磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器、測(cè)試槽組件和磁盤驅(qū)動(dòng)器測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
【專利說(shuō)明】磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器、測(cè)試槽組件和磁盤驅(qū)動(dòng)器測(cè)試系統(tǒng)
[0001]本申請(qǐng)是申請(qǐng)日為2008年12月10日、國(guó)際申請(qǐng)?zhí)枮椤癙CT/US2008/086181”、中國(guó)申請(qǐng)?zhí)枮椤?00880126181.5”、發(fā)明名稱為“磁盤驅(qū)動(dòng)器的運(yùn)送、夾緊和測(cè)試”的中國(guó)專利申請(qǐng)的分案申請(qǐng)。
技術(shù)領(lǐng)域
[0002]本公開涉及磁盤驅(qū)動(dòng)器的運(yùn)送、夾緊和測(cè)試。
【背景技術(shù)】
[0003]磁盤驅(qū)動(dòng)器制造商典型地測(cè)試已制造的磁盤驅(qū)動(dòng)器以便符合要求的集合。存在用來(lái)串聯(lián)地或并聯(lián)地測(cè)試大量磁盤驅(qū)動(dòng)器的測(cè)試設(shè)備和技術(shù)。制造商傾向于同時(shí)地或成批地測(cè)試大量磁盤驅(qū)動(dòng)器。磁盤驅(qū)動(dòng)器測(cè)試系統(tǒng)典型地包括具有接收用于測(cè)試的磁盤驅(qū)動(dòng)器的多個(gè)測(cè)試槽的一個(gè)或更多個(gè)測(cè)試機(jī)架。在一些情況下，磁盤驅(qū)動(dòng)器放置在用于將磁盤驅(qū)動(dòng)器裝載到測(cè)試機(jī)架和從測(cè)試機(jī)架卸載磁盤驅(qū)動(dòng)器的運(yùn)載體中。
[0004]磁盤驅(qū)動(dòng)器的緊鄰周圍的測(cè)試環(huán)境被精密地調(diào)節(jié)。測(cè)試環(huán)境中的最小溫度波動(dòng)對(duì)于精確測(cè)試條件和磁盤驅(qū)動(dòng)器的安全來(lái)說(shuō)是關(guān)鍵的。具有更大容量、更快旋轉(zhuǎn)速度和更小磁頭間隙的最新一代磁盤驅(qū)動(dòng)器對(duì)振動(dòng)更加敏感。過(guò)度的振動(dòng)可影響測(cè)試結(jié)果的可靠性和電連接的完整性。在測(cè)試條件下，驅(qū)動(dòng)器它們自己可通過(guò)支撐結(jié)構(gòu)或固定件將振動(dòng)傳播到相鄰單元。這種振動(dòng)“串?dāng)_”與外部振動(dòng)源一起促成沖擊錯(cuò)誤(bump error)、磁頭拍打和不可重復(fù)偏離(NRRO)，這些可導(dǎo)致較低的合格率和增加的制造成本。目前的磁盤驅(qū)動(dòng)器測(cè)試系統(tǒng)采用啟動(dòng)系統(tǒng)中的過(guò)度振動(dòng)和/或需要大的占地面積的自動(dòng)化和結(jié)構(gòu)支撐系統(tǒng)。
[0005]在一些情況中，為了對(duì)抗不希望的振動(dòng)，磁盤驅(qū)動(dòng)器被夾緊到載體和/或測(cè)試機(jī)架以便抑制或阻尼振動(dòng)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]在一個(gè)方面中，一種磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器，用于運(yùn)送磁盤驅(qū)動(dòng)器和用于將磁盤驅(qū)動(dòng)器安裝在測(cè)試槽內(nèi)，包括被構(gòu)造成接收和支撐磁盤驅(qū)動(dòng)器的框架。該框架包括一對(duì)側(cè)壁，這對(duì)側(cè)壁被構(gòu)造成在其間接收磁盤驅(qū)動(dòng)器并被確定尺寸以與磁盤驅(qū)動(dòng)器一起被插入到測(cè)試槽中。該框架還包括與側(cè)壁中的至少一個(gè)以可操作的方式關(guān)聯(lián)的夾緊機(jī)構(gòu)。夾緊機(jī)構(gòu)包括第一接合元件和第一致動(dòng)器，該第一致動(dòng)器能夠操作以啟動(dòng)第一接合元件的運(yùn)動(dòng)。在由框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器被布置在測(cè)試槽中的測(cè)試位置中之后，第一致動(dòng)器能夠操作以將第一接合元件移動(dòng)成與測(cè)試槽形成接合。
