專利名稱：電接觸件和測(cè)試平臺(tái)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電接觸件和測(cè)試平臺(tái)，具體地但不排他地涉及用于測(cè)試電氣部件的電接觸件和測(cè)試平臺(tái)。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的測(cè)試電氣部件的方法涉及將待測(cè)試部件定位在測(cè)試平臺(tái)上。測(cè)試平臺(tái)包括用于對(duì)電氣部件供電的電接觸件。一旦被供電，電氣部件的性能被監(jiān)測(cè)?；陔姎獠考男阅?，可以確定電氣部件是否有故障。
為了確保成功測(cè)試電氣部件，要求部件的電接觸件與測(cè)試平臺(tái)上的電接觸件電連接。因此該電氣部件必須以特定的預(yù)定義取向定位在非常特定的預(yù)定義位置。以所述特定的預(yù)定義取向在測(cè)試平臺(tái)上將電氣部件地位在這種特定的預(yù)定義位置，這非常難以實(shí)現(xiàn)，特別是在其中測(cè)試操作高速實(shí)施并且存在許多運(yùn)動(dòng)中的機(jī)器零件的工業(yè)環(huán)境中。由于電氣部件之間的物理變化，定位電氣部件變得更加困難，例如由于制造階段的模具偏移的原因而會(huì)發(fā)生電氣部件之間的物理變化。圖la-f說明實(shí)現(xiàn)為了確保電氣部件7的電接觸件與測(cè)試平臺(tái)I上的電接觸件電連接所要求的電氣部件7的特定定位會(huì)有多么困難。圖1所示測(cè)試平臺(tái)I包括六個(gè)電學(xué)開爾文(Kelvin)接觸件3a_3f。每個(gè)電學(xué)開爾文接觸件3a_3f包括“I”葉片5a和相對(duì)的“L”葉片5b。在電氣部件7的測(cè)試期間，“I”葉片5a形成信號(hào)供應(yīng)端子并且相對(duì)的“L”葉片5b形成信號(hào)感測(cè)端子(或者反之亦然)。待測(cè)試電氣部件7包括銷9a_f形式的六個(gè)電接觸件。為了使能實(shí)現(xiàn)電氣部件7的測(cè)試，電氣部件7必須定位在平臺(tái)I上，使得每個(gè)銷9a-f建立測(cè)試平臺(tái)I上的每個(gè)相應(yīng)電接觸件3a-3f中的“I”葉片5a和相對(duì)的“L”葉片5b之間的電連接。在電氣部件7的測(cè)試期間，在每個(gè)電接觸件3a_3f處，測(cè)試信號(hào)由“I”葉片5a(即形成信號(hào)供應(yīng)端子的葉片)傳輸，通過銷9a_f，并且被傳輸?shù)较鄬?duì)的“L”葉片5b (即形成信號(hào)感測(cè)端子的葉片)中。在每個(gè)信號(hào)感測(cè)端子處，測(cè)試信號(hào)被感測(cè)以確定銷9a_f是否按預(yù)期傳輸和/或改變測(cè)試信號(hào)。在每個(gè)所述六個(gè)銷9a_f處電氣部件7的性能因此可以被確定。圖1(a)示出當(dāng)位于用于測(cè)試所要求的特定的預(yù)定義位置和取向時(shí)的電氣部件7。在此位置，每個(gè)銷9a_f建立測(cè)試平臺(tái)I上的每個(gè)相應(yīng)電接觸件3a_3f中的“I”葉片5a和相對(duì)的“L”葉片5b之間的電連接。在該位置，電氣部件7可以如前所述被測(cè)試。圖1(b)示出沿著Y軸在第一方向被偏移的電氣部件7。在此位置，每個(gè)所述銷9a-f未能建立測(cè)試平臺(tái)I上的每個(gè)電接觸件3a_3f中的“I”葉片5a和相對(duì)的“L”葉片5b之間的電連接。因而，電氣部件7無法被測(cè)試。圖1(c)示出沿著Y軸在第二方向被偏移的電氣部件7。在此位置，銷9a_f未能建立測(cè)試平臺(tái)I上的每個(gè)相應(yīng)電接觸件3a-3f中的“I”葉片5a和相對(duì)的“L”葉片5b之間的電連接。因而，電氣部件7無法被測(cè)試。圖1(d)示出沿著X軸在第一方向被偏移的電氣部件7。