專利名稱：磁盤裝置中的磁頭控制單元的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于控制磁頭的磁頭控制單元，以便在再現(xiàn)操作期間磁頭在諸如軟盤(FD)之類磁盤中的目標(biāo)軌道中央尋找信息。
在傳統(tǒng)的軟盤驅(qū)動裝置中，采用步進(jìn)電機的步進(jìn)驅(qū)動機械裝置用做磁頭進(jìn)給單元，該單元用于將磁頭移動到要在磁盤的記錄平面上以同心方式進(jìn)行記錄的軌道。借助于該磁頭進(jìn)給單元的機械步進(jìn)操作，磁頭定位在軌道中。代替步進(jìn)驅(qū)動機械裝置的是，為一些軟盤驅(qū)動裝置設(shè)計了具有線性電機驅(qū)動的磁頭進(jìn)給單元，以使磁頭連續(xù)移動。
在這種類型的磁盤裝置中，檢測部分檢測磁頭返回到初始位置，并將這個信息報告給主計算機。運了使磁頭移動到磁盤的目標(biāo)軌道，主計算機向磁盤裝置發(fā)送與軌道一一對應(yīng)的步進(jìn)(STEP)脈沖形式的尋道(SEEK)指令脈沖。根據(jù)這個尋道指令脈沖，磁盤裝置將磁頭移動與尋道指令脈沖相應(yīng)的磁道數(shù)量。
在諸如傳統(tǒng)的軟盤驅(qū)動裝置之類的裝置中，由步進(jìn)電機驅(qū)動的螺絲軸與磁頭基座嚙合，由螺絲軸的旋轉(zhuǎn)來進(jìn)給磁頭。由于機械連接確定步進(jìn)電機旋轉(zhuǎn)和磁頭移動位置之間的關(guān)系，只需通過根據(jù)由主計算機發(fā)送的尋道指令脈沖驅(qū)動步進(jìn)電機來使磁頭移動到目標(biāo)軌道。
另一方面，采用具有線性電機驅(qū)動的磁頭進(jìn)給單元裝置中，由于磁頭基座在磁頭進(jìn)給單元內(nèi)具有柔性，需要提供一直檢測磁頭移動位置的檢測部分。
這樣的具有線性電機驅(qū)動的磁頭進(jìn)給單元例如包括在磁盤裝置中，其中，可以裝載其上記錄有用于跟蹤的伺服信號的高密度記錄盤和具有2兆字節(jié)(MB)容量的軟盤。要被裝載到這種類型磁盤裝置中的高密度磁盤也是柔性磁盤。在下面的描述中，具有2MB容量的柔性磁盤被稱為軟盤，將其與高密度盤區(qū)別開。
當(dāng)裝載高密度盤時，通過線性電機驅(qū)動使磁頭移動。當(dāng)磁頭讀取伺服信號時，確定磁頭已經(jīng)定位在軌道上。另一方面，當(dāng)裝載軟盤時，根據(jù)檢測部分的檢測輸出控制磁頭的進(jìn)給位置，并且使磁頭定位在軌道上。


圖14A表示為磁盤裝置提供的檢測部分檢測輸出的一個例子。該類型的檢測部分例如由一個標(biāo)尺形成，該標(biāo)尺具有為移動側(cè)和固定側(cè)之一設(shè)置的固定間距的隙縫和為另一側(cè)設(shè)置的一對光檢測裝置。當(dāng)磁頭基座移動時，可以由該成對的光檢測裝置獲得具有相對位差為四分之一周期(90度)的相位-A和相位-B的檢測輸出。
在圖14A中，水平軸表示磁頭在磁盤徑向的移動位置和相位-B檢測輸出的相位，垂直軸表示檢測輸出的強度(電壓)。如圖14A所示，相位-A檢測輸出和相位-B檢測輸出具有正弦曲線和余弦曲線或接近于這些三角函數(shù)曲線的關(guān)系。
如圖14A所示，在兩個檢測輸出的交點，要使用的檢測數(shù)據(jù)從相位-A檢測輸出轉(zhuǎn)換成相位-B檢測輸出，并且也進(jìn)行相反的轉(zhuǎn)換。結(jié)果，使用檢測輸出的一部分來檢測磁頭的移動位置，該檢測輸出的一部分呈線性，并由圖14A中的實線表示。圖14B表示根據(jù)檢測數(shù)據(jù)所計算的磁頭位置，由圖14A中的實線表示。水平軸表示相位-B檢測輸出的相位，垂直軸表示磁頭位置的檢測值。
如圖14A所示，借助于交替使用呈強線性的檢測輸出的部分，以高精度獲得檢測輸出和磁頭位置之間的關(guān)系，作為接近線性函數(shù)的關(guān)系，如圖14B所示。當(dāng)調(diào)整檢測部分的位置以便使與相位-B檢測輸出的相位0度、360度、720度、……相對應(yīng)的位置與軌道的中心對準(zhǔn)(match)時，總是能確實獲得磁頭位置與軌道中心的位置偏差。
當(dāng)由于例如外部沖擊引起的磁頭移動，使檢測部分的輸出值突然變化時，由于檢測輸出與磁頭位置線性相關(guān)，如圖14B所示，很容易確定磁頭是否移向磁盤的中心或移向外側(cè)。
在上面描述的使用具有隙縫和一對光檢測裝置標(biāo)尺的檢測部分中，不能消除標(biāo)尺中隙縫的機加工容差或光檢測裝置相對位置中的誤差。不能避免相位-A檢測輸出和相位-B檢測輸出之間相位差中的誤差，如圖14A所示。在實際裝置中，相位-A和相位-B檢測輸出之間的相位差可能偏移90度的基準(zhǔn)大約±30度。
圖15A表示相位-A檢測輸出與相位-B檢測輸出從初始90度的相位差偏離30度的一種情況。
調(diào)整檢測部分的位置，以便當(dāng)相位-B檢測輸出是0度、360度、720度……時，將磁頭定位在磁盤磁道的中心。在這種條件下，當(dāng)以與圖14A相同的定時將要使用的檢測數(shù)據(jù)從相位-A檢測輸出切換成相位-B檢測輸出，及進(jìn)行相反的切換時，要使用的檢測數(shù)據(jù)在兩個相位檢測輸出的切換點都有臺階，如圖15A所示。圖15B表示相位-B檢測輸出的相位(水平軸)和磁頭位置檢測值(計算的值)之間的關(guān)系。由于在相位-A和相位-B檢測輸出之間形成相位容差，如圖15B所示，所檢測的位置包括不連續(xù)的點。
