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反射式背光源檢測方法及其結(jié)構(gòu)的制作方法

文檔序號:7231924閱讀:309來源:國知局
專利名稱:反射式背光源檢測方法及其結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及透光待測物的檢測技術(shù),特別是指一種用于檢測透 光待測物的反射式背光源檢測方法及其結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
等離子體、液晶與有機發(fā)光二極管(organic light emitting display; 0LED )顯示器是透過多數(shù)主動像素元(active picture cells)進行發(fā)光,各該像素元是由三個可分別發(fā)出紅光、綠光以及 藍光的次像素(sub-pixels)所組成。如果該像素元的其中一個次像 素發(fā)生故障,該像素元就會發(fā)出錯誤的顏色,而無法正常顯示,該主 動像素元貝U稱為缺陷點(dot defect; mura defect)。所謂缺陷點,是指顯示器上無法控制的像素元。缺陷點可分為 兩種亮點與暗點;其中,亮點是指在任何畫面下持續(xù)恒亮的點,切 換到黑屏(black screen)時就可以發(fā)現(xiàn);暗點則是在任何畫面下持 續(xù)恒暗的點,切換到白屏(white screen)時就可以發(fā)現(xiàn)。缺陷點的 造成多為液晶面板于生產(chǎn)時,因制程控制不良等因素所造成,其原因 包含有微粒(particle)落在玻璃基板內(nèi)、光阻劑蝕刻薄膜的殘留 雜質(zhì)、薄膜晶體管電路上覆蓋的雜質(zhì)、玻璃基板因靜電傷害而受到破 壞等情形,都會造成缺陷點的形成。為防止顯示面板出現(xiàn)上述情形,必須依賴玻璃基板的檢測作業(yè),運用對透光待測物的檢測技術(shù)對不良品進行篩選。在玻璃基板的檢測 作業(yè)中,現(xiàn)有檢測作業(yè)是先使用一光源進行打光,以提供足夠的光源, 再使用一高分辨率的攝影機或者掃瞄器描繪光的輸出狀態(tài);對玻璃基 板進行缺陷點的檢測,以確保顯示面板的質(zhì)量。請參閱圖3至圖5,其為現(xiàn)有檢測作業(yè)時的打光方式,大致可分 為三種亮場打光(light-field illumination )、暗場打光 (dark-field illumination ) 以及同軸打光 (coaxial illumination)。其中,亮場打光是利用物體表面鏡射的方式來照明, 使表面平滑的區(qū)域會因反射產(chǎn)生較亮的影像,表面粗糙的區(qū)域則因散 射產(chǎn)生較暗的影像(如圖3所示);暗場打光是利用物體表面散射的 方式來照明,使表面平滑的區(qū)域會因反射產(chǎn)生較暗的影像,表面粗糙 的區(qū)域則因散射產(chǎn)生較亮的影像(如圖4所示);但,此二種打光方式,容易產(chǎn)生方向性陰影而造成誤判,若不對影像再進行二值化處理, 將致使誤判的機率提高,具有檢測效果不佳的缺點。同軸打光是將光 源嵌設(shè)于攝影機內(nèi),或者透過分光鏡自攝影機前進行打光,目的在于減少方向性陰影的形成,可以提供較均勻的照明效果(如圖5所示);然而,此種方式容易于平滑表面產(chǎn)生強烈反射,且構(gòu)件較多而不易于 有限空間內(nèi)進行安裝,攝影機的工作距離容易受到限制,具有檢測效 果不佳以及裝設(shè)不易的缺點。為解決上述問題,有業(yè)者分別于光源與攝影機以加裝偏振片(polaroid)的方式進行檢測作業(yè),以達到減少過度反射的影響;然 而,此種方式所檢索的影像相較于前述現(xiàn)有技術(shù)偏暗,容易造成誤判, 具有檢測效果不佳的缺點。