專利名稱：給記錄載體提供信息模式的方法和設備的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及給記錄載體提供信息模式的方法，在該方法中對影響形成的信息模式的質量的至少一個與記錄載體有關的參量進行調(diào)整。
本發(fā)明還涉及信息記錄設備，該設備包括給記錄載體提供信息模式的寫入裝置和調(diào)整寫入裝置的裝置。
這種方法和這種設備在EP-A-0，288，114已經(jīng)公知了。EP-A-0，288，114中描述的方法和設備使用在記錄載體的制作期間已經(jīng)提供了調(diào)整數(shù)據(jù)，特別是寫入方式和寫入強度的數(shù)據(jù)。在記錄載體插入信息記錄設備以后從記錄載體中讀出調(diào)整數(shù)據(jù)并根據(jù)讀出的調(diào)整數(shù)據(jù)調(diào)整寫入裝置。但是，已有技術的設備的缺點是寫入裝置的調(diào)整并不是總為最佳。這樣一來，已記錄的信息模式的大小可能產(chǎn)生偏差，就不能總是可靠地讀出已記錄的信息。
本發(fā)明的目的是提供在開始段中所述的設備，該設備對寫入裝置的調(diào)整進行了改進。作為方法，通過從許多預定的可能允許的校正區(qū)域中選擇一個校正區(qū)域，為確立不同的參量值在所選的區(qū)域中形成測試模式，在形成的測試模式的基礎上根據(jù)預定的標準確定參量的最佳值以及在形成信息模式區(qū)間將參量調(diào)整為上述最佳值來實現(xiàn)上述目的。
作為設備，通過提供包括從許多在記錄載體上的預定校正區(qū)域中選出一個校正區(qū)域的選擇裝置，對寫入裝置的不同設置使在選出的校正區(qū)域中形成測試模式的裝置，在形成的測試模式的基礎上選出最佳設置的裝置以及在信息模式形成期間將寫入裝置調(diào)整為已選出的最佳裝置的裝置的設備來實現(xiàn)上述目的。
本發(fā)明特別根據(jù)這一認識，即寫入裝置的最佳設置強烈地依賴于所用的記錄載體以及所用的信息記錄設備。但是，對于記錄載體和記錄設備的特定組合，最佳設置對記錄載體的整個記錄區(qū)域來說基本上是恒定的。
因此，可以認為本發(fā)明設備中調(diào)整數(shù)據(jù)的確定對記錄載體的整個記錄區(qū)域來說是最佳的。此外，多個不同校正區(qū)域的使用使得可多次進行最佳設置的確定。例如，每當記錄載體被裝入記錄設備中時。這在當在多個不同的信息記錄設備中使用同一種不能被重寫的記錄載體時尤其有利。多個校正區(qū)域的使用還使得對每個信息記錄設備可確定最佳的設置。原理上通過檢測已向那個記錄區(qū)域提供了測試模式能夠選出待用的校正區(qū)域。這樣做的缺點是測試模式不在設置為最佳時形成，因此不能保證對測試模式的存在進行可靠的檢測。此外，由于校正區(qū)域的總長度，可能需要相當長的時間對未使用的校正區(qū)域進行搜索。
如果有一個指明在記錄載體上已記錄了多少信息信號的內(nèi)容目錄，設定對每個記錄信息信號僅一次就能確定最佳的設置，從該目錄就能得到已使用的校正區(qū)域的最大數(shù)目。根據(jù)該數(shù)目總是可能對校正區(qū)域進行明確和選擇的。剛提到的選擇方法的缺點是一旦確定了最佳的設置就不允許參考已記錄的信息信號。這意味確定最佳設置的過程必須延遲到絕對肯定信號將要被記錄時為止。這可能將導致信息信號記錄時附加的延遲。
上述選擇的方法的缺點可用下述方法來減少，該方法特征在于對每個校正區(qū)域指定一個從屬區(qū)域，形成從屬模式，每當確定最佳設置時就在為用于確定最佳設置的校正區(qū)域而指定的從屬區(qū)域中根據(jù)記錄在從屬區(qū)域中的從屬模式選擇校正區(qū)域。
從屬區(qū)域的使用使總可能明確地確定哪個校正區(qū)域已被使用。由于從屬區(qū)域的尺寸可遠少于校正區(qū)域的尺寸，根據(jù)從屬區(qū)域對未使用的校正區(qū)域進行選擇要遠遠比根據(jù)校正區(qū)域本身進行選擇快得多。