當(dāng)磁頭逐漸接近目標(biāo)軌道的中心，并且磁頭移動速度減慢時，例如當(dāng)磁頭到達(dá)圖15B所示的不連續(xù)點時，速度控制伺服系統(tǒng)在磁頭尋道控制中產(chǎn)生敏感的響應(yīng)，并且磁頭有可能變得不可控制，或有可能出現(xiàn)諸如磁頭往復(fù)重復(fù)移動這樣的尋道差錯。
另一方面，可能由檢測部分獲得一相檢測輸出，并根據(jù)一相檢測輸出檢測磁頭的位置。在這種情況下，在一相檢測輸出的峰值附近，不能獲得檢測輸出的線性。當(dāng)檢測輸出在其峰值附近時，如果由外部的沖擊使磁頭移動，并且檢測輸出超過其峰值點，那么不可能確定磁頭已經(jīng)移動的方向。結(jié)果出現(xiàn)軌道計數(shù)誤差。
本發(fā)明旨在解決上述傳統(tǒng)的缺陷。因此，本發(fā)明目的是提供一種用于磁盤裝置的磁頭控制單元，該單元不會產(chǎn)生軌道計數(shù)誤差。
本發(fā)明的另一目的是提供一種用于磁盤裝置的磁頭控制單元，該單元使磁頭位置檢測和偏離目標(biāo)軌道中心的位置偏差能夠準(zhǔn)確地獲得，并且即使在所使用的兩個相位檢測輸出之間的相位差具有一個容差，也不會產(chǎn)生尋道誤差。
本發(fā)明的上述目的之一以下述方式實現(xiàn)，通過在具有用于驅(qū)動磁盤的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部分的磁盤裝置中提供磁頭控制單元；面對磁盤的記錄表面的磁頭；用于沿磁頭橫過磁盤上軌道的方向使磁頭進(jìn)給的磁頭進(jìn)給裝置；用于根據(jù)磁頭的移動產(chǎn)生變化的檢測輸出的檢測部分；和用于根據(jù)由檢測部分獲得的檢測輸出來控制磁頭進(jìn)給裝置的控制部分，其中檢測部分輸出具有不同相位和根據(jù)磁頭移動以半個周期的間隔改變極性的相位-A和相位-B；控制部分進(jìn)行控制，以便根據(jù)相位-A檢測輸出極性和相位-B檢測輸出極性的組合，確定磁頭已經(jīng)移動到鄰近的軌道，將當(dāng)前磁頭位置的軌道號加1或減1，通過使用相位-A檢測輸出或相位-B檢測輸出檢測當(dāng)前磁頭位置與軌道中心的軌道內(nèi)偏差，從軌道號和檢測的軌道內(nèi)偏差計算當(dāng)前磁頭位置與目標(biāo)軌道中心的偏差，以及磁頭進(jìn)給裝置根據(jù)當(dāng)前磁頭位置與目標(biāo)軌道中心的偏差來移動磁頭。
本發(fā)明適合于使用磁頭進(jìn)給裝置的系統(tǒng)，該進(jìn)給裝置在如磁頭由線性電機驅(qū)動的情況下，在使磁頭移動時具有柔性。
在本發(fā)明中，用檢測部分獲得具有兩個不同相位的檢測輸出。根據(jù)兩個檢測輸出之一，以模擬方式獲得當(dāng)前磁頭位置與軌道中心的位置偏差，根據(jù)相位-A檢測輸出的極性和相位-B檢測輸出的極性的組合，以數(shù)字方式獲得磁頭在軌道中的位置。因此，即使由于外部沖擊使磁頭移動，并且檢測輸出超過其通常的峰值，也能夠根據(jù)相位-A檢測輸出的極性和相位-B檢測輸出的極性，確定磁頭在軌道中所處的區(qū)域。結(jié)果，如果由于沖擊使磁頭移動，也能識別磁頭的位置，不會出現(xiàn)軌道計數(shù)誤差。
最好是，構(gòu)造磁頭控制單元，使得相位-A檢測輸出和相位-B檢測輸出基本上具有四分之一周期的相位差，一個軌道分成四個區(qū)域，每個區(qū)域具有相位-A檢測輸出極性和相位-B檢測輸出極性的不同組合，在四個區(qū)域的每一個內(nèi)檢測目標(biāo)軌道號和磁頭定位的軌道號之間的軌道號差，及當(dāng)前磁頭位置與軌道中心的軌道內(nèi)偏差，并且，根據(jù)軌道號差和軌道內(nèi)偏差計算與目標(biāo)軌道中心的偏差。
借助于將一個軌道分成四個區(qū)域，能夠相對容易地計算當(dāng)前磁頭位置與目標(biāo)軌道中心的位置偏差。
最好是，構(gòu)造磁頭控制單元，使得預(yù)期的相位-A和相位-B檢測輸出具有相對的相位偏移容差，并且用于檢測軌道內(nèi)偏差的相位-A和相位-B檢測輸出的任何一個都具有一個死區(qū)，在該死區(qū)內(nèi)可以產(chǎn)生相對相位偏移容差，并且所檢測的值是固定的。
在本發(fā)明中，不采用死區(qū)能夠獲得磁頭的位置和位置偏差。然而，當(dāng)相位-A檢測輸出和相位-B檢測輸出具有相對相位偏差容差時，位置偏差具有一個與容差對應(yīng)的不連續(xù)部分。在這樣的情況下，這樣的不連續(xù)性可以反過來影響尋道操作。因此，借助于設(shè)死區(qū)，如果產(chǎn)生相對相位偏移容差，那么不管相位偏移多少，都能夠?qū)崿F(xiàn)精確的磁頭尋道操作。
最好是，構(gòu)造磁頭控制單元，以便當(dāng)磁頭接近目標(biāo)軌道時，控制部分執(zhí)行向磁頭進(jìn)給裝置發(fā)送速度控制信號的速度控制操作；由當(dāng)前檢測的磁頭移動速度與根據(jù)當(dāng)前磁頭位置與目標(biāo)軌道中心偏差所規(guī)定的目標(biāo)速度之間的差，獲得檢測的速度差，并根據(jù)檢測到的速度差在速度控制信號中設(shè)置補償增益；以及，當(dāng)磁頭通過為目標(biāo)軌道提供的死區(qū)、并且接近目標(biāo)軌道中心時，補償增益增加。
當(dāng)提供了死區(qū)時，在死區(qū)內(nèi)檢測磁頭位置，就好象磁頭停下來了。因此，當(dāng)磁頭通過死區(qū)并且接近目標(biāo)軌道中心時，執(zhí)行控制，以急劇增加磁頭速度。由于當(dāng)磁頭已經(jīng)通過死區(qū)時，用增益控制能夠使磁頭減速，磁頭在目標(biāo)軌道迅即停止。
