì)認(rèn)定電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131為無(wú)線干擾信號(hào)在電容式按鍵11上所感應(yīng)生成的信號(hào)。實(shí)際實(shí)施時(shí),此電路布局I可藉由印刷電路板(Printed CircuitBoard, PCB)實(shí)施。為了使耦合天線15與電容式按鍵11上因無(wú)線干擾信號(hào)而感應(yīng)出的耦合天線信號(hào)COUP_SIG 151與電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131的振幅變化較為相似，耦合天線15可如圖1所示，鄰近電容式按鍵11。除此之外，電容式按鍵參考信號(hào)計(jì)數(shù)值(即電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIG的計(jì)數(shù)變化值)、電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_CAP、耦合天線參考信號(hào)計(jì)數(shù)值(即耦合天線參考信號(hào)C0UP_REF_SIG的計(jì)數(shù)變化值)與耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_C0UP可被預(yù)先設(shè)定于偵測(cè)模組2內(nèi)，以分別與電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131及耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151進(jìn)行運(yùn)算，并根據(jù)各自的比較運(yùn)算結(jié)果而獲得的變動(dòng)比值，判斷所偵測(cè)的觸控按鍵是否被有效觸摸。進(jìn)一步地說(shuō)，電容式按鍵參考信號(hào)計(jì)數(shù)值可為第一原始計(jì)數(shù)值，即對(duì)應(yīng)于當(dāng)觸控按鍵尚未被按下及未受到無(wú)線干擾信號(hào)干擾時(shí)，偵測(cè)模組2所偵測(cè)到電容式按鍵11所產(chǎn)生的第一電容參考信號(hào)。電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_CAP則為電容式按鍵11未被有效觸摸時(shí)，電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CR的臨界值。同理，耦合天線參考信號(hào)計(jì)數(shù)值則可為第二原始計(jì)數(shù)值對(duì)應(yīng)于無(wú)任何無(wú)線干擾信號(hào)干擾及電容式按鍵11未被觸摸時(shí)，偵測(cè)模組2所偵測(cè)到耦合天線15所感應(yīng)的第二電容參考信號(hào)。此外耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_C0UP則為耦合天線15受到無(wú)線干擾信號(hào)時(shí)，耦合天線信號(hào)變動(dòng)率的臨界值。因此，電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIG與耦合天線參考信號(hào)C0UP_REF_SIG偵測(cè)方式也可如同電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131及耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151的偵測(cè)方式相同，以下將透過(guò)其他實(shí)施例來(lái)加以敘述，故在此不加贅述。要說(shuō)明的是，電容式按鍵11、電容式按鍵傳輸線13與耦合天線15的間距以及耦合天線15圍繞電容式按鍵11方式，可依據(jù)設(shè)計(jì)或偵測(cè)需求而設(shè)置。另外，電容式按鍵11、電容式按鍵傳輸線13與耦合天線15的實(shí)現(xiàn)方式(例如尺寸或形體等)可依據(jù)印刷電路板設(shè)計(jì)需求以及制程能力而改變。另外，電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIG與耦合天線參考信號(hào)C0UP_REF_SIG也會(huì)依據(jù) 的觸控按鍵的電路布局I架構(gòu)(例如，布線方式)，線路制程的不同，而有所改變。換言之，也可藉由調(diào)整觸控按鍵的電路布局I來(lái)變換所需對(duì)應(yīng)的電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIG與耦合天線參考信號(hào)C0UP_REF_SIG?？偠灾?，圖1僅為電容式按鍵傳輸線13與耦合天線15的電路布局示意圖，其并非用以限定本發(fā)明。此外，本發(fā)明并不限定電容式按鍵11、電容式按鍵傳輸線13與耦合天線15的種類、實(shí)體架構(gòu)及/或具體實(shí)施方式
。圖2為本發(fā)明的另一實(shí)施例。觸控按鍵的電路布局4包括對(duì)應(yīng)于復(fù)數(shù)個(gè)觸控按鍵的復(fù)數(shù)個(gè)電容式按鍵41a、41b、41n、復(fù)數(shù)條電容式按鍵傳輸線43a、43b、43n與耦合天線45。耦合天線45在本實(shí)施例中以耦合傳輸線實(shí)現(xiàn)。電容式按鍵傳輸線43a、43b、43n分別電性連接上述復(fù)數(shù)個(gè)電容式按鍵41a、41b、41n。耦合天線45依序延伸圍繞于電容式按鍵41a、41b、41n周圍且相鄰于電容式按鍵傳輸線43a，耦合天線45與電容式按鍵41a、41b、41η及電容式按鍵傳輸線43a、43b、43n彼此電性絕緣。此外，電容式按鍵傳輸線43a、43b、43η與耦合天線45更分別電性連接偵測(cè)模組2。偵測(cè)模組2可根據(jù)電容式按鍵傳輸線43a、43b,43η與耦合天線45所輸入的信號(hào)判斷復(fù)數(shù)個(gè)觸控按鍵的其中之一是否受到無(wú)線干擾信號(hào)干擾以及是否被有效觸控。進(jìn)一步地說(shuō)，電容式按鍵41a、41b、41n可同時(shí)分別經(jīng)由電容式按鍵傳輸線43a、43b、43n將具有對(duì)應(yīng)的電容值變化的復(fù)數(shù)電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn 431a、431b. . . 431η傳輸至偵測(cè)模組2，以作為復(fù)數(shù)按鍵觸控偵測(cè)的對(duì)比信號(hào)。此外，耦合天線45可用以傳輸因無(wú)線干擾信號(hào)耦合所產(chǎn)生的耦合天線信號(hào)COUP_SIG 451至偵測(cè)模組2以作為無(wú)線干擾信號(hào)偵測(cè)的對(duì)比信號(hào)。偵測(cè)模組2進(jìn)而可如上述實(shí)施例描述的藉由運(yùn)算比較上述復(fù)數(shù)電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn 431a、431b. . . 431η所對(duì)應(yīng)產(chǎn)生的計(jì)數(shù)變化值與復(fù)數(shù)預(yù)設(shè)電容式按鍵參考信號(hào)計(jì)數(shù)值(即未被無(wú)線信號(hào)干擾及電容式按鍵41a、41b、41n未被觸控時(shí)，偵測(cè)模組2所偵測(cè)的電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIGl-CAP_REF_SIGn的計(jì)數(shù)變化值)及耦合天線信號(hào)COUP_SIG 451所對(duì)應(yīng)產(chǎn)生的計(jì)數(shù)變化值與預(yù)設(shè)耦合天線參考信號(hào)計(jì)數(shù)值(即未被無(wú)線信號(hào)干擾及電容式按鍵41a、41b、41n未被觸控時(shí)偵測(cè)模組2所偵測(cè)的耦合天線參考信號(hào)COUP_REF_SIG的計(jì)數(shù)變化值)，來(lái)判斷所接收的復(fù)數(shù)電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn 431a、431b. . . 