如果使用為了對校正區(qū)域進行定位而預先被提供了外加地址信息的記錄載體，直接使用的校正區(qū)域最好在沒有被提供測試模式的區(qū)域之后。實際上，一旦形成測試模式，地址信息會被破壞，不再能保證能正確地讀出地址信息，對位于具有已破壞了的地址信息的區(qū)域后一短距離的區(qū)域進行定位將會引起麻煩。當使用其校正區(qū)域為預制伺服軌跡的一部分的記錄載體時，形成測試模式將會破壞該軌跡，不再保證正確的尋跡。
最好選擇校正區(qū)域的數(shù)目大于或等于能被記錄在記錄載體上的信息信號的最大數(shù)目。(該數(shù)目對于記錄CD信號是一百)這就保證對每一將被記錄的信息信號都有一個用于確定調(diào)整的校正區(qū)域。
現(xiàn)參看

圖1到圖10詳細描述更多的實施例以及它們的優(yōu)點，其中圖1和圖4表示本發(fā)明的設備的實施例，圖2和圖5表示在記錄載體上記錄校正區(qū)域的合適的位置，圖3和圖6是由設備的控制單元執(zhí)行的程序的流程圖，圖7，圖8和圖9表示確定最佳調(diào)整的合適的方式，圖10表示在圖4所示的設備中使用的分析電路的實施。
圖1例示了本發(fā)明信息記錄設備的一實施圖。該實施例是一記錄設備，通過該記錄設備信息能被記錄在繞著軸2旋轉的記錄載體1上(例如光學記錄載體)。該信息記錄設備包括一逆對著旋轉記錄載體的通用讀/寫頭3。在包括例如微處理器的通用控制單元5的控制下，借助于通用的例如由馬達4和轉軸5a組成的定位系統(tǒng)，讀-寫頭3能沿著相對于記錄載體1的徑向方向運動。
待記錄的信息信號Vi通過輸入端6被輸入到信號處理電路7，信號處理電路7為通用型，該電路將被輸入的輸入信號轉換成具有合適的記錄格式(例如CD格式RDAT格式)的記錄信號Vop，記錄信號Vop輸入到通用型的驅動電路8，該電路以這樣的方式為讀/寫頭3將記錄信號Vop轉換成驅動信號Vs使相應于記錄信號Vop的信息模式記錄在記錄載體上，為了讀出已記錄的信息模式，讀/寫頭3有一用于輸出讀出信號V1的輸出端，讀出信號V1代表了被讀出的信息模式，讀出信號V1輸入到讀出電路9以便恢復由讀出信號V1代表的信息。驅動電路8是可調(diào)的以便調(diào)整一個或多個能夠影響和調(diào)整已記錄的信息模式的質量的參量，當使用通過輻射光來形成具有可用光檢測的效應的信息模式的光讀/寫頭時，輻射光束的強度就是一影響信息模式的質量的重要參量。如果讀/寫頭是通過產(chǎn)生磁場以便以磁化效應(磁疇)的形式形成信息模式的磁讀/寫頭或磁-光讀寫頭，該讀寫頭以磁效應的形式產(chǎn)生為形成信息模式目的磁場，所產(chǎn)生的磁場的場強就是一重要的調(diào)整參量。如果通過寫脈沖來形成信息模式，脈沖寬度就是一重要的調(diào)整參量。需要指出的是上述調(diào)整參量僅是大量可能的調(diào)整參量中的幾個例子，在這方面請專門參看NL-A-9000150(PHN13.217)，其中調(diào)整參量是產(chǎn)生作用的速度的參考值，在產(chǎn)生作用期間控制寫入光束的強度以便保持根據(jù)可調(diào)的參考值產(chǎn)生作用的速度。
為了確定驅動電路8的最佳位置，該設備包括分析電路10，該分析電路10從讀出信號中得到表明被讀出的信息模式的質量的分析信號Va。在校正過程中通過對驅動電路的不同設置在記錄載體1中形成測試信息模式和通過根據(jù)分析信號Va選擇由分析信號表明了最佳質量的那一設置能在測試過程中確定最佳設置。從原理上來說，信息信號Vi可用來寫入測試信息模式。但是，也可以用測試信號發(fā)生器11來達到這一目的，該測試信號發(fā)生器11可被包括在例如信號處理電路7中。在控制單元5的控制下確定最佳設置，為達到這一目的，控制單元5被連接到分析電路10，驅動電路8和測試信號發(fā)生器11(如果有的話)，該控制單元裝有合適的程序或包括合適的硬件電路，最好在校正過程中確定最佳設置，校正過程是在記錄載體已經(jīng)被插入信息記錄設備后才進行的。