綜上所陳,現(xiàn)有的檢測方法,具有上述的缺失而有待改進。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的主要目的在于提供一種反射式背光源檢測方法,能夠 提供照明均勻的效果,并克服方向性陰影的問題,具有提高檢測效果 的優(yōu)點。于是,為了達成前述目的,依據(jù)本發(fā)明所提供的一種反射式背 光源檢測方法,包含下列各步驟提供一透光待測物以及一反光板, 該反光板是位于該透光待測物底側(cè);提供一環(huán)型光纖以及一光源,該 環(huán)型光纖是可位移地位于該透光待測物頂側(cè),且未接觸該透光待測 物,該光源可對該環(huán)型光纖進行投射;當該光源投射于該環(huán)型光纖, 會形成多條入射光,各該入射光會自該環(huán)型光纖穿經(jīng)該透光待測物,再經(jīng)由該反光板形成多條反射光;提供一檢測鏡頭,是透過該反射光對該透光待測物進行檢測,以檢知該透光待測物的品質(zhì)。通過此,本發(fā)明透過上述方法,能夠提供照明均勻的效果,以供進行檢測作業(yè),并克服方向性陰影的問題,降低瑕疵點誤判的機率,其相較于現(xiàn)有者,具有提高檢測效果的優(yōu)點。為了詳細說明本發(fā)明的構(gòu)造及特點所在,茲舉以下較一佳實施例并配合圖式說明如后,其中


圖1是本發(fā)明一較佳實施例的動作流程圖;圖2是本發(fā)明一較佳實施例的結(jié)構(gòu)示意圖;圖3是現(xiàn)有檢測方法的結(jié)構(gòu)示意圖,其揭示以亮場方式打光的狀態(tài);圖4是現(xiàn)有檢測方法的結(jié)構(gòu)示意圖,其揭示以暗場方式打光的狀態(tài);6圖5是現(xiàn)有檢測方法的結(jié)構(gòu)示意圖,其揭示以同軸方式打光的狀態(tài)。主要組件符號說明透光待測物10環(huán)型光纖30 光源40 反射光44反光板20 穿孔32 入射光42 檢測鏡頭50具體實施方式
請參閱圖1及圖2,其為本發(fā)明一較佳實施例所提供的一種反射 式背光源檢測方法,包含下列各步驟a) 首先,提供一透光待測物10以及一反光板20,該反光板20 是位于該透光待測物IO底側(cè);其中,本實施例的該透光待測物IO是以玻璃基板為例;b) 提供一環(huán)型光纖30以及一光源40;該環(huán)型光纖30是具有一 穿孔32且可位移地位于該透光待測物10頂側(cè),且未接觸該透光待測 物10;該光源40可對該環(huán)型光纖30進行投射;c) 當該光源40投射于該環(huán)型光纖30,會形成多條入射光42, 各該入射光42會自該環(huán)型光纖30穿經(jīng)該透光待測物10,再經(jīng)由該 反光板20形成多條反射光44;該反射光44會先穿經(jīng)該透光待測物 10,再穿經(jīng)該穿孔32;d) 提供一檢測鏡頭50,該檢測鏡頭50為顯微鏡激光組且對應(yīng) 該穿孔32,并可與該環(huán)型光纖30同步位移;該檢測鏡頭50透過該反射光44對該透光待測物10進行檢測,以檢知該透光待測物10的 品質(zhì)。通過此,本發(fā)明透過上述方法,能夠透過該環(huán)型光纖30提供較 柔和均勻的照明效果,可以減少強烈反射的情形產(chǎn)生;同時,透過該 入射光42自該反光板20貫穿該透光待測物10,使該反射光44對于非透明物體例如微?;螂s質(zhì)以及裂縫可產(chǎn)生高對比的影像,有利于 該檢測鏡頭50進行檢測作業(yè);再者,本發(fā)明可以克服方向性陰影的 問題,降低該檢測鏡頭50誤判瑕疵點的機率,其相較于現(xiàn)有技術(shù), 具有提高檢測效果的優(yōu)點。經(jīng)由上述實施例可以得知,本發(fā)明透過上述方法,能夠提供照 明均勻的效果,以供進行檢測作業(yè),并克服方向性陰影的問題,降低 瑕疵點誤判的機率,其相較于現(xiàn)有技術(shù),具有提高檢測效果的優(yōu)點。綜上所陳,本發(fā)明于前揭實施例中所揭露的構(gòu)成組件,僅為舉 例說明,并非用來限制本案的范圍,其它等效組件的替代或變化,亦 應(yīng)為本案的申請專利范圍所涵蓋。