431η所對(duì)應(yīng)的多個(gè)觸控按鍵的至少其中之一是否為正常按壓。復(fù)數(shù)電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIGl-CAP_REF_SIGn會(huì)依據(jù)復(fù)數(shù)個(gè)電容式按鍵41a、41b、41n的實(shí)際線路制程而不同。但復(fù)數(shù)電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIG1_CAP_REF_SIGn也可依據(jù)演算方式設(shè)計(jì)或偵測(cè)便利性，統(tǒng)一設(shè)定為同一參考信號(hào)計(jì)數(shù)閥值(例如復(fù)數(shù)電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIGl-CAP_REF_SIGn的平均計(jì)數(shù)值或是偵測(cè)經(jīng)驗(yàn)值等)。同理，耦合天線參考信號(hào)C0UP_REF_SIG也可依據(jù)耦合天線45得實(shí)際線路制程或是設(shè)計(jì)需求而變更調(diào)整。要說(shuō)明的是，復(fù)數(shù)電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIGl-CAP_REF_SIGn與耦合天線參考信號(hào)C0UP_REF_SIG的設(shè)定方式并非用以限定本發(fā)明。舉例來(lái)說(shuō)，當(dāng)電容式按鍵41a對(duì)應(yīng)的觸控按鍵被手指3按壓后，電容式按鍵41a隨即產(chǎn)出對(duì)應(yīng)的電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG1 431a并輸入至偵測(cè)模組2。同時(shí)，耦合天線45也會(huì)將環(huán)境信號(hào)耦合所產(chǎn)生的耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 451傳輸至偵測(cè)模組2。偵測(cè)模組2則分別將耦合天線信號(hào)C0UP_S IG 451、電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG1 431a與對(duì)應(yīng)于耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 451的耦合天線參考信號(hào)C0UP_REF_SIG及對(duì)應(yīng)于電容式按鍵41a的電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIG1相比對(duì)運(yùn)算，進(jìn)而獲得耦合天線變動(dòng)率C0UP_CR及電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CR，以進(jìn)行觸控按鍵按壓偵測(cè)判斷。值的一提的是，具體偵測(cè)判斷分析方式可如上述實(shí)施例所述，本技術(shù)領(lǐng)域具有通常知識(shí)者應(yīng)可推知其偵測(cè)方式以及耦合天線參考信號(hào)C0UP_REF_SIG、電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIGn、耦合天線變動(dòng)率C0UP_CR、電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CR的設(shè)定方式，故在此不再贅述。需要說(shuō)明的是，實(shí)際實(shí)施時(shí)耦合天線45可被設(shè)置鄰近于電容式按鍵傳輸線43a、43b,43η的其中之一。舉例來(lái)說(shuō)，耦合天線45亦可被設(shè)置相鄰于電容式按鍵傳輸線43b，并向左、右兩旁延伸圍繞于上述復(fù)數(shù)個(gè)電容式按鍵41a、41b、41n周圍?？偠灾?，本發(fā)明并不限定耦合天線45的布線方式，只要系能圍繞于電容式按鍵41a、41b、41n且同時(shí)電性絕緣于電容式按鍵41a、41b、41n及電容式按鍵傳輸線43a、43b、43n，且電容式按鍵41a、41b、41n與耦合天線45因無(wú)線干擾信號(hào)耦合所產(chǎn)生于其上的干擾所對(duì)應(yīng)的計(jì)數(shù)變化值相近即可。此夕卜，本發(fā)明亦不限定電容式按鍵41a、41b、41n、電容式按鍵傳輸線43a、43b、43n與I禹合天線45的種類、實(shí)體架構(gòu)及/或具體實(shí)施方式
。圖3為本發(fā)明的第三實(shí)施例提供的觸控按鍵的電路布局的電路圖。觸控按鍵的電路布局5包括復(fù)數(shù)個(gè)電容式按鍵51a、51b、51n、復(fù)數(shù)條電容式按鍵傳輸線53a、53b、53n與復(fù)數(shù)個(gè)耦合天線55a、55b、55n。耦合天線55a、55b、55n在本實(shí)施例中皆以耦合傳輸線實(shí)現(xiàn)。此外，電容式按鍵傳輸線53a、53b、53n分別電性連接電容式按鍵51a、51b、51n。耦合天線55a、55b、55n則分別相鄰于電容式按鍵傳輸線53a、53b、53n且各自圍繞于電容式按鍵51a、51b,51η周圍，但耦合天線55a、55b、55n與電容式按鍵51a、51b、51n及電容式按鍵傳輸線53a、53b、53n彼此電性絕緣。此外，電容式按鍵傳輸線53a、53b、53n及耦合天線55a、55b、55η分別電性連接偵測(cè)模組2。偵測(cè)模組2可根據(jù)電容式按鍵傳輸線53a、53b、53n與耦合天線55a、55b、55n所輸入的信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的多數(shù)個(gè)觸控按鍵的至少其中之一是否被有效觸控。同時(shí)參考圖2，圖3所示的電路布局5與圖2所示的電路布局4之間的差異在于，圖2的電路布局4僅使用一個(gè)耦合天線45來(lái)同時(shí)偵測(cè)因多個(gè)無(wú)線干擾信號(hào)耦合的至少其中之一而產(chǎn)生的耦合天線信號(hào)C0UP_SIG551a、551b. . . 551η。而圖3的電路布局5則使用復(fù)數(shù)個(gè)耦合天線55a、55b、55n來(lái)個(gè)別接收因無(wú)線干擾信號(hào)耦合而產(chǎn)生的復(fù)數(shù)耦合天線參考信號(hào) C0UP_SIG1 C0UP_SIGn 551a,551b. · · 551η。也就是說(shuō)，耦合天線55a、55b、55n可分別傳送對(duì)應(yīng)于電容式按鍵51a、51b、51n的耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1 C0UP_SIGn 551a、551b. . . 551η至偵測(cè)模組2，藉此偵測(cè)模組2可個(gè)別對(duì)應(yīng)分析電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGi 531a、531b. . . 531η與耦合天線信號(hào)C0UP_SIGi (i等于1、2或n)551a、551b. . . 551η，以判斷電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGi與耦合天線信號(hào)C0UP_SIGi對(duì)應(yīng)的觸控按鍵是否受到無(wú)線干擾信號(hào)干擾以及是否被有效觸控。換言之，偵測(cè)模組2會(huì)將所接收的電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGi與耦合天線信號(hào)C0UP_SIGi與對(duì)應(yīng)的復(fù)數(shù)電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIGi及耦合天線參考信號(hào)C0UP_REF_SIGi進(jìn)行比對(duì)運(yùn)算，以獲得復(fù)數(shù)電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CRi與復(fù)數(shù)耦合天線信號(hào)變動(dòng)率C0UP_CRi，以進(jìn)行觸控按鍵按壓偵測(cè)判斷，其中i等于1、2或η。