為了確定最佳設置，已給記錄載體提供了許多位于記錄載體上預定位置的校正區(qū)域，例如位于打算作記錄信息模式的伺服軌跡的前端。圖2以圖解的形式例示了直線狀的伺服軌跡20。伺服軌跡包括打算作記錄信息信號的區(qū)域PA。在區(qū)域PA前面的區(qū)域TA為了確定最佳調(diào)整打算用來輸入測試模式。區(qū)域TA被分為校正區(qū)域21a，……21d，每個區(qū)域有一適于執(zhí)行校正過程的長度，在每一校正過程的開始，選出使用的校正區(qū)域21，然后測試橫式記錄在選出的校正區(qū)域以實現(xiàn)對調(diào)整參量的不同設置，讀出這些測試模式并且根據(jù)產(chǎn)生的分析信號Va選擇最佳調(diào)整，在校正過程的開始可用多種不同的方法選擇未使用的校正區(qū)域，例如，可以讀出校正區(qū)域并且檢測在被讀出的校正區(qū)域中是否有信息模式存在，考慮到校正區(qū)域的長度，這要花費相當長的時間，此外，因為通過輸入測試模式伺服軌跡會被破壞到使得不再可能進行局部的尋跡，所以讀出測試模式也可能成問題，如果假定為了記錄每個信息信號僅需要一個校正區(qū)域來確定最佳設置，當已被記錄的信息信號的數(shù)目在伺服軌跡20的一部分中被表示時，由此就能確定已使用的校正區(qū)域的最大數(shù)目，如果在校正過程中，校正區(qū)是如此選取使它們的序號相應于已記錄的信息信號的號碼加一的校正區(qū)域，將總會容易地找出未使用的校正區(qū)域，但是，必須注意到信息信號實際上每次都是在已確定個最佳設置后才被記錄的，這是為了保證相應于在目錄中指定的已記錄的信息信號的號碼的校正區(qū)域確實未被使用。
通過在記錄載體上不相連的區(qū)域中指出哪一個校正區(qū)域還未被使用能夠減輕上述選擇方法的缺點，這是可能的，例如在每一校正過程之后記錄下表明有多少個校正區(qū)域已被使用的信號，這也是可能的，在校正區(qū)域被使用之后每每一校正區(qū)域指定一從屬區(qū)域并且在相關的從屬區(qū)域中形成從屬模式，在圖2的區(qū)域CA中，給校正區(qū)域指定的從屬區(qū)域具有標號22a，……22d，在這種情況下，通過檢測在從屬區(qū)域中是否存在從屬模式就能夠選擇未使用的校正區(qū)域，可用被記錄在例如伺服軌跡中的地址來指明在伺服軌跡20中的校正區(qū)域21和從屬區(qū)域22的位置，但是，也可以用另外的方式指明這些區(qū)域的位置，例如，將這些區(qū)域設置在離圓盤狀的記錄載體的旋轉中心一預定的距離處。
為了選擇校正區(qū)域，控制單元裝入合適的程序，作為例子圖3給出這種程序的流程圖，在再次確定最佳設置的時刻，例如每當記錄載體被裝入信息記錄設備時取出程序，該程序包括步驟B1。在該步驟中在控制單元5的控制下對區(qū)域CA的前端區(qū)域進行定位，一旦到達區(qū)域CA就在步驟B2讀出區(qū)域CA并辨別在區(qū)域CA中被讀出的從屬區(qū)域內(nèi)是否存在從屬模式，一旦檢測到還沒有記錄從屬模式的從屬區(qū)域就在步驟B3中在被檢測的從屬區(qū)域的地址的基礎上，例如利用確定校正區(qū)域的起始地址和給校正區(qū)域指定的從屬區(qū)域的地址之間的關系的目錄來獲得相關的校正區(qū)域的前端區(qū)域的地址，然后在步驟B4中在控制單元5的控制下對具有如此確定地址的校正區(qū)域進行定位，在步驟B5中完成校正過程，步驟B5之后，在步驟B6中在給相關的校正區(qū)域指定的從屬區(qū)域中形成從屬模式，可用測試信號或輸入到記錄設備的信息信號Vi來記錄從屬模式。
