專利名稱：Ic測(cè)試分類機(jī)吸持裝置的套合件的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及集成電路(IC)測(cè)試分類機(jī)，尤其涉及一種IC測(cè)試分類機(jī)吸持裝置的套合件。
BGA或PGA型式的IC在制造完成后，需再用IC測(cè)試分類機(jī)作功能測(cè)試，將瑕疵品檢測(cè)出來。請(qǐng)參閱

圖1，IC測(cè)試分類機(jī)包括有一吸持裝置11、一測(cè)試板12、及一測(cè)試座13，其中該吸持裝置11的一端連接一機(jī)械手臂(圖未示)，另一端設(shè)有一吸盤111可吸取IC15，內(nèi)部設(shè)有一空氣管路112至該吸盤111，藉由該空氣管路112提供吸氣，形成吸取IC的吸力。請(qǐng)參閱圖2，該吸持裝置11為了定位IC15，其外圍套設(shè)有一套合件14，該套合件14一體成形有一固定板141及一套合環(huán)壁142，該固定板141的中間設(shè)有一方形的開口143，四角落設(shè)有四個(gè)穿孔144，藉以與該吸持裝置11固定，該四個(gè)穿孔144間對(duì)稱設(shè)有四個(gè)穿孔145；該套合環(huán)壁142對(duì)應(yīng)于該固定板141的開口143垂直延伸。該測(cè)試板12用以與IC15電連接，測(cè)試IC功能是否正常。該測(cè)試座13設(shè)于測(cè)試板12上，其上對(duì)應(yīng)該套合件14的四個(gè)穿孔145設(shè)有四個(gè)卡梢131，當(dāng)該吸持裝置11吸取IC15至該測(cè)試板12作測(cè)試時(shí)該卡梢131可穿過該套合件14的穿孔145，藉以定位IC15放于該測(cè)試板12的位置。該IC15的外形包括有一電路板151及凸出的膠體152，該電路板151設(shè)有多數(shù)間隔排列的錫球153，該套合環(huán)壁142的外端內(nèi)緣即套合該IC15的膠體152。由上述的說明可知IC測(cè)試分類機(jī)吸持該IC15至該測(cè)試板12作測(cè)試的位置藉由該套合件14作定位。
由于習(xí)知套合件14的套合環(huán)壁142外端內(nèi)緣未設(shè)有斜角，為了方便與IC15的膠體152套合，該套合環(huán)壁142之內(nèi)寬必然需略大于該IC15的膠體152，如此使得兩者在套合后則形成有間隙b，該吸持裝置11在吸持該IC15作測(cè)試時(shí)難以準(zhǔn)確定位，而且由于目前IC的錫球153間距僅有1.27mm，甚為精密，更加使得因定位上的誤差，而產(chǎn)生不正確的測(cè)試結(jié)果，造成產(chǎn)品的損失，即原本若是應(yīng)該正常的IC，若是在測(cè)試時(shí)定位不良，會(huì)使錫球與測(cè)試板的接觸有誤差，因而可能會(huì)得到不良的測(cè)試結(jié)果，進(jìn)而被誤判為不良品。
本實(shí)用新型的目的在于克服以上現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種可配合IC的外形邊緣斜角作套合，定位良好，能避免在測(cè)試上造成誤差的IC測(cè)試分類機(jī)吸持裝置的套合件。
為達(dá)上述目的，本實(shí)用新型的IC測(cè)試分類機(jī)吸持裝置的套合件，套合固定于吸持裝置吸持IC的一端，藉以套合IC，其一體地設(shè)有一中間設(shè)有一開口的固定板，固定板的一面與吸持裝置固定；和一以固定板的開口為中心向另一面垂直延伸的套合環(huán)壁，套合環(huán)壁外端的內(nèi)壁設(shè)有配合IC的外形的傾斜面。
藉由以上構(gòu)造，該套合件與IC藉由傾面的接合，即可形成易于導(dǎo)入，不需保留有方便套合的間隙，故定位IC時(shí)不會(huì)有偏位，可達(dá)到測(cè)試的準(zhǔn)確性。
本實(shí)用新型的上述及其它目的、優(yōu)點(diǎn)和特色由以下較佳實(shí)施例并結(jié)合附圖進(jìn)行詳細(xì)說明。
圖1為習(xí)知IC測(cè)試分類機(jī)的測(cè)試時(shí)剖面?zhèn)纫晥D。
圖2為習(xí)知IC測(cè)試分類機(jī)的吸持裝置的套合件立體圖。