最好是，構(gòu)造磁頭控制單元，使得在控制部分中，當(dāng)磁頭處在目標(biāo)軌道中心時，執(zhí)行向磁頭進(jìn)給裝置發(fā)送在軌(on-track)控制信號的在軌控制，在在軌控制中，在在軌控制信號內(nèi)設(shè)置用于補償當(dāng)前磁頭位置與目標(biāo)軌道中心的偏差的比例增益；當(dāng)磁頭接近目標(biāo)軌道中心時，在第一個切換點將速度控制切換成在軌控制，在該點磁頭位于目標(biāo)軌道內(nèi)距死區(qū)一個預(yù)定的距離處，在第二切換點將在軌控制切換成速度控制，在該點在控制已經(jīng)切換成在軌控制之后，磁頭移動離開目標(biāo)軌道中心，并且，第二個切換點位于比第一個切換點更遠(yuǎn)離目標(biāo)軌道中心的位置。
進(jìn)一步，最好是，第二個切換點與死區(qū)的末端匹配，靠近目標(biāo)軌道中心。
當(dāng)?shù)诙€切換點位于比第一個切換點更遠(yuǎn)離目標(biāo)軌道中心時，其中，在第二切換點，當(dāng)在在軌控制狀態(tài)下磁頭遠(yuǎn)離目標(biāo)軌道中心時，在軌控制切換成速度控制；在第一切換點，當(dāng)磁頭在軌道上接近目標(biāo)軌道中心時，速度控制轉(zhuǎn)換成在軌控制，當(dāng)磁頭移向目標(biāo)軌道中心時，磁頭很快地移到接近目標(biāo)軌道中心的一個點，并且當(dāng)磁頭離開目標(biāo)軌道中心時，穩(wěn)定地進(jìn)行在軌的恢復(fù)。因此，即使施加震動或影響，也容易維持在軌的狀態(tài)。
如上所述，由于在本發(fā)明中，使用通過檢測部分獲得的相位-A檢測輸出和相位-B檢測輸出來進(jìn)行朝向目標(biāo)軌道中心的尋道操作，在更新(updating)中避免了軌道計數(shù)誤差。
由于為用來獲得位置偏差的檢測輸出設(shè)置了死區(qū)，即使相位-A和相位-B檢測輸出之間的相位差具有一個誤差，也能夠準(zhǔn)確地獲得磁頭與目標(biāo)軌道中心的位置偏差，避免了尋道誤差。
此外，由于在速度控制中設(shè)置增益，當(dāng)磁頭已經(jīng)通過死區(qū)時，防止了磁頭不可控制的移動。因為規(guī)定了在速度控制和在軌控制之間的切換點，磁頭快速移到目標(biāo)軌道中心，并且使磁頭穩(wěn)定在在軌狀態(tài)。
圖1是根據(jù)本發(fā)明的磁頭控制單元的方框圖。
圖2A和2B表示由線性標(biāo)尺和光檢測器形成的檢測部分結(jié)構(gòu)的一個例子。圖2A是線性標(biāo)尺的側(cè)視圖，圖2B表示光檢測器和線性標(biāo)尺之間關(guān)系的部分平面圖。
圖3A是相位-A和相位-B檢測輸出的波形圖，圖3B是磁頭所計算的位置偏差的波形圖。
圖4A和4B分別是在圖3A和3B的時域內(nèi)的延伸圖。
圖5是在尋道操作中速度控制程序的操作方框圖。
圖6是在軌控制程序的操作方框圖。
圖7表示在尋道操作中目標(biāo)速度曲線的一個例子。
圖8表示當(dāng)磁頭接近目標(biāo)軌道中心時磁頭位置和檢測的磁頭速度之間的關(guān)系圖。
圖9表示速度控制和在軌控制之間的切換點圖。
圖10是用于根據(jù)相位-A檢測輸出極性和相位-B檢測輸出的極性來檢測軌道更新的操作的流程圖。
圖11是用于根據(jù)相位-A檢測輸出極性和相位-B檢測輸出的極性來確定軌道內(nèi)的區(qū)域的操作的流程圖。
圖12是當(dāng)磁頭接近目標(biāo)軌道中心時要執(zhí)行的速度控制操作流程圖。
圖13是用于設(shè)置速度控制和在軌控制之間的切換點操作的流程圖。
圖14A和14B表示磁頭位置偏差的傳統(tǒng)檢測方法。圖14A是相位-A檢測輸出和相位-B檢測輸出的波形圖，圖14B表示所檢測的磁頭位置圖。
圖15A和15B表示傳統(tǒng)的磁頭位置偏差檢測方法，其中相位-A檢測輸出和相位-B檢測輸出具有相對相位誤差。圖15A是相位-A檢測輸出和相位-B檢測輸出的波形圖，圖15B表示所檢測的磁頭位置圖。
圖1是根據(jù)本發(fā)明磁盤裝置的方框圖。
磁盤裝置能夠裝載高密度記錄磁盤(disk)和具有2MB容量并且與傳統(tǒng)磁盤遵從相同標(biāo)準(zhǔn)的軟盤(FD)。
磁盤裝置包括一個轉(zhuǎn)盤，在該轉(zhuǎn)盤上裝載每個上述磁盤的中心部分，即旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部分1。由主軸電機2帶動旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部分1。當(dāng)軟盤(FD)裝載在旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部分1上時，在0側(cè)的磁頭H0接觸磁盤的一個記錄表面，在1側(cè)的磁頭H1接觸另一個記錄表面。
由支持臂3a支持磁頭H1，由支持臂3b支持磁頭H0。由磁頭基座4支持兩個支持臂3a和3b。通過具有線性電機驅(qū)動部分5的磁頭進(jìn)給單元，能夠使磁頭基座4在磁盤D的徑向中連續(xù)進(jìn)給。
通過讀取和寫入放大器6使磁頭H0和H1與FDD(軟盤驅(qū)動器)輸入和輸出接口相連。主計算機向輸入和輸出接口發(fā)送用于控制軟盤驅(qū)動的控制信號。
當(dāng)數(shù)據(jù)記錄到軟盤或由軟盤再現(xiàn)數(shù)據(jù)時，由作為檢測部分的線性傳感器8檢測磁頭基座4的移動，檢測輸出傳送到用做控制部分的CPU7。CPU7控制線性電機驅(qū)動部分5和主軸電機2。