在該位置，銷9a、9b和9c未能建立測(cè)試平臺(tái)I上的電接觸件3a,3b和3c中的“I”葉片5a和相對(duì)的“L”葉片5b之間的電連接。因而，電氣部件7無法被測(cè)試。圖1(e)示出沿著X軸在第二方向被偏移的電氣部件7。在該位置，銷9c、9d和9f未能建立測(cè)試平臺(tái)I上的電接觸件3d、3e和3f中的“I”葉片5a和相對(duì)的“L”葉片5b之間的電連接。因而，電氣部件7無法被測(cè)試。圖1(f)示出電氣部件7，該電氣部件7未以正確取向定位在平臺(tái)I上；電氣部件7相對(duì)于平臺(tái)I被旋轉(zhuǎn)。在此位置，銷9c和9d未能建立測(cè)試平臺(tái)I上的電接觸件3c和3d中的“I”葉片5a和相對(duì)的“L”葉片5b之間的電連接。因而，電氣部件7無法被測(cè)試。已經(jīng)采取許多措施，通過電氣部件7的電接觸件，促進(jìn)測(cè)試平臺(tái)I上的電接觸件3a-f中的葉片5a、5b之間的電連接的建立。在圖2(a)_2(f)中說明一種這樣的措施。不同于圖l(a)-l(f)中說明的平臺(tái)1，圖2中說明的平臺(tái)10包括六個(gè)電接觸件30a-30f，其中·每個(gè)電接觸件30a-30f包括兩個(gè)平行的“I”葉片50a、50b。每個(gè)葉片50a、50b具有縱向配置，并且包括平面的表面51，當(dāng)芯片7定位在平臺(tái)10上用于測(cè)試時(shí)，該平面的表面51平行于芯片7的平面52。用于測(cè)試電氣部件7的原理與針對(duì)圖1所示平臺(tái)I描述的原理相同。因而，要求待測(cè)試電氣部件7被定位，使得每個(gè)銷9a-f建立測(cè)試平臺(tái)10上的每個(gè)相應(yīng)電接觸件30a-30f中的所述兩個(gè)“I”葉片50a、50b之間的電連接。在電氣部件7的測(cè)試期間，在每個(gè)電接觸件30a-30f處，信號(hào)從第一“I”葉片50a(其推動(dòng)所述電信號(hào))被傳遞通過銷9a_f，并且被第二“I”葉片50b測(cè)量(該第二“I”葉片50b感測(cè)該電信號(hào)，或者反之亦然)。在每個(gè)所述六個(gè)銷9a-f處電氣部件7的性能因而可以被確定。圖2(a)示出當(dāng)在平臺(tái)10上位于理想測(cè)試位置時(shí)的電氣部件7。在此位置，每個(gè)銷9a-f建立測(cè)試平臺(tái)10上的每個(gè)相應(yīng)電接觸件30a-30f中的兩個(gè)平行“I”葉片50a、50b之間的電連接。在此位置，電氣部件7可以如前所述被測(cè)試。從圖2(d)_(f)明顯的是，由于每個(gè)電接觸件30a_30f中的兩個(gè)“I”葉片50a、50b的配置，電氣部件7的銷9a-f可以成功建立每個(gè)電接觸件30a-30f中兩個(gè)平行“I”葉片50a、50b之間的電連接，即使當(dāng)電氣部件7沿著X軸偏移(見圖2(d)和2(e))或相對(duì)于平臺(tái)10旋轉(zhuǎn)(見圖2(f))時(shí)。特別地，當(dāng)電氣部件7沿著X軸偏移(見圖2(d)和2(e))或相對(duì)于平臺(tái)10旋轉(zhuǎn)(見圖2(f))時(shí)，兩個(gè)“I”葉片50a、50b的平行配置和每個(gè)“I”葉片50a、50b的縱向配置均促進(jìn)通過銷9a-f建立每個(gè)電接觸件30a-30f中兩個(gè)平行“I”葉片50a、50b之間的電連接。每個(gè)葉片50a、50b的平面的表面51也促進(jìn)電連接的建立，因?yàn)槠矫娴谋砻?1增大了每個(gè)葉片50a、50b中可用的可以用于與該葉片50a、50b建立電接觸的接觸面積。因而，即使當(dāng)電氣部件7從理想測(cè)試位置偏移時(shí)，該電氣部件7仍然可以被測(cè)試。