專(zhuān)利名稱(chēng)：電池保護(hù)裝置及電池保護(hù)電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電池保護(hù)裝置及電池保護(hù)電路，尤其涉及具有檢測(cè)出負(fù)電壓端子的電壓低于了規(guī)定電壓的負(fù)電壓端子電壓檢測(cè)電路、檢測(cè)電池的充放電狀態(tài)異常的異常檢測(cè)電路、和在通過(guò)負(fù)電壓端子檢測(cè)電路檢測(cè)到負(fù)電壓端子的電壓低于了規(guī)定電壓時(shí)以及通過(guò)異常檢測(cè)電路檢測(cè)到電池的充放電狀態(tài)異常時(shí)斷開(kāi)電池與負(fù)電壓端子的連接的開(kāi)關(guān)的電池保護(hù)裝置及電池保護(hù)電路。
背景技術(shù)：
鋰離子電池等二次電池由于過(guò)充電、過(guò)放電、過(guò)電流等異常狀態(tài)而急劇劣化。因此，通常通過(guò)電池保護(hù)IC來(lái)保護(hù)免受過(guò)充電、過(guò)放電、過(guò)電流等。這時(shí)，對(duì)過(guò)充電、過(guò)放電、過(guò)電流檢測(cè)進(jìn)行延遲，不進(jìn)行無(wú)用的異常檢測(cè)。
但是，在保護(hù)動(dòng)作檢查時(shí)，由于該延遲時(shí)間檢查時(shí)間也變長(zhǎng)。因此，在電池保護(hù)IC中，在檢測(cè)時(shí)附加有縮短延遲的功能。在現(xiàn)有的電池保護(hù)IC中，設(shè)有專(zhuān)用填充物(pad)，通過(guò)在檢查時(shí)提供指示給填充物來(lái)啟動(dòng)縮短時(shí)間的功能，以達(dá)到縮短檢測(cè)時(shí)間的目的。但是，如果設(shè)置專(zhuān)用填充物，則芯片面積變大，成本增加。
因此，提出一種電池保護(hù)IC，其在將負(fù)電壓端子的電位作為了在通常動(dòng)作時(shí)不發(fā)生的負(fù)電位時(shí)，使縮短時(shí)間的功能啟動(dòng)，這樣不用設(shè)置專(zhuān)用填充物就可縮短檢查時(shí)間(例如，參照專(zhuān)利文獻(xiàn)1)專(zhuān)利文獻(xiàn)1特開(kāi)2005-12852號(hào)公報(bào)。
但是，在現(xiàn)有的電池保護(hù)IC中，在檢查時(shí)將負(fù)電壓端子的電位作為了在通常動(dòng)作時(shí)不發(fā)生的負(fù)電位時(shí)，使縮短時(shí)間的功能啟動(dòng)，因此在負(fù)電壓端子的電位成為了負(fù)電位時(shí)，不能附加如下檢測(cè)異常的功能，例如，檢測(cè)像在正電壓端子與負(fù)電壓端子之間連接了過(guò)大充電器那樣的異常的功能。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于本發(fā)明的上述問(wèn)題，其目的是提供一種不用增加外部端子就可以增加功能的電池保護(hù)電路。
本發(fā)明提供一種電池保護(hù)電路，具有負(fù)電壓端子電壓檢測(cè)電路(115)，其檢測(cè)負(fù)電壓端子(T5)的電壓低于規(guī)定電壓；以及異常檢測(cè)電路(111、112、113、114)，其檢測(cè)電池(101)的充放電狀態(tài)異常，在通過(guò)負(fù)電壓端子檢測(cè)電路(115)檢測(cè)到負(fù)電壓端子(T5)的電壓低于了規(guī)定電壓時(shí)，以及通過(guò)異常檢測(cè)電路(111、112、113、114)檢測(cè)到電池(101)的充放電狀態(tài)異常時(shí)，斷開(kāi)連接在電池(101)與負(fù)電壓端子(T5)間的開(kāi)關(guān)(M2)，其特征在于具有延遲時(shí)間縮短電路(122)，其在負(fù)電壓端子(T5)的電壓低于規(guī)定電壓時(shí)，使從異常檢測(cè)電路檢測(cè)到電池的充放電狀態(tài)異常至斷開(kāi)開(kāi)關(guān)(M2)的時(shí)間縮短；以及輸出無(wú)效化電路(123)，其能夠使負(fù)電壓端子檢測(cè)電路(115)的輸出無(wú)效。