支持臂3a和3b也具有另外的用于高密度記錄磁盤的磁頭H0h和H1h。當(dāng)在旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部分1上裝載高密度記錄磁盤時，利用磁頭H0h和H1h執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。
在高密度記錄磁盤中，在記錄表面上記錄用于跟蹤的伺服信號。CPU7根據(jù)磁頭H0h和H1h的再現(xiàn)輸出來檢測伺服信號，通過利用該伺服信號控制線性電機驅(qū)動部分5，并執(zhí)行磁頭尋道操作和在軌控制。因此，當(dāng)裝載高密度記錄磁盤時，線性傳感器8的輸出不用于尋道控制。由圖1所示的FDD輸入和輸出接口分開提供用于高密度記錄磁盤記錄和再現(xiàn)操作的輸入和輸出接口(沒有圖示)。
用于在裝載軟盤時檢測磁頭位置的檢測部分，即線性傳感器8，由圖2A和2B所示的線性標(biāo)尺12和光檢測器13形成。線性標(biāo)尺12和光檢測器13兩者之一與磁頭基座4相連，另一個與底盤相連。
線性標(biāo)尺12由窄板形成，以恒定的間隔為該板設(shè)計了多個檢測窗(隙縫)12a。光檢測器13由將線性標(biāo)尺12夾在中間的彼此相對固定的光源13a和光接收轉(zhuǎn)換部分13b形成。光接收轉(zhuǎn)換部分13b具有光接收裝置14a和光接收裝置14b。
以3p/4的距離設(shè)置光接收裝置14a和光接收裝置14b，其中p表示在線性標(biāo)尺12中形成的檢測窗的間隔。
由光源13a發(fā)出的光通過在線性標(biāo)尺12中形成的檢測窗12a，并由光接收裝置14a和14b檢測。由于線性標(biāo)尺12和光檢測器13相對移動，從光接收裝置14a和14b獲得具有強度如三角函數(shù)或近似于三角函數(shù)的變化的兩相位的檢測輸出。由于線性標(biāo)尺12中的檢測窗12a的間隔“p”，由光接收裝置14a獲得的光接收輸出和由光接收裝置14b獲得的光接收輸出具有四分之一周期(90度)的相位差。
盡管在圖中沒有示出，但是當(dāng)磁頭H0和H1位于磁盤的最外側(cè)磁道(磁道號0)上時，提供用于檢測磁頭基座的第三檢測單元。
當(dāng)軟盤(FD)裝載到這樣的磁盤裝置中時，主計算機通過FDD輸入和輸出接口執(zhí)行與傳統(tǒng)的軟盤驅(qū)動裝置相同的控制。具體地，當(dāng)?shù)谌龣z測單元使磁頭H0和H1移動到最外側(cè)磁道(磁道號0)時，CPU7識別該狀態(tài)，并將其報告給主計算機。在尋道控制中，主計算機向磁盤裝置的CPU7發(fā)送尋道指令脈沖，一個脈沖對應(yīng)一個磁道。
下面將描述當(dāng)軟盤裝載到磁盤裝置中時所執(zhí)行的尋道控制操作。(計算磁頭的位置偏差)圖3A表示當(dāng)磁頭H0和H1在磁盤的橫向軌道方向移動時，所獲得的線性傳感器8的檢測輸出。圖4A是圖3A所示在水平方向延伸的部分的圖。
當(dāng)光接收轉(zhuǎn)換部分13b的光接收裝置14a接收光時獲得的檢測輸出稱為相位-A檢測輸出，當(dāng)光接收裝置14b接收光時獲得的檢測輸出稱為相位-B檢測輸出。圖3A和4A的水平軸表示磁盤的徑向方向，并對應(yīng)相位-B檢測輸出的相位。相位-A檢測輸出相對于作為設(shè)計值的相位-B檢測輸出具有一個四分之一周期(90度)的相位差。垂直軸表示檢測輸出的強度(經(jīng)過光電轉(zhuǎn)換所轉(zhuǎn)換的電壓)。每個相位的檢測輸出的峰值由+p和-p表示。
相位-B檢測輸出在0度、180度、360度、540度、720度…處具有中心值(0-V點)。調(diào)整線性傳感器8的安裝位置，以便當(dāng)相位等于N(N是整數(shù))乘以360度時，磁頭H0和H1與磁盤上每個軌道的中心Tc匹配。相位-B檢測輸出的周期(360度)對應(yīng)一個軌道間距(例如，187.5μm)。在磁道中心Tc的兩個方向中180度范圍內(nèi)的區(qū)域?qū)?yīng)一個磁道。在下面的描述中，為了方便，在尋道操作中，將第n個磁道的磁道中心Tc設(shè)置成目標(biāo)軌道中心。
在圖3A和圖4A中，實線表示如所設(shè)計的那樣獲得的相位-A檢測輸出，即，相位-A檢測輸出相對于相位-B檢測輸出具有一個精確的90度相位差，虛線表示在實線前面和后面相對于設(shè)計值具有所希望的容差的相位-A檢測輸出范圍。該容差是由線性標(biāo)尺12的機加工誤差和光接收裝置14a和光接收裝置14b的相對測定位置誤差所產(chǎn)生的。在圖3A和4A中，相位-A和相位-B檢測輸出之間相位差的容差設(shè)為±30度。
在本發(fā)明中，為了檢測當(dāng)前磁頭位置和當(dāng)前磁頭位置與目標(biāo)軌道中心的位置偏差，計算相位-A檢測輸出極性和相位-B檢測輸出極性的組合。根據(jù)所計算的值，檢測磁頭所在處的軌道內(nèi)的區(qū)域。根據(jù)相位-B檢測輸出，檢測軌道內(nèi)當(dāng)前磁頭位置與軌道中心Tc的位置偏差。
圖4A表示相位-A檢測輸出極性和相位-B檢測輸出極性。由于相位-A檢測輸出和相位-B檢測輸出以三角函數(shù)或以類似于這些函數(shù)的形式變化，每個檢測輸出極性每180度(半個周期)變化一次。