然而，即使圖2(a)_(f)中說明的措施通過電氣部件7的銷9a_f來促進(jìn)建立測(cè)試平臺(tái)I上的電接觸件3a_f的葉片5a、5b之間的電連接，該措施仍然不是令人滿意的，因?yàn)楫?dāng)電氣部件7沿著Y軸偏移時(shí)，銷9a-f仍未能成功地建立每個(gè)電接觸件30a-30f中的兩個(gè)平行“I”葉片50a、50b之間的電連接。圖2(b)和2 (c)說明當(dāng)電氣部件7沿著Y軸偏移時(shí)的情形。因而，提供包括兩個(gè)平行“I”葉片50a、50b的電接觸件30a_f，并且每個(gè)所述葉片包括平面的表面，當(dāng)電氣部件7沿著X軸偏移或者相對(duì)于平臺(tái)10旋轉(zhuǎn)時(shí)，這在促進(jìn)建立用于部件7的測(cè)試所需的電連接中是有效的。然而，當(dāng)電氣部件7沿著Y軸偏移時(shí)，這種電接觸件30a_f并不促進(jìn)通過銷9a_f建立測(cè)試平臺(tái)I上電接觸件3a_f的葉片5a、5b之間的電連接。本發(fā)明的目的是克服或減輕一個(gè)或多個(gè)前述缺點(diǎn)。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種電接觸件，其包括三個(gè)或更多個(gè)葉片，從而通過部件的電接觸而促進(jìn)建立所述葉片的至少兩個(gè)之間的電連接。根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種適合于接收待測(cè)試部件的測(cè)試平臺(tái)，其中該測(cè)試平臺(tái)包括一個(gè)或多個(gè)電接觸件，每個(gè)所述電接觸件包括三個(gè)或更多個(gè)葉片，從而通過部件的電接觸而促進(jìn)建立所述三個(gè)或更多個(gè)葉片的至少兩個(gè)之間的電連接。該電連接可以是開爾文連接。對(duì)于將形成開爾文接觸的電接觸件，該部件的電接觸必須電接觸所述三個(gè)或更多個(gè)葉片的至少兩個(gè)。該部件可以是電氣部件。所述三個(gè)或更多個(gè)葉片可通過部件的電接觸而促進(jìn)建立所述葉片的兩個(gè)或更多個(gè)之間的電連接。該電接觸件可以是該部件的電氣端子。所述三個(gè)或更多個(gè)葉片可縱向地延伸。所述三個(gè)或更多個(gè)葉片可以平行布置。每個(gè)所述三個(gè)或更多個(gè)葉片可以是“ I ”葉片。所述一個(gè)或多個(gè)電接觸件的至少一些可布置在同一取向。優(yōu)選地，所述一個(gè)或多個(gè)電接觸件的全部布置在同一取向。每個(gè)所述三個(gè)或更多個(gè)葉片可包括平面的表面。當(dāng)待測(cè)試電氣部件定位在用于測(cè)試的測(cè)試平臺(tái)上時(shí)，該平面的表面可以平行于該電氣部件的平面。在使用中，該平面的表面平行于正被測(cè)試的電氣部件的平面。所述三個(gè)或更多個(gè)葉片可以布置成定義兩個(gè)或更多個(gè)溝道。每個(gè)所述兩個(gè)或更多個(gè)溝道可以是隔離溝道。隔離溝道可以配置成使每個(gè)所述三個(gè)或更多個(gè)葉片彼此電隔離。所述兩個(gè)或更多個(gè)溝道的一些或全部可以彼此隔離。每個(gè)所述兩個(gè)或更多個(gè)溝道可以具有介于O. lMm-50Mm的寬度。優(yōu)選地，每個(gè)所述兩個(gè)或更多個(gè)溝道具有小于30Mm的寬度。最優(yōu)選地，每個(gè)所述兩個(gè)或更多個(gè)溝道具有小于20Mm的寬度。每個(gè)所述三個(gè)或更多個(gè)葉片的寬度可以使得所述兩個(gè)或更多個(gè)隔離溝道中的兩個(gè)的組合寬度加上單個(gè)葉片的寬度小于電氣部件的電接觸件的寬度。優(yōu)選地，在考慮到制作容差之后，每個(gè)所述三個(gè)或更多個(gè)葉片的寬度使得所述兩個(gè)或更多個(gè)隔離溝道中的兩個(gè)的組合寬度加上單個(gè)葉片的寬度小于電氣部件的電接觸件的寬度。每個(gè)所述三個(gè)或更多個(gè)葉片的寬度可以使得兩個(gè)或更多個(gè)隔離溝道的其中一個(gè)的組合寬度加上所述三個(gè)或更多個(gè)葉片的其中兩個(gè)的寬度小于電氣部件的電接觸件的寬度。