圖3為本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的吸持裝置的套合件立體圖。
圖4為本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的測(cè)試時(shí)剖面?zhèn)纫晥D。
圖中標(biāo)號(hào)說明11---吸持裝置12---測(cè)試板13---測(cè)試座 131---卡梢15---IC 151---電路板152---膠體 153---錫球2---套合件21---固定板 22---開口23---穿孔24---穿孔25---套合環(huán)壁251---傾斜面請(qǐng)參閱圖3、4為本實(shí)用新型的一較佳實(shí)施例，該IC測(cè)試分類機(jī)包括有一吸持裝置11、一測(cè)試板12、及一測(cè)試座13，此部份為公知的，不在此重復(fù)贅言，本實(shí)用新型的套合件2套合固定于該吸持裝置11吸持IC15的一端，藉以套合IC15，一體地設(shè)有
一固定板21，中間設(shè)有一開口22，四角落設(shè)有四個(gè)穿孔23，藉以與該吸持裝置11固定，該四個(gè)穿孔23間對(duì)稱設(shè)有四個(gè)穿孔24，藉以與測(cè)試座13的卡梢131卡定；及一套合環(huán)壁25對(duì)應(yīng)于該固定板21的開口22垂直延伸，使得該開口22位于該套合環(huán)壁25之中，其外端的內(nèi)壁設(shè)有與垂直壁面呈30度角的傾斜面251，藉以配合該IC15的外形，由于該集成電路(IC)的膠體152的邊緣亦設(shè)有30度傾面。
藉由以上構(gòu)造，當(dāng)吸持裝置11吸持IC15時(shí)，該套合件套合環(huán)壁25的傾斜面251可與IC的膠體152緊密接合，由于兩者藉由傾面的接合，即可藉傾面而形成易于導(dǎo)入，不需再于兩者間如現(xiàn)有技術(shù)為了方便套合而保留有間隙，如此不會(huì)因間隙而有偏位，故可達(dá)到極為穩(wěn)固且正確的定位效果，IC的錫球153與測(cè)試板能有正確的接觸，達(dá)到正確的測(cè)試，不會(huì)造成因錫球的偏位造成測(cè)試上誤判的損失。
在較佳實(shí)施例詳細(xì)說明中所提出的具體實(shí)施例，僅為了說明本實(shí)用新型的技術(shù)內(nèi)容，并非限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍，凡依本實(shí)用新型的精神及權(quán)利要求所作的種種變化實(shí)施，均屬本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種集成電路(IC)測(cè)試分類機(jī)吸持裝置的套合件，它套合固定在所述吸持裝置吸持IC的一端，其一體地設(shè)有一中間設(shè)有一開口的固定板，所述固定板的一面與所述吸持裝置固定；和一以所述固定板的開口為中心向另一面垂直延伸的套合環(huán)壁，其特征在于所述套合環(huán)壁外端的內(nèi)壁設(shè)有配合IC的外形的傾斜面。
2.如權(quán)利要求1所述的IC測(cè)試分類機(jī)吸持裝置的套合件，其特征在于所述套合環(huán)壁的傾斜面與壁面呈30度角。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種集成電路(IC)測(cè)試分類機(jī)吸持裝置的套合件,套合固定在吸持裝置吸持IC的一端,其一體地設(shè)有:一中間設(shè)有開口的固定板,固定板的一面與吸持裝置固定;和以所述固定板的開口為中心向另一面垂直延伸的套合環(huán)壁,套合環(huán)壁外端的內(nèi)壁設(shè)有配合IC外形的傾斜面。藉由以上構(gòu)造,套合件與IC藉由傾斜面接合,可形成易于導(dǎo)入,無保留方便套合的間隙,故定位IC時(shí)不會(huì)有偏位,達(dá)到測(cè)試的準(zhǔn)確性。
文檔編號(hào)H01L21/66GK2483835SQ0120801
公開日2002年3月27日 申請(qǐng)日期2001年3月16日 優(yōu)先權(quán)日2001年3月16日
發(fā)明者謝來福, 黃清榮, 廖沐盛, 謝宜璋 申請(qǐng)人:矽統(tǒng)科技股份有限公司