[0007]實(shí)施例可包括以下特征中的一個(gè)或多個(gè)。在一些實(shí)施例中，第一致動(dòng)器能夠操作以將第一接合元件移動(dòng)成與由框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器形成接合。
[0008]在某些實(shí)施例中，第一接合元件包括第一和第二接合構(gòu)件。在一些情況中，第一致動(dòng)器能夠操作以啟動(dòng)第一和第二接合構(gòu)件的運(yùn)動(dòng)。
[0009]在一些實(shí)施例中，在由框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器被布置在測(cè)試槽中的測(cè)試位置中之后，第一致動(dòng)器能夠操作以將第一接合構(gòu)件移動(dòng)成與測(cè)試槽形成接合。在一些情況中，第一致動(dòng)器能夠操作以將第二接合構(gòu)件移動(dòng)成與由框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器形成接合。
[0010]在某些實(shí)施例中，第二接合構(gòu)件包括阻尼器。阻尼器可包括選自熱塑性塑料和/或熱固性橡膠(rubberthermoset)的阻尼材料。阻尼器可包括隔離或阻尼材料。
[0011 ] 在一些實(shí)施例中，第一致動(dòng)器能夠操作以使第一和第二接合構(gòu)件沿大體上相反的方向相對(duì)于彼此移動(dòng)。在一些情況中，第一致動(dòng)器能夠操作以大體上同時(shí)地移動(dòng)第一和第二接合構(gòu)件。
[0012]在某些實(shí)施例中，第一接合元件包括被構(gòu)造成與測(cè)試槽中的配合特征部接合的隆起。
[0013]在一些實(shí)施例中，第一接合元件包括阻尼器。阻尼器可包括選自熱塑性塑料和/或熱固性橡膠的阻尼材料。
[0014]在某些實(shí)施例中，第一接合元件包括彈簧夾具。彈簧夾具包括基部以及第一和第二彈簧臂。第一和第二彈簧臂各包括連接到基部的近端以及可移位的遠(yuǎn)端。在一些情況中，致動(dòng)器能夠操作以啟動(dòng)第一和第二彈簧臂的遠(yuǎn)端的運(yùn)動(dòng)。
[0015]在一些實(shí)施例中，第一致動(dòng)器可相對(duì)于框架樞轉(zhuǎn)以啟動(dòng)第一接合元件的運(yùn)動(dòng)。
[0016]在某些實(shí)施例中，第一致動(dòng)器包括沿第一軸線從近端延伸到遠(yuǎn)端的細(xì)長(zhǎng)本體。第一致動(dòng)器可繞第一軸線旋轉(zhuǎn)以啟動(dòng)第一接合構(gòu)件的運(yùn)動(dòng)。
[0017]在一些實(shí)施例中，第一致動(dòng)器可相對(duì)于框架線性移位以啟動(dòng)第一接合構(gòu)件的運(yùn)動(dòng)。
[0018]在某些實(shí)施例中，側(cè)壁中的第一個(gè)限定第一致動(dòng)器槽，并且第一致動(dòng)器至少部分地布置在第一致動(dòng)器槽內(nèi)。在一些情況中，第一致動(dòng)器可在第一致動(dòng)器槽內(nèi)移動(dòng)以啟動(dòng)第一接合構(gòu)件的運(yùn)動(dòng)。
[0019]在一些實(shí)施例中，夾緊機(jī)構(gòu)包括第二接合元件，并且第一致動(dòng)器能夠操作以啟動(dòng)第二接合元件的運(yùn)動(dòng)。在一些情況中，在由框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器被布置在測(cè)試槽中的測(cè)試位置中之后，第一致動(dòng)器能夠操作以將第二接合元件移動(dòng)成與測(cè)試槽形成接合。在一些情況中，第一致動(dòng)器能夠操作以將第二接合元件移動(dòng)成與由框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器形成接入口 ο
[0020]在某些實(shí)施例中，夾緊機(jī)構(gòu)包括第二接合元件，并且第二致動(dòng)器能夠操作以啟動(dòng)第二接合元件的運(yùn)動(dòng)。在一些情況中，第二致動(dòng)器可以獨(dú)立于第一致動(dòng)器地操作以啟動(dòng)第二接合元件的運(yùn)動(dòng)。在某些情況中，在由框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器被布置在測(cè)試槽中的測(cè)試位置中之后，第二致動(dòng)器能夠操作以將第二接合元件移動(dòng)成與測(cè)試槽形成接合。在一些情況中，第二致動(dòng)器能夠操作以將第二接合元件移動(dòng)成與由框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器形成接入口 ο