優(yōu)選地，每個(gè)所述三個(gè)或更多個(gè)葉片的寬度可以使得，在考慮到制作容差之后，兩個(gè)或更多個(gè)隔離溝道的其中一個(gè)的組合寬度加上所述三個(gè)或更多個(gè)葉片的其中兩個(gè)的寬度小于電氣部件的電接觸件的寬度。每個(gè)所述三個(gè)或更多個(gè)葉片可具有200Mm或更小的寬度。優(yōu)選地， 每個(gè)所述三個(gè)或更多個(gè)葉片具有150Mm或更小的寬度。更優(yōu)選地，每個(gè)所述三個(gè)或更多個(gè)葉片具有IOOMm或更小的覽度。葉片的一些或全部可包括導(dǎo)電金屬。優(yōu)選地，葉片的一些或全部涂覆有金屬。該金屬可以是貴金屬。葉片的一些或全部可包括金、BeCu和/或BeNi。葉片的一些或全部可以涂覆有金。葉片的一些或全部可以涂覆有BeCu或BeNi材料，或者表現(xiàn)出彈簧效應(yīng)、電導(dǎo)性和耐磨損性的任何其它材料。葉片的一些或全部可包括硬化末梢。優(yōu)選地，葉片的一些或全部包括鎢。最優(yōu)選地，葉片的一些或全部的末梢包括鎢。所述三個(gè)或更多個(gè)葉片可以被緊固使得它們相對(duì)于彼此處于固定位置。優(yōu)選地所述三個(gè)或更多個(gè)葉片在制造階段被緊固，使得它們相對(duì)于彼此處于固定位置。所述三個(gè)或 更多個(gè)葉片可以模制或膠粘在一起。該電接觸件還可以包括保持構(gòu)件，該保持構(gòu)件保持所述三個(gè)或更多個(gè)葉片使得它們相對(duì)于彼此處于固定位置。根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種測(cè)試機(jī)器部件，其包括保持器構(gòu)件，該保持器構(gòu)件包括任何一種前述電接觸件，其中該測(cè)試機(jī)器部件配置成使得它可以與該測(cè)試機(jī)器協(xié)作。該測(cè)試機(jī)器部件可包括多個(gè)電接觸件。該測(cè)試機(jī)器部件還可以包括引導(dǎo)裝置，該引導(dǎo)裝置促進(jìn)該測(cè)試機(jī)器部件與該測(cè)試機(jī)器的協(xié)作。例如，該引導(dǎo)裝置可以是適合于與測(cè)試機(jī)器上的孔協(xié)作的銷，或者該引導(dǎo)裝置可以是適合于與測(cè)試機(jī)器上的銷合作的孔。根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種測(cè)試機(jī)器，其包括根據(jù)任何一種前述電接觸件的電接觸件。


參考附圖，現(xiàn)在將通過僅僅示例的方式來描述本發(fā)明的實(shí)施例，在附圖中
圖la-f :為了實(shí)現(xiàn)使能進(jìn)行電氣部件的測(cè)試所要求的，電氣部件在現(xiàn)有技術(shù)測(cè)試平臺(tái)上的特定定位的困難；
圖2a_f說明現(xiàn)有技術(shù)測(cè)試平臺(tái)，該測(cè)試平臺(tái)包括電接觸件，該電接觸件配置成促進(jìn)建立用于電氣部件的測(cè)試所要求的電連接；
圖3提供根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試平臺(tái)的俯視圖，該測(cè)試平臺(tái)包括根據(jù)本發(fā)明的電接觸件；圖4a_f說明根據(jù)本發(fā)明的電接觸件如何促進(jìn)建立用于電氣部件的測(cè)試所要求的電連接；以及
圖5a提供根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試機(jī)器部件的俯視圖并且圖5b提供圖5a所示的測(cè)試機(jī)器部件的電接觸件的放大視圖。