要注意當在校正區(qū)域中形成測試模式時，伺服軌跡會被覆蓋到這樣的程度使得不再能夠可靠地讀出在測試模式后的地址信息。因此，最好這樣選擇校正區(qū)域21，即總是使用在該區(qū)域的前面有一還沒有給提供測試模式的區(qū)域的校正區(qū)域，例如通過使用最后的區(qū)域21d進行第一次校正過程并且以后每次都使用正好在上次已被使用的校正區(qū)域21前面的校正區(qū)域21。
圖4詳細表示信息記錄設備的一實施例，所示實施例能將標準的CD信號用光學方法記錄在光記錄載體116上，光記錄載體116有例如由相應材料或染料構成的光照敏感層，該敏感層有用作記錄信息模式的伺服軌跡，上述類型的記錄載體特別在NL-A-8800151，NL-A-8900766和N2-A-8901145(PHN12.398，PHN12，887，PHN12，925)中有充分的描述，此處作為參考文獻，上述專利申請中描述的記錄載體具有軌跡擺動形式的軌跡調(diào)制，頻率被從絕對時間碼ATLP的形式表示地址的地址信號所調(diào)制，通用型光讀/寫頭105相對著旋轉的記錄載體116并且借助于通用的例如由馬達103和轉軸104組成的定位系統(tǒng)能夠沿著相對于記錄載體116的徑向方向運動，如果需要讀/寫頭105可用來既記錄信息模式又讀出信息模式，為此目的，讀/寫頭105包括用來產(chǎn)生輻射光束107a的半導體激光器，輻射光束的強度通過驅動電路107來改變，在NL-A-890159(PHN12.994)中有對該半導體激光器的詳細描述，在此作為參考文獻，輻射光束107a以公知的方式瞄準記錄載體116的伺服軌跡，光束107a部分被記錄載體116反射，反射光束被軌跡擺動以及信息模式(如果存在信息模式的話)所調(diào)制，反射光束射向光照敏感檢測器108a，后者產(chǎn)生相應于光束調(diào)制的讀出信號VI，信號VI含有由軌跡擺動產(chǎn)生的在標準掃描速度時頻率約為22KHz的分量，通過馬達控制電路108控制馬達100，控制馬達的轉數(shù)以便將讀出信號VI中由軌跡擺動產(chǎn)生的分量的頻率基本保持在22KHz，讀出信號VI還被輸入到檢測電路109，后者從讀出信號VI還被輸入到檢測電路109，后者從讀出信號VI中由軌跡擺動產(chǎn)生的分量中檢測出時間碼ATIP并將這些碼傳送到包括，例如微型計算機110的控制單元。此外，讀出信號VI還被輸入到具有高通特性的放大電路111以便抑制讀出信號VI中由軌跡擺動產(chǎn)生的分量，由此低頻分量已被消除的讀出信號VI被輸入到分析電路65，后者顯示出被讀出的信息模式的質量，以后將詳細描述分析電路的實例，分析電路65輸出端的分析信號也被輸入到微型計算機110，記錄設備還包括通用的CIRC編碼電路112，通過被微型計算機110控制的開關115可將要記錄的信號Vi輸入到該電路CIRC編碼電路112與常規(guī)EFM調(diào)制器113串接，EFM調(diào)制器的輸出端接至驅動電路107，驅動電路107為通用可控型，通過能調(diào)整那些能影響記錄信息模式質量的方式對該電路加以控制，例如這種參量可以是在形成信息模式期間輻射光束的強度，如果用等寬度的輻射脈沖來形成信息模式則該寬度就是影響已記錄的信息模式質量的重要參量。在磁-光記錄的情況中，通過輻射光束掃描在記錄載體區(qū)域中產(chǎn)生的磁場強度是一重要參量，為了產(chǎn)生測試模式，記錄設備1包括一測試信號發(fā)生器114，后者產(chǎn)生例如-隨機數(shù)字信號或產(chǎn)生相應于數(shù)字信號值零(信號靜寂)的信號。但是，需要指出的是在原理上也可用信息信號來形成測試模式。信號發(fā)生器114產(chǎn)生的信號通過開關115輸入到CIRC編碼電路112，開關115為通用型，根據(jù)來自控制單元110的信號傳送將要被記錄的信號Vi或傳送信號發(fā)生器114的輸出信號。