舉例來(lái)說(shuō)，耦合天線55a可傳送對(duì)應(yīng)于電容式按鍵51a的耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1551a至偵測(cè)模組2。偵測(cè)模組2可藉由分別將耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1 551a對(duì)應(yīng)產(chǎn)生的計(jì)數(shù)變化值、電容式按鍵信 號(hào)CAP_SIG1 531a的對(duì)應(yīng)產(chǎn)生的計(jì)數(shù)變化值與相對(duì)應(yīng)的耦合天線參考信號(hào)C0UP_REF_SIG1的計(jì)數(shù)變化值、電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIG1的計(jì)數(shù)變化值進(jìn)行比較運(yùn)算來(lái)判斷電容式按鍵51a對(duì)應(yīng)的觸控按鍵是否被有效觸控。同理，耦合天線55b可傳送對(duì)應(yīng)于電容式按鍵51b的耦合天線信號(hào)C0UP_SIG2 551b至偵測(cè)模組2。偵測(cè)模組2可藉由分別將耦合天線信號(hào)C0UP_SIG2 551b對(duì)應(yīng)產(chǎn)生的計(jì)數(shù)變化值、電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG2 531b對(duì)應(yīng)產(chǎn)生的計(jì)數(shù)變化值與相對(duì)應(yīng)的耦合天線參考信號(hào)C0UP_REF_SIG2、電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIG2的計(jì)數(shù)變化值進(jìn)行比較運(yùn)算來(lái)判斷電容式按鍵51b對(duì)應(yīng)的觸控按鍵是否被有效觸控。同樣地，耦合天線55η可傳送對(duì)應(yīng)于電容式按鍵5 In的耦合天線信號(hào)C0UP_SIGn 551η至偵測(cè)模組2。偵測(cè)模組2可藉由分別將耦合天線信號(hào)C0UP_SIGn551η對(duì)應(yīng)產(chǎn)生的計(jì)數(shù)變化值、電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGn 531η對(duì)應(yīng)產(chǎn)生的計(jì)數(shù)變化值與相對(duì)應(yīng)的耦合天線參考信號(hào)C0UP_REF_SIGn、電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIGn的計(jì)數(shù)變化值進(jìn)行比較運(yùn)算來(lái)判斷電容式按鍵51η對(duì)應(yīng)的觸控按鍵是否被有效觸控。另外，此圖3所示的的電路布局5可用以避免耦合天線55a、55b、55η與電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn 531a、531b. . . 531η因信號(hào)接收方向有所不同而感測(cè)到不同的無(wú)線干擾信號(hào)量，進(jìn)而影響偵測(cè)結(jié)果。要說(shuō)明的是，圖3所示的耦合天線55a、55b、55n與電容式按鍵傳輸線53a、53b與53η的個(gè)別間距與其布線方式僅為電路布局不意圖，并非用以限定本發(fā)明。此外，本發(fā)明不限定電容式按鍵51a、51b、51n、電容式按鍵傳輸線53a、53b、53η與耦合天線55a、55b、55η的種類、實(shí)體架構(gòu)及/或具體實(shí)施方式
。圖4為本發(fā)明的第四實(shí)施例提供的觸控按鍵的電路布局的電路圖。觸控按鍵的電路布局6包括電容式按鍵61、電容式按鍵傳輸線63與耦合天線65。電容式按鍵61對(duì)應(yīng)于觸控按鍵(未繪示于圖4)。耦合天線65在本實(shí)施例中如圖4所示以天線架構(gòu)實(shí)現(xiàn)。此外，電容式按鍵傳輸線63電性連接電容式按鍵61。耦合天線65與電容式按鍵61及電容式按鍵傳輸線63彼此電性絕緣。另外，耦合天線65與電容式按鍵傳輸線63分別電性連接偵測(cè)模組2。偵測(cè)模組2可根據(jù)電容式按鍵傳輸線63與耦合天線65所輸入的信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的觸控按鍵是否受到無(wú)線干擾信號(hào)干擾以及是否被有效觸控。更詳細(xì)地說(shuō)，電容式按鍵61可經(jīng)由電容式按鍵傳輸線63將電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl 631傳輸至偵測(cè)模組2。耦合天線65則將所接收耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1 651傳至偵測(cè)模組2以作為對(duì)比信號(hào)。偵測(cè)模組2從而可藉由比較分析上述電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG1631與耦合天線·信號(hào)C0UP_SIG1651的計(jì)數(shù)(即頻率)變化，判斷所接收的電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG1 631是否因無(wú)線干擾信號(hào)耦合而產(chǎn)生的信號(hào)。無(wú)線干擾信號(hào)的判斷方式可如上述實(shí)施例所述，本技術(shù)領(lǐng)域具有本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)可推知的偵測(cè)方式，故在此不再贅述。值得注意是，一般來(lái)說(shuō)，天線具有方向性，即天線會(huì)因所設(shè)置的方向以及角度不同而接收到不同的無(wú)線信號(hào)量。因此，耦合天線65所設(shè)的感測(cè)方向或角度需與電容式按鍵61所感應(yīng)無(wú)線干擾的方向相同，以提高無(wú)線干擾信號(hào)偵測(cè)效率。附帶說(shuō)明的是，上述實(shí)施例中所述的耦合傳輸線等效于耦合天線65，故圖4所繪電路布局6可為圖1所繪電路布局I的等效電路布線示意圖。詳細(xì)地說(shuō)，圖1的電路布局I為耦合天線65圍繞電容式按鍵61的特殊實(shí)施方式。同樣地，圖2所繪的電路布局4則為耦合天線65圍繞復(fù)數(shù)個(gè)電容式按鍵61的特殊實(shí)施方式。而圖3所繪的電路布局5則是由復(fù)數(shù)個(gè)電路布局I所形成即為由復(fù)數(shù)耦合天線65分別圍繞電容式按鍵61的特殊實(shí)施方式。換言之，圖1、圖2及圖3所繪電路布局均可由為圖4所繪的電路布局延伸推知。據(jù)此，技術(shù)領(lǐng)域具有通常知識(shí)者應(yīng)可推知圖4所繪的電路布局6的其他實(shí)施方式，在此不加贅述。要說(shuō)明的是，本發(fā)明并不限定耦合天線65的種類、實(shí)體架構(gòu)或?qū)嶋H設(shè)置位置及方式，只要可偵測(cè)以及接收與電容式按鍵傳輸線63的相等的無(wú)線干擾信號(hào)量即可。圖5為本發(fā)明實(shí)施例中偵測(cè)模組的功能方塊圖。偵測(cè)模組2可如上述實(shí)施例所述，用以接收電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn 212. . . 21η以及與對(duì)應(yīng)的耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1 211，以判斷與電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn 212. . . 21η其中之一相對(duì)應(yīng)的觸控按鍵是否受到無(wú)線干擾信號(hào)干擾以及是否被有效觸控。偵測(cè)模組2在本實(shí)施例中包括多工單元21、振蕩單元23、數(shù)位漣波計(jì)數(shù)單元25與信號(hào)處理單元27。多工單元21連接振蕩單元23。振蕩單元23連接數(shù)位漣波計(jì)數(shù)單元25。數(shù)位漣波計(jì)數(shù)單元25連接信號(hào)處理單元27。