因此，相位-A檢測輸出的極性和相位-B檢測輸出極性的組合在一個軌道內(nèi)以四種方式變化。當(dāng)相位-B檢測輸出的極性是負(fù)(-)，相位-A檢測輸出的極性是正(+)時，軌道內(nèi)相應(yīng)區(qū)域稱為區(qū)域1，當(dāng)相位-B和相位-A檢測輸出的極性都是負(fù)(-)時，相應(yīng)的區(qū)域稱為區(qū)域2，當(dāng)相位-B檢測輸出的極性是正(+)，相位-A檢測輸出的極性是負(fù)(-)時，相應(yīng)的區(qū)域稱為區(qū)域3，當(dāng)相位-B和相位-A檢測輸出的極性都是正(+)時，相應(yīng)的區(qū)域稱為區(qū)域4。
CPU 7周期性地對相位-A和相位-B檢測輸出進(jìn)行采樣，計算所獲得的兩個輸出的組合，當(dāng)CPU7識別到磁頭已經(jīng)由區(qū)域4移動到區(qū)域1時，確定磁頭已經(jīng)移動到鄰近的軌道，軌道計數(shù)器加1。當(dāng)CPU7識別到磁頭已經(jīng)由區(qū)域1移動到區(qū)域4時，軌道計數(shù)器減1。軌道計數(shù)器包括在CPU7中。
根據(jù)軌道計數(shù)器的增加或減小，能夠在尋道操作中和在軌操作中識別磁頭所處在的軌道號。圖10表示使用檢測輸出極性的組合來更新軌道號的控制操作流程圖。圖10表示在第n次采樣時獲得的每個檢測輸出的情況。
在圖10的步驟(下面稱為ST)1中，確定在前一次采樣中獲得的相位-B檢測輸出的極性是正(+)還是負(fù)(-)。當(dāng)在ST1中確定相位-B檢測輸出的極性是正(+)時，數(shù)據(jù)處理進(jìn)行到ST2，并確定在當(dāng)前采樣中獲得的相位-B檢測輸出的極性是否是負(fù)(-)。當(dāng)確定極性是負(fù)時，數(shù)據(jù)處理進(jìn)行到ST3，并確定在當(dāng)前采樣中獲得的相位-A檢測輸出的極性是否是正(+)。當(dāng)確定相位-A檢測輸出的極性是正(+)時，識別出磁頭已經(jīng)由第N個軌道移動到第N+1個軌道，在ST4中軌道計數(shù)器加1。
當(dāng)在ST1中確定在前一次采樣中獲得的相位-B檢測輸出的極性是負(fù)(-)時，如果在ST5中當(dāng)前采樣中獲得的相位-B檢測輸出的極性切換成正(+)，那么在ST6中檢查在當(dāng)前采樣中獲得的相位-A檢測輸出的極性。當(dāng)相位-A檢測輸出的極性是正(+)時，識別出磁頭已經(jīng)由第N個軌道移動到第N-1個軌道，在ST7中軌道計數(shù)器減1。
然后，根據(jù)由軌道計數(shù)器和相位-B檢測輸出表示的當(dāng)前軌道號，獲得當(dāng)前磁頭位置與目標(biāo)軌道中心的位置偏差。根據(jù)磁頭定位的區(qū)域以三種不同的方式進(jìn)行這樣的計算。
圖11是用于獲得磁頭定位區(qū)域的數(shù)據(jù)處理流程圖，該處理在計算磁頭位置偏差之前進(jìn)行。
當(dāng)在ST11中確定相位-A檢測輸出的極性是正(+)，并且在ST12中確定相位-B檢測輸出的極性是正(+)時，識別出磁頭在任何一個軌道(以后稱為第n個軌道)的區(qū)域4中定位。當(dāng)在ST12中確定相位-B檢測輸出的極性是負(fù)(-)時，識別出磁頭在區(qū)域1中定位。當(dāng)在ST11中確定相位-A檢測輸出的極性是負(fù)(-)，并且在ST13中確定相位-B檢測輸出的極性是正(+)時，識別出磁頭在區(qū)域3中定位。當(dāng)在ST13中確定相位-B檢測輸出的極性的負(fù)(-)，識別為磁頭在區(qū)域2中定位。
根據(jù)按上述方式所識別的區(qū)域和相位-B檢測輸出，獲得磁頭位置與目標(biāo)軌道中心的位置偏差。圖3B表示在垂直軸內(nèi)磁頭的位置偏差。假定目標(biāo)軌道是第n個軌道。因此，在第n個軌道中心上的位置偏差是零。在圖3B中，以一個角度延伸的線表示檢測磁頭的位置。
下面將描述對每個區(qū)域計算磁頭當(dāng)前位置與目標(biāo)軌道中心位置偏差的一種方法。區(qū)域1中的計算位置偏差＝-{(目標(biāo)軌道號-當(dāng)前軌道號)·TK+0 5TK}·Kt-(相位-B檢測輸出-相位-B中心值)·Ks，其中TK表示與一個軌道間距對應(yīng)的距離，Kt和Ks表示系數(shù)。
在圖4A中，假定磁頭當(dāng)前定位在區(qū)域1中的位置20，并且在尋道操作中磁頭從該位置沿磁盤的內(nèi)側(cè)方向移動。如圖3B所示，當(dāng)磁頭當(dāng)前定位在比目標(biāo)軌道中心更靠外的一個點(在比目標(biāo)軌道具有較小軌道號的一側(cè))時，當(dāng)前磁頭位置與目標(biāo)軌道中心的距離，即，磁頭位置偏差，被測量為負(fù)。當(dāng)磁頭當(dāng)前定位在比目標(biāo)軌道中心更靠內(nèi)的一個點(在比目標(biāo)軌道中心具有更大軌道號的一側(cè))時，磁頭位置偏差被測量為正。
在上述表達(dá)式的第一項中，-{(目標(biāo)軌道號-當(dāng)前軌道號)}·TK表示磁頭所在軌道中心(具有標(biāo)記21的點)與目標(biāo)軌道中心的距離(位置偏差)。例如，當(dāng)目標(biāo)軌道號是10，并且當(dāng)前軌道號是2時，軌道中心處的點21與目標(biāo)軌道中心的距離(位置偏差)是-8·TK。
當(dāng)磁頭定位在區(qū)域1內(nèi)的點20時，相位-B檢測輸出是-b。在區(qū)域1中，當(dāng)磁頭接近目標(biāo)軌道時，相位-B檢測輸出在負(fù)方向增加。如果按其原樣使用該輸出，當(dāng)磁頭接近目標(biāo)軌道時，計算距離(位置偏差)，以使其在負(fù)方向逐漸增加。因此，在區(qū)域1中給予下面的補償。