[0021]在一些實(shí)施例中，第一致動(dòng)器限定用于啟動(dòng)第一接合元件的運(yùn)動(dòng)的致動(dòng)特征部。在一些情況中，致動(dòng)特征部包括楔形部和凹進(jìn)部。
[0022]在某些實(shí)施例中，框架包括連接到側(cè)壁的基板。在一些情況中，側(cè)壁和基板一起限定用于從支架俘獲磁盤驅(qū)動(dòng)器的大體上U形的開口。
[0023]在另一方面中，磁盤驅(qū)動(dòng)器測(cè)試槽包括限定測(cè)試隔室的外殼，該測(cè)試隔室用于接收和支撐攜載用于測(cè)試的磁盤驅(qū)動(dòng)器的磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器。該外殼還限定敞開端部，該敞開端部提供到測(cè)試隔室的通路以便插入和移除攜載用于測(cè)試的磁盤驅(qū)動(dòng)器的磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器。測(cè)試槽還包括安裝到外殼的第一接合元件。第一接合元件被構(gòu)造成當(dāng)磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器被插入到測(cè)試隔室中時(shí)與由磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器攜載的磁盤驅(qū)動(dòng)器接合。
[0024]實(shí)施例可包括以下特征中的一個(gè)或多個(gè)。在一些實(shí)施例中，第一接合元件包括夾緊彈費(fèi)。
[0025]在某些實(shí)施例中，第一接合元件包括阻尼器。在一些情況中，阻尼器被構(gòu)造成當(dāng)磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器被插入到測(cè)試隔室中時(shí)與由磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器攜載的磁盤驅(qū)動(dòng)器接合。在某些情況中，阻尼器包括阻尼材料，該阻尼材料包括熱塑性塑料和熱固性橡膠。
[0026]在另外的方面中，磁盤驅(qū)動(dòng)器測(cè)試系統(tǒng)包括自動(dòng)機(jī)械和磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器。磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器包括被構(gòu)造成接收和支撐磁盤驅(qū)動(dòng)器的框架。該自動(dòng)機(jī)械被構(gòu)造成以可釋放的方式與框架接合以控制磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器的運(yùn)動(dòng)。磁盤驅(qū)動(dòng)器測(cè)試系統(tǒng)還包括:裝載站，該裝載站用于存儲(chǔ)要被測(cè)試的磁盤驅(qū)動(dòng)器；和測(cè)試槽，該測(cè)試槽被構(gòu)造成接收和支撐攜載磁盤驅(qū)動(dòng)器的磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器。該自動(dòng)機(jī)械能夠操作以利用磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器從裝載站移除磁盤驅(qū)動(dòng)器和將磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器在其內(nèi)具有磁盤驅(qū)動(dòng)器的情況下插入到測(cè)試槽中。
[0027]實(shí)施例可包括以下特征中的一個(gè)或多個(gè)。在一些實(shí)施例中，自動(dòng)機(jī)械包括機(jī)器人。機(jī)器人可包括例如可移動(dòng)的臂和連接到該可移動(dòng)的臂的機(jī)械手。在一些情況中，機(jī)械手被構(gòu)造成以可釋放的方式與框架接合以控制磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器的運(yùn)動(dòng)。在某些情況中，機(jī)器人能夠操作以利用磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器從裝載站移除磁盤驅(qū)動(dòng)器和將磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器在其內(nèi)具有磁盤驅(qū)動(dòng)器的情況下插入到測(cè)試槽中。