多工單元21可用以切換輸出所接收的電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl_CAP_SIGn212. . . 21η與耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1 211的至少其中之一至振蕩單元23。據(jù)此，多工單兀21可為多對(duì)一多工器(multiplexer)。振蕩單元23可用以依據(jù)所輸入的信號(hào)產(chǎn)出對(duì)應(yīng)的計(jì)數(shù)信號(hào)。舉例來(lái)說(shuō)，于此實(shí)施例中，振蕩單元23于不同的時(shí)間點(diǎn)會(huì)產(chǎn)出第一計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG1及第二計(jì)數(shù)信號(hào)OSC_SIG2。進(jìn)一步地說(shuō)，第一計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG1及第二計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG2的頻率分別對(duì)應(yīng)于所輸入的信號(hào)(即電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn 212. . . 21η的其中之一與耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1211振幅的變化。換言之，第一計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG1及第二計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG2的頻率會(huì)分別依據(jù)電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn212. . . 21η的其中之一與耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1 211的振幅變化大小而改變。舉例來(lái)說(shuō)，以觸控按鍵未被觸控時(shí)且無(wú)任何無(wú)線干擾的狀況為例，觸控按鍵對(duì)應(yīng)的電容式按鍵信號(hào)(例如CAP_SIG1 212)的振幅變化(即觸控按鍵的對(duì)應(yīng)原始電容值)，其對(duì)應(yīng)產(chǎn)生的計(jì)數(shù)變化值(第一計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG1的頻率)則為第一原始計(jì)數(shù)值，可被偵測(cè)后用于作為對(duì)應(yīng)于電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIG1的計(jì)數(shù)值(即電容式按鍵參考信號(hào)計(jì)數(shù)值)或是電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_CAP1的參考參數(shù)。同理，第二計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG2可為耦合天線參考信號(hào)C0UP_REF_SIG1的計(jì)數(shù)值(即耦合天線參考信號(hào)計(jì)數(shù)值)或耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_C0UP的參考參數(shù)且耦合天線參考信號(hào)C0UP_REF_SIG1對(duì)應(yīng)于耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1 211。進(jìn)一步地說(shuō)，耦合天線參考信號(hào)C0UP_REF_SIG1對(duì)應(yīng)于無(wú)任何無(wú)線干擾及觸控按鍵未被觸摸時(shí)，耦合天線15所感應(yīng)的振幅變化。又舉例來(lái)說(shuō)，以觸控按鍵被手指按壓后為例，與觸控按鍵對(duì)應(yīng)的電容式按鍵信號(hào)(例如CAP_SIG1 212)的振幅上升(即電容式按鍵的電容值上升)，而其對(duì)應(yīng)產(chǎn)生的計(jì)數(shù)變化值(第一計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG1的頻率)也會(huì)相對(duì)地提高。第二計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG2則會(huì)對(duì)應(yīng)于耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1211，但如 前面所述，正常的情況下，第二計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG2的頻率相對(duì)于第一計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG1的頻率來(lái)得低。附帶說(shuō)明的是，振蕩單元23可包含振蕩電路單元(未繪示于圖5)。振蕩電路單元(oscillator unit)可于不同時(shí)間產(chǎn)生第一計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG1及第二計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG2。振蕩電路單元可包含運(yùn)算放大單元(operational amplifier unit)與回授網(wǎng)路單元(feedback networkunit),其中運(yùn)算放大單元與回授網(wǎng)路單元分別包含復(fù)數(shù)個(gè)電阻與電容等電子元件相互串聯(lián)和/或并聯(lián)。運(yùn)算放大單元可用以放大振蕩信號(hào)?；厥诰W(wǎng)路單元可透過(guò)選擇適當(dāng)電阻、電容值及電阻、電容等電子元件的連接方式設(shè)計(jì)振蕩信號(hào)頻率。 數(shù)位漣波計(jì)數(shù)單元25可包含數(shù)位漣波計(jì)數(shù)器(未繪示于圖5)，用以利用分頻方式降低所輸入第一計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG1及/或第二計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG2的頻率。也就是說(shuō)，數(shù)位鏈波計(jì)數(shù)器(binary ripple counter)所產(chǎn)生的第一計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào)SIG_CLK1及第二計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào)SIG_CLK2的頻率低于所輸入的第一計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG1及第二計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG2的頻率。藉此使輸出第一計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào)SIG_CLK1及第二計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào)SIG_CLK2上升時(shí)段或下降時(shí)段與信號(hào)處理單元27內(nèi)設(shè)的時(shí)脈信號(hào)TCLK_SIG的上升時(shí)段或下降時(shí)段其中之一相符合。換言之，數(shù)位漣波計(jì)數(shù)單元25可用以避免信號(hào)處理單元27發(fā)生溢出(overflow)現(xiàn)象，導(dǎo)致信號(hào)處理單元27無(wú)法準(zhǔn)確判斷出觸控按鍵是否受到無(wú)線干擾信號(hào)干擾以及是否被有效觸控。