在第一項中，減去0.5TK。借助于該操作，在圖4A中檢測通過從軌道中心的點21減去0.5TK的一個距離(位置偏差)所獲得的位置。換句話說，第一項意味著在圖4A中磁頭位置偏差代表點22。
在第二項中，(相位-B檢測輸出-相位-B中心值)表示當(dāng)相位-B檢測輸出的中心值設(shè)置為零時所獲得的相位-B檢測輸出，并且(相位-B檢測輸出-相位-B中心值)＝-b。因此，從點22的位置偏差減去(相位-B檢測輸出-相位-B中心值)＝-b。實際上，加上了“b”。借助于該操作，得到軌道中心處點21與位置23的位置偏差。
在區(qū)域4中，以相同的方式給予0.5TK的補償。在區(qū)域2和區(qū)域3中，當(dāng)磁頭由磁盤外側(cè)接近目標(biāo)軌道時，由于位置偏差以正方向增加，不需要0.5TK的補償。區(qū)域2和區(qū)域3中的計算位置偏差＝-(目標(biāo)軌道號-當(dāng)前軌道號)·TK·Kt+(相位-B檢測輸出-相位-B中心值)·Ks。區(qū)域4中的計算位置偏差＝-{(目標(biāo)軌道號-當(dāng)前軌道號)·TK-0.5TK}·Kt-(相位-B檢測輸出-相位-B中心值)·Ks。
下面描述系數(shù)Kt和Ks。
設(shè)置系數(shù)Kt為使得在一個軌道內(nèi)的移動距離(1873.5μm)與1024步長的分辨率相對應(yīng)。換句話說，當(dāng)所計算的位置偏差變成-1024(見圖3B)時，CPU識別為磁頭在磁盤外部方向中距離目標(biāo)軌道中心187.5μm。
由于在相位-B檢測輸出的相位中，每360度出現(xiàn)一個軌道中心，在相位-B檢測輸出中的360度對應(yīng)1024步長。由于相位-B檢測輸出的峰值每180度出現(xiàn)一次，可以確定系數(shù)Ks為使峰到峰的值對應(yīng)于1024/2＝512的一個分辨率。
然而，在本發(fā)明的實施例中，考慮到相位-A與相位-B檢測輸出之間的相位差(90度)可以具有一個±30度的誤差，因此確定系數(shù)Ks為使乘上cos(60°)所得的峰到峰距離對應(yīng)于512的分辨率。
結(jié)果，當(dāng)假定相位-A檢測輸出具有±30度的相位誤差，相位-B檢測輸出固定到與±30度的范圍對應(yīng)的+256步長或-256步長。換句話說，在相位-A檢測輸出可以具有一個相位差的范圍內(nèi)，對相位-B檢測輸出給予限制，使得其輸出具有一個+256步長或-256步長的固定值。死區(qū)25表示對應(yīng)±30度的相位誤差范圍的相位-B檢測輸出。
因此，如圖3B和圖4B所示，在區(qū)域1到區(qū)域4每個區(qū)域內(nèi)位置偏差的計算結(jié)果包括區(qū)域25a，在該區(qū)中，不管磁頭在什么位置，所計算的值是恒定的。
假定沒有區(qū)域25a，相位-A和相位-B檢測輸出之間的相位差相對于90度的設(shè)計值具有一個+30度或-30度的相位差，如圖4A所示。如上所述，在根據(jù)本發(fā)明的位置偏差計算中，根據(jù)相位-A檢測輸出極性與相位-B檢測輸出極性的組合，確定磁頭所在的區(qū)域位于區(qū)域1、區(qū)域2、區(qū)域3或區(qū)域4。在區(qū)域1和區(qū)域2或區(qū)域3之間，以及區(qū)域2或區(qū)域3和區(qū)域4之間的計算公式有所不同。
如圖4A虛線所表示的那樣，當(dāng)在最壞情況下相位-A檢測輸出的相位偏移±30度時，由相位-A檢測輸出極性和相位-B檢測輸出極性組合確定的區(qū)域1和區(qū)域2之間的邊界以及區(qū)域3和區(qū)域4之間的邊界偏移±30度。結(jié)果，通過上述公式獲得的位置偏差具有由虛線26a和26b表示的臺階。當(dāng)相位-A檢測輸出的相位在±30度范圍內(nèi)隨機偏移時，位置偏差計算值位于由虛線26a和26b所圍繞的區(qū)域內(nèi)，并且隨所使用的單元有所不同。
當(dāng)磁頭靠近目標(biāo)軌道中心附近，并且移動速度慢時，例如，如果磁頭位置進(jìn)入了虛線26a和26b表示的臺階，位置偏差可以由對應(yīng)標(biāo)號27的值急劇變化到對應(yīng)標(biāo)號28的值。在這樣情況下，CPU7確定磁頭已經(jīng)突然返回到磁盤的外側(cè)，并進(jìn)行控制使磁頭大大地加速，且在目標(biāo)軌道中心可能出現(xiàn)尋道誤差?；蛘撸珻PU7確定磁頭突然返回，作為結(jié)果，磁頭的移動方向可能為不確定的。
當(dāng)相位B檢測輸出具有死區(qū)25時，它對應(yīng)±30度的相位誤差，如圖3A和圖4A所示，即使相位-A檢測輸出具有+30度的相位誤差，并且因此區(qū)域1和區(qū)域2之間的邊界以及區(qū)域3和區(qū)域4之間的邊界被改變，由于所計算的值限制到±256，CPU7確定磁頭沒有移動到獲得恒定值的區(qū)域25a，并進(jìn)行控制，使得磁頭沿初始移動方向移動獲得恒定值。因此即使相位-A檢測輸出具有一個相位誤差，磁頭也能確定地移動到目標(biāo)軌道。(在尋道操作中的速度控制)在尋道操作中，直到磁頭接近目標(biāo)軌道，CPU7才進(jìn)行磁頭速度控制的計算，并根據(jù)計算結(jié)果控制線性電機驅(qū)動部分5。
圖5是由CPU7執(zhí)行的速度控制程序的操作方框圖。