如上所述，測試模式最好記錄在記錄載體116上的可尋地址單元中，如果記錄載體116有上述荷蘭專利申請NL-A-890076(PHN12，887)中所述的結構，即在該記錄載體中伺服軌跡按以下次序被分成記錄暫時目錄(暫時TOC)的區(qū)域(PMA)，記錄的最后目錄(TOC)的區(qū)域(Lead Tn Area)和程序區(qū)域(PA)，則具有校正區(qū)域的區(qū)域PCA最好是在區(qū)域(PMA)前面以使記錄暫時目錄，圖5用圖表示伺服軌跡的結構。
此外，圖5表示通過以分，秒和格表示的絕對時間碼表示的各種區(qū)域的地址。例如，程序區(qū)域(PA)的前端的絕對時間碼ATIP是0.00.00.Lead Tn Area的前端的絕對時間碼ATIP是TSL.區(qū)域PMA前端的絕對時間碼等于TLIA減0.13.25而區(qū)域TA前端具有TLIA減0.35.65的絕對時間碼。每一個絕對時間碼ATIP區(qū)分具有相應于一格的長度的伺服軌跡部分，每一校正區(qū)域21有15個格而每一從屬區(qū)域22只有一格。如果記錄載體被用來記錄標準的CD信號，可用的長度足夠對每個要被記錄的信息信號完成一個校正操作過程，這是因為CD標準信號中不同信息信號(軌跡)的最大數(shù)是一百。
由于在已記錄有測試信息模式的區(qū)域中不是總能保證ATLP碼的讀出，所以使用校正區(qū)域21的次序最好是從后到前，就是說，要使用的第一個校正區(qū)域21位于TA區(qū)域的末端(即靠近CA區(qū)域的邊界)，這樣一來，用來確定免寫入程度的一個區(qū)域的前面總是有一個相對較大的還沒有記錄制度模式的區(qū)域。這樣做是好的，因為在已記錄有測試模式的伺服軌跡部分中不總是能夠保證可靠地讀出絕對時間碼ATIP，即使可靠地讀出絕對時間碼ATIP對確定要被使用的校正區(qū)域21的開始是必要的，確定最佳寫入強度的方法如下在新的信息信號(軌跡)被記錄之前，根據(jù)從屬區(qū)域22來獲得記錄測試信息模式的校正區(qū)域的地址，在圖5所示的例子中五個校正區(qū)域(序號為1-5)已被使用，它們用陰影線的區(qū)域來表示，這種情況用在五個具有序號1-5的從屬區(qū)域中的從屬模式來表示，這些從屬區(qū)域也畫上陰影線，序號為6的校正區(qū)域就能被用于下一個校正操作過程，這用具有從屬模式的五個從屬區(qū)域1-5表示，選出校正區(qū)域后就用許多不同的寫入強度值將測試模式記錄在選出的校正區(qū)域中，在這之后讀出的所記錄的測試模式并通過分析信號Va確定校正區(qū)域哪一部分中的測試模式為最佳，然后就用相應于記錄最佳測試模式時寫入強度將信息模式記錄在相關的從屬區(qū)域(序號為6)中。
微型計算機110被裝入合適的控制程序以便執(zhí)行校正操作過程，圖6是這種程序實例的流程圖，在該程序步驟S1中，在微型計算機110的控制下將讀/寫頭對著記錄載體上的CA區(qū)域，尋址是在舊檢測電路109檢測的讀出信號VI中的絕對時間碼ATIP來實現(xiàn)的，在步驟S2中根據(jù)記錄在從屬區(qū)域22中的從屬模式確定將要作記錄測試模式的校正區(qū)域21的地址，通過檢測在用光束107a掃描從屬區(qū)域期間反射光束107a是否被高頻調(diào)制就可簡單地達到該目的，通過檢測讀出信號V1中的高頻信號分量的存在就能檢測這種高頻調(diào)制，為此目的，記錄設備可以包括一位于讀/寫頭105和微型計算機之間的高頻檢測器120，當使用讀出電路從讀出信號中恢復已記錄的信息時，根據(jù)讀出電路的輸出信號的存在能夠檢測測試模式的存在。