舉例來(lái)說(shuō)，數(shù)位漣波計(jì)數(shù)器25可藉由將所輸入的第一計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG1和/或第二計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG2以延遲輸出方式達(dá)到分頻的效果。數(shù)位漣波計(jì)數(shù)器也可經(jīng)由改變模數(shù)(M0D)，調(diào)整延遲模式，但本發(fā)明并不限于此。信號(hào)處理單元27，可用以接收第一計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào)SIG_CLK1與第二計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào)SIG_CLK2至少其中之一。信號(hào)處理單元27于接收對(duì)應(yīng)于電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG1_CAP_SIGn 212. . . 21η其中之一的第一計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào)SIG_CLK1及對(duì)應(yīng)于耦合天線信號(hào)COUP_SIGl 211的第二計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào)SIG_CLK2后進(jìn)行比較分析，以判斷與電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn212. . . 21η對(duì)應(yīng)的觸控按鍵是否受到無(wú)線干擾信號(hào)干擾以及是否被有效觸控。更詳細(xì)地說(shuō)，信號(hào)處理單元27可藉由于一段預(yù)設(shè)時(shí)間累計(jì)第一計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào)SIG_CLK1及第二計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào)SIG_CLK2所輸入的脈波(pulse)數(shù)量，獲得對(duì)應(yīng)的第一計(jì)數(shù)變化值及第二計(jì)數(shù)變化值。具體地說(shuō)，第一計(jì)數(shù)變化值對(duì)應(yīng)于電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn212. . . 21η的其中之一，而第二計(jì)數(shù)變化值對(duì)應(yīng)于耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1211。而后，信號(hào)處理單元27可通過(guò)演算，分別比較第一計(jì)數(shù)變化值與對(duì)應(yīng)的電容式按鍵參考信號(hào)計(jì)數(shù)值(即于未被無(wú)線信號(hào)干擾及未被觸摸控時(shí)，所偵測(cè)到電容式按鍵的電容式按鍵參考信號(hào)CAP_REF_SIGn的計(jì)數(shù)變化值)及第二計(jì)數(shù)變化值與對(duì)應(yīng)的耦合天線參考信號(hào)計(jì)數(shù)值(即于未被無(wú)線信號(hào)干擾及未被觸摸控時(shí)所偵測(cè)到耦合天線的耦合天線參考信號(hào)C0UP_REF_SIG1的計(jì)數(shù)變化值)，藉此以獲得對(duì)應(yīng)的電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CRn與耦合天線信號(hào)變動(dòng)率C0UP_CR。舉例來(lái)說(shuō)，可先將第二計(jì)數(shù)變化值與對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)耦合天線參考信號(hào)計(jì)數(shù)值進(jìn)行運(yùn)算，以獲得耦合天線信號(hào)變動(dòng)率C0UP_CR(即第二計(jì)數(shù)變化值與預(yù)設(shè)耦合天線參考信號(hào)計(jì)數(shù)值之間的變動(dòng)比值)并分析耦合天線信號(hào)變動(dòng)率C0UP_CR是否大于預(yù)設(shè)耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_C0UP，以判斷接收的電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn 212. . . 21η其中之一是否為無(wú)線干擾信號(hào)。而后，當(dāng)判定非無(wú)線干擾時(shí)(即耦合天線信號(hào)變動(dòng)率C0UP_CR小于耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_C0UP)，則將第一計(jì)數(shù)變化值與對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)電容式按鍵參考信號(hào)計(jì)數(shù)值進(jìn)行運(yùn)算，獲得對(duì)應(yīng)的電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CRn (即第一計(jì)數(shù)變化值與預(yù)設(shè)容式按鍵參考信號(hào)計(jì)數(shù)值之間的變動(dòng)比值)并分析電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CRn是否大于預(yù)設(shè)電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_CAP，以判斷接收的電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn 212. . . 21η其中之一是否為正常觸控信號(hào)。信號(hào)處理單元27可通過(guò)可編式微控制器實(shí)現(xiàn)。此外，若振蕩單元23、數(shù)位漣波計(jì)數(shù)單元25、信號(hào)處理單元27同時(shí)整合于集成電路(IntegratedCircuit, IC)上，則信號(hào)處理單元27還可利用偵測(cè)結(jié)果調(diào)整振蕩單元23的回授網(wǎng)路單元的設(shè)計(jì)。進(jìn)一步地說(shuō)，信號(hào)處理單元27可依據(jù)所偵測(cè)到的無(wú)線干擾信號(hào)所在頻率，同步調(diào)整電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn212. . . 21η的振蕩頻率，以使電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG1_CAP_SIGn212. . . 21η振蕩頻率不受到外界的電磁波干擾。從而降低觸控按鍵錯(cuò)誤響應(yīng)的機(jī)率，使得觸控按鍵可以正常運(yùn)作。要說(shuō)明的是，多工單元21、振蕩單元23、數(shù)位漣波計(jì)數(shù)單元25與信號(hào)處理單元27的種類、實(shí)體架構(gòu)和/或?qū)嵤┓绞讲⒎怯靡韵薅ū景l(fā)明。圖6為偵測(cè)模組的第二實(shí)施例的功能方塊圖，圖6的偵測(cè)模組7與圖5的偵測(cè)模組2主要差異在于電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn711、712. . . 71η的其中之一與耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1 731a可同時(shí)輸入至信號(hào)處理單元79。也就是說(shuō)，偵測(cè)模組7可同步比較及分析耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1 731a與電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn 711、712. . . 71η的其中之一的計(jì)數(shù)變化值。