[0028]在某些實(shí)施例中，框架包括限定有凹陷的面板，該凹陷被構(gòu)造成可以被自動(dòng)機(jī)械以可釋放的方式接合。
[0029]在一些實(shí)施例中，框架包括夾緊機(jī)構(gòu)。在一些情況中，夾緊機(jī)構(gòu)包括第一接合元件和第一致動(dòng)器，該第一致動(dòng)器能夠操作以啟動(dòng)第一接合元件的運(yùn)動(dòng)。在某些例子中，在由框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器被布置在測(cè)試槽中的測(cè)試位置中之后，第一致動(dòng)器能夠操作以將第一接合元件移動(dòng)成與測(cè)試槽形成接合。在某些情況中，自動(dòng)機(jī)械被構(gòu)造成控制夾緊機(jī)構(gòu)的操作。在一些情況中，該框架包括一對(duì)側(cè)壁，這對(duì)側(cè)壁被構(gòu)造成在其間接收磁盤驅(qū)動(dòng)器并被確定尺寸以與磁盤驅(qū)動(dòng)器一起被插入到測(cè)試槽中以用于磁盤驅(qū)動(dòng)器的測(cè)試。在一些例子中，夾緊機(jī)構(gòu)以可操作的方式與側(cè)壁中的至少一個(gè)關(guān)聯(lián)。
[0030]在又一方面中，一種磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器，用于運(yùn)送磁盤驅(qū)動(dòng)器和用于將磁盤驅(qū)動(dòng)器安裝在測(cè)試槽內(nèi)，包括具有一對(duì)側(cè)壁的框架，這對(duì)側(cè)壁被構(gòu)造成在其間接收磁盤驅(qū)動(dòng)器并被確定尺寸以與磁盤驅(qū)動(dòng)器一起被插入到測(cè)試槽中。該框架也包括連接側(cè)壁的基板。側(cè)壁和基板一起限定用于從支架俘獲磁盤驅(qū)動(dòng)器的大體上U形的開口。
[0031]在另外的方面中，一種測(cè)試磁盤驅(qū)動(dòng)器的方法包括:致動(dòng)自動(dòng)機(jī)械以與磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器接合；利用磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器俘獲磁盤驅(qū)動(dòng)器；和隨后致動(dòng)自動(dòng)機(jī)械以將磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器和俘獲的磁盤驅(qū)動(dòng)器插入到測(cè)試槽中。俘獲磁盤驅(qū)動(dòng)器包括使用自動(dòng)機(jī)械將磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器移動(dòng)成與磁盤驅(qū)動(dòng)器形成接合。
[0032]實(shí)施例可包括以下特征中的一個(gè)或多個(gè)。在某些實(shí)施例中，致動(dòng)自動(dòng)機(jī)械包括致動(dòng)機(jī)器人臂。
[0033]在一些實(shí)施例中，磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器包括能夠操作以將磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器夾緊到測(cè)試槽的夾緊機(jī)構(gòu)，并且該方法包括在磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器和俘獲的磁盤驅(qū)動(dòng)器被插入到測(cè)試槽中之后致動(dòng)自動(dòng)機(jī)械以操作夾緊組件并且因此將磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器夾緊到測(cè)試槽。
[0034]在某些實(shí)施例中，俘獲磁盤驅(qū)動(dòng)器包括:致動(dòng)自動(dòng)機(jī)械以將磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器移動(dòng)到磁盤驅(qū)動(dòng)器下方的位置中；和致動(dòng)自動(dòng)機(jī)械以將磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器升高到與磁盤驅(qū)動(dòng)器接合的位置中。