具體實(shí)施例方式圖3提供根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試平臺(tái)100的俯視圖。芯片29形式的待測(cè)試電氣部件定位在測(cè)試平臺(tái)100的臺(tái)架25上。根據(jù)本發(fā)明，測(cè)試平臺(tái)100包括六個(gè)電接觸件51a_f，所述電接觸件每個(gè)均支撐在臺(tái)架25上。所有六個(gè)的電接觸件51a-f在臺(tái)架25上布置在同一取向。將理解，測(cè)試平臺(tái)100不限于具有六個(gè)電接觸件；測(cè)試平臺(tái)100可具有更多或更少電接觸件。例如，測(cè)試平臺(tái)100可包括10個(gè)電接觸件或4個(gè)電接觸件。每個(gè)電接觸件51a_f包括三個(gè)葉片71a_c。所述三個(gè)葉片71a_c縱向地延伸跨過臺(tái)架25的寬度“g”的部分，并且每個(gè)電接觸件51a_f的三個(gè)葉片71a_c平行布置。三個(gè)葉片71a_c可以在制造階段被緊固到臺(tái)架25，使得葉片71a_c維持相對(duì)于彼此固定的位置。每個(gè)電接觸件51a_f的所述三個(gè)葉片71a_c定義兩個(gè)隔離溝道15a、15b。隔離溝道15a、15b配置成使每個(gè)所述三個(gè)葉片71a_c彼此電隔離。在此具體示例中，隔離溝道15a、15b每個(gè)均具有IOMffl的寬度“C”。然而，將理解，隔離溝道15a、15b可具有任何其它合適尺寸。每個(gè)電接觸件51a_f的所述三個(gè)葉片71a_c每個(gè)均包括平面的表面13。當(dāng)芯片29定位在用于測(cè)試的測(cè)試平臺(tái)100上時(shí)，每個(gè)葉片71a-c的平面的表面13平行于芯片29的 平面17。在此具體示例中，每個(gè)所述三個(gè)葉片71a_c具有寬度“W”。每個(gè)葉片71a_c的寬度“w”為使得，在考慮到制作容差之后，隔離溝道15a、15b的組合寬度“c”加上所述三個(gè)或更多個(gè)葉片的其中兩個(gè)的寬度“w”小于電氣部件29的銷lla-f的寬度“e” (即2w+C〈e)。將理解，可替換地，每個(gè)所述三個(gè)或更多個(gè)葉片的寬度“w”可以為使得，在考慮到制作容差之后，所述隔離溝道15a、15b的其中兩個(gè)的組合寬度“c”加上單個(gè)葉片71a_c的寬度“w”小于電氣部件29的銷lla-f的寬度“e” (即2c+W〈e)。在此具體示例中，每個(gè)所述三個(gè)葉片71a-c具有IOOMm的寬度“W”，因此每個(gè)葉片的平面的表面13將具有IOOMm的寬度。然而將理解，葉片71a-c(并且因此平面的表面13)可以具有任何其它合適尺寸。在此具體示例中，正被測(cè)試的電氣部件29的每個(gè)電接觸件lla-f的寬度“e”為300Mm。在此具體示例中，每個(gè)所述三個(gè)葉片71a_c涂覆有金,并且在每個(gè)葉片71a_c的末梢19設(shè)有鎢。鎢使每個(gè)葉片71a-c的末梢19硬化。將理解，葉片71a_c可以涂覆有任何其它合適的金屬或者根本不被涂覆，例如葉片71a_c可以涂覆有任何貴金屬。葉片71a_c可以包括BeNi或BeCu或任何其它導(dǎo)電彈簧材料。待測(cè)試芯片29包括銷lla-f形式的六個(gè)電接觸件。然而將理解，芯片29可以包括任意數(shù)目的銷，因此芯片29可以具有多于或少于6個(gè)銷。在圖3中，芯片29示為處于用于測(cè)試的理想位置。在用于測(cè)試的理想位置，芯片29在平臺(tái)100的臺(tái)架25上是完美方形的，并且每個(gè)銷lla-f相對(duì)于相應(yīng)電接觸件5la-f對(duì)稱地定位。每個(gè)所述六個(gè)銷lla_f與臺(tái)架25上的相應(yīng)電接觸件51a-f協(xié)作，從而提供每個(gè)電接觸件51a-f中所述三個(gè)葉片的任何兩個(gè)或者所有三個(gè)葉片7la-c之間的電連接。