在步驟S3中，在微型計算機110的控制下確定具有所述地址的校正區(qū)域21的位置，一旦找出這一區(qū)域就在步驟S4中將寫入強度Is設備定為初始值Io，最好以在上述專利申請NL-A-8901145(PHN12.925)1中描述的方式將有關記錄載體的Io值預先記錄在記錄載體上，因此就能在校正操作過程之前讀出該值，此外，在微型計算機110的控制下，信號發(fā)生器114通過可控開關115連到CIRC編碼電路112，因此由信號發(fā)生器的輸出信號確定的EFM調(diào)制測試信號由EFM調(diào)制器113來產(chǎn)生，最后，在步驟S5中控制信號S/L用這樣一種方式驅動驅動電路107使得光束107a的強度在寫入強度Is的設定值和取決于在EFM調(diào)制器113的輸出端的EFM調(diào)制信號Vefm的強度I1之間變換，由此導致相應于被記錄的EFM信號的剩余模式，在步驟S6中通過計算機110讀出被檢測電路109檢測的絕對時間碼，在步驟ST中查明該絕對時間碼相對以前讀出的絕對時間碼是否已有改變，若否，重復步驟S6，若已改變，就在步驟S8中檢驗被讀出的絕對時間碼是否表示校正區(qū)域的結束，若否，則執(zhí)行步驟S9，在該步驟中寫入強度Is增加一個小增量△I，在該步驟之后程序轉向步驟S6。如果在步驟S8中發(fā)現(xiàn)已到達校正區(qū)域21的結束處，就執(zhí)行步驟S10，在該步驟中控制信號S/L用這樣一種方式驅動驅動電路107使得光束107a的強度保持恒定在電平I1，在步驟S11中再次確定并讀出所述校正區(qū)域21開始的位置，在步驟S12微型計算機110讀出分析信號Va，在步驟S13檢驗分析信號Va的值是否相應于測試模式的最佳質量，若否，程序轉向步驟S12，在其它情形中，在步驟S14中讀出由檢測電路109檢測的絕對時間碼，然后在步驟S15中計算相應于在步驟S114中讀出的絕對時間碼的最佳寫入強度。例如，通過確定剛讀出的絕對時間碼和相應于校正區(qū)域的開始的時間碼的偏差就可以達到上述計算目的，根據(jù)這一偏差就有可能確定在記錄測試信息模式期間在到達剛讀出的絕對時間碼之前初始值Io增加了多少個增量△I。增量的數(shù)目和初始值Io確定最佳寫入能量Iopt。然后在步驟S16中將寫入強度Is設定為最佳值Iopt。
在步驟S17中確定與被使用的校正區(qū)域相關的從屬區(qū)域22的位置，一旦找到上述區(qū)域就在步驟S18中在這一從屬區(qū)域22中形成信息模式。
在上述校正過程中形成測試模式期間，開始時用低寫入強度來進行，然后寫入強度逐步增大，這就意味著有可能保證總能夠讀出校正區(qū)域開始處的地址信息，因為該地址信息不會被低寫入強度形成的測試模式所覆蓋。
下面舉例說明確定最佳寫入強度的合適方法，通過用輻射光束掃描記錄載體給該光可讀記錄載體提供包含具有可變反射性能的作用的信息模式，該輻射光束的強度I在低強度I1和高寫入強度I5之間變化，對于低強度I1在反射時記錄載體的被掃描部分不發(fā)生變化，而高寫入強度Is在反射時記錄載體的被掃描部分發(fā)生變化。強度變化I及其具有可變反射性能的作用58的相應的型式以及具有不變的性能的中間區(qū)域59的實例如圖7所示，通過用恒定強度的讀出光束掃描信息可讀出作用58的信息型式以及中間區(qū)域59，該讀出光束強度足夠低以便消除光學性能方面的可檢測到的變化，在掃描過程期間，根據(jù)被掃描的信息模式對從記錄載體反射的讀出光束進行調(diào)制，通過光照敏感檢測器以通常的方法就能檢測讀出光束的調(diào)制，該檢測器產(chǎn)生表示光束調(diào)制的讀出信號V1，讀出信號V1也示于圖7，通過讀出信號與參考電平Vref的比較將讀出信號V1再轉換成二值信號，為了可靠轉換，需要仔細地確定讀出信號V1與參考電平的交叉點，換句話說，讀出信號的起伏應該很小，眾所周知，如果信息模式是對稱的，即如果作用58的平均長度等于中間區(qū)域59的平均長度，光記錄中的讀出信號V1的起伏就很小，由此產(chǎn)生的問題是作用58的長度強烈地依賴于寫入強度Is。如果寫入強度很大作用于58就會很長，如果寫入強度很小作用58就會很短。因此，需要精確地調(diào)整寫入強度。