當(dāng)磁頭移向目標(biāo)軌道中心時，通過使用線性傳感器8獲得的兩者任一相位的檢測輸出的頻率，檢測當(dāng)前磁頭位置。該速度在圖5中表示成檢測速度31。另一方面，由上述的計算，可獲得圖3B所示的當(dāng)前磁頭位置與目標(biāo)軌道中心的位置偏差32。
CPU7存儲與位置偏差32對應(yīng)的目標(biāo)速度33，并獲得與所得到的位置偏差32對應(yīng)的目標(biāo)速度33。目標(biāo)速度33和當(dāng)前檢測速度31之間的差表示為檢測速度差34。CPU7用根據(jù)位置偏差規(guī)定的尋道補償增益35乘以檢測速度差31，將所得到的結(jié)果發(fā)送到線性電機驅(qū)動部分5。線性電機驅(qū)動部分5根據(jù)發(fā)送來的信號進(jìn)行加速或減速。
圖7表示距目標(biāo)軌道中心的距離與目標(biāo)速度33之間的關(guān)系。設(shè)置目標(biāo)速度33為使目標(biāo)速度保持恒定最大速度(例如，0.85TK/ms)，直到磁頭通過在目標(biāo)軌道之前的兩個軌道處的軌道的中心，并且目標(biāo)速度以線性方式減慢，直到磁頭到達(dá)目標(biāo)軌道中心。在圖5所示的速度控制中，加上伺服使磁頭移動速度與目標(biāo)速度33一致。
圖8表示當(dāng)磁頭靠近目標(biāo)軌道中心附近時檢測的磁頭位置和檢測的速度。
如圖3A所示，緊接磁頭到達(dá)目標(biāo)軌道中心之前，即，當(dāng)磁頭位于目標(biāo)軌道中心之前的90度到120度的區(qū)域內(nèi)，由于相位-B檢測輸出具有一個死區(qū)25，檢測出的根據(jù)相位-A和相位-B檢測輸出所計算的磁頭位置就好象磁頭停止在該區(qū)域中。由于在該區(qū)域相位-B檢測輸出沒有變化，檢測的速度是零。在這樣情況下，繼續(xù)進(jìn)行使磁頭沿目標(biāo)軌道方向移動的控制。在圖5所示的速度控制方框圖中，當(dāng)磁頭在死區(qū)25中時，檢測的速度差34變大，結(jié)果磁頭被加速，以便磁頭沿目標(biāo)軌道中心的方向移動。
因此，如圖12中表示的流程圖所示，緊接在磁頭從目標(biāo)軌道中心到達(dá)點0.167TK之后，即緊接在磁頭一通過死區(qū)25之后，在圖5中規(guī)定的尋道補償增益就變得比在其它情況中使用的增益高。當(dāng)磁頭通過死區(qū)25并接近目標(biāo)軌道中心時，由于磁頭加速，檢測的速度差34，即圖5所示的目標(biāo)速度33和檢測速度31之間的差，變得非常大。因為規(guī)定的尋道補償增益已被設(shè)置得比通常情況大，磁頭大大減速，結(jié)果避免了諸如磁頭錯誤通過目標(biāo)軌道中心之類的差錯。(在軌控制)當(dāng)磁頭靠近目標(biāo)軌道中心附近時，并且當(dāng)磁頭位于目標(biāo)軌道中心時，CPU7內(nèi)的控制切換成在軌控制，并且給線性電機驅(qū)動部分5施加由該在軌控制引起的伺服。
圖6是由CPU7執(zhí)行的在軌控制的操作方框圖。
在在軌控制中，根據(jù)由相位-A和相位-B檢測輸出獲得的位置偏差32，用微分法計算速度信息，對與目標(biāo)的偏差進(jìn)行積分。將分別用速度補償增益42比例增益41和積分補償增益43乘以所獲得的微分、比例和積分信息，并在44相加，相加的結(jié)果乘以補償增益45，然后傳送到線性電機驅(qū)動部分5。比例增益41用于在消除距目標(biāo)的位置偏差的方向產(chǎn)生補償輸出。速度補償增益42用于進(jìn)行在抑制位置急劇變化的方向的補償，該位置的急劇變化是作為用比例增益進(jìn)行補償?shù)慕Y(jié)果所引起的。積分補償增益43用于在吸收總是由諸如摩擦力之類的力產(chǎn)生的偏移量的方向進(jìn)行補償。
在這樣的在軌控制中，對線性電機驅(qū)動部分5施加伺服，以便將磁頭穩(wěn)定地放置于在軌的位置。
圖9表示從速度控制到在軌控制以及從在軌控制到速度控制的切換定時。
當(dāng)在尋道操作中磁頭接近目標(biāo)軌道中心時，磁頭通過對應(yīng)于死區(qū)25的恒定值的區(qū)域，并到達(dá)距目標(biāo)軌道中心0.05TK的點時，速度控制切換成在軌控制。該切換點(第一切換點)在圖中用標(biāo)號51表示。當(dāng)在在軌控制中，磁頭從位于目標(biāo)軌道中心的狀態(tài)出來時，即，當(dāng)磁頭由目標(biāo)軌道中心移開時，如果磁頭通過第二個切換點52，在軌控制轉(zhuǎn)換成速度控制。
將第二個切換點52設(shè)置成比第一個切換點51更遠(yuǎn)離目標(biāo)軌道中心。最好，如圖9所示，將第二個切換點52設(shè)置在接近死區(qū)25的目標(biāo)軌道的一端，即，在遠(yuǎn)離目標(biāo)軌道中心TK/4的點。
速度控制操作磁頭，以快速接近目標(biāo)軌道中心，并且在軌控制進(jìn)行工作，使磁頭穩(wěn)定在軌道中心。
當(dāng)在靠近目標(biāo)軌道中心附近設(shè)置切換點51時，磁頭快速移向目標(biāo)軌道中心，然后控制轉(zhuǎn)換成在軌控制。在在軌控制中，當(dāng)控制切換成速度控制所在的切換點52遠(yuǎn)離目標(biāo)軌道中心設(shè)置時，在一延伸的區(qū)域內(nèi)執(zhí)行更穩(wěn)定的在軌控制。
圖13是設(shè)置切換點的控制的流程圖。
在ST21中，當(dāng)確定磁頭移向目標(biāo)軌道中心時，在ST22監(jiān)視磁頭位置偏差是否小于0.05TK(磁頭通過切換點51)。當(dāng)位置偏差小于0.05TK時，在ST23中速度控制切換成在軌控制。然后，在ST24，將在軌控制切換成速度控制的切換點52設(shè)置在具有TK/4位置偏差的點處。