進(jìn)一步的說(shuō)，如圖6所示耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1 731a并不經(jīng)由多工單元71切換輸入。換言之，多工單元71在本實(shí)施例中僅用以切換輸出電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn 711,712. . . 71η的其中之一。此外，偵測(cè)模組7包含兩組振蕩單元73a、73b及兩組數(shù)位漣波單元75a、75b。電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn 711、712…· 71η可經(jīng)多工單元71切換輸入電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn 711,712. . . 71η的其中之一至振蕩單元73b來(lái)生成第一計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG1。耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1 731a可直接輸入至振蕩單元73a并產(chǎn)出第二計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG2。第一計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG1與第二計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG2分別輸入至數(shù)位漣波單元75b、75a，以同時(shí)分別產(chǎn)出第一計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào)SIG_CLK1及第二計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào)SIG_CLK2。舉例來(lái)說(shuō)，假設(shè)偵測(cè)模組7要偵測(cè)比較電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG1711。多工單元71則被設(shè)定切換輸出電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 1711至振蕩單元73b，以生成對(duì)應(yīng)的第一計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG1。耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1 731a會(huì)直接輸入振蕩單元73a，以生成對(duì)應(yīng)的第二計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG2。第一計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG1隨后入至數(shù)位漣波單元75b以生成第一計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào)SIG_CLK1。第二計(jì)數(shù)信號(hào)0SC_SIG2會(huì)同步輸入至75a以生成第二計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào) SIG_CLK2。另外，偵測(cè)模組7另包含緩沖單元77，連接在數(shù)位漣波單元75a與于信號(hào)處理單元79之間。緩沖單元77可用以延遲輸入第二計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào)SIG_CLK2信號(hào)至處理單元79。藉此消除第一計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào)SIG_CLK1與第二計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào)SIG_CLK2的延時(shí)差(timedelay)。使第一計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào)SIG_CLK1與第二計(jì)數(shù)時(shí)脈信號(hào)SIG_CLK2同時(shí)輸入信號(hào)處理單元79，以作同步處理分析。緩沖單元77可以是緩沖器(buffer)，其可以硬件電路(例如單位增益運(yùn)算放大器)或軟件(例如透過(guò)程式設(shè)計(jì)延緩處理)等方式實(shí)施，但本發(fā)明并不限于此。值得一提的是，上述實(shí)施例中的偵測(cè)模組2與偵測(cè)模組7為利用混合型電路(mix-signal circuit )架構(gòu)，即類比與數(shù)位電路結(jié)合,其功能為擷取電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn 711,712. · · 71η至少其中之一以及其對(duì)應(yīng)的耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1731a的計(jì)數(shù)變化值，以判斷所接收的電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn 711... 711η其中之一是否為無(wú)線干擾信號(hào)。然而，偵測(cè)模組2與偵測(cè)模組7也可利用類比電路架構(gòu)例如鑒頻器電路設(shè)計(jì)，來(lái)擷取電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn 711,712. . . 71η至少其中之一以及其對(duì)應(yīng)的耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1 731a的頻率變化。要說(shuō)明的是，本發(fā)明并不限定偵測(cè)模組2與偵測(cè)模組7的電路架構(gòu)、種類或具體實(shí)施方式
，只要能擷取并分析電容式按鍵信號(hào)CAP_SIGl-CAP_SIGn 711,712. . . 71η至少其中之一以及其對(duì)應(yīng)的耦合天線信號(hào)C0UP_SIG1 731a的頻率變化電路即可。據(jù)此，在經(jīng)由上述實(shí)施例說(shuō)明后，本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)可推知偵測(cè)模組的實(shí)施方式，在此不加贅述。圖7為本發(fā)明實(shí)施例所采用的觸控按鍵偵測(cè)方法的流程圖。首先，在步驟SlO中，利用偵測(cè)模組2在無(wú)任何觸控及無(wú)線干擾情況下，預(yù)先偵測(cè)耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151和電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131來(lái)設(shè)定耦合天線參考信號(hào)計(jì)數(shù)值(例如為于未被無(wú)線信號(hào)干擾及未被觸摸控時(shí)所偵測(cè)到耦合天線15的環(huán)境信號(hào)的計(jì)數(shù)變化值)及電容式按鍵參考信號(hào)計(jì)數(shù)值(例如在未被無(wú)線信號(hào)干擾及未被觸摸控時(shí)，所偵測(cè)到電容式按鍵11的環(huán)境信號(hào)的計(jì)數(shù)變化值)于偵測(cè)模組2。同時(shí)預(yù)先設(shè)定耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_COUP以及電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)閥值TH_CAP于偵測(cè)模組2，以作為基準(zhǔn)判斷指標(biāo)。其次，在步驟S20中，由偵測(cè)模組2接收耦合天線信號(hào)COUP_SIG 151與電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131。接著，在步驟S30中，由偵測(cè)模組2擷取對(duì)應(yīng)電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131的第一計(jì)數(shù)變化值以及對(duì)應(yīng)耦合天線信號(hào)COUP_SIG 151的第二計(jì)數(shù)變化值。