在一種允許的確定最佳寫入強度的方法中可用占空比為50%的脈沖信號以不同的寫入強度記錄測試模式，然后讀出所記錄的測試模式，通過確定取何值時讀出信號V1的二次諧波長為最小就能確定最佳設置。
參看圖8詳細描述確定最佳寫入強度的另一種方法。圖8a，圖8b和圖8c分別表示在寫入強度Is分別為太小，最佳和太大情況下的強度變化I，作用58相應的信息型式和中間區(qū)域59。
圖8中讀出信號V1在最大電平A1和最小電平A2之間變化，電平DC表示讀出信號V1中的直流電平值，由圖6顯而易見，如果寫入強度具有最佳值讀出信號的直流電平就基本位于電平A1和A2中間。如果寫入強度太小直流電平DC將位于電平A1和A2間的中點之上，而當寫入強度太大時直流電平DC將位于電平A1和A2間的中點之下。因此，通過調(diào)整寫入強度Is到一個值，對于該值直流電平DC基本位于電平A1和A2間的中點，就能夠得到最佳寫入強度的設定值。
參看圖9a描述對上述確定最佳強度的方法的改進。根據(jù)這一方法，為了確定最佳強度，記錄一信息模式，該模式包含多個子模式70，每個子模式70以包含由占空比為50%的寫入信號記錄的一短作用58和一短的中間區(qū)域59，該信息模式還包括另一個子模式71，該子模式又包含也由占空比為50%的寫入信號記錄的較長的作用58和較長的中間區(qū)域59，選擇子模式70的數(shù)目遠大于子模式71的數(shù)目。圖9a還表示進行讀出時由光讀出設備獲得的讀出信號V1。
選擇子模式70的大小使得讀出信號V1中相應于這些子模式的信號分量的幅值遠小于相應于子模式71的信號分量的幅值。通過選擇子模式70的大小使得僅有該模式的一次諧波位于光掃描設備的光截止頻率之下就能達到上述目的。這樣選擇子模式71的大小使得至少該模式的一次和二次諧波都位于上述光截止頻率之下。讀出信號V1中的直流電平DC主要由相應于子模式70的信號分量來決定。讀出信號V1的最大值A1和最小值A2這間的差值僅由相應于子模式71的值來決定。由于寫入功率Is的變化對子模式70的作用58和中間區(qū)間59的長度之間的比值的影響遠大于對子模式71的相應長度之間的比值的影響，所以在圖9a所示的方法中的直流電平DC對寫入電平的變化更敏感，圖8中的讀出信號V1的幅值對信息模式中的所有子模式都是一樣的。所有這一切都表示根據(jù)圖9a所示的方式能夠更精確地確定最佳寫入功率。
除了圖9a所示的已被以最佳寫入強度記錄的信息模式外，類似的已被以太低的和太高的寫入電平記錄的信息模式分別表示于圖9b和圖9c，由圖9顯而易見，最佳寫入強度情形中的直流電平DC又基本位于信號V1中的最大信號值(A1)和最小信號值(A2)的中間，而在寫入電平太低或太高的情況中，直流電平DC分別位于中點之上或之下，圖9所示的信息模式僅是可能的信息模式中的一個，這種信息模式由相對較大數(shù)目的包含短的作用和中間區(qū)域的子模式和相對較小數(shù)目的包含長的作用和中間區(qū)域的子模式所組成。相應于滿足CD標準的EFM信號的模式也是一種非常合適的子模式，這種模式包含相應于至少3比特(I3作用)和至多11比特(I11作用)的長度的區(qū)域，這種EFM模式中所有作用的三分之一是I3作用，而所有作用的僅4%是I11作用。I3作用的大小使得僅這些作用的基波位于光讀出系統(tǒng)的光截止頻率之下，I11作用的大小使得至少其一次，2次和3次諧波位于光截止頻率之下。
圖10表示分析電路65的實例，通過該電路可以讀出信號V1中獲得分析信號Va以便表明直流電平DC偏離相應于最佳寫入強度的電平的程度。圖8的分析電路包括一用于確定讀出信號V1中的直流電平D牟低通濾波器80，該分析電路10還包括一用于確定讀出信號V1中的最大值A1的正峰值檢測器81和一用于確定讀出信號V1中的最小值A2的負峰值檢測器82。峰值檢測器81和82的輸出信號被輸入到加法器電路83的非反相輸入端，而經(jīng)兩倍放大后的低通濾波器80的輸出信號被輸入到加法器電路83的反相輸入端，因此，加法器電路的構成分析信號Va的輸出信號就等于Va＝A1+A2-2DC，由此表示了信號值DC偏離最大信號值A1和最小信號值A2的平均值的程度。