對(duì)于芯片29的測(cè)試，要求芯片29定位在臺(tái)架25上，使得對(duì)于每個(gè)電接觸件51a-f，芯片29的銷lla-f橋接隔離溝道15a、15b的至少一個(gè)，從而提供所述三個(gè)葉片7la-c中的至少兩個(gè)之間的電連接。在芯片29的測(cè)試期間，由銷lla-f電連接的兩個(gè)葉片71a-c的其中之一將在測(cè)試期間充當(dāng)信號(hào)供應(yīng)端子，而該兩個(gè)葉片71a_c的另一個(gè)將充當(dāng)信號(hào)感測(cè)端子，或者反之亦然。在芯片29的測(cè)試期間，電流從提供(多個(gè))信號(hào)供應(yīng)端子的葉片71a_c傳遞通過銷lla-f，并且電壓由形成(多個(gè))信號(hào)感測(cè)端子的葉片71a_c感測(cè)或測(cè)量。在每個(gè)所述六個(gè)銷lla-f處芯片29的性能可以被監(jiān)測(cè)，并且因此芯片29的整體性能可以被確定。
如圖3所示，如果并且當(dāng)芯片29定位在用于測(cè)試的理想位置時(shí)，銷Ila-1lf被示為橋接隔離溝道15a、15b 二者，使得每個(gè)銷Ila-1lf觸及三個(gè)葉片71a_c，因而電連接每個(gè)所述三個(gè)葉片71a_c。因此，在其中芯片29被定位于用于測(cè)試的理想位置的特殊情況下，所述三個(gè)葉片71a-c的任何一個(gè)或兩個(gè)可以被選擇從而在芯片29的測(cè)試期間提供信號(hào)供應(yīng)端子，并且任何其余葉片71a-c可以被選擇從而在芯片29的測(cè)試期間提供信號(hào)感測(cè)端子。如圖4(a)_(f)所說明，圖3中說明的的電接觸件51a_f的配置促進(jìn)建立用于芯片29的測(cè)試所要求的電連接。圖4(a)示出芯片29處于理想測(cè)試位置(如前文參考圖3所描述)。類似于在圖2 (a)-(f)描繪的現(xiàn)有技術(shù)測(cè)試平臺(tái)10的電接觸件30a_f，圖4(a)-4(f)中描繪的測(cè)試平臺(tái)100的電接觸件51a-f促進(jìn)芯片29的銷lla-f成功地建立每個(gè)電接觸件51a-f中的所述三個(gè)葉片71a-c的其中兩個(gè)之間的電連接，即使當(dāng)芯片29沿著X軸偏移(見圖4(d)和4(e))或者相對(duì)于臺(tái)架25旋轉(zhuǎn)時(shí)(見圖4(f))。更具體地，配置每個(gè)葉片71a_c使得它是縱向的；配置同一電接觸件51a_f的葉片71a_c使得葉片71a_c是平行的；并且配置每個(gè)葉片71a-c使得它包括平面的表面13，則每個(gè)均促進(jìn)芯片29的銷lla-f建立所要求的電連接。例如，提供平面的表面13則促進(jìn)芯片29的銷lla-f建立所要求的電連接，因?yàn)槠矫娴谋砻?3增大可以用于與葉片71a-c建立電接觸的可用的接觸面積。類似地，每個(gè)葉片71a-c的縱向配置增大葉片71a-c沿著X軸的尺寸，因此即使當(dāng)芯片29沿著X軸位移時(shí)，芯片29的銷lla-f可以仍然接觸葉片71a-c。葉片71a-c的平行配置是有利的，因?yàn)榧词巩?dāng)芯片29沿著X軸位移時(shí)，它使得能夠建立所要求的電連接。因而，即使當(dāng)芯片29沿著X軸從理想測(cè)試位置偏移時(shí)或者相對(duì)于臺(tái)架25旋轉(zhuǎn)使得它不再處于理想測(cè)試位置時(shí)，芯片29仍然可以被測(cè)試。有利地，如圖4b_c說明，電接觸件51a-f的配置進(jìn)一步促進(jìn)，當(dāng)芯片29沿著Y軸偏移時(shí)，芯片29的銷lla-f建立每個(gè)電接觸件51a-f中的所述三個(gè)葉片71a-c的其中兩個(gè)之間的電連接。更具體地，配置電接觸件51a-f從而包括第三葉片，則促進(jìn)當(dāng)芯片29沿著Y軸偏移時(shí)芯片29的銷lla-f建立每個(gè)電接觸件51a-f中的所述三個(gè)葉片71a-c的其中兩個(gè)之間的電連接。如圖4(b)所示，待測(cè)試芯片29沿著Y軸在第一方向(向右)偏移。