另外，本發(fā)明的特征在于輸出無(wú)效化電路(123)檢查時(shí)使負(fù)電壓端子檢測(cè)電路(115)的輸出無(wú)效，檢查后使負(fù)電壓端子檢測(cè)電路(115)的輸出有效。
此外本發(fā)明的特征在于輸出無(wú)效化電路(123)具有連接在負(fù)電壓端子檢測(cè)電路(115)的輸出與接地之間、并可溶斷的保險(xiǎn)絲，通過(guò)溶斷保險(xiǎn)絲使負(fù)電壓端子檢測(cè)電路(115)的輸出有效。
本發(fā)明的特征還在于輸出無(wú)效化電路(123)、負(fù)電壓端子檢測(cè)電路(115)、及異常檢測(cè)電路(111、112、113、114)安裝在一個(gè)芯片的IC上。
另外，雖然帶有上述附圖標(biāo)記，但僅是參考，其并不限定要求專(zhuān)利保護(hù)的范圍。
根據(jù)本發(fā)明，電池保護(hù)電路具有負(fù)電壓端子檢測(cè)電路，其檢測(cè)負(fù)電壓端子的電壓低于規(guī)定電壓；異常檢測(cè)電路，其檢測(cè)電池的充放電狀態(tài)異常；以及開(kāi)關(guān)，其在通過(guò)負(fù)電壓端子檢測(cè)電路檢測(cè)到負(fù)電壓端子的電壓低于規(guī)定電壓時(shí)、以及通過(guò)異常檢測(cè)電路檢測(cè)到電池的充放電狀態(tài)異常時(shí)，斷開(kāi)電池與負(fù)電壓端子間的連接，通過(guò)在該電池保護(hù)電路中設(shè)置有在負(fù)電壓端子的電壓低于規(guī)定電壓時(shí)使從通過(guò)異常檢測(cè)電路檢測(cè)到電池的充放電狀態(tài)異常至斷開(kāi)開(kāi)關(guān)的時(shí)間縮短的延遲時(shí)間縮短電路；以及構(gòu)成為可使負(fù)電壓端子檢測(cè)電路的輸出無(wú)效的輸出無(wú)效化電路，由此，可以在由輸出無(wú)效化電路使負(fù)電壓端子檢測(cè)電路的輸出無(wú)效的狀態(tài)下使負(fù)電壓端子的電壓低于規(guī)定電壓，使延遲時(shí)間縮短電路動(dòng)作。因此，可以縮短從通過(guò)異常檢測(cè)電路檢測(cè)異常至斷開(kāi)開(kāi)關(guān)的時(shí)間，從而可以縮短異常檢測(cè)電路的檢查時(shí)間。
另外，通過(guò)控制負(fù)電壓端子的電壓，可以縮短從異常檢測(cè)電路檢測(cè)到異常至斷開(kāi)開(kāi)關(guān)的時(shí)間，因此不需要用于進(jìn)行縮短的端子。因此，可以在IC化的情況下使芯片面積變小。
還可以附加如下的功能在異常檢測(cè)電路檢測(cè)后，利用輸出無(wú)效化電路使負(fù)電壓端子檢測(cè)電路的輸出有效，根據(jù)負(fù)電壓端子的電壓異常斷開(kāi)開(kāi)關(guān)。


圖1是本發(fā)明一實(shí)施例的方框構(gòu)成圖。
圖2是本發(fā)明一實(shí)施例的重要部件的電路構(gòu)成圖。
圖3是檢查裝置200的方框構(gòu)成圖。
圖4是檢查動(dòng)作的處理流程圖。