權(quán)利要求
1.一種反射式背光源檢測方法,其特征在于包含下列各步驟a)提供一透光待測物以及一反光板,該反光板是位于該透光待測物底側(cè);b)提供一環(huán)型光纖以及一光源,該環(huán)型光纖是可位移地位于該透光待測物頂側(cè),且未接觸該透光待測物,該光源對該環(huán)型光纖進行投射;c)當該光源投射于該環(huán)型光纖,會形成多條入射光,各該入射光會自該環(huán)型光纖穿經(jīng)該透光待測物,再經(jīng)由該反光板形成多條反射光;以及d)提供一檢測鏡頭,是透過該反射光對該透光待測物進行檢測,以檢知該透光待測物的品質(zhì)。
2. 依據(jù)權(quán)利要求1所述的反射式背光源檢測方法,其特征在于 步驟b)的該環(huán)型光纖是具有一穿孔,該穿孔對應(yīng)步驟c)的該檢測 鏡頭,步驟d)的該反射光穿經(jīng)該穿孔。
3. 依據(jù)權(quán)利要求1所述的反射式背光源檢測方法,其特征在于 步驟d)的該檢測鏡頭,為顯微鏡激光組。
4. 依據(jù)權(quán)利要求1所述的反射式背光源檢測方法,其特征在于步驟d)的該檢測鏡頭,是與該環(huán)型光纖同步位移。
5. —種反射式背光源檢測結(jié)構(gòu),是用于檢測一玻璃機板,其特征在于該反射式背光源檢測結(jié)構(gòu)包含有一反光板,是位于該透光待測物底側(cè);一環(huán)型光纖,是可位移地位于該透光待測物頂側(cè),且未接觸該透光待測物;一光源,對該環(huán)型光纖進行投射,以形成多條入射光,各該入 射光會自該環(huán)型光纖穿經(jīng)該透光待測物,再經(jīng)由該反光板形成多條反射光;以及一檢測鏡頭,是透過該反射光對該透光待測物進行檢測,以檢 知該透光待測物的品質(zhì)。
6. 依據(jù)權(quán)利要求5所述的反射式背光源檢測結(jié)構(gòu),其特征在于該環(huán)型光纖是具有一穿孔,該穿孔對應(yīng)該檢測鏡頭,該反射光穿經(jīng)該 穿孔。
7. 依據(jù)權(quán)利要求5所述的反射式背光源檢測結(jié)構(gòu),其特征在于該檢測鏡頭為顯微鏡激光組。
8. 依據(jù)權(quán)利要求5所述的反射式背光源檢測結(jié)構(gòu),其特征在于該檢測鏡頭是與該環(huán)型光纖同步位移。
全文摘要
本發(fā)明一種反射式背光源檢測方法,包含下列各步驟提供一透光待測物以及一反光板,反光板是位于透光待測物底側(cè);提供一環(huán)型光纖以及一光源,環(huán)型光纖是可位移地位于透光待測物頂側(cè),且未接觸透光待測物,光源可對環(huán)型光纖進行投射;當光源投射于環(huán)型光纖,會形成多條入射光,各入射光會自環(huán)型光纖穿經(jīng)透光待測物,再經(jīng)由反光板形成多條反射光;提供一檢測鏡頭,是透過該反射光對透光待測物進行檢測,以檢知透光待測物的品質(zhì)。
文檔編號H01L21/66GK101324536SQ200710108438
公開日2008年12月17日 申請日期2007年6月14日 優(yōu)先權(quán)日2007年6月14日
發(fā)明者葉公旭, 黃嘉興 申請人:東捷科技股份有限公司
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