而后，在步驟S40中，經(jīng)由對(duì)第二計(jì)數(shù)變化值及耦合天線參考信號(hào)計(jì)數(shù)值進(jìn)行運(yùn)算，獲得第二計(jì)數(shù)變化值與耦合天線參考信號(hào)計(jì)數(shù)值之間的變動(dòng)比值，即耦合天線信號(hào)變動(dòng)率COUP_CR。隨后，在步驟S50中，利用偵測(cè)模組2判斷耦合天線信號(hào)變動(dòng)率COUP_CR是否大于耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_COUP。耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_COUP可依據(jù)設(shè)計(jì)需求而設(shè)置，例如為0%或?yàn)槿我话俜直葏⒖贾?。若耦合天線信號(hào)變動(dòng)率COUP_CR大于耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_COUP，則可判斷電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131為無(wú)線干擾信號(hào)耦合所產(chǎn)生的信號(hào)，亦即觸控按鍵因?yàn)闊o(wú)線干擾信號(hào)耦合的原因，而無(wú)須動(dòng)作(步驟S60)。反之，耦合天線信號(hào)變動(dòng)率COUP_CR未大于耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_COUP，則在步驟S70中，利用偵測(cè)模組2對(duì)第一計(jì)數(shù)變化值及電容式按鍵參考信號(hào)計(jì)數(shù)值進(jìn)行運(yùn)算，獲得第一計(jì)數(shù)變化值與電容式按鍵參考信號(hào)計(jì)數(shù)值之間的變動(dòng)比值，即電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CR。隨后，在驟S80中利用偵測(cè)模組2判斷電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CR是否大于電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)閥值TH_CAP。電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)閥值TH_CAP也可依據(jù)設(shè)計(jì)需求而設(shè)置，例如為O %或?yàn)槿我话俜直葏⒖贾?。若電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CR未大于電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)閥值TH_CAP，則可判斷觸控按鍵并未被觸控，而無(wú)須動(dòng)作，并重新執(zhí)行步驟S20。反之，若電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CR大于電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)閥值TH_CAP，則在步驟S90中，判定電容式按鍵信號(hào)為觸控按鍵正常觸控所產(chǎn)生的信號(hào)。而后，在步驟SlOO中，依照被按壓的觸控按鍵執(zhí)行預(yù)設(shè)動(dòng)作。當(dāng)完成執(zhí)行預(yù)設(shè)動(dòng)作后重新執(zhí)行步驟S20，直到偵測(cè)模組2的工作電源被關(guān)閉。舉例來(lái)說(shuō)，假設(shè)手指3按壓電子裝置的觸控按鍵，電子裝置的偵測(cè)模組2接收分別由電容式按鍵傳輸線13與耦合天線15所傳輸?shù)碾娙菔桨存I信號(hào)CAP_SIG 131及耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151。偵測(cè)模組2擷取對(duì)應(yīng)于電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131的第一計(jì)數(shù)變化值以及耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151的第二計(jì)數(shù)變化值。第二計(jì)數(shù)變化值應(yīng)會(huì)比預(yù)先設(shè)定的耦合天線參考信號(hào)計(jì)數(shù)值小，即第二計(jì)數(shù)變化值與耦合天線參考信號(hào)計(jì)數(shù)值之間的變動(dòng)比值(耦合天線信號(hào)變動(dòng)率C0UP_CR)會(huì)小于耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_C0UP。同時(shí)，第一計(jì)數(shù)變化值會(huì)比預(yù)先設(shè)定的電容式按鍵參考信號(hào)計(jì)數(shù)值大。換言之，即第一計(jì)數(shù)變化值與電容式按鍵參考信號(hào)計(jì)數(shù)值之間的變動(dòng)比值(電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CR)會(huì)大于電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_CAP。藉此偵測(cè)模組2判定為正常有效觸控，隨即執(zhí)行對(duì)應(yīng)這個(gè)觸控按鍵的功能(例如鍵入此觸控按鍵代表的字母或數(shù)字)。而后，重新偵測(cè)擷取電容式按鍵傳輸線13與耦合天線15所傳輸?shù)碾娙菔桨存I信號(hào)CAP_SIG 131及耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151，并進(jìn)行演算，判斷觸控按鍵是否受到無(wú)線干擾信號(hào)干擾以及是否被有效觸控，直至電子裝置停止供應(yīng)處理資源給偵測(cè)模組2 (例如關(guān)機(jī)或待機(jī)狀態(tài)等)。另外，假設(shè)電子裝置受到無(wú)線干擾信號(hào)干擾，則電子裝置的觸控按鍵偵測(cè)模組2所擷取的對(duì)應(yīng)耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151的第二計(jì)數(shù)變化值與電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG131的第一計(jì)數(shù)變化值會(huì)近似(同步)。此外，對(duì)應(yīng)耦合天線信號(hào)C0UP_SIG 151的第二計(jì)數(shù)變化值的振幅變化也較大，第二計(jì)數(shù)變化值與耦合天線參考信號(hào)計(jì)數(shù)值之間的變動(dòng)比值(耦合天線信號(hào)變動(dòng)率COUP_CR)會(huì)大于耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_COUP。這時(shí)，就算電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率大于電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_CAP，即第一計(jì)數(shù)變化值與電容式按鍵參考信號(hào)計(jì)數(shù)值之間的變動(dòng)比值(電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CR)大于電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_CAP。偵測(cè)模組2也會(huì)藉此判定電容式按鍵信號(hào)CAP_SIG 131為因無(wú)線干擾信號(hào)耦合而產(chǎn)生的信號(hào)。而后，重新偵測(cè)擷取電容式按鍵傳輸線13與耦合天線15所傳輸?shù)碾娙菔桨存I信號(hào)CAP_SIG 131及耦合天線信號(hào)COUP_SIG 151，并判斷觸控按鍵是否受到無(wú)線干擾信號(hào)干擾以及是否被有效觸控直至電子裝置停止供應(yīng)處理資源給偵測(cè)模組2。