100 電池保護(hù)IC 101電池 102負(fù)載M1、M2 晶體管 Rs電阻C1、C2電容111 過(guò)充電檢測(cè)電路 112過(guò)放電檢測(cè)電路、113過(guò)電流檢測(cè)電路、114 短路檢測(cè)電路、115過(guò)大充電器檢測(cè)電路、116振蕩電路、117、118 邏輯電路、119延遲電路、120計(jì)數(shù)器、121 電平移動(dòng)電路、122延遲縮短起動(dòng)電路、123輸出無(wú)效化電路131 比較器141、142 電流源200 檢查裝置211 探針212輸入輸出裝置213處理裝置214存儲(chǔ)裝置215 操作部216顯示部具體實(shí)施方式
[整體結(jié)構(gòu)]圖1是本發(fā)明一實(shí)施例的方框構(gòu)成圖。
在本實(shí)施例的電池保護(hù)IC100中，檢測(cè)電池101及負(fù)載102的電壓、電流等，并通過(guò)開(kāi)關(guān)(switching)連接到電池101及負(fù)載102間的晶體管M1、M2來(lái)保護(hù)電池101免受過(guò)充電、過(guò)放電、過(guò)電流等。
電池101是鋰離子電池等二次電池，正電極與正電壓端子“T+”及保護(hù)IC100的端子T1連接，負(fù)電極通過(guò)晶體管M1、M2的漏極-源極與負(fù)電壓端子“T-”及電池保護(hù)IC100的端子T2連接。電池101與電容C1并聯(lián)。電容C1吸收電池101的電池電壓的變動(dòng)。
另外，負(fù)載102例如是用于給電池101施加充電電壓的AC適配器，正電極連接于正電壓端子“T+”，負(fù)電極連接于負(fù)電壓端子“T-”。負(fù)載102與電容C2并聯(lián)。電容C2吸收施加在負(fù)載102上的電壓的變動(dòng)。
晶體管M1、M2由n通道MOS晶體管構(gòu)成，源極-漏極串聯(lián)連接在電池101的負(fù)電極和負(fù)電壓端子T-之間。此外，晶體管M1的柵極連接到電池保護(hù)IC100的端子T3。晶體管M2的柵極連接到電池保護(hù)IC100的端子T4。電阻Rs連接在負(fù)電壓端子T-和電池保護(hù)IC100的端子T5之間。
電池保護(hù)IC100由過(guò)充電檢測(cè)電路111、過(guò)放電檢測(cè)電路112、過(guò)電流檢測(cè)電路113、短路檢測(cè)電路114、過(guò)大充電器檢測(cè)電路115、振蕩電路116、邏輯電路117、118、延遲電路119、計(jì)數(shù)器120、電平移動(dòng)電路121、延遲縮短起動(dòng)電路122、輸出無(wú)效化電路123構(gòu)成。
過(guò)充電檢測(cè)電路111連接于端子T1，對(duì)電池101的正電極電壓進(jìn)行監(jiān)視，一旦電池101的正電極的電壓比預(yù)設(shè)的過(guò)充電電壓電平大時(shí)，則判斷為電池101處于過(guò)充電狀態(tài)，使輸出電平為高電平。將過(guò)充電檢測(cè)電路111的輸出供給到振蕩電路116和邏輯電路117。
過(guò)放電檢測(cè)電路112連接于端子T1，對(duì)電池101的正電極的電壓進(jìn)行監(jiān)視，一旦電池101的正電極的電壓比預(yù)設(shè)的過(guò)充電電壓電平小時(shí)，則判斷為電池101處于過(guò)放電狀態(tài)，使輸出電平為高電平。將過(guò)放電檢測(cè)電路112的輸出供給到振蕩電路116和邏輯電路118。
過(guò)電流檢測(cè)電路113連接于端子T5，監(jiān)視端子T5的電壓，如果端子T5的電壓比預(yù)設(shè)的過(guò)電流電壓電平大時(shí)，則判斷為電池101處于過(guò)電流狀態(tài)，使輸出電平為高電平。將過(guò)電流檢測(cè)電路113的輸出供給到振蕩電路116和邏輯電路118。