[0035]在另一方面中，一種測(cè)試磁盤驅(qū)動(dòng)器的方法包括:致動(dòng)自動(dòng)機(jī)械以將攜載磁盤驅(qū)動(dòng)器的磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器插入到測(cè)試槽中；和在磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器和俘獲的磁盤驅(qū)動(dòng)器被插入到測(cè)試槽中之后，致動(dòng)自動(dòng)機(jī)械以操作夾緊機(jī)構(gòu)并且因此將磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器夾緊到測(cè)試槽。
[0036]實(shí)施例可包括以下特征中的一個(gè)或多個(gè)。在一些實(shí)施例中，致動(dòng)自動(dòng)機(jī)械包括致動(dòng)機(jī)器人臂。
[0037]在某些實(shí)施例中，該方法可包括致動(dòng)自動(dòng)機(jī)械以與夾緊組件接合并且因此將磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器夾緊到俘獲的磁盤驅(qū)動(dòng)器。
[0038]在另外的方面中，測(cè)試槽組件包括測(cè)試槽和磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器。測(cè)試槽包括限定測(cè)試隔室和敞開端部的外殼，該敞開端部提供到測(cè)試隔室的通路。磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器包括被構(gòu)造成接收和支撐磁盤驅(qū)動(dòng)器的框架。該框架包括一對(duì)側(cè)壁，這對(duì)側(cè)壁被構(gòu)造成在其間接收磁盤驅(qū)動(dòng)器并被確定尺寸以與磁盤驅(qū)動(dòng)器一起被插入到測(cè)試隔室中。該框架還包括與側(cè)壁中的至少一個(gè)以可操作的方式關(guān)聯(lián)的夾緊機(jī)構(gòu)。夾緊機(jī)構(gòu)包括第一接合元件和第一致動(dòng)器，該第一致動(dòng)器能夠操作以啟動(dòng)第一接合元件的運(yùn)動(dòng)。在由框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器被布置在測(cè)試隔室中的測(cè)試位置中之后，第一致動(dòng)器能夠操作以將第一接合元件移動(dòng)成與外殼形成接合。
[0039]實(shí)施例可包括以下特征中的一個(gè)或多個(gè)。在一些實(shí)施例中，第一接合元件包括第一和第二接合構(gòu)件，并且第一致動(dòng)器能夠操作以啟動(dòng)第一和第二接合構(gòu)件的運(yùn)動(dòng)。在一些例子中，在由框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器被布置在測(cè)試隔室中的測(cè)試位置中之后，第一致動(dòng)器能夠操作以將第一接合構(gòu)件移動(dòng)成與測(cè)試槽形成接合，并且第一致動(dòng)器能夠操作以將第二接合構(gòu)件移動(dòng)成與由框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器形成接合。在一些情況中，第二接合構(gòu)件包括阻尼器。在一些實(shí)施例中，第一致動(dòng)器能夠操作以使第一和第二接合構(gòu)件沿大體上相反的方向相對(duì)彼此移動(dòng)。在一些例子中，第一致動(dòng)器能夠操作以大體上同時(shí)地移動(dòng)第一和第二接合構(gòu)件。
[0040]在某些實(shí)施例中，外殼包括一對(duì)直立壁，這對(duì)直立壁被構(gòu)造成在其間接收框架的側(cè)壁。在一些情況中，直立壁中的第一個(gè)包括接合特征部，并且第一接合元件包括被構(gòu)造成與該接合特征部接合的隆起。在一些例子中，在側(cè)壁被插入到測(cè)試隔室中之后，第一致動(dòng)器能夠操作以將隆起移動(dòng)成與接合特征部形成接合。
[0041]在又一方面中，測(cè)試槽組件包括磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器和外殼。磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器包括被構(gòu)造成接收和支撐磁盤驅(qū)動(dòng)器的框架?？蚣馨ㄒ粚?duì)側(cè)壁，這對(duì)側(cè)壁被構(gòu)造成在其間接收磁盤驅(qū)動(dòng)器。側(cè)壁中的第一個(gè)限定貫通孔口。外殼限定:測(cè)試隔室，該測(cè)試隔室用于接