當(dāng)在ST21中確定磁頭停止在軌道位置時，在ST25中監(jiān)視磁頭位置偏差是否超過TK/4。當(dāng)超過時，在ST26將在軌控制切換成速度控制，并執(zhí)行伺服操作，以使磁頭快速返回到目標(biāo)軌道中心。在ST27，在具有0.05TK位置偏差的點處設(shè)置速度控制切換成在軌控制的切換點51。
獲得相位-A和相位-B檢測輸出的檢測部分可以使用磁檢測方法代替光學(xué)方法。相位-B檢測輸出可以具有對應(yīng)磁頭移動的三角波形式。由于僅使用相位-A檢測輸出的極性，它可以是矩形波。
權(quán)利要求
1.一種磁盤裝置中的磁頭控制單元，具有驅(qū)動磁盤的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部分，面向磁盤記錄表面的磁頭，在磁頭橫過磁盤上軌道的方向中使磁頭進(jìn)給的磁頭進(jìn)給裝置，根據(jù)磁頭的移動產(chǎn)生改變的檢測輸出的檢測部分，和根據(jù)檢測部分獲得的檢測輸出來控制磁頭進(jìn)給裝置的控制部分，其中所述檢測部分輸出具有不同相位和根據(jù)磁頭移動以半個周期的間隔改變極性的相位-A和相位-B；控制部分進(jìn)行控制，以根據(jù)相位-A檢測輸出的極性和相位-B檢測輸出的極性的組合，確定磁頭已經(jīng)移動到鄰近的軌道，將當(dāng)前磁頭位置的軌道號加1或減1，通過使用相位-A檢測輸出或相位-B檢測輸出來檢測當(dāng)前磁頭位置與軌道中心的軌道內(nèi)的偏差，由軌道號和檢測的軌道內(nèi)偏差計算當(dāng)前磁頭位置與目標(biāo)軌道中心的偏差，以及所述磁頭進(jìn)給裝置根據(jù)當(dāng)前磁頭位置與目標(biāo)軌道中心的偏差使磁頭移動。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁頭控制單元，其中相位-A檢測輸出和相位-B檢測輸出基本上具有四分之一周期的相位差，一個軌道分成四個區(qū)域，每個區(qū)域具有相位-A檢測輸出的極性和相位-B檢測輸出的極性的不同組合，在四個區(qū)域的每一個內(nèi)檢測目標(biāo)軌道號和磁頭所在的軌道號之間的軌道號差，及當(dāng)前磁頭位置與軌道中心的軌道內(nèi)偏差，并根據(jù)所述軌道號差和軌道內(nèi)偏差計算與目標(biāo)軌道中心的偏差。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁頭控制單元，其中預(yù)期的相位-A和相位-B檢測輸出具有相對相位偏移容差，并且給用于檢測軌道內(nèi)偏差的相位-A和相位-B檢測輸出當(dāng)中的任何一個都提供一死區(qū)，在該死區(qū)內(nèi)可以產(chǎn)生相對相位偏移容差，并且所檢測的值是固定的。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的磁頭控制單元，其中當(dāng)磁頭接近目標(biāo)軌道時，所述控制部分執(zhí)行向所述磁頭進(jìn)給裝置發(fā)送速度控制信號的速度控制操作；由當(dāng)前檢測的磁頭移動速度與根據(jù)當(dāng)前磁頭位置與目標(biāo)軌道中心的偏差所規(guī)定的目標(biāo)速度之間的差，獲得檢測的速度差，并根據(jù)該檢測到的速度差在速度控制信號中設(shè)置補償增益；當(dāng)磁頭通過為目標(biāo)軌道提供的死區(qū)、并且接近目標(biāo)軌道中心時，所述補償增益增加。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的磁頭控制單元，其中在所述控制部分中，當(dāng)磁頭位于目標(biāo)軌道中心時，執(zhí)行向所述磁頭進(jìn)給裝置發(fā)送在軌控制信號的在軌控制，并且在在軌控制中，在在軌控制信號內(nèi)設(shè)置用于補償當(dāng)前磁頭位置與目標(biāo)軌道中心的偏差的比例增益；和當(dāng)磁頭接近目標(biāo)軌道中心時，在第一切換點將速度控制切換成在軌控制，在該點磁頭位于目標(biāo)軌道內(nèi)距死區(qū)一個預(yù)定的距離處，在第二切換點將在軌控制切換成速度控制，在該點磁頭在控制已經(jīng)切換成在軌控制之后離開目標(biāo)軌道中心，第二切換點位于比第一個切換點更遠(yuǎn)離目標(biāo)軌道中心的位置。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的磁頭控制單元，其中第二切換點與死區(qū)的一端對準(zhǔn)，靠近目標(biāo)軌道中心。
全文摘要
根據(jù)具有不同相位的相位－A和相位－B檢測輸出的極性的組合,在軌道內(nèi)確定磁頭所在的區(qū)域為區(qū)域1到4之一,在區(qū)域內(nèi)根據(jù)相位－B檢測輸出獲得磁頭當(dāng)前位置與目標(biāo)軌道中心的位置偏差。相位－B檢測輸出具有與存在相位差誤差的兩個檢測輸出的范圍相對應(yīng)的死區(qū)。因此,即使相位差具有誤差,也能夠精確地計算磁頭的位置偏差。
文檔編號G11B5/55GK1259726SQ99125989
公開日2000年7月12日 申請日期1999年10月14日 優(yōu)先權(quán)日1998年10月14日
發(fā)明者涌田宏, 三谷曉 申請人:索尼公司