短路檢測(cè)電路114連接于端子T5，監(jiān)視端子T5的電壓，如果端子T5的電壓比預(yù)設(shè)的短路電壓電平大時(shí)，則判斷端子“T+”與端子“T-”處于短路狀態(tài)，使輸出電平為高電平。將短路檢測(cè)電路114的輸出經(jīng)延遲電路119供給到邏輯電路118。延遲電路119延遲短路檢測(cè)電路114的輸出并供給到邏輯電路118。
過(guò)大充電器檢測(cè)電路115監(jiān)視端子T5的電壓，一旦端子T5的電壓比預(yù)設(shè)的過(guò)大充電檢測(cè)電壓電平小時(shí)，則判斷為在端子“T+”與端子“T-”之間作為負(fù)載102連接過(guò)大充電器，使輸出電平為高電平。過(guò)大充電器檢測(cè)電路115的輸出供給邏輯電路117。
振蕩電路116在過(guò)充電檢測(cè)電路111、過(guò)放電檢測(cè)電路112、過(guò)電流檢測(cè)電路113的輸出變?yōu)楦唠娖綍r(shí)輸出脈沖。這時(shí)，振蕩電路116由VCO等構(gòu)成，在延遲縮短起動(dòng)電路122的輸出是低電平時(shí)產(chǎn)生預(yù)先設(shè)定的規(guī)定頻率脈沖，當(dāng)延遲縮短起動(dòng)電路122的輸出變?yōu)楦唠娖綍r(shí)振蕩頻率變高。在振蕩電路116中產(chǎn)生的脈沖提供給計(jì)數(shù)器120。
計(jì)數(shù)器120對(duì)由振蕩電路116所提供的脈沖進(jìn)行計(jì)數(shù)，在計(jì)數(shù)值達(dá)到預(yù)定的規(guī)定計(jì)數(shù)值時(shí)使輸出電平為高電平。延遲電路119的輸出為延遲了過(guò)充電檢測(cè)電路111、過(guò)放電檢測(cè)電路112、過(guò)電流檢測(cè)電路113的輸出的輸出。這時(shí)，在延遲縮短起動(dòng)電路122的輸出是高電平時(shí)，因?yàn)橛烧袷庪娐?16提供給計(jì)數(shù)器120的脈沖頻率變得比在延遲縮短起動(dòng)電路122的輸出是低電平時(shí)的頻率高所以可以縮短延遲時(shí)間。將計(jì)數(shù)器120的輸出提供給邏輯電路117、118。
邏輯電路117，在過(guò)充電檢測(cè)電路111的輸出為高電平，并且計(jì)數(shù)器120的輸出為高電平時(shí)，或者過(guò)大充電器檢測(cè)電路115的輸出為高電平時(shí)，使輸出為低電平。把邏輯電路117的輸出提供給電平移動(dòng)電路121。電平移動(dòng)電路121對(duì)邏輯電路117的輸出進(jìn)行電平移動(dòng)，通過(guò)晶體管M11的柵極以及端子T4提供給晶體管M2的柵極。
邏輯電路117的輸出在過(guò)充電檢測(cè)時(shí)及過(guò)大充電器檢測(cè)時(shí)為低電平。當(dāng)邏輯電路117的輸出變?yōu)榈碗娖綍r(shí)，斷開(kāi)晶體管M2、M11，將電池101從負(fù)載102切斷，從而保護(hù)電池101。
邏輯電路118，在過(guò)放電檢測(cè)電路112的輸出或過(guò)電流檢測(cè)電路113的輸出是高電平，并且計(jì)數(shù)器114的輸出是高電平時(shí)，或者延遲電路121的輸出是高電平時(shí)，使輸出為低電平。把邏輯電路118的輸出通過(guò)晶體管M12的柵極以及端子T3提供給晶體管M1的柵極。
邏輯電路118的輸出在過(guò)放電檢測(cè)時(shí)、過(guò)電流檢測(cè)時(shí)及短路檢測(cè)時(shí)變?yōu)榈碗娖健Ｍㄟ^(guò)邏輯電路118的輸出為低電平來(lái)關(guān)斷晶體管M1、M12，將電池101從負(fù)載102切斷，從而保護(hù)電池101。
