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半導體封裝結構及其制法

文檔序號:8414038閱讀:501來源:國知局
半導體封裝結構及其制法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種半導體封裝結構及其制法,尤指一種可避免載體破裂的半導體封裝結構及其制法。
【背景技術】
[0002]隨著半導體技術的演進,半導體產品已開發(fā)出不同封裝產品型態(tài),而為追求半導體封裝件的輕薄短小,因而發(fā)展出一種芯片尺寸封裝件(chip scale package, CSP),其特征在于此種芯片尺寸封裝件僅具有與芯片尺寸相等或略大的尺寸。
[0003]第7,202,107號美國專利揭露一種CSP封裝結構及其制法。如圖1A至圖1C所示,該制法首先提供一基板10 ;接者于該基板10上形成一熱感性黏著材12后,貼合多個半導體組件14于熱感性黏著材12上。
[0004]之后,如圖1D所示,灌膠于半導體組件14未接置于熱感性黏著材12的一側,及其半導體組件14的側表面,使該封膠材料16完全包覆該半導體組件14。
[0005]如圖1E所示,加熱該半導體組件14及封膠材料16,以與該熱感性黏著材12分離。
[0006]如圖1F所示,于半導體組件14的主動面14a及同側的封膠材料16表面形成金屬線路層18。最后,可進行切單作業(yè)(圖略)。
[0007]然而,如圖1D所示的制程,由于灌膠時,封膠材料16為液態(tài),如以側面進行灌膠,則基板10中間區(qū)域會有填充厚度較邊緣厚度薄的情況,所以于該半導體組件14及封膠材料16與該熱感性黏著材12分離后,封膠材料16容易發(fā)生翹曲,導致形成金屬線路層18時,產生線路不平整等問題,進而影響最終產品的產品可靠度。
[0008]為解決前述問題,業(yè)界遂開發(fā)出如圖2A至圖2C所示以模壓封裝材料于半導體組件上的技術,期可避免封裝封裝結構中間薄邊緣厚所致的翹曲問題。然而,在如圖2A設置半導體組件24后,操作此制程的壓合步驟時,如圖2B所示,因為外圍半導體組件24與基板20邊緣仍有一段距離,所以靠近邊緣處的封膠材料26與半導體組件24設置區(qū)域的封膠材料26會產生約200um的垂直段差d,故而在壓合另一載體25時,造成如圖2C圖右虛線所示,載體25的邊緣破裂,而導致載體25報廢,無法重復使用。
[0009]因此,如何克服上述是種問題,實已成目前亟欲解決的課題。

【發(fā)明內容】

[0010]鑒于上述現(xiàn)有技術的種種缺失,本發(fā)明的目的為揭露一種半導體封裝結構及其制法,減小封裝膠體在基板中央與周圍處的段差,以免載體破裂。
[0011]本發(fā)明的半導體封裝結構的制法,包括:提供一表面上設有多個半導體組件的基板,且該基板表面的周圍還設有多個塊體;以及于該基板上壓合封裝膠體,以包覆該多個半導體組件及塊體。
[0012]前述的制法中,該基板表面具有半導體組件設置區(qū),且該多個塊體位于該基板邊緣與半導體組件設置區(qū)之間。
[0013]本發(fā)明半導體封裝結構的制法中,還可包括移除該基板,以令該多個半導體組件及塊體外露出該封裝膠體。此外,還可于該外露出該多個半導體組件及塊體的封裝膠體表面形成線路重布層。
[0014]于另一具體實施例中,還包括于該線路重布層表面上設置多個導電組件,以藉該線路重布層電性連接該多個半導體組件。
[0015]本發(fā)明還提供一種半導體封裝結構,包括:具有相對的第一表面及第二表面的封裝膠體;嵌埋于該封裝膠體中,并外露出該第一表面的多個半導體組件;以及嵌埋于該封裝膠體周圍的封裝膠體中,并外露出該第一表面的多個塊體。
[0016]前述的半導體封裝結構中,還可包括線路重布層,其形成于該封裝膠體的第一表面,以電性連接該多個半導體組件。此外,還可包括多個導電組件,其設于該線路重布層表面上,以藉該線路重布層電性連接該多個半導體組件。
[0017]由上可知,本發(fā)明利用該些塊體的設置,減小壓合封裝膠體后,封裝膠體在基板中央與周圍處的段差,以免載體破裂,以提升其使用壽命,并改善產品良率。
【附圖說明】
[0018]圖1A至圖1F為現(xiàn)有CSP封裝結構及其制法的剖面示意圖;
[0019]圖2A至圖2C為另一現(xiàn)有封裝結構及其制法的剖面示意圖;以及
[0020]圖3A至圖3G為本發(fā)明的半導體封裝結構的制法剖面示意圖,其中,圖3C’為圖3C的俯視圖。
[0021]主要組件符號說明
[0022]3半導體封裝結構
[0023]10, 20, 30 基板
[0024]12熱感性黏著材
[0025]14, 24, 34半導體組件
[0026]14a, 34a 主動面
[0027]16,26封膠材料
[0028]18 金屬線路層
[0029]25,35 載體
[0030]31離型層
[0031]32,32’ 黏著層
[0032]341 電極墊
[0033]37 塊體
[0034]301半導體組件設置區(qū)
[0035]30a 邊緣
[0036]36 封裝膠體
[0037]36a 第一表面
[0038]36b 第二表面
[0039]38 線路重布層
[0040]39 導電組件
[0041]d 段差。
【具體實施方式】
[0042]以下藉由特定的具體實施例說明本發(fā)明的實施方式,本領域技術人員可由本說明書所揭示的內容輕易地了解本發(fā)明的其它優(yōu)點及功效。
[0043]須知,本說明書所附圖式所繪示的結構、比例、大小等,均僅用以配合說明書所揭示的內容,以供本領域技術人員的了解與閱讀,并非用以限定本發(fā)明可實施的限定條件,所以不具技術上的實質意義,任何結構的修飾、比例關系的改變或大小的調整,在不影響本發(fā)明所能產生的功效及所能達成的目的下,均應仍落在本發(fā)明所揭示的技術內容得能涵蓋的范圍內。同時,本說明書中所引用的如“第一”、“第二” “上”及“一”等用語,也僅為便于敘述的明了,而非用以限定本發(fā)明可實施的范圍,其相對關系的改變或調整,在無實質變更技術內容下,當也視為本發(fā)明可實施的范疇。
[0044]圖3A至圖3G為本發(fā)明的半導體封裝結構的制法示意圖。
[0045]首先,提供一表面上設有多個半導體組件的基板,且該基板表面的周圍還設有多個塊體,其步驟可如圖3A至圖3C所示。
[0046]如圖3A所示,提供一基板30,該基板30可為透明材質,如玻璃,且其表面依序設有離型層31及黏著層32。
[0047]如圖3B所示,于該黏著層32上設置多個如芯片的半導體組件34,其中,該半導體組件34的主動面34a接觸設置于該黏著層32上,且該主動面34a具有多個電極墊341。
[0048]如圖3C所示,于設置該多個半導體組件34后,再設置該多個塊體37于該黏著層32上。此外,如圖3C’所示,該基板30表面具有半導體組件設置區(qū)301,且該多個塊體37位于該基板30邊緣30a與半導體組件設置區(qū)301之間。
[0049]然而,可了解的是除了在設置該多個半導體組件34后,再設置該多個塊體37的方式,也可改為先設置該多個塊體37,再設置該多個半導體組件34 (圖略)。
[0050]另外
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