提供第三葉片71a-c確保當(dāng)芯片29沿著Y軸向右偏移時(shí)，芯片29的銷lla-f仍然可以建立每個(gè)電接觸件5a-f的葉片71b和71c之間的電連接。因此，葉片71b可以在芯片29的測(cè)試期間用于提供信號(hào)供應(yīng)端子，并且葉片71c可以在芯片29的測(cè)試期間用于提供信號(hào)感測(cè)端子，或者反之亦然。因而，盡管芯片29已經(jīng)沿著Y軸從理想測(cè)試位置偏移，仍可以實(shí)施芯片29的成功測(cè)試。如圖4(c)所示，待測(cè)試芯片29沿著Y軸在第二方向(向左)偏移。提供第三葉片71a-c確保當(dāng)待測(cè)試芯片29沿著Y軸向左偏移時(shí)，芯片29的銷lla-f可以建立每個(gè)電接觸件5la-c的葉片71a和71b之間的電連接，使得葉片71a可以用于在芯片29的測(cè)試期間提供信號(hào)供應(yīng)端子，并且葉片71b可以在芯片29的測(cè)試期間提供信號(hào)感測(cè)端子，或者反之亦然。即使當(dāng)芯片29沿著Y軸向左偏移離開其理想測(cè)試位置時(shí)，因而仍可以實(shí)施芯片29的成功測(cè)試。因而，配置電接觸件51a-c使得它們包括三個(gè)或更多個(gè)葉片，這確保芯片29仍然可以被測(cè)試，即使當(dāng)它已經(jīng)沿著Y軸、X軸偏移或者相對(duì)臺(tái)架25或平臺(tái)100旋轉(zhuǎn)。圖5a提供根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試機(jī)器部件110的俯視圖。測(cè)試機(jī)器部件110包括保持器構(gòu)件101，該保持器構(gòu)件101將三個(gè)電接觸件103a-c相對(duì)于彼此保持在固定位置。圖5b提供電接觸件103a_c的放大視圖。每個(gè)所述三個(gè)電接觸件103a_c由根部構(gòu)件109a_i連接到保持器構(gòu)件101?？蛇x地，三個(gè)電接觸件103a-c可以集成到保持器構(gòu)件101。每個(gè)所述根部構(gòu)件109a-1從保持器構(gòu)件101漸縮以形成葉片107a-c。每個(gè)所述三個(gè)電接觸件103a_c包括三個(gè)葉片107a_c。每個(gè)葉片107a_c具有縱向“I”配置并且每個(gè)所述三個(gè)葉片107a-c是平行的。另外，每個(gè)所述三個(gè)葉片107a_c包括平面的表面8?！y(cè)試機(jī)器部件110的一個(gè)或多個(gè)可以連接到測(cè)試機(jī)器(未示出)從而在測(cè)試機(jī)器上定義平臺(tái)，該平臺(tái)類似于圖3中描繪的平臺(tái)100。保持器構(gòu)件101還包括孔105a-d形式的引導(dǎo)裝置。在將測(cè)試機(jī)器部件110校正到測(cè)試機(jī)器時(shí)，孔105a-d為用戶提供方便。例如，當(dāng)將測(cè)試機(jī)器部件110連接到測(cè)試機(jī)器時(shí)，每個(gè)孔105a-d可以接收在測(cè)試機(jī)器上的銷或螺絲，從而朝向測(cè)試機(jī)器上的正確位置引導(dǎo)和緊固保持器構(gòu)件101?！?br> 對(duì)本發(fā)明的所描述實(shí)施例的各種調(diào)整和變動(dòng)對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言將是顯而易見的，而不背離在所附權(quán)利要求中定義的本發(fā)明的范圍。盡管本發(fā)明已經(jīng)結(jié)合特定優(yōu)選實(shí)施例予以描述，應(yīng)理解，所要求保護(hù)的本發(fā)明不應(yīng)過度地受限于這種特定實(shí)施例。
權(quán)利要求