輸出無(wú)效化電路123由保險(xiǎn)絲構(gòu)成，該保險(xiǎn)絲為通過(guò)激光微調(diào)等為容易溶斷的構(gòu)造，輸出無(wú)效化電路123連接在過(guò)大充電器檢測(cè)電路115的輸出與邏輯電路117的連接點(diǎn)、和接地電位之間，在非切斷狀態(tài)下，過(guò)大充電器檢測(cè)電路115的輸出與邏輯電路117的連接點(diǎn)的電位保持在接地電平，在切斷狀態(tài)下將過(guò)大充電器檢測(cè)電路115的輸出提供給邏輯電路117。
圖2表示本發(fā)明一實(shí)施例的主要部分的電路構(gòu)成圖。
過(guò)大充電器檢測(cè)電路115由電阻R21、R22及比較器131構(gòu)成。電阻R21、R22分割恒定電壓Vcc，生成用于檢測(cè)過(guò)大充電器的基準(zhǔn)電壓。把用電阻R21、R22所生成的基準(zhǔn)電壓提供給比較器131的同相輸入端。比較器131的反相輸入端與端子T5連接。
比較器131在端子T5的電壓比基準(zhǔn)電壓大時(shí)使輸出成為低電平，在正電壓端子“T+”與負(fù)電壓端子“T-”間作為負(fù)載102連接過(guò)大充電器，當(dāng)端子T5的電壓比基準(zhǔn)電壓小時(shí)，使輸出為高電平。把比較器131的輸出提供給邏輯電路117。輸出無(wú)效化電路123連接在過(guò)大充電器檢測(cè)電路115的輸出與邏輯電路117的連接點(diǎn)、和接地之間，輸出無(wú)效化電路123由保險(xiǎn)絲構(gòu)成，是通過(guò)激光微調(diào)為可容易溶斷的構(gòu)造。
延遲縮短起動(dòng)電路122由恒壓電路構(gòu)成，所述恒壓電路包括電流源141、142、齊納(zener)二極管Dz、晶體管M21，延遲縮短起動(dòng)電路122連接在恒定電壓Vcc與端子T5之間。當(dāng)端子T5的電位下降，恒定電壓Vcc與端子T5之間的電位差比規(guī)定電壓大時(shí)，延遲縮短起動(dòng)電路122起動(dòng)，并使輸出為高電平。延遲縮短起動(dòng)電路122的輸出提供給振蕩電路116。
電池保護(hù)IC 100在晶片(wafer)狀態(tài)下把端子T1～T5連接到檢查裝置，并檢查電路的動(dòng)作。
圖3示出檢查裝置200的方框構(gòu)成圖。
檢查裝置200由探針211、輸入輸出裝置212、處理裝置213、存儲(chǔ)裝置214、操作部215、顯示部216等構(gòu)成。
探針211接觸到電池保護(hù)IC 100的端子T1～T5。探針211與輸入輸出裝置212連接。輸入輸出裝置212根據(jù)來(lái)自處理裝置213的控制信號(hào)對(duì)探針211施加電壓，并且檢測(cè)探針211的電壓。處理裝置213是計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，根據(jù)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置214中的程序進(jìn)行檢查處理。處理裝置213根據(jù)來(lái)自操作部215的指示控制輸入輸出裝置212，將電池保護(hù)IC 100的端子T1、T2、T5設(shè)為希望的電位，通過(guò)由探針211檢測(cè)端子T3、T4的電位，來(lái)檢測(cè)電池保護(hù)IC 100是否正常地動(dòng)作。在處理裝置213的檢查結(jié)果與用于確定晶片上的電池保護(hù)IC 100的ID一起存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置214中，并顯示在顯示裝置216上。
圖4示出檢查動(dòng)作的處理流程圖。
處理裝置213在步驟S1-1中使探針211下降，并使探針211接觸到電池保護(hù)IC 100的端子T1～T5。
