Smd微型晶振檢測儀方向檢測機(jī)構(gòu)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于晶體自動測試檢測裝置領(lǐng)域，具體涉及一種SMD微型晶振檢測儀方向檢測機(jī)構(gòu)。
【背景技術(shù)】
[0002]SMD微型晶振是電子行業(yè)中比較成熟的元器件，但由于其外形較為特殊，所以使得這種產(chǎn)品的測試檢測及自動封裝問題一直得不到很好的解決，目前的測試及封裝工作還處于人工手動上料階段，其速度較慢，而且準(zhǔn)確率也較低。因?yàn)槿藗冮_發(fā)了 SMD微型晶振檢測儀，其主要包括振動上料盤、圓盤送料檢測機(jī)構(gòu)以及封裝機(jī)構(gòu)，現(xiàn)有檢測儀每次檢測僅能針對單一晶振，檢測效率慢，同時(shí)檢測裝置的位置固定、不靈活，而且現(xiàn)有檢測儀是采用螺旋送料器送料的，晶振長時(shí)間在螺旋盤里振動，相互摩擦，減小了晶振功率信號，影響產(chǎn)品質(zhì)量。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題便是針對上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種SMD微型晶振檢測儀方向檢測機(jī)構(gòu)，它能夠同時(shí)對多組晶振實(shí)現(xiàn)檢測、方向調(diào)節(jié)以及功率清洗等功能，提高了生產(chǎn)效率以及產(chǎn)品質(zhì)量。
[0004]本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是:一種SMD微型晶振檢測儀方向檢測機(jī)構(gòu)，包括圓盤檢測座，所述圓盤檢測座靠近其四周位置設(shè)置有復(fù)數(shù)個(gè)沿圓周方向均勻排列的晶振接納座，所述晶振接納座上表面設(shè)置有晶振接納槽，所述圓盤檢測座中部設(shè)置有中柱，每個(gè)晶振接納座上均設(shè)置有兩個(gè)晶振接納槽，所述中柱側(cè)壁沿圓周方向均勻分布設(shè)置有多個(gè)定位座，所述中柱側(cè)壁與上述定位座相對應(yīng)位置設(shè)置有沿其高度方向延伸的滑動軌道，所述定位座通過其背部的定位塊與所述滑動軌道滑動定位連接，其中第一塊定位座上設(shè)置有CCD檢測裝置，第二和第三塊定位座上分別設(shè)置有一方向調(diào)節(jié)裝置。
[0005]作為優(yōu)選，所述CCD檢測裝置以及方向調(diào)節(jié)裝置均是通過伸縮式支撐桿與相應(yīng)定位座相連的。
[0006]作為優(yōu)選，第四和第五塊定位座上通過伸縮式支撐桿設(shè)置有清洗裝置，該清洗裝置上設(shè)置有與外部的晶體功率清洗器電連的功率清洗頭。
[0007]本實(shí)用新型的有益效果在于:由于本實(shí)用新型每個(gè)晶振接納座上均設(shè)置有兩個(gè)晶振接納槽，因此其可以實(shí)現(xiàn)同時(shí)對兩組晶振進(jìn)行檢測，而且CCD檢測裝置及方向調(diào)節(jié)裝置等均是通過定位座、伸縮式支撐桿連接的，因此其可以根據(jù)需要調(diào)節(jié)定位座的高度以及伸縮式支撐桿的長度，減少檢測過程中的位移，提高了生產(chǎn)效率。
【附圖說明】
[0008]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0009]圖中:1、圓盤檢測座；2、晶振接納座；3、晶振接納槽；4、中柱；5、定位座；6、定位塊；7、CCD檢測裝置；8、方向調(diào)節(jié)裝置；9、伸縮式支撐桿；10、清洗裝置。
【具體實(shí)施方式】
[0010]下面將結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說明。
[0011]如圖1所示，一種SMD微型晶振檢測儀方向檢測機(jī)構(gòu)，包括圓盤檢測座1，所述圓盤檢測座I靠近其四周位置設(shè)置有復(fù)數(shù)個(gè)沿圓周方向均勻排列的晶振接納座2，所述晶振接納座2上表面設(shè)置有晶振接納槽3，所述圓盤檢測座I中部設(shè)置有中柱4，每個(gè)晶振接納座2上均設(shè)置有兩個(gè)晶振接納槽3，所述中柱4側(cè)壁沿圓周方向均勻分布設(shè)置有多個(gè)定位座5，所述中柱4側(cè)壁與上述定位座5相對應(yīng)位置設(shè)置有沿其高度方向延伸的滑動軌道，所述定位座5通過其背部的定位塊6與所述滑動軌道滑動定位連接，其中第一塊定位座5上設(shè)置有CCD檢測裝置7，第二和第三塊定位座5上分別設(shè)置有一方向調(diào)節(jié)裝置8。