需要說(shuō)明的是，耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_C0UP以及電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)閥值TH_CAP分別可依據(jù)設(shè)計(jì)需求或?qū)嶋H電路布局架構(gòu)而設(shè)置。此外，耦合天線信號(hào)變動(dòng)率C0UP_CR與電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CR的獲取方式也可因時(shí)偵測(cè)分析需要而調(diào)整，因此本發(fā)明并不限定耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值TH_C0UP與電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)閥值TH_CAP實(shí)際設(shè)置方法以及耦合天線信號(hào)變動(dòng)率C0UP_CR與電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率CAP_CR的實(shí)際演算方式。雖然圖7的觸控按鍵偵測(cè)方法是配合圖1的電路布局I而設(shè)計(jì)。在參照?qǐng)D2的電路布局4的介紹后，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以修改圖7觸控按鍵偵測(cè)方法以配合圖2的電路布局4。同樣地，本領(lǐng)域技術(shù)人員也可以修改圖7觸控按鍵偵測(cè)方法以配合圖3的電路布局5及圖4的電路布局6。值得注意的是，上述元件之間的耦接關(guān)系包括直接或間接的電性連接，只要可以達(dá)到所需的信號(hào)傳遞功能即可，本發(fā)明并不因此受限。上述實(shí)施例中的技術(shù)手段可以合并或單獨(dú)使用，其元件可依照其功能與設(shè)計(jì)需求增加、去除、調(diào)整或替換，本發(fā)明并不因此受限。在經(jīng)由上述實(shí)施例的說(shuō)明后，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)可推知其他實(shí)施方式，在此不加累述。總而言之，以上所述僅為本發(fā)明實(shí)施例，其并非用以局限本發(fā)明的專利范圍。
權(quán)利要求
1.一種觸控按鍵的電路布局，其特征在于，包括電容式按鍵，對(duì)應(yīng)于所述觸控按鍵；電容式按鍵傳輸線，用于電性連接所述電容式按鍵與偵測(cè)模組；耦合天線，電性連接所述偵測(cè)模組，且絕緣于所述電容式按鍵和所述電容式按鍵傳輸線.其中，所述偵測(cè)模組供偵測(cè)接收所述耦合天線的耦合天線信號(hào)和所述電容式按鍵的電容式按鍵信號(hào)，并對(duì)信號(hào)進(jìn)行運(yùn)算。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路布局，其特征在于，所述耦合天線為耦合傳輸線，且圍繞所述電容式按鍵。
3.一種觸控按鍵的電路布局，其特征在于，所述電路布局包括多個(gè)電容式按鍵，對(duì)應(yīng)于所述觸控按鍵；多條電容式按鍵傳輸線，用于電性連接所述電容式按鍵與偵測(cè)模組；耦合天線，電性連接所述偵測(cè)模組，且絕緣于所述電容式按鍵和所述電容式按鍵傳輸線.其中，所述偵測(cè)模組供偵測(cè)接收所述耦合天線的耦合天線信號(hào)和所述電容式按鍵的多個(gè)電容式按鍵信號(hào)，并對(duì)信號(hào)進(jìn)行運(yùn)算。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電路布局，其特征在于，所述耦合天線為耦合傳輸線，且圍繞所述電容式按鍵。
5.一種對(duì)權(quán)利要求1或3所述觸控按鍵的電路布局的偵測(cè)方法，其特征在于，該方法包括使用所述偵測(cè)模組偵測(cè)接收所述耦合天線的耦合天線信號(hào)與所述電容式按鍵的電容式按鍵信號(hào)；比較所述耦合天線信號(hào)與耦合天線參考信號(hào)，以及所述電容式按鍵信號(hào)與電容式按鍵參考信號(hào)，而分別獲得耦合天線信號(hào)變動(dòng)率及電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率；依據(jù)所述耦合天線信號(hào)變動(dòng)率與所述電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率，判斷所述觸控按鍵是否被有效觸控。
6.如權(quán)利要求5所述偵測(cè)方法，其特征在于，所述偵測(cè)方法包括分別擷取對(duì)應(yīng)于電容式按鍵信號(hào)的第一計(jì)數(shù)變化值與對(duì)應(yīng)于耦合天線信號(hào)的第二計(jì)數(shù)變化值；分別對(duì)所述第二計(jì)數(shù)變化值與耦合天線參考信號(hào)計(jì)數(shù)變化值及所述第一計(jì)數(shù)變化值和電容式按鍵參考信號(hào)的計(jì)數(shù)變化值進(jìn)行演算，以獲得所述耦合天線信號(hào)變動(dòng)率與所述電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率；若所述耦合天線信號(hào)變動(dòng)率小于預(yù)設(shè)耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值，且所述電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率大于預(yù)設(shè)電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率閥值則判定為正常觸控；并且當(dāng)判定為正常觸控時(shí)，執(zhí)行所述觸控按鍵的預(yù)設(shè)程序。
7.如權(quán)利要求6所述偵測(cè)方法，其特征在于，所述偵測(cè)方法包括重復(fù)進(jìn)行接收與比較所述耦合天線信號(hào)及所述電容式按鍵信號(hào)的步驟。
8.如權(quán)利要求5所述偵測(cè)方法，其特征在于，所述耦合天線參考信號(hào)是所述耦合天線未受無(wú)線干擾信號(hào)干擾及未被觸控時(shí)，由所述偵測(cè)模組所偵測(cè)到的信號(hào)；所述耦合天線信號(hào)變動(dòng)率閥值系是所述耦合天線受到無(wú)線干擾信號(hào)干擾時(shí)，所述耦合天線信號(hào)變動(dòng)率的臨界值；所述電容·式按鍵參考信號(hào)是所述電容式按鍵未受無(wú)線干擾信號(hào)干擾及未被觸控時(shí)，所述偵測(cè)模組所偵測(cè)到的信號(hào)；所述電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率閥值是所述電容式按鍵未被有效觸控時(shí)，所述電容式按鍵信號(hào)變動(dòng)率的臨界值。
全文摘要
本發(fā)明提供一種觸控按鍵的電路布局，用以強(qiáng)化偵測(cè)與辨別無(wú)線干擾信號(hào)的能力，進(jìn)而避免觸控按鍵因?yàn)槭艿綗o(wú)線干擾信號(hào)而造成錯(cuò)誤響應(yīng)。電路布局包括對(duì)應(yīng)于觸控按鍵的電容式按鍵、電容式按鍵傳輸線與耦合天線，其中電容式按鍵傳輸線電性連接電容式按鍵與偵測(cè)模組。此外，耦合天線電性連接偵測(cè)模組且絕緣于電容式按鍵和電容式按鍵傳輸線。偵測(cè)模組用以偵測(cè)接收耦合天線的耦合天線信號(hào)與電容式按鍵的電容式按鍵信號(hào)。偵測(cè)模組根據(jù)輸入的耦合天線信號(hào)與電容式按鍵信號(hào)，經(jīng)運(yùn)算后判斷觸控按鍵是否有受到無(wú)線干擾信號(hào)干擾及是否被有效觸控。
文檔編號(hào)H03K17/975GK103051320SQ20111031148
公開(kāi)日2013年4月17日 申請(qǐng)日期2011年10月14日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月14日
發(fā)明者劉凱 申請(qǐng)人:十速興業(yè)科技(深圳)有限公司, 十速科技股份有限公司