關于其它合適的分析電路的實例請參看LN-A-8901591(PHN12.994)。如果用讀出信號中的二次諧波失真作為所使用的模式的質量的量度，分析電路可包括一通用的2次諧波檢測器。
需要指出本發(fā)明不限于光記錄設備而是也可應用于其它記錄設備，例如磁記錄設備或利用于可重寫類型的記錄載體，但本發(fā)明特別適用于一次寫類型的記錄載體。
權利要求
1.給記錄載體提供信息模式的方法，在該方法中對影響形成的信息模式的質量的至少一個與記錄載體有關的參量進行調(diào)整，其特征在于從許多預定的可允許的校正區(qū)域中選擇一個校正區(qū)域，對不同的參量設置在所選擇的校正區(qū)域中形成測試模式，在形成的測試模式的基礎上根據(jù)預定的標準確定參量的最佳設置，在信息模式形成期間將參量調(diào)整為上述最佳設置。
2.根據(jù)權利要求1的方法，其特征在于對每個校正區(qū)域指定一個從屬區(qū)域，形成從屬模式，每當確定最佳設置時就在為用于確定最佳設置的校正區(qū)域而指定的從屬區(qū)域中根據(jù)記錄在從屬區(qū)域中的從屬模式選擇校正區(qū)域。
3.根據(jù)權利要求2的方法，其特征在于從屬區(qū)域的尺寸小于校正區(qū)域的尺寸。
4.根據(jù)權利要求1、2或3的方法，其特征在于已給所用的記錄載體提供了地址，通過預定的地址確定測試區(qū)域和從屬區(qū)域。
5.根據(jù)權利要求1、2、3或4的方法，其特征在于選擇校正區(qū)域時總是選擇立即跟隨一個還沒有被提供測試模式的區(qū)域的校正區(qū)域。
6.根據(jù)權利要求1、2、3、4或5的方法，其特征在于所用的記錄載體能夠利用信息模式記錄有限數(shù)目的信息信號，校正區(qū)域的數(shù)目至少等于信息信號的上述數(shù)目。
7.包括用于給記錄載體提供信息模式的寫入裝置和用于調(diào)整該寫入裝置的裝置的信息記錄設備，其特征在于該設備包括從在記錄載體上的許多預定的校正區(qū)域中選擇一個校正區(qū)域的選擇裝置，對寫入裝置的不同設置使在所選擇的校正區(qū)域中形成測試模式的裝置，根據(jù)所形成的測試模式選擇最佳設置的裝置，以及在形成的測試模式選擇最佳設置的裝置，以及在形成信息模式期間將寫入裝置調(diào)整為所選擇的最佳設置的裝置。
8.根據(jù)權利要求7的信息記錄設備，其特征在于使在為所選擇的校正區(qū)域而指定的從屬區(qū)域中記錄從屬模式的裝置，上述選擇裝置根據(jù)在從屬區(qū)域中形成的從屬模式選擇上述校正區(qū)域。
9.根據(jù)權利要求7或8的信息記錄設備，其特征在于選擇校正區(qū)域的裝置選擇在還沒有被提供測試模式的區(qū)域之前的校正區(qū)域。
全文摘要
在此處披露的方法和設備中對影響被記錄的信息模式(58，59)的質量的至少一個與記錄載體有關的參量(Is)進行調(diào)整，在確定參量(Is)的最佳設置時從多個預定的校正區(qū)域(21a，……，21d)中選擇一個校正區(qū)域(21)。對參量的不同設置給所選擇的校正區(qū)域(21)提供測試模式，在如此形成的測試模式的基礎上根據(jù)預定的標準確定參量的最佳設置，在記錄信息模式(58，59)期間將參量調(diào)整為上述最佳值。
文檔編號G11B7/00GK1048945SQ9010653
公開日1991年1月30日 申請日期1990年6月20日 優(yōu)先權日1989年6月23日
發(fā)明者約翰內(nèi)斯·利奧波達斯·巴克斯 申請人:菲利浦光燈制造公司