[0012]作為優(yōu)選，所述CCD檢測裝置7以及方向調(diào)節(jié)裝置8均是通過伸縮式支撐桿9與相應(yīng)定位座5相連的，第四和第五塊定位座5上通過伸縮式支撐桿9設(shè)置有清洗裝置10，該清洗裝置10上設(shè)置有與外部的晶體功率清洗器電連的功率清洗頭，清洗裝置10可對晶振進(jìn)行功率清洗，使晶振銀面分布更為均勻，加大了晶振的功率信號，使產(chǎn)品質(zhì)量更為穩(wěn)定。
[0013]由于本實(shí)用新型每個(gè)晶振接納座2上均設(shè)置有兩個(gè)晶振接納槽3，因此其可以實(shí)現(xiàn)同時(shí)對兩組晶振進(jìn)行檢測，而且CCD檢測裝置7及方向調(diào)節(jié)裝置8等均是通過定位座5、伸縮式支撐桿9連接的，因此其可以根據(jù)需要調(diào)節(jié)定位座5的高度以及伸縮式支撐桿9的長度，減少檢測過程中的位移，提高了生產(chǎn)效率。
[0014]以上所述，僅為本實(shí)用新型較佳實(shí)施例而已，故不能以此限定本實(shí)用新型實(shí)施的范圍，即依本實(shí)用新型申請專利范圍及說明書內(nèi)容所作的等效變化與修飾，皆應(yīng)仍屬本實(shí)用新型專利涵蓋的范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種SMD微型晶振檢測儀方向檢測機(jī)構(gòu)，包括圓盤檢測座(1)，所述圓盤檢測座(I)靠近其四周位置設(shè)置有復(fù)數(shù)個(gè)沿圓周方向均勻排列的晶振接納座(2)，所述晶振接納座(2)上表面設(shè)置有晶振接納槽(3)，所述圓盤檢測座(I)中部設(shè)置有中柱(4)，其特征在于:每個(gè)晶振接納座(2)上均設(shè)置有兩個(gè)晶振接納槽(3)，所述中柱(4)側(cè)壁沿圓周方向均勻分布設(shè)置有多個(gè)定位座(5)，所述中柱(4)側(cè)壁與上述定位座(5)相對應(yīng)位置設(shè)置有沿其高度方向延伸的滑動軌道，所述定位座(5)通過其背部的定位塊(6)與所述滑動軌道滑動定位連接，其中第一塊定位座(5)上設(shè)置有CCD檢測裝置(7)，第二和第三塊定位座(5)上分別設(shè)置有一方向調(diào)節(jié)裝置(8)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SMD微型晶振檢測儀方向檢測機(jī)構(gòu)，其特征在于:所述CCD檢測裝置(7)以及方向調(diào)節(jié)裝置(8)均是通過伸縮式支撐桿(9)與相應(yīng)定位座(5)相連的。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的SMD微型晶振檢測儀方向檢測機(jī)構(gòu)，其特征在于:第四和第五塊定位座(5)上通過伸縮式支撐桿(9)設(shè)置有清洗裝置(10)，該清洗裝置(10)上設(shè)置有與外部的晶體功率清洗器電連的功率清洗頭。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開一種SMD微型晶振檢測儀方向檢測機(jī)構(gòu)，包括圓盤檢測座，所述圓盤檢測座靠近其四周位置設(shè)置有復(fù)數(shù)個(gè)沿圓周方向均勻排列的晶振接納座，所述圓盤檢測座中部設(shè)置有中柱，每個(gè)晶振接納座上均設(shè)置有兩個(gè)晶振接納槽，所述中柱側(cè)壁沿圓周方向均勻分布設(shè)置有多個(gè)定位座，所述中柱側(cè)壁與上述定位座相對應(yīng)位置設(shè)置有沿其高度方向延伸的滑動軌道，所述定位座通過其背部的定位塊與所述滑動軌道滑動定位連接。由于本實(shí)用新型每個(gè)晶振接納座上均設(shè)置有兩個(gè)晶振接納槽，因此其可以實(shí)現(xiàn)同時(shí)對兩組晶振進(jìn)行檢測，而且可以根據(jù)需要調(diào)節(jié)定位座的高度以及伸縮式支撐桿的長度，減少檢測過程中的位移，提高了生產(chǎn)效率。
【IPC分類】H01L21-66, G01R31-00
【公開號】CN204497198
【申請?zhí)枴緾N201520266996
【發(fā)明人】呂錫昌, 廖建偉, 林峰
【申請人】福建省將樂縣長興電子有限公司
【公開日】2015年7月22日
【申請日】2015年4月29日