接下來(lái)，處理裝置213在步驟S1-2中使端子T5的電位下降至負(fù)電位的規(guī)定電平。由此延遲縮短起動(dòng)電路122起動(dòng)，振蕩電路116的振蕩脈沖頻率變高，過(guò)充電檢測(cè)、過(guò)放電檢測(cè)、過(guò)電流檢測(cè)的延遲時(shí)間被縮短。另外，這時(shí)由于處于連接著構(gòu)成輸出無(wú)效化電路123的保險(xiǎn)絲的狀態(tài)，所以過(guò)大充電器檢測(cè)電路115的輸出被固定在低電平，被無(wú)效化。由此，即使端子T5的電位下降到負(fù)電位，由于過(guò)大充電器檢測(cè)電路115的輸出，端子T4也不會(huì)成為高電平。
接下來(lái)，處理裝置213在步驟S1-3中改變端子T1的電位，測(cè)量端子T3、T4的電位。處理裝置213在步驟S1-4中根據(jù)測(cè)定結(jié)果判定電池保護(hù)IC100是否正常。例如，如果使端子T1的電位為比過(guò)充電電壓電平大時(shí)端子T4的電位成為高電平，并且使端子T1的電位為比過(guò)放電電壓電平小時(shí)端子T3的電位成為高電平，則可以判斷為電池保護(hù)IC 100是正常。
處理裝置213，在步驟S1-4中判斷為是正常動(dòng)作的情況下，在步驟S1-5中判定為電池保護(hù)IC 100為正常，在步驟S1-7中存儲(chǔ)于存儲(chǔ)裝置214中，并且在顯示部216上顯示判定結(jié)果。
另外，處理裝置213，在步驟S1-4中判斷為異常動(dòng)作的情況下，在步驟S1-6中判定為電池保護(hù)IC 100是正常，在步驟S1-7中存儲(chǔ)于存儲(chǔ)裝置214中，并且在顯示部216上顯示判定結(jié)果。
通過(guò)如上所述，可以檢查電池保護(hù)IC 100的動(dòng)作。這時(shí)，由于過(guò)充電、過(guò)放電、過(guò)電流檢測(cè)時(shí)的延遲時(shí)間被縮短，所以能夠高速進(jìn)行檢查。
另外，檢查后，在激光微調(diào)時(shí)溶斷構(gòu)成輸出無(wú)效化電路123的保險(xiǎn)絲。通過(guò)利用激光微調(diào)來(lái)熔斷構(gòu)成輸出無(wú)效化電路123的保險(xiǎn)絲，可以將過(guò)大充電器檢測(cè)電路115的輸出從接地切斷，所以，在檢測(cè)到過(guò)大充電器的情況下，作為過(guò)大充電器檢測(cè)電路115的輸出向邏輯電路117供給高電平輸出。由此，過(guò)大充電器檢測(cè)電路115的輸出變得有效。因此，過(guò)大充電器檢測(cè)功能變得有效。
另外，在通常動(dòng)作時(shí)，除過(guò)大充電器檢測(cè)時(shí)以外，端子T5不會(huì)成為負(fù)電位，由此，延遲縮短起動(dòng)電路122的輸出可以維持在低電平，而使過(guò)充電、過(guò)放電、過(guò)電流檢測(cè)延遲，在保持滯后(hysteresis)特性的狀態(tài)下進(jìn)行檢測(cè)。
另外，這時(shí)延遲縮短起動(dòng)電路122雖然在過(guò)大充電器檢測(cè)時(shí)工作，但是由于邏輯電路117在過(guò)大充電器檢測(cè)時(shí)不用根據(jù)計(jì)數(shù)器120的輸出就可使端子T4成為高電平，所以在功能上沒(méi)有任何影響。
利用本實(shí)施例，可以在通過(guò)輸出無(wú)效化電路123使過(guò)大充電器檢測(cè)電路115的輸出無(wú)效化的狀態(tài)下，使延遲縮短起動(dòng)電路122動(dòng)作。因此，可以在縮短了延遲時(shí)間的狀態(tài)下進(jìn)行過(guò)充電、過(guò)放電、過(guò)電流的檢查。因此，可以縮短檢查時(shí)間。
另外，可以通過(guò)控制負(fù)電壓端子的電壓，來(lái)縮短從異常檢測(cè)電路檢測(cè)到異常至開(kāi)關(guān)斷開(kāi)的時(shí)間，所以不需要用于進(jìn)行縮短的端子。因此，在IC化的情況下可以使面積縮小。