1.一種電接觸件，其包括三個(gè)或更多個(gè)葉片從而促進(jìn)通過部件的電接觸件建立所述三個(gè)或更多個(gè)葉片的至少兩個(gè)之間的電連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的電接觸件，其中所述三個(gè)或更多個(gè)葉片縱向地延伸。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2的電接觸件，其中所述三個(gè)或更多個(gè)葉片平行布置。
4.根據(jù)任一前述權(quán)利要求的電接觸件，其中所述三個(gè)或更多個(gè)葉片的一些或全部包括平面的表面。
5.根據(jù)權(quán)利要求4的電接觸件，其中該平面的表面配置成使得它平行于電氣部件的平面，該電氣部件能與電接觸件協(xié)作操作。
6.根據(jù)任一前述權(quán)利要求的電接觸件，其中所述三個(gè)或更多個(gè)葉片布置成定義兩個(gè)或更多個(gè)隔離溝道，所述溝道配置成使每個(gè)所述三個(gè)或更多個(gè)葉片彼此電隔離。
7.根據(jù)權(quán)利要求6的電接觸件，其中每個(gè)所述三個(gè)或更多個(gè)葉片的寬度為使得所述兩個(gè)或更多個(gè)隔離溝道中的兩個(gè)的組合寬度加上單個(gè)葉片的寬度小于電氣部件的電接觸件的寬度。
8.根據(jù)任一前述權(quán)利要求的電接觸件，其中所述葉片的一些或全部可包括金、貴金屬、BeNi或BeCu中的至少一種。
9.根據(jù)任一前述權(quán)利要求的電接觸件，其中所述葉片的一些或全部包括鎢。
10.根據(jù)任一前述權(quán)利要求的電接觸件，其中該電接觸件還包括保持構(gòu)件，該保持構(gòu)件保持所述三個(gè)或更多個(gè)葉片使得它們相對(duì)于彼此處于固定位置。
11.一種適合于接收待測(cè)試電氣部件的測(cè)試平臺(tái)，其中該測(cè)試平臺(tái)包括一個(gè)或多個(gè)根據(jù)權(quán)利要求1-10中任意一項(xiàng)的電接觸件。
12.根據(jù)權(quán)利要求11的測(cè)試平臺(tái)，其中所述一個(gè)或多個(gè)電接觸件的至少一些布置在同一取向。
13.—種測(cè)試機(jī)器部件，包括保持器構(gòu)件，該保持器構(gòu)件包括至少一個(gè)根據(jù)權(quán)利要求1-10中任意一項(xiàng)的電接觸件的任何一個(gè)，其中該測(cè)試機(jī)器部件配置成使得它能夠與該測(cè)試機(jī)器協(xié)作。
14.根據(jù)權(quán)利要求13的測(cè)試機(jī)器部件，其中該測(cè)試機(jī)器包括多個(gè)根據(jù)權(quán)利要求1-10中任意一項(xiàng)的電接觸件。
15.根據(jù)權(quán)利要求13或14的測(cè)試機(jī)器部件，還包括引導(dǎo)裝置，該引導(dǎo)裝置配置成促進(jìn)該測(cè)試機(jī)器部件與該測(cè)試機(jī)器的協(xié)作。
全文摘要
根據(jù)本發(fā)明，提供了一種電接觸件，其包括三個(gè)或更多個(gè)葉片從而促進(jìn)通過部件的電接觸件建立所述三個(gè)或更多個(gè)葉片的至少兩個(gè)之間的電連接。還提供了一種適合于接收待測(cè)試電氣部件的測(cè)試平臺(tái)，其中測(cè)試平臺(tái)包括一個(gè)或多個(gè)前述電接觸件。還提供了一種測(cè)試機(jī)器部件，其包括保持器構(gòu)件，該保持器構(gòu)件包括任何一種前述電接觸件，其中測(cè)試機(jī)器部件配置成使得它能夠與該測(cè)試機(jī)器協(xié)作。
文檔編號(hào)H01R13/24GK103026555SQ201180037759
公開日2013年4月3日 申請(qǐng)日期2011年9月1日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月30日
發(fā)明者莊建益, 張錫海 申請(qǐng)人:伊斯梅卡半導(dǎo)體控股公司