還可以附加如下的功能在異常檢測(cè)電路檢測(cè)后，利用輸出無(wú)效化電路使負(fù)電壓端子檢測(cè)電路的輸出有效，由此根據(jù)負(fù)電壓端子的電壓異常斷開(kāi)開(kāi)關(guān)。
權(quán)利要求
1.一種電池保護(hù)電路，具有檢測(cè)負(fù)電壓端子的電壓低于規(guī)定電壓的負(fù)電壓端子電壓檢測(cè)電路、以及檢測(cè)電池充放電狀態(tài)的異常的異常檢測(cè)電路，在由所述負(fù)電壓端子檢測(cè)電路檢測(cè)到負(fù)電壓端子的電壓低于了規(guī)定電壓時(shí)、以及由所述異常檢測(cè)電路檢測(cè)到電池的充放電狀態(tài)異常時(shí)，斷開(kāi)連接在所述電池與所述負(fù)電壓端子間的開(kāi)關(guān)，其特征在于，具有延遲時(shí)間縮短電路，其在所述負(fù)電壓端子的電壓低于規(guī)定電壓時(shí)，縮短從所述異常檢測(cè)電路檢測(cè)到所述電池的充放電狀態(tài)異常至斷開(kāi)所述開(kāi)關(guān)的時(shí)間；和輸出無(wú)效化電路，其能夠使所述負(fù)電壓端子檢測(cè)電路的輸出無(wú)效。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電池保護(hù)電路，其特征在于，所述輸出無(wú)效化電路，在檢查時(shí)使所述負(fù)電壓端子檢測(cè)電路的輸出無(wú)效，在檢查后使所述負(fù)電壓端子檢測(cè)電路的輸出有效。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電池保護(hù)電路，其特征在于，所述輸出無(wú)效化電路具有連接在所述負(fù)電壓端子檢測(cè)電路的輸出與接地之間、可溶斷的保險(xiǎn)絲，通過(guò)溶斷所述保險(xiǎn)絲，使所述負(fù)電壓端子檢測(cè)電路的輸出有效。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電池保護(hù)電路，其特征在于，所述負(fù)電壓端子檢測(cè)電路和所述異常檢測(cè)電路以及所述輸出無(wú)效化電路，安裝在一個(gè)芯片IC上。
全文摘要
本發(fā)明的電池保護(hù)電路具有負(fù)電壓端子電壓檢測(cè)電路(115)，其檢測(cè)負(fù)電壓端子(T5)的電壓比規(guī)定電壓低；異常檢測(cè)電路(111、112、113、114)，其檢測(cè)電池(101)的充放電狀態(tài)的異常；在通過(guò)負(fù)電壓端子檢測(cè)電路(115)檢測(cè)到負(fù)電壓端子(T5)的電壓比規(guī)定電壓低時(shí)，及通過(guò)異常檢測(cè)電路(111、112、113、114)檢測(cè)到電池(101)的充放電狀態(tài)異常時(shí)，斷開(kāi)連接在電池(101)與負(fù)電壓端子(T5)間的開(kāi)關(guān)(M2)，其特征在于，具有延遲時(shí)間縮短電路(122)，其在負(fù)電壓端子(T5)的電壓比規(guī)定電壓低時(shí)，通過(guò)異常檢測(cè)電路縮短從檢測(cè)到電池的充放電狀態(tài)異常至斷開(kāi)開(kāi)關(guān)(M2)的時(shí)間；輸出無(wú)效化電路(123)，其能夠使負(fù)電壓端子檢測(cè)電路(115)的輸出無(wú)效。
文檔編號(hào)H02H7/18GK1960104SQ200610121978
公開(kāi)日2007年5月9日 申請(qǐng)日期2006年8月30日 優(yōu)先權(quán)日2005年10月31日
發(fā)明者木村大輔, 寺田幸弘 申請(qǐng)人:三美電機(jī)株式會(huì)社